免疫测定方法及免疫测定装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种能进一步减少由测定对象以外的物质所导致的误差的免疫测定方法及免疫测定装置，检测部件测定测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息。控制部件根据结合数的相关信息按照结合数对测定用试样中所含有的各粒子进行分类。再针对分类后的各组类实施第一除去处理和第二除去处理中的一种处理，根据实施除去处理所获得的载体粒子的数据，获取关于载体粒子的凝集度的相关信息，其中第一除去处理是指从处理对象中除去与载体粒子不同的测定对象以外的物质的数据，第二除去处理是指通过不同于所述第一除去处理的处理从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。
【专利说明】免疫测定方法及免疫测定装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种利用粒子凝集的免疫测定方法及免疫测定装置。
【背景技术】
[0002]人们已经知道有一种利用计数免疫分析(Counting Immunoassay, CIA)的免疫测定方法。在此免疫测定方法中，混合将测定对象物质的相应抗原或抗体致敏的载体粒子与样本，制备测定用试样，测定所制备的测定用试样来获取载体粒子的凝集程度。在此测定方法中，如果样本中含有乳糜粒子等测定对象以外的物质，测定结果就会产生误差。已知的用于减少这种误差的技术比如有美国专利(U.S.Patent) N0.5527714号及美国专利申请公报(U.S.Patent Application Publication) N0.2005/148099 中记述的技术。
[0003]根据美国专利(U.S.Patent) N0.5527714中所记述的技术，在以粒径为横坐标、以粒子数目为纵坐标的粒度分布图中，根据没有出现载体粒子的区域的数据推断测定对象以外的物质的粒度分布。然后根据从全部粒度分布减去所推断的测定对象以外的物质的粒度分布所获得的粒度分布获取凝集度。
[0004]根据美国专利申请公报(U.S.Patent Application Publication) N0.2005/148099中记述的技术，在以前向散射光强度为横坐标、以侧向散射光强度或高频电阻为纵坐标的散点图中，设定载体粒子出现的区域和测定对象以外的物质出现的区域，根据出现在载体粒子的出现区域的粒子来获取凝集度。
[0005]上述两项技术虽然都能够减少乳糜粒子等测定对象以外的物质所造成的误差，但人们要求进一步减少误差。
【发明内容】
[0006]本发明的范围只由后附权利要求所规定，在任何程度上都不受这一节
【发明内容】
的陈述所限。
[0007]因此，本发明提供:
(I)一种免疫测定方法，其包括:
测定混合样本、以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子所得到的测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息；
根据所述结合数的相关信息，将测定用试样所含有的各粒子分别按照所述结合数分类；及
根据对分类后的至少一个组类实施第一除去处理和第二除去处理中的至少一种处理所获得的载体粒子的数据获取载体粒子的凝集度的相关信息，其中所述第一除去处理是指从处理对象中除去与载体粒子不同的测定对象以外的物质的数据，所述第二除去处理是指通过不同于所述第一除去处理的处理从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。
[0008]在本形态的免疫测定方法中，针对分类后的各个组类，分别进行适当的测定对象以外的物质的数据的除去处理，由此能够减轻测定对象以外的物质所造成的误差的影响。[0009](2)根据(I)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在检测步骤中，
用光照射所述测定用试样，获取所述测定用试样中所含有的各粒子的光学信息；及 根据获取的光学信息，检测出前向散射光信息作为所述结合数的相关信息。
[0010]由此，能够轻松、正确地获得结合数的相关信息。
[0011](3)根据(2)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在检测步骤中还根据获取的光学信息检测出侧向散射光信息，
在获取所述信息的步骤中，在所述第一除去处理中根据检测出的侧向散射光信息从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。
[0012]由此，在第一和第二除去处理中能够轻松、准确地从处理对象中除去测定对象以外的物质。
[0013](4)根据(2)或(3)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，在所述第二除去处理中根据检测出的前向散射光信息从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。
[0014]由此就能够轻松、准确地在第一和第二除去处理中从处理对象中除去测定对象以外的物质。
[0015](5)根据(I)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，针对分类后的各个组类，分别选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适于除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
[0016]由此就能针对各个组类切实地运用恰当的除去处理。
[0017](6)根据(5)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，针对分类后的组类，根据所述结合数的大小选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适于除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
[0018]由此就能针对分类后的各个组类切实地运用恰当的除去处理。
[0019]( 7 )根据(5 )或(6 )所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，在针对分类后的组类选择了所述第一除去处理时实施所述第一除去处理。
[0020]这样避免了在不必要的情况下实施第一除去处理，能够提高除去处理的效率和速度。
[0021](8)根据(5)或(6)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，针对分类后的各个组类实施所述第一除去处理和所述第二除去处理两种处理；及
根据实施选择的适于除去测定对象以外的物质的数据的除去处理所获得的载体粒子的数据，获取载体粒子的凝集度的相关信息。
[0022]在此方法中，根据选择的适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理中的载体粒子的数据，获取载体粒子的凝集度的相关信息，因此能够与上述同样地，具有进一步减轻由测定对象以外的物质引起的误差所造成的影响的效果。
[0023](9)根据(I)所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，针对分类后的组类中的一定组类，预先选择所述第一除去处理和所述第二除去处理中的其中之一作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
[0024]此时，最好如下设置:当结合数超过一定的结合数时选择第一除去处理，当结合数与一定的结合数相同或小于一定的结合数时选择第二除去处理。这样，对于一定的组类，不需要判断第一除去处理和第二除去处理中的哪个处理更适合除去测定对象以外的物质的数据，因此能够简化处理。另外，如后述实施方式所提到的，对于一定的组类来说，当第一除去处理和第二除去处理中的其中一个显然比另一个更适合除去测定对象以外的物质的数据时，本方法是一种理想的方法。
