专利名称：影像测量系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种测量系统及方法，尤其涉及一种影像测量系统及方法。
背景技术：
质量是一个企业保持长久发展能力的重要因素之一，如何保证和提高产品质量， 是企业活动中的重要内容。制造工厂在批量生产产品前需生产出几件样品进行测量，以检验产品是否存在质量问题，如工件的尺寸是否在公差规定范围内等。随着计算机技术的发展及应用，测量技术不再局限于人工的操作，计算机在工件检验活动中被大量的引入，提高了检验准确性。在对样品进行测量时，人工将工件放入测量机台，通过计算机控制进行测量。但是在测量过程中测量效率不高，测量过程中不能直观的把测量结果反映出来，且测量同样的工件时仍然需要进行重复的操作，测量功能不齐全。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种影像测量系统，可以自动测量相同工件的影像特征。还有必要提供一种影像测量方法，可以自动测量相同工件的影像特征。一种影像测量系统，包括主机和影像测量机台，该主机包括测量单元，该测量单元包括获取�？椋糜诨袢∮跋癫饬炕ㄉ杳扛龉ぜ玫降挠跋瘢⒒袢∮没а≡竦牟饬抗ぞ吆兔扛龉ぜ拇獠饬刻卣鳎淮唇？椋糜诙愿玫谝还ぜ唇ǖ谝换甲晗担患锹寄？椋糜诩窃馗玫谝还ぜ拇獠饬刻卣髟诟玫谝换甲晗抵械南喽宰曛担徊饬磕？椋糜诶蒙鲜霾饬抗ぞ卟饬扛玫谝还ぜ拇獠饬刻卣鳎凰黾锹寄？椋褂糜诖娲⒌谝还ぜ牟饬坎问凰龃唇？椋褂糜诘辈饬坑氲谝还ぜ巫聪嗤牡诙ぜ保缘诙ぜ唇ǖ诙甲晗担龃獠饬刻卣髟诟玫诙甲晗抵械南喽宰曛涤敫么獠饬刻卣髟诘谝换甲晗抵械南喽宰曛迪嗤患扑隳？椋糜诟菟龃獠饬刻卣髟诘谝换甲晗抵械南喽宰曛担范ǜ么獠饬刻卣髟诟玫诙ぜ挠跋裆系奈恢茫坏饔媚？椋糜诘饔玫谝还ぜ牟饬坎问患八霾饬磕？椋褂糜诟莸饔玫牟饬坎问愿玫诙ぜ胁饬俊！钟跋癫饬糠椒ǎ梅椒òㄈ缦虏街�(a)获取影像测量机台扫描第一工件得到的影像，并获取用户选择的测量工具和该第一工件的待测测量特征；(b)对该第一工件创建第一基准坐标系；(C)记载所述待测测量特征在该第一基准坐标系中的相对坐标值；(d)利用上述测量工具测量该第一工件的待测测量特征；(e)存储第一工件的测量参数；(f)当测量与第一工件形状相同的第二工件时，对第二工件创建第二基准坐标系，所述待测测量特征在该第二基准坐标系中的相对坐标值与该待测测量特征在第一基准坐标系中的相对坐标值相同；(g)根据所述待测测量特征在第一基准坐标系中的相对坐标值，确定该待测测量特征在该第二工件的影像上的位置；(h)调用第一工件的测量参数；及(i)根据调用的测量参数，对该第二工件进行测量。
相较于现有技术，所述影像测量系统及方法，可以记录工件的测量过程，以测量与该工件相同工件的影像特征，节省了大量的测量时间，提高了工作效率。
图1是本发明影像测量系统较佳实施例的硬件架构图。图2是图1中测量单元的功能模块图。图3是本发明影像测量方法较佳实施例的作业流程图。图4是图3中步骤S38的细化流程图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种影像测量系统，包括主机和影像测量机台，其特征在于，该主机包括测量单元， 该测量单元包括获取�？椋糜诨袢∮跋癫饬炕ㄉ杳扛龉ぜ玫降挠跋瘢⒒袢∮没а≡竦牟饬抗ぞ吆兔扛龉ぜ拇獠饬刻卣鳎淮唇？椋糜诙愿玫谝还ぜ唇ǖ谝换甲晗担患锹寄？椋糜诩窃馗玫谝还ぜ拇獠饬刻卣髟诟玫谝换甲晗抵械南喽宰曛担徊饬磕？椋糜诶蒙鲜霾饬抗ぞ卟饬扛玫谝还ぜ拇獠饬刻卣鳎凰黾锹寄？椋褂糜诖娲⒌谝还ぜ牟饬坎问凰龃唇？椋褂糜诘辈饬坑氲谝还ぜ巫聪嗤牡诙ぜ保缘诙ぜ唇ǖ诙甲晗担龃獠饬刻卣髟诟玫诙甲晗抵械南喽宰曛涤敫么獠饬刻卣髟诘谝换甲晗抵械南喽宰曛迪嗤患扑隳？椋糜诟菟龃獠饬刻卣髟诘谝换甲晗抵械南喽宰曛担范ǜ么獠饬刻卣髟诟玫诙ぜ挠跋裆系奈恢茫坏饔媚？椋糜诘饔玫谝还ぜ牟饬坎问患八霾饬磕？椋褂糜诟莸饔玫牟饬坎问愿玫诙ぜ胁饬�。
