专利名称：楔形塞尺校准装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种校准装置，尤其涉及一种用于对楔形塞尺的刻度进行校准的
装置。
背景技术：
楔形塞尺是用于对部件之间的间隙进行测量的一种器具，目前市场上契形塞尺一 般为进口的较多如韩国、日本，国内的台湾也有生产，其它生产较少。现阶段国家未有对楔 形塞尺进行校准的相应规程，因此契形塞尺量值溯源成为一大攻关的课题，而量值准确是 反映产品质量控制的基础保证。该问题主要是由于契形塞尺校准时的定位不准造成的。而 该校准缺少试验手段不能判断其示值性能是否合格，因此该问题久久未能解决，给生产和 质量带来了较大影响。现在对楔形塞尺通行的校准的手段是采用量块组合进行检测，该手 段是先利用三块或四块量块组合成具有一定尺寸空间测量体，然后再往该空间内插入塞 尺，利用相互平行的两块量块与塞尺相接触，看接触点位置处的示值与量块之间的距离是 否一致，或误差的大小。这种校准手段在进行校准时易造成量块测量面被塞尺不小心划伤， 测量时又需对量块进行组合后才能实现比对测量，导致因人为未组合到位产生定位不准及 测量点不在同一条直线上测量带来的误差。
发明内容为克服上述缺陷，本实用新型需要解决的技术问题是提供一种楔形塞尺校准装 置，其具有结构简单、校准操作方便、速度快、校准值准确的优点。 为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案一种楔形塞尺校准装置，包括底 座、用于和塞尺相配合的校准件，校准件位于底座上，其特征在于，校准件与底座之间为可 拆卸连接，所述校准件内部具有贯穿的测量孔，在底座上于测量孔的位置处具有与测量孔 相通的空间，该空间用于穿过塞尺的端部。在对楔形塞尺进行校准时，把楔形塞尺的端部直 接插入到测量孔内，楔形塞尺的两侧面分别与测量孔的口部内侧相接触，读出接触点位置 处塞尺的刻度值，把该刻度值与测量孔的内径值进行比对，即可得出该刻度值的误差情况。 测量孔的内径值应预先得知，且测量孔的内径应小于楔形塞尺的最大宽度值。校准件一般 是直接搁置在底座上，也可以在底座上设置用于限定校准件位置的限位件，或者是在底座 上设置用于夹持校准件的夹持结构。
作为优�。鲂Ｗ技慕囟厦娉试不纷�。该校准件实际是环规，利用环规的内径 作为基准用于对楔形塞尺进行校准，扩大了环规的适用范围，且对塞尺校准的准确性高。 作为优�。鲂Ｗ技亩嗣嫔涎仄渚断蛏栌锌毯酆捅晔静饬靠啄诰洞笮〉谋� 识。该刻痕用于指示塞尺与环规相接触的位置，在进行校准操作时，塞尺直接从该刻痕的位 置处插入到环规内部。 作为优�。龅鬃樽矗鬃牟嗝嫔仙栌刑菪尾郏诘鬃仙栌泄低ㄐＷ技� 测量孔和梯形槽的透孔，所述的空间形成在透孔内。在进行校准操作时，在正常情况下，楔形塞尺的端部会进入到透孔内，以便楔形塞尺的两侧边分别与环规的口部相接触。 作为优�。龅鬃仙栌卸ㄎ换罚ㄎ换钒苍谛Ｗ技耐庵苊嫔�。定位环的高
度一般要小于校准件的高度，校准件处于定位环内时，校准件的上端部会突出到定位环的
外侧，便于对校准件的拿取。定位环的设置方便了校准件的放置，便于校准件在底座上的快
速定位。
因此，本实用新型的有益效果 把校准件设置在底座上，在校准件内部设置标准内径的测量孔，通过往测量孔内 插入塞尺，塞尺与测量孔的口部相接触，把塞尺上接触点处的刻度值与测量孔的内径值相 比较，即可得出该刻度值是否出现偏差，从而也就完成了对塞尺上该刻度值的校准。校准块 与底座为可拆卸式连接，这样可以很方便地对具有不同内径测量孔的校准块进行更换，从 而可以对楔形塞尺上的多个刻度值进行校准，为楔形塞尺在实际的测量工作中的准确示值 提供了保证。在底座上设置用于塞尺端部穿过的空间，这为楔形塞尺的校准操作提供了方 便。
附图1是本实用新型楔形塞尺校准装置使用状态下的纵向剖视图。
具体实施方式见图中，本实用新型楔形塞尺校准装置的结构包括块状的底座1和设于底座1上 的校准件2。校准件2为圆环状，它实际上是环规，其内部具有通透的测量孔。在底座l上 设有用于楔形塞尺3端部穿过的空间，该空间与校准件2中的测量孔相通。 所述底座1的侧面位置处设有梯形槽6，在底座1上设有透孔5，上述的空间形成 在透孔5内，透孔5沟通测量孔和梯形槽6。 在底座1上于透孔5的外周设有突出的定位环4，定位环4间隙地包覆在校准件2 下端的外周面上，定位环4的高度要小于校准件2的高度。环规的外径大小一般都是相同 的，只是其内径有一定的变化，环规是直接搁置到定位环4内。 校准件2的两端面上设有刻痕，该刻痕沿校准件2的径向方向布置。校准件2的 两端面上还设有刻度值标识，该刻度值用于显示测量孔的内径大小。 在图中，校准件2是直接搁置在底座1上的，当然也可以在底座1上设置一可动作 的夹持装置，用于对校准件2进行夹持。
权利要求一种楔形塞尺校准装置，包括底座、用于和塞尺相配合的校准件，校准件位于底座上，其特征在于，校准件(2)与底座(1)之间为可拆卸连接，所述校准件(2)内部具有贯穿的测量孔，在底座(1)上于测量孔的位置处具有与测量孔相通的空间，该空间用于穿过塞尺(3)的端部。
2. 根据权利要求1所述的楔形塞尺校准装置，其特征在于，所述校准件(2)的截断面呈 圆环状。
3. 根据权利要求2所述的楔形塞尺校准装置，其特征在于，所述校准件(2)的端面上沿 其径向设有刻痕和标示测量孔内径大小的标识。
4. 根据权利要求1、2或3所述的楔形塞尺校准装置，其特征在于，所述底座(1)为块 状，底座(1)的侧面上设有梯形槽(6)，在底座(1)上设有沟通校准件(2)测量孔和梯形槽 (6)的透孔(5)，所述的空间形成在透孔(5)内。
5. 根据权利要求4所述的楔形塞尺校准装置，其特征在于，所述底座(1)上设有定位环 (4)，定位环(4)包覆在校准件(2)的外周面上。
专利摘要本实用新型公开了一种楔形塞尺校准装置。其解决了现有对楔形塞尺刻度值进行校准时操作不便，校准的准确性差，易对校准件的表面产生划伤的问题。所采取的技术措施一种楔形塞尺校准装置，包括底座、用于和塞尺相配合的校准件，校准件位于底座上，其特征在于，校准件与底座之间为可拆卸连接，所述校准件内部具有贯穿的测量孔，在底座上于测量孔的位置处具有与测量孔相通的空间，该空间用于穿过塞尺的端部。
文档编号G01B3/46GK201548151SQ20092031255
公开日2010年8月11日 申请日期2009年10月15日 优先权日2009年10月15日
发明者吴玲萍, 李书福, 杨健, 潘巨林 申请人:浙江豪情汽车制造有限公司;浙江吉利控股集团有限公司
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