[0025](10)根据(5)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，针对分类后的组类中的一定组类，判断所述第一除去处理和所述第二除去处理中的某种处理是否适合除去测定对象以外的物质的数据；及
根据判断结果选择所述第一除去处理和所述第二除去处理中的其中一种处理作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
[0026]这样一来，针对该一定的组类，与测定用试样相应地动态选择更加适合的除去处理，因此能够更恰当地除去测定对象以外的物质。另外，如后述实施方式所言，对于一定的组类来说，当第一除去处理和第二除去处理中的哪个更适合除去测定对象以外的物质的数据不明显时，本方法是一种理想的方法。
[0027](11)根据(5)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，预先设定用于判断所述第一除去处理是否适合除去测定对象以外的物质的数据的判断条件，对于满足所述判断条件的组类选择所述第一除去处理，对于不满足所述判断条件的组类选择所述第二除去处理。
[0028]由此能够更加切实、轻松地选择适合分类后的各个组类的除去处理。
[0029]( 12 )根据(10 )或(11)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，
在所述第一除去处理中，针对分类后的各个组类，分别根据表示粒子的特征量的一定的特征信息设定区分载体粒子的数据与测定对象以外的物质的数据的界线，
根据包括所述界线在内的一定范围中的、包括所述特征信息在内的粒子的粒子数，针对分类后的各个组类分别判断所述第一除去处理是否适合除去测定对象以外的物质的数据。
[0030]由此能够更加切实且轻松地针对分类后的各组类分别选择适当的除去处理。
[0031](13)根据(12)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，
当所述一定范围中包括所述特征信息在内的粒子的粒子数在分类后的组类中所含有的粒子的粒子数中所占比例与一定的阈值相同或小于所述一定阈值时，判断所述第一除去处理适合除去测定对象以外的物质的数据。
[0032]如此，当载体粒子与测定对象物质之间的界线分明时选择第一除去处理，由此能够恰当地从处理对象中除去测定对象以外的物质。
[0033](14)根据(12)所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，
当所述一定范围内包括所述特征信息在内的粒子的粒子数与一定阈值相同或小于所述一定阈值时，判断所述第一除去处理适合除去测定对象以外的物质的数据。
[0034]此时同上，当载体粒子与测定对象物质之间的界线分明时选择第一除去处理，因此能够恰当地从处理对象中除去测定对象以外的物质。
[0035](15)根据(12)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在检测步骤中，
用光照射所述测定用试样，获取所述测定用试样所含有的各粒子的光学信息；及 根据获取的光学信息获取侧向散射光信息作为所述特征信息。
[0036]另外，特征信息除了可以使用侧向散射光信息以外，还可以与美国专利申请公报(U.S.Patent Application Publication) N0.2005/148099 同样地使用高频电阻。
[0037](16)根据(I)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，
所述第二除去处理包括:推断测定对象以外的物质的分布状况的处理、以及根据分类后的各组类中所含有的粒子的分布中减去所推断的测定对象以外的物质的分布的处理。
[0038]以此，第二除去处理能够在适当的组类中进一步减少由测定对象以外的物质所引起的误差造成的影响。
[0039](17)根据(9)所述的免疫测定方法，其特征在于:
在获取所述信息的步骤中，
关于分类后的组类中的一定组类，当所述结合数超过一定的结合数时选择所述第一除去处理，当所述结合数与一定的结合数相等或小于一定的结合数时选择所述第二除去处理。
[0040]如此，不需要针对一定的组类判断第一除去处理和第二除去处理中的哪个适合除去测定对象以外的物质的数据，由此能够简化处理。
[0041](18) 一种免疫测定装置，其包括:
检测部件，测定混合样本、以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子而得到的测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息；及一个用于执行以下操作的控制部件:
根据所述结合数的相关信息，将测定用试样所含有的各粒子分别按照所述结合数分
类；
对于分类后的至少一个组类实施第一除去处理和第二除去处理中的至少其中之一，其中第一除去处理是指从处理对象中除去与载体粒子不同的测定对象以外的物质的数据，第二除去处理是指通过不同于所述第一除去处理的处理从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据；及
根据实施除去处理所得到的载体粒子的数据，获取载体粒子的凝集度的相关信息。
[0042]在本形态的免疫测定装置中，与以上第一形态的免疫测定方法同样地，针对根据载体粒子结合数分类的组类适当选用除去测定对象以外的物质的数据的除去处理，由此能够进一步减少由测定对象以外的物质引起的误差所造成的影响。
[0043](19)根据(18)所述的免疫测定装置，其特征在于: 所述控制部件分别针对分类后的各个组类选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
[0044]由此就能针对各个分类后的组类切实地运用适当的除去处理。
[0045](20)根据(19)所述的免疫测定装置，其特征在于:
针对分类后的组类，所述控制部件根据所述结合数的大小选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
[0046]由此，分类后的各个组类都能切实地运用适当的除去处理。
[0047](21)根据(18)至(20)中的任意一项所述的免疫测定装置，其特征在于:
所述检测部件具有光照所述测定用试样的光源和接受来自所述测定用试样所含有的
各粒子的光的受光部件，
根据所述受光部件所接受的光的信息，检测出前向散射光信息作为所述结合数的相关信息。
[0048]由此就能轻松、正确地获取结合数的相关信息。
[0049](22)根据(21)所述的免疫测定装置，其特征在于:
所述检测部件还根据所述受光部件接受的光的信息检测出侧向散射光信息。
[0050]由此就能轻松、正确地从处理对象中除去测定对象以外的物质。
[0051](23) 一种免疫测定方法，其包括:
测定混合样本、以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子所得到的测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息；
根据所述结合数的相关信息，将测定用试样中所含有的各粒子分别按照所述结合数进行分类；及
对于分类后的至少一个组类，根据实施第一处理和第二处理中的至少其中一种处理所得到的载体粒子的数据，获取载体粒子的凝集度的相关信息，其中第一处理是指从该组类所含有的粒子数据中识别载体粒子的数据，第二处理是指通过不同于所述第一处理的处理识别载体粒子的数据。
[0052](24) 一种免疫测定装置，其包括:
检测部件，测定混合样本、以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子而得到的测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息；及一个用于执行以下操作的控制部件:
根据所述结合数的相关信息，将测定用试样中所含有的各粒子分别按照所述结合数分类；及
