专利名称：一种金箔含金量的快速测定方法
技术领域：
本发明涉及一种金属含量检测方法，具体涉及一种金箔含金量的快速测定方法。
背景技术：
金箔是一种经传统工艺，是用黄金打制成的，平均厚度为0. 12 μ m左右的箔。它广 泛应用于寺院贴金、医药卫生与装饰行业等。随着金箔制品在市场上的广泛流行，金箔制品 的检验工作量也在增加，这就需要相关检测部门对金箔制品的检验工作要快速又准确的完 成。对于高含量金的测定主要有X荧光光谱法、火试金法、重量法、容量法和ICP-AES 等离子发射光谱法等。其中火试金法、重量法、容量法和ICP-AES等离子发射光谱法皆为破 坏性实验方法，都是建立在先称取一定数量的金箔作为样品初始重量，然后分析主含量或 杂质，进而计算出样品含金量。由于金箔是用一小块金片用乌金纸隔开扑上一层滑石粉，俗 称“家生”打制而成，金箔成产品则是用二层薄纸夹在其中。因而称取一定数量的金箔，不 可避免地会引入滑石粉、碎纸屑等杂质。因这些杂质重量的引入，检验结果不可避免的会产 生误差，这也就是QB/T 1734《金箔》中对金箔含金量误差定为士 1%的缘由所在。火试金 法和重量法需特殊的设备，操作手续冗长繁复，不适于工厂的快速日常分析。ICP-AES等 离子发射光谱法和容量法(常见有氢醌法、碘量法、高铈盐法、重铬酸钾法)操作手续涉及称 量、溶样、滴定、配制标准样品等，分析周期长，不适于大批样品的快速日常分析。其中荧光 光谱法以及其快速、准确、无损，具有一定的优势，但金箔厚度只有0. 12ym左右，在X荧光 光谱仪测试中，易被X荧光光束击穿，导致数据异常，往往不可信。因此本发明针对现有技 术的缺陷，结合无损检验(X荧光光谱法)的优点，提供了一种快速准确检验金箔含金量的方 法。
发明内容
本发明公开了一种金箔含金量的快速测定方法，其特征在于，该方法包括以下步 骤
步骤1、对金箔样品进行前处理
1)选取三张平整完好的金箔，将三张金箔叠落在一起，放置在衬纸中心位置上，然后将 衬纸连同金箔一起沿横向中心线对折，对折后，将衬纸展开，金箔呈折叠状；
2)将上述步骤中对折后的金箔再次利用衬纸沿纵向中心线对折，对折后，展开衬纸；
3)依此类推，重复步骤1)及步骤2)将金箔共折叠八次，制成金箔样品。步骤2、轧紧金箔样品
将折叠好的金箔样品用包装金箔的纸夹好，将轧片机厚度调至最低，把夹好的金箔连 同包装纸一同放入轧片机轧紧，形成一个致密的金箔片。步骤3、仪器测试
3将轧紧的金箔样品放入X荧光光谱仪中进行测试，得出金箔含金量测试结果。本发明通过对金箔样品进行前处理，再用X荧光光谱法测试，一方面解决了有损 方法带来的样品称量误差的问题，另一方面更是很好克服了金箔样品厚度�。赬荧光光 谱仪测试中易被X荧光光束击穿，导致数据失真的缺陷，具有快速、准确、无损耗的优点。
图1是金箔放置在衬纸上的示意图； 图2是步骤1)操作示意图3是步骤2)操作示意图。
具体实施例方式为使本发明实现的技术手段、所要达到的技术目的与功效更易于了解，下面结合具体实施方式
及附图，进一步阐述本发明
一种金箔含金量的快速测定方法，包括以下步骤 步骤1、对金箔样品进行前处理
1)如图所示，选取三张平整完好的金箔，将三张金箔叠落在一起，放置在衬纸中心位置 上，然后将衬纸连同金箔一起沿横向中心线对折，对折后，将衬纸展开，金箔呈折叠状；
2)将上述步骤中对折后的金箔再次利用衬沿纵向中心线对折，对折后，展开衬纸；
3)依此类推，重复步骤1)及步骤2)将金箔共折叠八次，制成金箔样品。金箔的平均厚 度为0. 12 μ m，三张金箔对折八次后的金箔样品层数将达到768层，厚度将达到92. 2 μ m，此 厚度在X荧光光谱仪测试中不会被击穿。步骤2、轧紧金箔样品
将折叠好的金箔样品用包装金箔的纸夹好，将轧片机厚度调至最低，把夹好的金箔连 同包装纸一同放入轧片机轧紧，形成一个致密的金箔片。步骤3、仪器测试
将轧紧的金箔样品放入X荧光光谱仪中进行测试，得出金箔含金量测试结果。以规格9. 33cmX9. 33cm，金料含金量98. 5%的98金箔为例，对比本法和火试金法、 ICP-AES等离子发射光谱法对其检测的结果，如表1所示，
表1
权利要求
1. 一种金箔含金量的快速测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤 步骤1、对金箔样品进行前处理1)选取三张平整完好的金箔，将三张金箔叠落在一起，放置在衬纸中心位置上，然后将 衬纸连同金箔一起沿横向中心线对折，对折后，将衬纸展开，金箔呈折叠状；2)将上述步骤中对折后的金箔再次利用衬纸沿纵向中心线对折，对折后，展开衬纸；3)依此类推，重复步骤1)及步骤2)将金箔共折叠八次，制成金箔样品； 步骤2、轧紧金箔样品将折叠好的金箔样品用包装金箔的纸夹好，将轧片机厚度调至最低，把夹好的金箔连 同包装纸一同放入轧片机轧紧，形成一个致密的金箔片； 步骤3、仪器测试将轧紧的金箔样品放入X荧光光谱仪中进行测试，得出金箔含金量测试结果。
全文摘要
本发明公开了一种金箔含金量的快速测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤步骤1、对金箔样品进行前处理；步骤2、轧紧金箔样品；步骤3、仪器测试。本发明通过对金箔样品进行前处理，再用X荧光光谱法测试，一方面解决了有损方法带来的样品称量误差的问题，另一方面更是很好的克服了金箔样品厚度�。赬荧光光谱仪测试中易被X荧光光束击穿，导致数据失真的缺陷，具有快速、准确、无损耗的优点。
文档编号G01N23/223GK102128850SQ20101057870
公开日2011年7月20日 申请日期2010年12月8日 优先权日2010年12月8日
发明者伏荣进, 周骏贵, 王东辉 申请人:南京市产品质量监督检验院
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