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陶瓷基板用曲翘度检测仪的制作方法

时间:2025-06-30    作者: 管理员

专利名称:陶瓷基板用曲翘度检测仪的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种陶瓷基板用曲翘度检测仪,尤其涉及一种可检测陶瓷基板平行度的检测仪。
背景技术:
陶瓷基板是指铜箔在高温下直接键合到氧化铝或氮化铝陶瓷基板表面(单面或双面)上的特殊工艺板。陶瓷基板已成为了大功率电力电子电路结构技术和互连技术的基础材料。陶瓷基板在使用时需要保证其平行度,现有的人工检测很难准确的测定其四个顶部间是否保持平行。

实用新型内容本实用新型的目的在于解决上述的技术问题,提出一种陶瓷基板用曲翘度检测仪。本实用新型的目的,将通过以下技术方案得以实现一种陶瓷基板用曲翘度检测仪,包括一底座,所述底座上与其垂直固定有两块支架,所述支架上固定有相互平行设置的上、下行平板,所述上行平板设置在下行平板的上方,所述上、下行平板上分别固定有上、下陶瓷板,所述上、下行平板间固定有锁紧螺母,所述上、下行平板之间设置有间隙,所述间隙的宽度与所述陶瓷基板的厚度相等,所述上、下行平板与底座形成夹角。优选地,所述上、下行平板的两侧分别设置有两个用于调节上、下行平板间的调节螺母,所述调节螺母设置有四个,所述锁紧螺母设置有两个,分别固定在一侧的调节螺母之间。优选地,所述上行平板的四个端部分别设置有一千分表,所述千分表的测杆穿过上行平板垂直于下行平板表面。本实用新型的有益效果主要体现在当陶瓷基板经过平行的上下陶瓷板板即可检测出是否符合所需平行度。利用千分表做到了精度的控制,保证了检测的准确性,省时省力,大大提高了检测效率。

图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型提供了一种陶瓷基板用曲翘度检测仪,如图1所示,包括一底座1,所述底座1上与其垂直固定有两块支架11,所述支架11间平行设置。所述支架11上固定有相互平行设置的上、下行平板,所述上行平板21设置在下行平板22的上方,为保证上、下行平板间的光滑面,所述上行平板21上固定有上陶瓷板31,下行平板22上固定下陶瓷板32。为了陶瓷基板能靠重力滑落,所述上、下行平板与底座1之间为不平行设置,需形成一定的夹角。所述上、下行平板间设置有用于调节其间距的四个调节螺母42,分别设置上、下行平板的两侧。所述上、下行平板间还设置有用于固定上、下行平板的锁紧螺母41,所述锁紧螺母41设置有两个,分别固定在一侧的调节螺母42之间。所述上行平板21的四个端部分别设置有一千分表5,所述千分表5的测杆穿过上行平板21垂直于下行平板22表面。下面具体阐述下本实用新型的使用方法步骤一、计算曲翘度。首先,根据待检测陶瓷基板厚度,依公式计算检测基板曲翘度的两平行板间距。上、下行平板的间距即为基板达到所允许的最大曲翘度。步骤二、调节检测仪。松开锁紧螺母41,调整四个调节螺母42,使上、下陶瓷板贴合在一起,此时两板间隙为0。调整四个千分表5,将其归零。依次调整调节螺母42,并观察对应角的千分表5读数,逐渐使四角全部达到预设间隙值,将锁紧螺母41锁紧。步骤三、检测陶瓷基板。将待测陶瓷基板从上、下陶瓷板的间隙放入,基板在重力作用下穿过板间隙。步骤四、判断检测合格陶瓷基板。若陶瓷基板可通过,则其曲翘度合格;若不能通过即不合格,以此即可分拣出曲翘度合格产品。本实用新型尚有多种实施方式,凡采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案,均落在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种陶瓷基板用曲翘度检测仪,包括一底座,其特征在于所述底座上与其垂直固定有两块支架,所述支架上固定有相互平行设置的上、下行平板,所述上行平板设置在下行平板的上方,所述上、下行平板上分别固定有上、下陶瓷板,所述上、下行平板间固定有锁紧螺母,所述上、下行平板之间设置有间隙,所述间隙的宽度与所述陶瓷基板的厚度相等,所述上、下行平板与底座形成夹角。
2.根据权利要求1所述的陶瓷基板用曲翘度检测仪,其特征在于所述上、下行平板的两侧分别设置有两个用于调节上、下行平板间的调节螺母,所述调节螺母设置有四个,所述锁紧螺母设置有两个,分别固定在一侧的调节螺母之间。
3.根据权利要求2所述的陶瓷基板用曲翘度检测仪,其特征在于所述上行平板的四个端部分别设置有一千分表,所述千分表的测杆穿过上行平板垂直于下行平板表面。
专利摘要本实用新型揭示了一种陶瓷基板用曲翘度检测仪,包括一底座,所述底座上与其垂直固定有两块支架,所述支架上固定有相互平行设置的上、下行平板,所述上行平板设置在下行平板的上方,所述上、下行平板上分别设置有上、下陶瓷板,所述上、下行平板间固定有锁紧螺母,所述上、下行平板之间设置有间隙,所述间隙的宽度与所述陶瓷基板的厚度相等,所述上、下行平板与底座形成夹角。当陶瓷基板经过平行的上下陶瓷板板即可检测出是否符合所需平行度。利用千分表做到了精度的控制,保证了检测的准确性,省时省力,大大提高了检测效率。
文档编号G01B5/24GK202284945SQ20112040990
公开日2012年6月27日 申请日期2011年10月25日 优先权日2011年10月25日
发明者卫建国, 安旭舫, 秦乐宁, 谢怀婷, 陆晓金, 黄明臻, 龚卫忠 申请人:苏州赛琅泰克高技术陶瓷有限公司

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