对于分类后的至少一个组类，根据实施第一处理和第二处理中的至少一种处理所得到的载体粒子的数据获取载体粒子的凝集度的相关信息，其中第一处理是指从该组类所含有的粒子数据中识别出载体粒子的数据，第二处理是指通过不同于所述第一处理的处理识别载体粒子的数据。
【专利附图】
【附图说明】
[0053]图1a为免疫测定装置的外观结构图；
图1b为免疫测定装置的内部结构图； 图2a为试样制备部件的结构示意图；
图2b为测定部件的结构示意图；
图2c为流动室的结构不意图；
图3为免疫测定装置的结构框图；
图4为控制部件实施的处理的流程图；
图5a是以前向散射光强度和侧向散射光强度为参数的各粒子的散点图的例示图；
图5b为图5a所示散点图中设定的划分线的示图；
图6a是以前向散射光强度和粒子数为参数的各粒子的直方图的例示图；
图6b是用于设定划分线的值的示图；
图7为计数处理的流程图；
图8a为选择处理的流程图；
图8b为图7的S105的具体处理流程图；
图9a?图9d是说明计数处理的过程的图；
图1Oa是推断表示测定对象以外的物质的分布的曲线时所使用的直方图的例示；
图1Ob是表示充当对象粒子的未凝集粒子和凝集粒子的分布的直方图的例示；
图11为本实施方式的免疫测定装置实际得到的测定对象物质的浓度的计算结果说明
图；
图12为变更例I中的计数处理的流程图；
图13a为变更例2中的计数处理的流程图；
图13b为变更例2中的计数处理所使用的表的示图；
图14a为变更例3中的计数处理的流程图；
图14b为变更例3中的计数处理所使用的表的示图。
【具体实施方式】
[0054]下面参照附图，详细说明本发明的优选实施方式。
[0055]在本实施方式中，将本发明用于以下:用粒子凝集法检测出测定对象物质和载体粒子混合所产生的凝集，并根据检测结果对测定对象物质进行定量的免疫测定方法和免疫测定装置。
[0056]在粒子凝集法中，先混合含有测定对象物质的样本、与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子。若样本中存在测定对象物质，载体粒子会因抗原抗体反应而凝集。关于被载体粒子致敏的抗体或抗原，如果测定对象物质是抗体，则使用与该抗体发生特异性抗原抗体反应的抗原。如果测定对象物质是抗原，则使用与该抗原发生特异性抗原抗体反应的抗体。比如，如果测定对象物质是癌胚抗原(CEA抗原)，则载体粒子中抗CEA抗体致敏。载体粒子只要是能够用于粒子凝集法的普通粒子即可，如胶乳粒子、金属粒子、树状大分子等。
[0057]下面参照附图就本实施方式的免疫测定装置I进行说明。
[0058]图1a为免疫测定装置I的外观结构图。图1b为免疫测定装置I的内部结构图。
[0059]免疫测定装置I的前面配置有罩la、开始开关lb、具有触摸屏的显示输入部件2。免疫测定装置I内右侧的空间处配置有用于控制各部件的控制部件3，免疫测定装置I内左下方空间处配置有用于从测定试样检测出信号的测定部件4。免疫测定装置I内的其余空间处配置有用于制备测定试样的试样制备部件5。
[0060]图2a为试样制备部件5的结构示意图。
[0061]试样制备部件5具有样本放置部件51、试剂放置部件52、反应部件53、分装装置54、以及送液装置55。用户打开罩Ia就能将各种容器放置到样本放置部件51和试剂放置部件52。样本放置部件51用于放置装包含测定对象物质在内的血液或尿等样本的容器。试剂放置部件52用于放置装载体粒子悬浮液的容器和装反应缓冲液的容器。载体粒子悬浮液是使载体粒子悬浮于水或缓冲液等适当液体中而得到的液体。反应缓冲液是与载体粒子悬浮液一起添加到样本中的、用于调整促成抗原抗体反应的环境的液体。反应部件53用于放置空的反应杯。
[0062]分装装置54具有能够从前端吸移和排出一定量液体的管，且该分装装置54在驱动装置(无图示)的驱动下能够向上下左右前后方向移动。通过分装装置54，将样本、载体粒子悬浮液和反应缓冲液适当地分装到反应部件53的反应杯。反应部件53具有使反应杯内的溶液保持一定温度的温度调节构件(无图示)、以及用于搅拌反应杯内的溶液的搅拌构件(无图示)。样本、载体粒子悬浮液和反应缓冲液在放置到反应部件53中的反应杯内混合，制备测定试样。
[0063]送液装置55具有用于吸移测定试样的吸管55a、将从吸管55a吸移的测定试样送入测定部件4的送液管55b、以及吸移测定试样并将其送往测定部件4的泵55c。送液装置55在驱动装置(无图示)的驱动下能够向上下左右前后方向移动。放置在反应部件53中的反应杯内的测定试样通过送液装置55送入测定部件4。
[0064]图2b为测定部件4的结构示意图。图2c为流动室41的结构示意图。
[0065]测定部件4具有流动室41、激光光源42、聚光镜43、聚光镜44和45、针孔46和47、光电二极管48、光电倍增管49。流动室41是一个小室，用于让试样制备部件5制备的测定试样在被鞘液包被的状态下从中流过。流动室41如图2c所示，具有对着微孔部分41d向上喷射测定试样的试样喷嘴41a、鞘液供应口 41b、废液口 41c。
[0066]从激光光源42射出的激光通过聚光镜43照射到流动室41的微孔部分41d。以此，激光照射到从微孔部分41d内流过的测定试样上。聚光镜44、45分别聚集从激光照射下的测定试样中的一个个粒子获得的前向散射光和侧向散射光。光电二极管48接受通过了针孔46的前向散射光，对接受的前向散射光进行光电转换，生成前向散射光信号。光电倍增管49接受通过了针孔47的侧向散射光，对接受的侧向散射光进行光电转换，生成侧向散射光信号。针对测定试样中的各个粒子分别生成前向散射光信号和侧向散射光信号，生成的前向散射光信号和侧向散射光信号输送到控制部件3。
[0067]控制部件3根据接收到的前向散射光信号和侧向散射光信号分别算出前向散射光强度和侧向散射光强度，将这些强度存入存储部件31 (参照图3)。
[0068]在此，将通过了流动室41的微孔部分41d的各个粒子中所含有的载体粒子的数量称为“结合数”。将未凝集的载体粒子一即结合数为I的粒子称为“未凝集粒子”，将测定对象物质与载体粒子发生抗原抗体反应所产生的凝集块一即结合数大于等于2的粒子称为“凝集粒子”。凝集粒子中结合数为2、3、4的粒子分别称为“两个凝集粒子”、“3个凝集粒子”、“4个凝集粒子”，结合数大于等于5的粒子统称为“结合数为5的粒子”或“5个凝集粒子”。结合数为1~5的粒子一即未凝集粒子、两个凝集粒子、3个凝集粒子、4个凝集粒子及5个凝集粒子依次顺序逐渐增大。如此，粒子大小随结合数而变化，因此，控制部件3能够根据前向散射光强度的大小判断从流动室41的微孔部分41d通过的粒子是上述五种分类的粒子中的哪一类。控制部件3还能区分并计数未凝集粒子和凝集粒子，故能算出凝集度。本实施方式中，根据未凝集粒子数(M)、凝集粒子数(P)、以及M与P之和的总粒子数(T)计算出的P/T值被采用作为凝集度。
[0069]图3为免疫测定装置I的结构框图。
[0070]控制部件3具有以下部分:具有CPU以及ROM和RAM等存储装置的微型计算机、以及用于处理各种信号的电路等。控制部件3因此具备存储部件31、分析部件32和作业控制部件33的功能。
[0071]存储部件31存储着根据从测定部件4收到的前向散射光信号和侧向散射光信号计算前向散射光强度和侧向散射光强度的程序、根据前向散射光强度和侧向散射光强度分析测定试样的分析程序、以及控制装置各部分的作业的控制程序。存储部件31还存储计算出的前向散射光强度和侧向散射光强度的数据以及基于分析程序的分析结果，此外还存储各种设定内容。分析部件32基于分析程序对测定试样进行分析，生成关于测定试样的分析结果。在分析部件32生成的分析结果输出到显示输入部件2。作业控制部件33基于存储部件31所存储的控制程序控制装置各部分的作业。
[0072]图4为控制部件3实施的处理的流程图。
[0073]在图4所示处理之前，用户先打开罩la，将装样本的容器和装试剂的容器分别放置到样本放置部件51和试剂放置部件52。然后，用户按下开始开关lb，开始进行处理。
