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专利名称：Ccd像元光谱响应均匀性定标装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种CCD像元光谱响应均匀性定标装置。
背景技术：
目前，在静态干涉光谱成像仪中采用的是面阵CCD探测器。从该探测器的每一帧输出数据中，得到的是一维空间图像数据和一维光谱图像数据。为了保证探测器输出数据的精度，必须对探测器各像元之间光谱响应的均匀性进行定标。测量CCD光谱响应均匀性的方法称作小光点注入法。该方法是将CCD置于X、Y移动台上，接通电源；用透镜将光源聚焦成小于被测量CCD像元尺寸的小光点；将小光点调在位于X、Y移动台的CCD的某一像元上；通过数据采集系统采集该像元的响应数据；移动X、Y移动台，使小光点聚焦在CCD的另一像元上，并采集、测量该像元的响应数据。用小光点注入法可测量CCD各光敏元响应的非均匀性和最大偏差。但是，由于光源光谱的限制，采用小光点注入法只能测量CCD各光敏元白光响应的非均匀性，而无法测量不同波长光谱的响应。
实用新型内容本实用新型解决了背景技术中无法测量不同波长光谱响应的技术问题。
本实用新型的技术解决方案是一种CCD像元光谱响应均匀性定标装置，包括激光器1和计算机6，其特殊之处在于它还包括积分球9，所述的激光器1设置于积分球9的入口3处，所述的激光器1与积分球9之间设置有激光功率稳定器2；所述积分球9的测量口4处设置有与计算机6相连的光谱辐射计5，所述积分球9的测量口8处设置有与计算机6相连的待测CCD7。
上述激光器1可以是干涉光谱成像仪光谱范围内不同波长的激光器。
上述待测CCD7以与积分球9的测量口8平行为宜。
本实用新型具有以下优点1.可测量面阵CCD各像元光谱响应的均匀性与最大偏差；2.光源光谱不受限制。在干涉光谱成像仪光谱范围内，可选择不同波长激光器做单色光源，从而可测量不同波长光谱的响应；3.选择美国产LPC-VIS型激光功率控制器，其稳定精度可至0.05％max；4.使用积分球可在其出口B处得到均匀的面光源，其面均匀性应优于2％。


附图为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型的激光器1设于积分球9的入口3处，激光器1与积分球9之间设置有激光功率稳定器2，积分球9的测量口4处设置有与计算机6相连的光谱辐射计5，积分球9的测量口8处设置有与计算机6相连的待测CCD7。在干涉光谱成像仪光谱范围内，本实用新型可选择不同波长的激光器做单色光源。待测CCD7以与积分球9的测量口8平行为宜。由激光器1射出的激光束通过激光功率稳定器2后，成为功率稳定的光束。该光束由积分球9的入口3处进入积分球9，在其测量口8处形成均匀度优于2％的均匀面源。通过计算机6、待测CCD7构成的CCD数据采集系统采集各像元的响应值DXY(λi)；同时，通过光谱辐射计5测量积分球9测量口4处的光谱辐亮度值B(λi)，该值与测量口8处的光谱辐亮度值相等。更换另一种波长的激光器，重复上述操作。比较各像元的DXY(λi)值，即可得到不同波长时各像元的响应均匀性和最大偏差。将DXY(λi)进行归一化处理得到DXY(λi)/B(λi)，从而得到各项元的光谱响应。
权利要求1.一种CCD像元光谱响应均匀性定标装置，包括激光器(1)和计算机(6)，其特征在于它还包括积分球(9)，所述的激光器(1)设置于积分球(9)的入口(3)处，所述的激光器1与积分球(9)之间设置有激光功率稳定器(2)；所述积分球(9)的测量口(4)处设置有与计算机(6)相连的光谱辐射计(5)，所述积分球(9)的测量口(8)处设置有与计算机(6)相连的待测CCD(7)。
2.如权利要求1所述的CCD像元光谱响应均匀性定标装置，其特征在于所述的激光器(1)是干涉光谱成像仪光谱范围内不同波长的激光器。
3.如权利要求1或2所述的CCD像元光谱响应均匀性定标装置，其特征在于所述的待测CCD(7)与积分球(9)的测量口(8)平行。
专利摘要一种CCD像元光谱响应均匀性定标装置，其激光器设置于积分球的入口处，激光器与积分球之间设置有激光功率稳定器；积分球的一测量口处设置有与计算机相连的光谱辐射计，其另一测量口处设置有与计算机相连的待测CCD。本实用新型解决了背景技术中无法测量不同波长光谱响应的技术问题，其可测量面阵CCD各像元光谱响应的均匀性与最大偏差，光源光谱不受限制，在干涉光谱成像仪光谱范围内，可选择不同波长激光器做单色光源，从而可测量不同波长光谱的响应。
文档编号G01M11/00GK2718553SQ200320109869
公开日2005年8月17日 申请日期2003年12月25日 优先权日2003年12月25日
发明者相里斌, 王忠厚, 李立英, 黄旻 申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所