专利名称：原子能级粒子数评测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于粒子数反转量测量技术领域，特别涉及一种原子能级粒子数评测
装置
背景技术：
原子进行能级跃迁时，通常我们会用基态以及激发态来表征其跃迁性，如从基态到激发态，那么原子则要吸收能量，但由于激发态不稳定，故原子又会从激发态返回到基态，从而放出能量。想要进一步研究原子的跃迁性能，我们通常要给简并的原子态加上一个用于原子分裂的磁�。敲丛拥幕突岱至盐附峁沟牧礁瞿芗叮拥墓舱裨厩ㄊ导噬鲜浅附峁沽礁瞿芗豆餐从Φ�。在许多领域，我们要用到原子超精细结构的这两个能级的共振频率，那么就需要对其性能有一定的了解，以进一步研发相应的探测装置
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种原子能级粒子数评测装置，以弥补现有技术中的不足。为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种原子能级粒子数评测装置，包括:光源、能级跃迁发生模 块、光电检测单元；所述光源与所述能级跃迁发生�？榱樱凰瞿芗对厩ǚ⑸？橛胨龉獾缂觳獾ピ�。进一步地，所述能级跃迁发生�？榘�:共振吸收单元、磁场控制单元及供能单元；所述共振吸收单元依次与所述光源、所述磁场控制单元、所述供能单元连接；所述光电检测单元与所述共振吸收单元连接。进一步地，所述共振吸收单元与所述光源之间设置有滤光单元。进一步地，所述共振吸收单元是由玻璃材质构成呈泡状腔体结构的共振吸收泡。进一步地，所述磁场控制单元包括:漆包线、恒流源；所述漆包线缠绕在所述共振吸收泡外壁上；所述恒流源通过所述漆包线为所述共振吸收泡提供磁场。进一步地，所述供能单元是微波射频源。进一步地，所述滤光单元是由玻璃材质构成呈泡状腔体结构的滤光泡。本实用新型公开了一种原子能级粒子数评测装置，包括:光源、能级跃迁发生�？�、光电检测单元；光源与能级跃迁发生�？榱樱荒芗对厩ǚ⑸？橛牍獾缂觳獾ピ�。本实用新型通过构建三能级模型，包括第一能级、第二能级、第三能级；并对于能级跃迁
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权利要求1.一种原子能级粒子数评测装置，其特征在于，包括:光源、能级跃迁发生�？�、光电检测单元； 所述光源与所述能级跃迁发生�？榱樱� 所述能级跃迁发生�？橛胨龉獾缂觳獾ピ�。
2.根据权利要求1所述原子能级粒子数评测装置，其特征在于，所述能级跃迁发生�？榘�:共振吸收单元、磁场控制单元及供能单元； 所述共振吸收单元依次与所述光源、所述磁场控制单元、所述供能单元连接； 所述光电检测单元与所述共振吸收单元连接。
3.根据权利要求2所述原子能级粒子数评测装置，其特征在于:所述共振吸收单元与所述光源之间设置有滤光单元。
4.根据权利要求3所述原子能级粒子数评测装置，其特征在于:所述共振吸收单元是由玻璃材质构成呈泡状腔体结构的共振吸收泡。
5.根据权利要求4所述原子能级粒子数评测装置，其特征在于，所述磁场控制单元包括:漆包线、恒流源； 所述漆包线缠绕在所述共振吸收泡外壁上； 所述恒流源通过所述漆包线为所述共振吸收泡提供磁场。
6.根据权利要求5所述原子能级粒子数评测装置，其特征在于:所述供能单元是微波射频源。
7.根据权利要求6所述原子能级粒子数评测装置，其特征在于:所述滤光单元是由玻璃材质构成呈泡状腔体结构的滤光泡。
专利摘要本实用新型公开了一种原子能级粒子数评测装置，包括光源、能级跃迁发生�？�、光电检测单元；光源与能级跃迁发生模块连接；能级跃迁发生�？橛牍獾缂觳獾ピ�。本实用新型通过构建三能级模型，包括第一能级、第二能级、第三能级；并对于能级跃迁发生�？榇锏蕉胶夂螅琩ΔN/dt＝0，及N1＝0得出公式最终根据所得公式对微波射频源是否设置分析讨论，并通过光电检测单元检测共振吸收泡透射光强进而反映粒子数反转量。本实用新型实现了对粒子数反转量的评估测量，且具有结构简单、易操作、准确度高的特点。
文档编号G01J3/28GK203083703SQ20122070110
公开日2013年7月24日 申请日期2012年12月17日 优先权日2012年12月17日
发明者雷海东 申请人:江汉大学
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