[0074]按下开始开关Ib后(Sll:是)，控制部件3制备测定试样(S12)。具体而言，分装装置54将样本放置部件51中放置的容器中的样本分装一定量(比如10 μ L)到反应部件53中放置的反应杯中。然后，分装装置54将试剂放置部件52中放置的容器中的反应缓冲液分装一定量(比如80 μ L)到反应部件53中放置的反应杯中，将试剂放置部件52中放置的容器中的载体粒子悬浮液分装一定量(比如IOyL)到反应部件53中放置的反应杯中。然后,控制部件3通过反应部件53使反应杯保持一定温度(如45°C)，并同时搅拌反应杯内的试样一定时间(如5分钟)。以此在反应杯中制备测定试样。之后，反应部件53的反应杯内的一定量的测定试样由送液装置55送往测定部件4的流动室41。
[0075]然后，控制部件3通过测定部件4进行测定(S13)。具体而言，由测定部件4根据从测定试样中的各粒子获得的前向散射光和侧向散射光生成前向散射光信号和侧向散射光信号。控制部件3根据前向散射光信号和侧向散射光信号分别算出前向散射光强度和侧向散射光强度，并将这些强度存入存储部件31。然后，控制部件3读取存储部件31中存储的前向散射光强度和侧向散射光强度(S14),开始分析测定试样。
[0076]在本说明书中，为方便说明，适当参考散点图和直方图。这些散点图和直方图未必要制作成图形或图表形式，只要通过数据处理能获得同样结果即可。另外，在制作散点图和直方图的步骤中，不一定要制作有两个坐标的图表，只要根据存储部件31所存储的前向散射光强度和侧向散射光强度的数据生成与上述散点图和直方图具有同等数据结构的数据即可。
[0077] 图5a为图4的S14读取的各粒子以前向散射光强度(称为“FSC”)和侧向散射光强度(称为“SSC”)为参数的散点图SGl的例示图。横坐标表示FSC，纵坐标表示SSC。FSC是反映粒子大小的信息，粒子大小随着向散点图SGl的右侧推移而逐渐变大。SSC是反映粒子的内部信息(密度)的信息，粒子的内部信息(密度)随着向散点图SGl的上方推移而逐渐变大。
[0078]在散点图SGl中，结合数为1~5的粒子一即未凝集粒子、两个凝集粒子、3个凝集粒子、4个凝集粒子、以及5个凝集粒子依此顺序从左下方向右上方分布。如此，未凝集粒子和凝集粒子根据其结合数的不同而在散点图SGl呈现不同的分布，因此，只要设定各粒子的分布区域就能区分并计数各粒子。
[0079]返回图4，如图5b所示，控制部件3设定用于将散点图SGl划分为未凝集粒子和两个飞个凝集粒子各自的分布区域Alf A15的划分线Llf L14 (S15)。如后所述，划分线L1TL14是基于直方图HGl设定的。
[0080]图6a是以图4的S14读取的各粒子的FSC和粒子数为参数的直方图HGl的例示图。横坐标表示FSC,纵坐标表示粒子数。如直方图HGl的曲线Gl所示，结合数为1~5的粒子一即未凝集粒子、两个凝集粒子、3个凝集粒子、4个凝集粒子、以及5个凝集粒子分别分布在粒子数达到波峰时的FSC值(峰值PfP5)附近。因此，用于划分图5b所示区域Alf A15的划分线Llf L14分别设定在相邻的峰值之间。
[0081]也可以将划分线Llf L14固定为从经验上和统计上认为是恰当的位置。然而，即使是在同一种样本中，各个测定试样的划分线Llf L14也会略有偏差，因此，要提高区域Α~Α15的划分 精度，最好按照各个测定试样分别对划分线Llf L14进行微调。因此，在本实施方式中，预先设定经验上和统计上认为恰当的划分线Llf L14的固定值vlf vl4，与测定试样中未凝集粒子的波峰位置(峰值Pl)相应地分别调整上述固定值vlf vl4，以此求出用于规定划分线Llf L14的值Vl 1114。
[0082]即，如图6b所示，存储部件31存储凭经验和统计而确定了其位置的FSC的固定值Pl作为未凝集粒子的波峰。存储部件31还分别存储凭经验和统计而确定了其位置的FSC的固定值vlf vl4，并将其作为未凝集和两个凝集、两个凝集和3个凝集、3个凝集和4个凝集、4个凝集和5个凝集的分布界线。
[0083]当直方图HGl为图6a所示状态时，控制部件3用固定值vlfvl4乘以此时的峰值Pl除以固定值Pl所得数值(Pl/pl)，以此来计算出值VlfV14。即，值V11~V14分别为vllX (PI / pl)、vl2X (PI / pl)、vl3X (PI / pl)、vl4X (PI / pi)。控制部件 3 按照算出的值VlfV14如图5b所示地设定向上下方向延伸的划分线Llf L14。
[0084]存储部件31除了存储凭经验和统计而确定其位置的FSC的固定值pi作为未凝集粒子的波峰，还可以存储凭经验和统计而确定其位置的FSC的固定值p2、5作为两个飞个凝集粒子的波峰。此时，例如，值VlfV14分别通过vllX (PI / pl)、vl2X (P2 / p2)、vl3X (P3 / p3)、vl4X (P4 / p4)求出。
[0085]然后返回图4，控制部件3如图5b所示，用划分线Llf L14划分整个散点图SGl的区域，设定结合数为广5的粒子各自分布的区域AlfA15 (S16)0然后，控制部件3进行计数处理(S17)，该计数处理是指对区域Alf A15中分别包含的未凝集粒子和2飞个凝集粒子进行计数。
[0086]例如图5a的区域AO所示，散点图SGl的下部有时会分布有乳糜粒子等测定对象以外的物质。此时，图5b的区域AlfA15中除了包含未凝集粒子或凝集粒子以外还含有测定对象以外的物质。因此，如果单纯设定与结合数相应的区域Alf A15并对区域Alf A15所包含的粒子进行计数的话，将会无法精确计数区域Alf A15中所包含的未凝集粒子和凝集粒子。
[0087]因此，在本实施方式中，通过图4所示计数处理(S17)从计数对象中除去区域Α11~Α15中所含有的测定对象以外的物质，精确计数结合数为1~5的各粒子。关于计数处理(S17 )，随后将参照图7和图8a进行说明。
[0088]返回图4，接下来，控制部件3根据计数的各粒子数算出凝集度和浓度(S18)。具体而言，控制部件3合计计数处理中得到的2飞个凝集粒子的计数值，求出合计粒子数(P)，再将未凝集粒子的粒子数(M)与合计粒子数(P)相加，求出总粒子数(T)。然后，控制部件3根据求出的合计粒子数(P)和总粒子数(T)算出凝集度(P/T)，再根据算出的凝集度和预先制作的标准曲线，算出此样本中所含有的测定对象物质的浓度。
[0089]接下来，控制部件3将S18算出的结果存入存储部件31 (S19)。算出的测定对象物质的浓度适当地显示在免疫测定装置I的显示输入部件2 (参照图1a)上。至此，控制部件3进行的处理结束。
[0090]图7为计数处理(S17)的流程图。
[0091]控制部件3首先将存储部件31所存储的变量i设为I (S101)。然后，控制部件3对图5b的区域Ali (在此变量i为I所以是区域All)实施S102~S109的处理。即，控制部件3对区域All进行从计数对象中除去测定对象以外的物质的第一除去处理(S102、S103、S108)，还进行处理来计数除去了测定对象以外的物质后的剩余粒子，获取第一计数值Cll(Siog)0此时，控制部件3还进行处理来判断第一除去处理是否适于除去测定对象以外的物质的数据，并将与是否适合的结果相应的值设定为标记Fl (S10rS107)o
[0092]如此，当对区域All的处理结束后，控制部件3在变量i上加I (S110)，并判断加I后的变量i的值是否超过5 (Slll)0如果变量i未超过5 (S111:否)，则返回S102，对区域Ali实施S102飞109的处理。在此，变量i的值变为了 2，故对图5b的区域A12实施S102~S109的处理，获取第一计数值C12和标记F2。
[0093]其后，在变量i的值超过5之前控制部件3反复进行S102~S109的处理。以此，针对图5b的区域A13、A14、A15分别获取第一计数值C13、C14、C15和标记F3、F4、F5。
[0094]关于在S102~S109的具体处理，以对图5b的区域A13 (变量i=3)进行的处理为例进行说明。另外，对图5b的区域All (变量i=l)、A12 (变量i=2)、A14 (变量i=4)、A15 (变量i=5)所进行的处理也是通过同样的步骤进行的。 [0095]图9a~图9d为对区域A13进行的处理的过程示意图。
