专利名称：影像测量的同轴激光导航系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光学测量仪器，特别是一种应用于影像测量的同轴激 光导航系统。
背景技术：
影像测量系统指利用光学系统将被测物成像，利用X、Y坐标测量系统 对所成影像进行的测量，影像的接收，可以直接用人眼目视或用摄像头摄取。由于像面尺 寸有限，必须将被测目标移动到成像光轴上才能开始测量，测量完毕，再移动到下一个被测 目标。由于影像移动的速度被成像系统放大，影像从像面上快速掠过，影像中的目标难以识 另IJ。这对于结构精细、被测元素密集的测量带来了困难，往往反复多次才能找到目标，降低 了测量效率。能够解决以上困难，实现快速捕捉被测目标的系统，被形象地称为“导航系 统”。发明内容本实用新型的目的在于提供一种影像测量的同轴激光导航系统，应用 于影像测量过程中，实现被测目标快速捕捉的目的。本实用新型的构成由半导体激光器和半透半反射镜组成，半透半反射镜置于影 像测量设备的成像光轴上，半导体激光器位于成像光轴一侧，其轴线与半透半反射镜的入 射光轴重合，在成像光轴的下方有被测件，被测件 放置在X、Y坐标测量系统上。导航光线与成像光线同轴。与现有技术比较，本实用新型导航系统目标捕捉迅速、操作直观方便、结构简单、 成本低廉，而且由于导航光线与成像光线同轴，与非同轴系统相比，即使成像系统与被测面 距离发生改变或离焦，也能准确导航。
附图是本实用新型的系统示意图。图中1.半导体激光器，2.摄像头或目视观察系统，3.半透半反射镜，4.成像光轴， 5.可见光点，6.被测件，7. X、Y坐标测量系统。
具体实施方式
如图所示，在影像测量设备成像光轴4上的适当位置安装半透半 反射镜3，在其入射方安装半导体激光器1，调整半导体激光器的位置，使之入射光线经反 射后与设备的成像光轴4重合，即构成了本实用新型。在成像光轴4的下方有被测件6，被 测件放置在X、Y坐标测量系统7上，半导体激光器发出的可见光细光束经半透半反射镜反 射，射到被测件6上，形成一个高亮度可见光点5。半导体激光器由低压电源供电，具有电源 开关。
权利要求一种影像测量的同轴激光导航系统，由半导体激光器和半透半反射镜组成，其特征在于半透半反射镜(3)置于影像测量设备的成像光轴(4)上，半导体激光器(1)位于成像光轴(4)一侧，其轴线与半透半反射镜(3)的入射光轴重合，在成像光轴(4)的下方有被测件(6)，被测件放置在X、Y坐标测量系统(7)上。
2.根据权利要求1所述的影像测量的同轴激光导航系统，其特征在于导航光线与成 像光线同轴。
专利摘要本实用新型公开了一种影像测量的同轴激光导航系统，属于光学测量仪器，半透半反射镜(3)置于影像测量设备的成像光轴(4)上，半导体激光器(1)位于成像光轴(4)一侧，其轴线与半透半反射镜的入射光轴重合，半导体激光器发出的可见光细光束，经位于成像光轴上的半透半反射镜反射，在被测件(6)表面上开成一个高亮度可见光点(5)，移动被测件，使被测目标与光点重合，导航任务完成，即可开始测量操作，该导航系统目标捕捉迅速、操作直观方便、结构简单、成本低廉，适用于影像测量过程中。
文档编号G01B11/00GK201569410SQ20092012578
公开日2010年9月1日 申请日期2009年10月27日 优先权日2009年10月27日
发明者胡清 申请人:贵阳新天光电科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
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