专利名称：轴双平面对称度检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种轴双平面对称度检测装置，属于轴加工检测装置的技 术领域。
背景技术：
在某些情况下，需要在轴上加工出平行于轴线的两个平面用以与齿轮等传 动部件传动配合。通常情况下两个平面要求对称于轴线设置，而现有技术中并 没有用于检测上述轴双平面对称度的专用装置，故给轴双平面的对称度检测带 来了不便和困难，从而影响了轴双平面加工的顺利进行。
发明内容
本实用新型目的在于提供一种检测方便容易，可保证轴双平面加工顺利进 行的轴双平面对称度检测装置，解决了现有技术存在的轴双平面的对称度检测 不便和困难而影响了轴双平面的加工等问题。
本实用新型的上述技术目的主要是通过以下技术方案解决的它包括底座， 所述底座上设有相对设置的固定顶尖和活动顶尖，所述活动顶尖可相对固定顶 尖轴向移动，底座对应于固定顶尖和活动顶尖的一侧设置有千分表，千分表的 表头端面为一平面，千分表的表头指向固定顶尖和活动顶尖之间且垂直于固定 顶尖和活动顶尖的轴线。
检测时，将加工有两个平面的需检测的轴通过其两端的顶尖孔定位在固定 顶尖和活动顶尖之间，使千分表面的表头端面先与轴一个平面贴合，读取此时 千分表的读数为第一读数，再将轴绕圆周方向转动180度使轴的另一个平面与 表头的端面贴合，读取千分表的读数为第二读数，通过第一读数和第二读数即可判断轴上两个平面关于轴线的对称度，两者的差值越小对称度越高，反之越 低。上述测量操作简单易行，大大简化了轴双平面对称度的检测，从而保证了 轴双平面加工进行。
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因此，本实用新型具有检测方便容易，便于轴双平面的加工等特点。
图1是本实用新型的一种使用结构示意图2是图1的A处局部放大图3是采用本实用新型测量的一种轴的结构示意图4是图3的C-C放大视图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的 说明。
实施例l:如图1和图2所示，包括底座(图中未表示出)，底座上设有相
对设置的固定顶尖1和活动顶尖2，活动顶尖2可相对固定顶尖1轴向移动， 底座对应于固定顶尖1和活动顶尖2的一侧设置有千分表3，千分表3的表头4 的端面5为一平面，千分表3的表头4指向固定顶尖1和活动顶尖2之间且垂 直于固定顶尖1和活动顶尖2的轴线，千分表3的表头4呈水平设置。
检测时，将如图3和图4所示的加工有两个平面6的需检测的轴7通过其 两端的顶尖孔定位在固定顶尖1和活动顶尖2之间，使千分表3的表头端面先 与轴7的一个平面贴合，读取此时千分表的读数为第一读数，再将轴绕圆周方 向转动180度使轴的另一个平面与表头的端面贴合，读取千分表的读数为第二 读数，通过第一读数和第二读数即可判断轴上两个平面关于轴线的对称度，两 者的差值越小对称度越高，反之越低。
权利要求1、一种轴双平面对称度检测装置，包括底座，其特征在于所述底座上设有相对设置的固定顶尖和活动顶尖，所述活动顶尖可相对固定顶尖轴向移动，底座对应于固定顶尖和活动顶尖的一侧设置有千分表，千分表的表头端面为一平面，千分表的表头指向固定顶尖和活动顶尖之间且垂直于固定顶尖和活动顶尖的轴线。
2、 根据权利要求1所述的轴双平面对称度检测装置，其特征在于所述千分 表的表头呈水平设置。
专利摘要本实用新型涉及一种轴双平面对称度检测装置，属于轴加工检测装置的技术领域。它包括底座，所述底座上设有相对设置的固定顶尖和活动顶尖，所述活动顶尖可相对固定顶尖轴向移动，底座对应于固定顶尖和活动顶尖的一侧设置有千分表，千分表的表头端面为一平面，千分表的表头指向固定顶尖和活动顶尖之间且垂直于固定顶尖和活动顶尖的轴线。它检测方便容易，可保证轴双平面加工顺利进行，解决了现有技术存在的轴双平面的对称度检测不便和困难而影响了轴双平面的加工等问题。
文档编号G01B5/02GK201387306SQ20092011773
公开日2010年1月20日 申请日期2009年4月16日 优先权日2009年4月16日
发明者斌 沈, 胡宏元 申请人:许晓华
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