[0096]针对图9a所示散点图SGl的区域A13所含有的粒子，控制部件3绘制以SSC和粒子数为参数的直方图HG2(S102)。然后，控制部件3在直方图HG2中设定用于区分区域A13所含有的对象粒子(此时为3个凝集粒子)与测定对象以外的物质的划分线L21 (S103)。
[0097]图9b为直方图HG2的波形图。在直方图HG2中，左侧的山丘状部分是与测定对象以外的物质相对应的部分，右侧的山丘状部分是与3个凝集粒子相对应的部分。在图7的S102中，控制部件3首先对直方图HG2的波形进行平滑处理，使直方图HG2的波形变得平滑化。在此基础上，控制部件3在左侧的山丘状部分的波峰和右侧的山丘状部分的波峰之间获取粒子数最少时的SSC值V21。然后，控制部件3按照获取的值V21设定向上下方向延伸的划分线L21。此划分线L21如图9c所示，在散点图SGl上相当于划分线L22。
[0098]接着，控制部件3设定包括划分线L21在内的一定幅度的区域A23 (S104)，以便判断用划分线L21划分对象粒子与测定对象以外的物质是否恰当。即，如图9d所示，针对划分线L21，控制部件3设定一个在SSC缩小的方向和增大的方向上各有一定范围的区域A23。此区域A23如图9c所示，在散点图SGl上相当于区域A24。
[0099]在此，如果区域A23所包含的粒子数很少，则意味着划分线L21附近的对象粒子和测定对象以外的物质很少，因此控制部件3判断在区域A13中对象粒子所对应的区域和测定对象以外的物质的区域分离良好。此时，控制部件3判断用划分线L21划分对象粒子和测定对象以外的物质是恰当的。另一方面，如果区域A23所包含的粒子数很多，则意味着划分线L21附近混合存在着对象粒子和测定对象以外的物质，因此控制部件3判断在区域A13中对象粒子所对应的区域和测定对象以外的物质的区域分离地不好。此时，控制部件3判断用划分线L21划分对象粒子和测定对象以外的物质是不恰当的。
[0100]如上所述，控制部件3根据包括划分线L21在内的一定幅度的区域A23中所包含的粒子数，判断用划分线L2 1划分对象粒子和测定对象以外的物质是否恰当(S105)。然后，如果控制部件3判断用划分线L21进行划分是恰当的(S105:是)，则标记F3设定为I(S106)，如果用划分线L21进行的划分是不恰当的(S105:否)，则标记F3设为2 (S107)。
[0101]图8b为S105的具体处理示图。控制部件3计数区域A23中所含有的粒子数Ca(S105a)，再计数区域A13 (变量i=3)中所含有的粒子数Cb (S105b)。然后，控制部件3判断粒子数Ca在粒子数Cb中的比例Ca/Cb是否等于一定的阈值Cshl、是否小于一定阈值Cshl(S105c)，当Ca/Cb这一比例与阈值Cshl相同或小于阈值Cshl时(S105c:是)，判断用划分线L21进行划分是恰当的，在图7的S106将标记Fi设为I。而当Ca/Cb这一比例超过阈值Cshl时(S105c:否)，控制部件3进一步判断区域A23所含有的粒子数Ca是否等于一定的阈值Csh2、小于一定阈值Csh2 (S105d)。当粒子数Ca与阈值Csh2相同或小于阈值Csh2时(S105d:是)，控制部件3判断用划分线L21进行划分是恰当的，在图7的S106将标记Fi设为1，当粒子数Ca超过阈值Csh2时(S105d:否)，判断用划分线L21进行划分是不恰当的，在图?的S107将标记Fi设为2。
[0102]返回图7，如此，判断用划分线L21划分对象粒子和测定对象以外的物质是否恰当后，控制部件3如图9b所示，用划分线L21划分直方图HG2，设定除去了测定对象以外的物质的分布区域A21以后的区域A22—即对象粒子的分布区域A22 (SlOS)0然后，控制部件3计数区域A22所含有的粒子数，获取该计数值作为区域A13的第一计数值C13 (S109)。
[0103]在本实施方式中，如图7的流程图所示，除了在S105判断用划分线L21进行划分是恰当的这一情况(S105:是)之外，在判断用划分线L21进行划分是不恰当的情况下(S105:否)，也会在S108、S109设定区域A22，获取第一计数值C13。
[0104]如此，针对区域A13获取第一计数值C13，设定标记F3。关于其他区域All、A12、A14、A15，也通过实施S102飞109的处理与上述同样地设定划分线L21，获取第一计数值(:11、(:12、(:14、(:15，并设定标记卩1、卩2、卩4、卩5。
[0105]在图7的S102~S109的处理中，通过S108的处理从处理对象除去了测定对象以外的物质的分布区域A21，因此在S109获取的第一计数值Cli中，测定对象以外的物质的影响得到了抑制。然而，如图5a和图5b所示，在4个凝集及5个凝集所对应的区域A14、A15等结合数较大的区域中，虽然测定对象以外的物质明确地与对象粒子分离，但是随着结合数变少，测定对象以外的物质与对象粒子之间的界线逐渐不明朗。因此，对于结合数较大的区域(区域A14、A15等)，用图7的第一除去处理(S102、S103、S108)就能精确地除去测定对象以外的物质，而对于结合数较小的区域(区域A11、A12等)，用第一除去处理除去测定对象以外的物质的数据时精度会降低。
[0106]在图7的流程图中，第一除去处理(S102、S103、S108)是否适合除去区域Ali中的测定对象以外的物质的数据由S106、S107设定的标记Fi的值表示。即，如果在S105判断用划分线L21进行划分是恰当的(S105:是)，则认为第一除去处理合适，标记Fi设为I。另一方面，如果在S105判断用划分线L21进行划分是不恰当的(S105:否)，则认为第一除去处理不合适，标记Fi设为2。在判断选择第一计数值Cli与S112~S118获取的第二计数值C2i中的哪个作为区域Ali的对象粒子的计数值时，将会参照如上设定的标记Fi。
[0107]上述处理完成后，控制部件3进行从计数对象中除去测定对象以外的物质的第二除去处理(S112~S114)，并进行处理来计数除去了测定对象以外的物质后的剩余粒子，获取结合数为广5的粒子的计数值一即第二计数值C2fC25 (S115~S118)。 [0108]也就是说，控制部件3根据图1Oa所示直方图HGl推断表示测定对象以外的物质的分布的曲线G2(S112)。图1Oa所示直方图HGl与图6a所示直方图HGl相同。具体而言，控制部件3以图1Oa所示曲线Gl为基�。ü鹾贫媳硎静舛ǘ韵笠酝獾奈镏实姆植嫉那逩2。然后，控制部件3从曲线Gl减去曲线G2，由此绘制图1Ob所示直方图HG3，设定表示对象粒子(未凝集粒子和凝集粒子)的分布的曲线G3 (S113)。这种曲线G3的设定方法在美国专利(U.S.Patent)第5527714号上有详细记载。
[0109]接下来，如图1Ob所示，控制部件3根据图4的S15算出的值V11~V14(参照图6b)划分设定了曲线G3的直方图HG3，设定区域A3fA35 (SlH)0
[0110]然后，控制部件3将变量i设为I (S115)。控制部件3接着计数区域A3i中所含有的粒子(结合数为i的粒子)，获取该计数值并将其作为第二计数值C2i(S116)。在此，变量i的值为1，因此区域A31中所含有的粒子的计数值被作为第二计数值C21获取。其后，控制部件3将变量i加1(S117)，当变量i的值小于或等于5时(S118:否)，处理返回S116，对区域A3i进行第二计数值C2i的获取处理。在此，通过SI 17的处理，变量i的值变为了2，因此，对区域A32实施第二计数值C22的获取处理。这种第二计数值C2i的获取处理反复进行，直至变量i的值超过5 (S118:是)。这样，依次对区域Α31~Α35进行S116飞117的处理，就结合数为I飞的粒子分别获取第二计数值C2fC25。
[0111]在图7的S112飞116的处理中，在S113从直方图HGl上的曲线Gl减去表示测定对象以外的物质的分布的曲线G2，绘制了直方图HG3，因此，在计数直方图HG3中设定的区域Α31‘Α35中所含有的粒子后获得的第二计数值C2i中，测定对象以外的物质的影响得到了抑制。此时，如图1Oa所示，在FSC较小的区域中，测定对象以外的物质的数量较多，因此能够精确地推断测定对象以外的物质的分布。因此，在FSC较低的区域中，用第二除去处理(S112飞114 )除去测定对象以外的物质的数据时的精度得以提高。