2.如权利要求1所述的影像测量系统，其特征在于，所述测量工具包括自动寻点、自动寻线、自动寻圆、自动寻圆弧、手动取点、边缘对焦及表面对焦。
3.如权利要求1所述的影像测量系统，其特征在于，所述测量特征包括点、线、面、圆。
4.如权利要求1所述的影像测量系统，其特征在于，所述测量单元还包括判断�？椋糜谂卸厦扛龉ぜ拇獠饬刻卣鞯牟饬拷峁朊扛龉ぜ拇獠饬刻卣鞯谋曜汲叽缂涞牟钪凳欠裨诒曜脊罘段е冢患叭舾么獠饬刻卣鞯牟饬拷峁胂嘤Ρ曜汲叽缂涞牟钪挡辉诟帽曜脊罘段е冢蛩黾锹寄？榛褂糜谔崾居没Ц貌饬拷峁霰曜汲叽绲脑市砦蟛罘段�。
5.如权利要求1所述的影像测量系统，其特征在于，所述测量�？榛褂糜谏刹饬勘ū恚帽ū碇写娲⑺泄ぜ牟饬拷峁�。
6.一种影像测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤(a)获取影像测量机台扫描第一工件得到的影像，并获取用户选择的测量工具和该第一工件的待测测量特征；(b)对该第一工件创建第一基准坐标系；(c)记载所述待测测量特征在该第一基准坐标系中的相对坐标值；(d)利用上述测量工具测量该第一工件的待测测量特征；(e)存储第一工件的测量参数；(f)当测量与第一工件形状相同的第二工件时，对第二工件创建第二基准坐标系，所述待测测量特征在该第二基准坐标系中的相对坐标值与该待测测量特征在第一基准坐标系中的相对坐标值相同；(g)根据所述待测测量特征在第一基准坐标系中的相对坐标值，确定该待测测量特征在该第二工件的影像上的位置；(h)调用第一工件的测量参数；及(i)根据调用的测量参数，对该第二工件进行测量。
7.如权利要求6所述的影像测量方法，其特征在于，所述测量工具包括自动寻点、自动寻线、自动寻圆、自动寻圆弧、手动取点、边缘对焦及表面对焦。
8.如权利要求6所述的影像测量方法，其特征在于，所述测量特征包括点、线、面、圆。
9.如权利要求6所述的影像测量方法，其特征在于，该方法在步骤(e)之前还包括 判断该第一工件的待测测量特征的测量结果与该待测测量特征的标准尺寸间的差值是否在标准公差范围之内；若该待测测量特征的测量结果与相应标准尺寸间的差值不在该标准范围之内，则提示用户该测量结果超出标准尺寸的允许误差范围，并进入步骤(e)；及若该待测测量特征的测量结果与标准尺寸的差值在该标准范围之内，则直接执行步骤(e)。
10.如权利要求6所述的影像测量方法，其特征在于，该方法还包括(al)判断该第二工件的待测测量特征的测量结果与该待测测量特征的标准尺寸间的差值是否在标准公差范围之内，若该待测测量特征的测量结果与相应的标准尺寸间的差值不在该标准公差范围之内，进入步骤(bl)，若该待测测量特征的测量结果与相应标准尺寸间的差值在该标准公差范围之内，则执行步骤(Cl)；(bl)提示用户该测量结果超出标准尺寸的允许误差范围，并进入步骤(Cl)；及 (cl)生成测量报表，该报表中存储所有工件的测量结果。
全文摘要
一种影像测量系统及方法，包括获取�？椋糜诨袢∶扛龉ぜ挠跋瘢饬抗ぞ吆痛獠饬刻卣鳎淮唇？椋糜诙愿玫谝还ぜ唇ǖ谝换甲晗担患锹寄？椋糜诩窃厮霾饬刻卣髟诟玫谝换甲晗抵械南喽宰曛担徊饬磕？椋糜诶盟龌袢∧？榛袢〉牟饬抗ぞ卟饬扛玫谝还ぜ牟饬刻卣鳎患锹寄？椋褂糜诖娲⒌谝还ぜ牟饬坎问坏辈饬坑氲谝还ぜ巫聪嗤牡诙ぜ保扑隳？橛糜诟莶饬刻卣髟诘谝换甲晗抵械南喽宰曛担范ǜ貌饬刻卣髟诟玫诙ぜ跋裆系奈恢茫坏饔媚？椋糜诘饔玫谝还ぜ牟饬坎问患安饬磕？椋褂糜诟莸饔玫牟饬坎问愿玫诙ぜ挠跋窠胁饬俊＠帽痉⒚鳎梢远怨ぜ跋窠锌焖俨饬�。
文档编号G01B11/03GK102168945SQ201010114989
公开日2011年8月31日 申请日期2010年2月26日 优先权日2010年2月26日
发明者丁勇红, 张旨光, 李东海, 蒋理, 陈贤艺 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
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