专利名称：玻璃微珠高折射率的测定方法
技术领域：
本发明涉及利用显微光学干涉法测定交通标志用玻璃微珠高折射率的方法，特别是采用高折射率介质的测定方法，属于鉴定材料质量的测试技术领域。
交通标志用玻璃微珠是一种折射率很高的珠子，其直径小于0.1毫米，折射率高达2.1-2.3。主要用于制造交通用回归反射标志。它以直径单一的微型球状透镜群在标志中起着光学元件的作用。因此，所测定的玻璃微珠群体的折射率是确定高折射率玻璃微珠质量的最重要的参数之一。
为了测得玻璃微珠的折射率，目前可用的测试方法是1.用硫硒玻璃作介质，在光学显微镜下根据贝克线和移动方向，比较介质和微珠折射率的高低，更换介质，使之尽量接近微珠，由此得出微珠的折射率值。(这种方法就是油浸法)。
2.制成回归反射膜，根据微珠与反射层间距估计微珠的折射率。
3.用Interphako显微干涉法，测定玻璃微珠的折射率(参见“玻璃微珠高折射率的测定及其分布”即将于87年底或88年初在“玻璃与搪瓷”上发表)。
上述第1，2种方法只能满足定性和半定量的要求，而第3种方法因没有选择到最佳介质故其精度只有10-3。
本发明的目的在于提供一种直接测定玻璃微珠高折射率的新方法，能达到逐个、大量、无损、精确测定的目的。
本发明是这样实现的
1.选用一种能与各种玻璃微珠相适应的高折射率材料作为测试所必需的介质，例如溴化银(AgBr)、氯化银(AgCl)等。
2.用最小偏角法精确测定所选介质的折射率n介达10-4;
3.做测量用试片将介质熔化，其中填埋待测折射率的玻璃微珠;
4.用Interphako显微干涉法测定玻璃微珠的直径D，干涉条纹位移量b/a，每一颗玻璃微珠的折射率按以下公式计算出n珠＝n介± (bλ)/(aD)其中，λ为测量时所用光的波长;
n珠-玻璃微珠折射率;
n介-介质的折射率;
a-为零级条纹的间距;
b-为微珠达到零级干涉时与所对应的零级干涉条纹的垂直距离。
本发明的效果1.所选用的介质折射率高，透光性好，无毒，腐蚀性小，可以通过最小偏角法测得其折射率n介为10-4;
2.所测玻璃微珠的精度可高达10-4。
实施例1选用溴化银(AgBr)作介质时，玻璃微珠折射率的测定1.先用最小偏角法测得AgBr的折射率到10-4;
2.取毫克数量级的玻璃微珠，分散在载片上，加上介质和盖上盖片熔制成5-7片试片;
3.用Interphako显微干涉法测定玻璃微珠的折射率，使用带有微型马赫-陈德尔干涉仪的Interphako干涉显微镜。试样置于载物台上，对每一个微珠进行剪像，使不动像调至零级干涉。拍照或直接在镜下测量每个微珠的直径D及干涉条纹位移量b/a，按下列公式计算出玻璃微珠的折射率n珠n珠＝n介± (bλ)/(aD)实施例2选用氯化银(AgCl)作介质，测量玻璃微珠的折射率除介质不同外，其余步骤完全同实施1。
权利要求
1.一种玻璃微珠高折射率的测定方法，包括最小偏角法，Interphako显微干涉法，其特征在于A.选用高折射率材料作为测量介质，并测其折射率n介；B.将介质熔化，填埋玻璃微珠，作成试片；C.用Interphako显微干涉法测定试片中玻璃微珠的直径D，干涉条纹位移量b/a；D.选用波长为λ的光，进行测试；E.根据公式n珠=n介± (bλ)/(aD) ，计算玻璃微珠折射率n珠。
2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于所述的高折射率介质是溴化银AgBr、氯化银AgCl。
3.根据权利要求1的测定方法，其特征在于介质折射率的测定精度为10-4。
全文摘要
选用经最小偏角法测得的AgBr、AgCl的高折射率(n
文档编号G01N21/45GK1030981SQ8710108
公开日1989年2月8日 申请日期1987年7月23日 优先权日1987年7月23日
发明者陈显球, 虞玲, 方凌 申请人:中国科学院上海硅酸盐研究所
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