[0112]然而，如图1Oa所示，随着FSC增大，测定对象以外的物质的数目逐渐接近0，因此，在FSC较大的区域，很难精确地推断测定对象以外的物质的分布。因此，用第二除去处理(S112飞114)除去测定对象以外的物质的数据时，精度随着FSC的增大而逐渐降低。
[0113]因此，在结合数较小的区域(区域A31、A32等)中，用第二除去处理(S112~S114)除去测定对象以外的物质的数据的精度较高，但在结合数较大的区域(区域A34、A35等)中的精度会降低。
[0114]对此，如上所述，用第一除去处理(S102、103、S108)除去测定对象以外的物质的数据时的精度与第二除去处理(S112~S114)相反，在结合数较大的区域(区域A34、A35等)精度高，在结合数较小的区域(区域A31、A32等)精度低。因此，最好在第一除去处理的精度高的区域一即标记Fi为I的区域采用第一除去处理，在第一除去处理的精度低的区域一即标记Fi为2的区域采用第二除去处理。
[0115]因此，在本实施方式中，根据标记Fi的值，实施第一除去处理(S102、103、S108)后获得的第一计数值Cli和实施第二除去处理(S112~S114)后获得的第二计数值C2i中的其中之一将会被选定为结合数i的粒子的计数值。
[0116]图8a为此选择处理的流程图。图8a的流程图显示的是图7的S118之后的处理。
[0117]即，控制部件3将变量i设为I (S119)，并判断在S106或S107设置的标记Fi的值是否为I (S120)。当标记Fi的值为I时(S120:是)，控制部件3采用第一计数值Cli作为结合数为i的粒子的数目(S121)，当标记Fi的值为2时(S120:否)，控制部件3采用第二计数值C2i作为结合数为i的粒子的数目(S122)。在S123，在变量i上加I。S12(TS123的处理反复进行，直至变量i超过5(S124)。如此，分别采用第一计数值Cli和第二计数值C2i中的其中之一作为结合数为广5的粒子的粒子数。至此,计数处理结束。
[0118]如此，分别根据标记FfF5的值采用第一计数值和第二计数值中的其中之一作为结合数为广5的粒子的粒子数，比起仅采用第一计数值Cli作为结合数为1飞的粒子的粒子数、仅采用第二计数值C2i作为结合数为1-5的粒子的粒子数，本发明的方法采用了精度更高的计数值。即，如上所述，就结合数较大的粒子而言，第一除去处理的精度高，因此第一计数值Cli的精度会有增高趋势，就结合数较小的粒子而言，第二除去处理的精度高，因此第二计数值C2i的精度会有增高趋势。因此，对于结合数较大的粒子宜采用第一计数值，对于结合数较小的粒子宜采用第二计数值。在本实施方式中，在S105判断是否应采用第一计数值，根据这一判断结果采用第一和第二计数值中的其中之一，因此能够精确地获取结合数为广5的粒子的粒子数。由此，在图4的S18就能算出较为精确的凝集度和浓度。
[0119] 下面按照图4、图7和图8a的流程图说明用免疫测定装置I实际得到的测定对象物质的浓度的计算结果。
[0120]图11显示的是用七个测定试样C(TC6通过下述处理所获得的结果:图4、图7和图8a所示处理(本实施方式)、仅获取第一计数值的处理(比较例I)、仅获取第二计数值的处理(比较例2)。
[0121]本测定使用希森美康株式会社生产的“Ranream HBsAg”作为测定试样C(TC6。这是一种HBs抗原测定用试剂盒，由HBsAg胶乳试剂、HBsAg缓冲液、HBsAg样本稀释液、HBsAg校准品构成。本测定用HBsAg校准品作为样本，使用HBsAg缓冲液作为反应缓冲液。载体粒子悬浮液是另行生成的用于本测定的悬浮液。另外，在本测定中，乳糜试样使用的是希森美康株式会社生产的“干扰检查/A plus”(日语名称为“干渉子工〃。A 7° 7 ?在本测定中，在反应部件53的反应杯混合的样本、反应缓冲液、载体粒子悬浮液保持在45°C中并搅拌5分钟。样本的分装量为10 μ L，反应缓冲液的分装量为80 μ L，载体粒子悬浮液的分装量为10 μ L。
[0122]HBsAg胶乳试剂是使抗HBs抗体致敏的胶乳粒子的悬浮液。HBs抗原是乙肝病毒(HBV)的表面抗原，用HBs抗原测定用试剂就能检查是否处于HBV感染状态。
[0123]在图11中，在针对每个测定试样设定的六个“项目”中分别显示了凝集度(Ρ/Τ)、结合数为1~5的粒子(未凝集飞个凝集粒子)的相关信息。“实施方式”、“比较例1”、“比较例2”显示了混有乳糜试样的测定试样的结果，“真值”中显示了未混入乳糜试样的测定试样的结果。在实施方式与比较例1、比较例2中，“获取值”中显示了获取的凝集度和获取的粒子数，“偏离度”中显示了与“真值”的值的偏离度。实施方式的“选择”中显示的是按照图7和图8a所示计数处理采用了比较例I (第一计数值)还是比较例2 (第二计数值)。
[0124]在本实施方式中，结合数为1~5的粒子的粒子数采用了比较例1、2中偏离度的绝对值较小的一方的计数值。比如，关于测定试样C2的未凝集粒子，比较例I的偏离度为3.82%，比较例2的偏离度为-0.40%。本实施方式的偏离度为偏离度绝对值较小的一方一即比较例2的计数值(78985)。另外，关于测定试样C2的3个凝集粒子，比较例I的偏离度为16.32%，比较例2的偏离度为-37.89%。本实施方式的偏离度为偏离度绝对值较小的一方一即比较例I的计数值(221)。如此，在本实施方式中采用比较例1、2中偏离度绝对值较小的一方的计数值，即更接近真值的计数值。
[0125]在本实施方式中，结合数为1~5的粒子分别采用了比较例1、2中接近真值的计数值，因此，根据结合数为1~5的粒子的粒子数算出的凝集度的偏离度绝对值或与比较例1、2相同，或小于比较例1、2。如，关于测定试样Cl，比较例I的凝集度为1.96%，与真值的偏离度为17.76%，比较例2的凝集度为1.68%，与真值的偏离度为0.52%。与此相对，本实施方式的凝集度为1.68%，与比较例2同值。关于测定试样C3，比较例I的凝集度为8.56%，与真值的偏离度为3.34%，比较例2的凝集度为8.50%,与真值的偏离度为2.63%。与此相对，本实施方式的凝集度为8.18%，与真值的偏离度为-1.28%。如此，在本实施方式中，凝集度的偏离度绝对值与比较例1、2相同，或小于比较例1、2，即凝集度的精度与比较例1、2相同，或比比较例1、2高。
[0126]如本实施方式的“选择”值所示，在各测定试样中，对于结合数较小的粒子采用比较例2 (第二计数值)，对于结合数较大的粒子采用比较例I (第一计数值)。关于结合数为中等的粒子，选择并采用比较例I (第一计数值)和比较例2 (第二计数值)中的其中之一。
[0127]根据本实施方式，控制部件3分别针对散点图SGl的区域Α11~Α15判断划分线L21能否进行恰当的划分。如果控制部件3判断能够进行正确划分，则选择通过第一除去处理获得的第一计数值，如果判断不能进行恰当划分，则选择通过第二除去处理获得的第二计数值。以此就能更加有效地减轻由测定对象以外的物质引起的误差而造成的对凝集度和浓度的影响。
[0128]在本实施方式中，在S105中，控制部件3分别判断图9d所示区域A23中所含有的粒子数、以及区域A23所含有的粒子数在直方图HG2整体所含有的粒子数中的比率是否等于一定阈值Csh2、Cshl、是否小于一定阈值Csh2、Cshl。通过上述判断就能恰当地判断在直方图HG2中，与测定对象以外的物质相对应的左侧的山丘状部分以及与对象粒子相对应的右侧的山丘状部分的界线是否明确。由此，通过S105的判断就能恰当地判断第一除去处理是否合适，能够恰当地对第一计数值和第二计数值进行选择。
[0129]在上述实施方式中，用散点图SGl和直方图HGf HG3说明了图4、图7和图8a所示处理，在这些图中标明了划分线和区域。然而，如上所述，没必要实际将这些图和划分线、区域画出来并对其进行例如显示在显示输入部件2等的操作，仅将其作为控制部件3的分析部件32所实施的处理进行设定即可。具体而言，比如，在存储部件31所存储的全部粒子的信息中附加上表示粒子被分类为结合数广5的粒子还是测定对象以外的物质的粒子，划分线和区域则通过表示坐标的数值设定。
[0130]以上对本发明的实施方式进行了说明，但本发明的实施方式不限于此。
[0131]比如，在上述 实施方式中，对所有结合数的粒子实施第一和第二除去处理，获取第一和第二计数值，然后选择某一方的计数值。但是不限于此，也可以只获取第一和第二计数值中恰当的计数值。
[0132]图12为此时的计数处理的流程图(变更例I)。在图12所示计数处理中，图7和图8a所示计数处理的S109、S116分别更换为S131、S133，在S115之后追加S132。另外，在S107的处理之后，改为处理前进到S110。此外，在图12所示计数处理中省略图8a的S119~S124。
[0133]此时，关于结合数为i的粒子，如果用划分线L21进行划分是不恰当的(S105:否)，则控制部件3将标记Fi设为2 (S107)，并将处理推进到S110。即，在本变更例中，如果用划分线L21进行划分是不恰当的(S105:否)，则第一除去处理(S108)和粒子数计数值的获取处理(S131)将会被跳过。另一方面，关于结合数为i的粒子，如果用划分线L21进行划分是恰当的(S105:是)，则控制部件3将标记Fi设为I (S106)，对通过划分线L21划分的A22中所含有的粒子数进行计数，获取该计数值作为结合数为i的粒子的粒子数(S131)。
[0134]控制部件3在S115将变量i设为I后，判断标记Fi的值是否为2 (S132)。当标记Fi的值不为2时(S132:否)，控制部件3跳过粒子数的计数值的获取处理(S133)。另外，当标记Fi的值为2时(S132:是)，控制部件3计数区域A3i中所含有的粒子的粒子数，获取该计数值作为结合数为i的粒子的粒子数(S133)。
[0135]通过图12所示计数处理，与上述实施方式同样地，能够精确地获取结合数为1-5的粒子的粒子数。此外，当第一除去处理不合适时(S105:否)，不实施第一除去处理(S108)，因此能够提高处理的效率及速度。另外，当第一除去处理不恰当时(S105:否)，跳过S131的计数值的获取处理，当第二除去处理不恰当时(S132:否)，跳过S133的计数值的获取处理，因此，与上述实施方式相比，计数处理的效率和速度能够得到提高。
[0136]在上述实施方式中，针对结合数为f 5的5个种类的全部粒子，分别在S105判断第一除去处理是否恰当。但也可以不进行此判断，预先就各个结合数选择第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适合除去测定对象以外的物质的数据的处理。
[0137]图13a为此时的计数处理的流程图(变更例2)。在图13a的计数处理中，向图12所示计数处理追加了 S201，并删除了 S103~S106。此外，存储部件31中储存图13b所示表，表示选择第一除去处理还是第二除去处理的标记Ff F5与其值之间建立关联。如果标记Fi的值为1，则选择第一除去处理(S102、S103、S108)作为恰当的除去处理，如果标记Fi的值为2，则选择第二除去处理(S112~S114)作为恰当的除去处理。
[0138]控制部件3将变量i设为I (SlOl)，判断存储部件31中存储的标记Fi的值是否为I (S201)。在此，如果标记Fi的值不为I (S201:否)，则控制部件3跳过第一除去处理(S102、S103、S108)和粒子数的计数值的获取处理(S131)，并在变量i上加I (SllO)0另一方面，如果标记Fi的值为I (S201:是)，则控制部件3实施第一除去处理(S102、S103、S108),设定区域A22，再计数所设定的区域A22中所含有的粒子的粒子数，获取该计数值作为结合数为i的粒子的粒子数(S131)。
[0139]上述处理反复进行，直至变量i的值超过5。以此，仅就标记Fi的值为I的结合数的粒子获取粒子数。当如图13b所示地设定了标记Fi时，通过S102、S103、S108、S131的处理，仅就结合数为3、4、5的粒子获取粒子数，结合数为1、2的粒子不获取粒子数。对于结合数为1、2的粒子，通过S132、S133的处理获取粒子数。
[0140]通过图13a所示计数处理，与上述实施方式同样地，能够精确地获得结合数为广5的粒子的粒子数。此外，由于不用判断第一除去处理(S102、S103、S108)是否适合除去测定对象以外的物质的数据，因此能够使处理变得更加简单而迅速。
[0141]如上所述，对于结合数较大的粒子，第一除去处理的精度高，对于结合数较小的粒子，第二除去处理的精度高。因此，也可以根据此倾向预先选择第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。图13b所示标记Fi的设定内容反映了此倾向。即，关于与结合数较大的粒子相对应的标记F4、F5，因为第一除去处理的精度高，因此设定表示选择第一除去处理的数值1，关于与结合数较小的粒子相对应的标记F1、F2，因为第二除去处理的精度高，因此设定表示选择第二除去处理的数值2。从图11所示验证结果也可以知道，对于结合数为4、5的粒子来说第一除去处理的精度高，对于结合数为1、2的粒子来说第二除去处理的精度高。
[0142]如此，预先选择和设定第一除去处理和第二除去处理中的其中之一，在对该结合数的粒子来说哪种除去处理更合适从统计上和经验上是显而易见的情况下，这一方法特别适合。
[0143]从图11所示验证结果来看，关于结合数为3的粒子，第一除去处理和第二除去处理中的哪个更适合除去测定对象以外的物质的数据会因测定对象试样的不同而各异。对此，在图13b所示标记Fi的设定中，对于结合数为3的粒子选择第一除去处理。因此可以想象到，在有的测定对象试样中，就结合数为3的粒子获取的粒子数中可能包含着由测定对象以外的物质引起的误差。
[0144]然而，虽然如上所述，就结合数为3的粒子获取的粒子数的精度有可能较低，但就其他结合数的粒子获取的粒子数的精度却维持在很高水平。因此，本变更例也能够提高图4的S18算出的凝集度和浓度的精度。
[0145]在图13a的计数处理中，也可以如下设置:仅仅就第一除去处理和第二除去处理中的哪个更适合除去测定对象以外的物质的数据这一结果不明确的结合数的粒子(在此是结合数为3的粒子)判断第一除去处理和第二除去处理中的某个是否适合除去测定对象以外的物质的数据。
[0146]图14a为此时的计数处理的流程图(变更例3)。在图14a所示流程图中，Slll以后的处理步骤与图13a所示流程图相同。图14a的计数处理是在图13的计数处理中追加了 S2lfS216。存储部件31中存储着图14b所示表，表示选择第一除去处理和第二除去处理中的哪一个或者是表示进行判断处理的标记Ff F5与其值之间建立起关联。如果标记Fi的值为I，选择第一除去处理(S102、S103、S108)作为恰当的除去处理，如果标记Fi的值为2，选择第二除去处理(S112?S114，参照图13a)作为恰当的除去处理，如果标记Fi的值为3，选择判断第一除去处理和第二除去处理中的哪一个适合除去测定对象以外的物质的数据的判断处理。
[0147]在S201，当判断标记Fi的值不是I时(S201:否)，控制部件3再判断标记Fi的值是不是2(S211)。在此，如果标记Fi的值为2(S211:是)，控制部件3将处理推进到S110。另一方面，当标记Fi的值不是2时，即当标记Fi的值为3时(S211:否)，控制部件3对区域Ali实施S212?S215的判断处理。在此，在S212?S215的处理分别与图7的S102?S105的处
理相同。
[0148]在S215，如果判断用划分线L21进行划分是合适的，即，如果判断第一除去处理适合除去测定对象以外的物质的数据(S215:是)，则控制部件3使处理进入S108，对区域Ali(在此为区域A13)进行粒子数的计数值的获取处理(S108、S131)。而如果判断用划分线L21进行划分是不合适的，即，如果判断第一除去处理不适于除去测定对象以外的物质的数据(S215:否)，则控制部件3暂时将标记Fi改写成2(S216)，并使处理进入S110。此时，对于结合数为i的粒子(在此是结合数为3的粒子)，图13a的S132的判断结果为是，实施S133的计数值的获取处理，获取基于第二除去处理的粒子数。
[0149]通过图14a所示计数处理，与上述实施方式同样地，能够精确地获取结合数为广5的粒子的粒子数。而且，仅仅针对第一除去处理和第二除去处理中的哪个适合除去测定对象以外的物质的数据这一事项不明确的结合数的粒子进行判断处理，因此能够在提高粒子数的计数精度的同时实现处理的简化和快速化。
[0150]如此，第一除去处理和第二除去处理中的哪个更适合除去测定对象以外的物质的数据的判断处理特别适合下述情况:统计上和经验上不明确哪种除去处理适合该结合数的粒子。
[0151]当如图14a所示地进行计数处理时，免疫测定装置I也可以在存储部件31中存储复数个图14b所示表(标记Ff F5的值)，并使得这些表(标记Ff F5的值)能根据测定对象物质和测定条件等适当更换。如此，即使测定对象物质或测定条件等发生变化也能够精确获取粒子数。
[0152]在上述实施方式中，散点图SGl的横坐标和直方图HG1、HG3的横坐标使用了 FSC，但也可以使用粒子从直流电流动的电极间通过时所获得的直流电阻这一电信息代替FSC。此外，散点图SGl的纵坐标和直方图HG2的横坐标使用了 SSC，但也可以使用粒子从高频电流流动的电极间通过时所获得的高频电阻这一电信息代替SSC。
[0153]此外，本发明的实施方式在权利要求所示技术思想的范围内可以进行各种适当变更。
【权利要求】
1.一种免疫测定方法，包括: 测定混合样本以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子所得到的测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息； 根据所述结合数的相关信息，将测定用试样所含有的各粒子分别按照所述结合数分类；以及 根据对分类后的至少一个组类实施第一除去处理和第二除去处理中的至少一种处理所获得的载体粒子的数据获取载体粒子的凝集度的相关信息，其中所述第一除去处理是指从处理对象中除去与载体粒子不同的测定对象以外的物质的数据，所述第二除去处理是指通过不同于所述第一除去处理的处理从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。
2.根据权利要求1所述的免疫测定方法，其特征在于: 在检测步骤中，用光照射所述测定用试样，获取所述测定用试样中所含有的各粒子的光学信息；以及，根据获取的光学信息，检测出前向散射光信息作为所述结合数的相关信肩、O
3.根据权利要求2所述的免疫测定方法，其特征在于: 在检测步骤中还根据获取的光学信息检测出侧向散射光信息； 在获取所述信息的步骤中，在所述第一除去处理中根据检测出的侧向散射光信息从处理对象中除去测定对 象以外的物质的数据。
4.根据权利要求2或3所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，在所述第二除去处理中根据检测出的前向散射光信息从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据。
5.根据权利要求1所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，针对分类后的各个组类，分别选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适于除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
6.根据权利要求5所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，针对分类后的组类，根据所述结合数的大小选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适于除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
7.根据权利要求5或6所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，在针对分类后的组类选择了所述第一除去处理时实施所述第一除去处理。
8.根据权利要求5或6所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，针对分类后的各个组类实施所述第一除去处理和所述第二除去处理两种处理；以及，根据实施选择的适于除去测定对象以外的物质的数据的除去处理所获得的载体粒子的数据，获取载体粒子的凝集度的相关信息。
9.根据权利要求1所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，针对分类后的组类中的一定组类，预先选择所述第一除去处理和所述第二除去处理中的其中之一作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
10.根据权利要求5所述的免疫测定方法，其特征在于:在获取所述信息的步骤中，针对分类后的组类中的一定组类，判断所述第一除去处理和所述第二除去处理中的某种处理是否适合除去测定对象以外的物质的数据；以及，根据判断结果选择所述第一除去处理和所述第二除去处理中的其中一种处理作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
11.根据权利要求5所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，预先设定用于判断所述第一除去处理是否适合除去测定对象以外的物质的数据的判断条件，对于满足所述判断条件的组类选择所述第一除去处理，对于不满足所述判断条件的组类选择所述第二除去处理。
12.根据权利要求10或11所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，在所述第一除去处理中，针对分类后的各个组类，分别根据表示粒子的特征量的一定的特征信息设定区分载体粒子的数据与测定对象以外的物质的数据的界线；根据包括所述界线在内的一定范围中的、包含所述特征信息的粒子数，针对分类后的各个组类分别判断所述第一除去处理是否适合除去测定对象以外的物质的数据。
13.根据权利要求12所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，当所述一定范围中包含所述特征信息的粒子数在分类后的组类中所含有的粒子数中所占比例与一定的阈值相同或小于所述一定阈值时，判断所述第一除去处理适合除去测定对象以外的物质的数据。
14.根据权利要求12所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，当所述一定范围内包含所述特征信息的粒子数与一定阈值相同或小于所述一定阈值时，判断所述第一除去处理适合除去测定对象以外的物质的数据。
15.根据权利要求12所述的免疫测定方法，其特征在于: 在检测步骤中，用光照射所述测定用试样，获取所述测定用试样所含有的各粒子的光学信息；以及，根据获取的光学信息获取侧向散射光信息作为所述特征信息。
16.根据权利要求1所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，所述第二除去处理包括:推断测定对象以外的物质的分布状况的处理、以及在分类后的各组类中所含有的粒子的分布中减去所推断的测定对象以外的物质的分布的处理。
17.根据权利要求9所述的免疫测定方法，其特征在于: 在获取所述信息的步骤中，关于分类后的组类中的一定组类，当所述结合数超过一定的结合数时选择所述第一除去处理，当所述结合数与一定的结合数相等或小于所述一定的结合数时选择所述第二除去处理。
18.一种免疫测定装置，包括: 检测部件，测定混合样本以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子而得到的测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息；以及 控制部件能够根据所述结合数的相关信息，将测定用试样所含有的各粒子分别按照所述结合数分类，对于分类后的至少一个组类实施第一除去处理和第二除去处理中的至少其中之一，其中第一除去处理是指从处理对象中除去与载体粒子不同的测定对象以外的物质的数据，第二除去处理是指通过不同于所述第一除去处理的处理从处理对象中除去测定对象以外的物质的数据，以及根据实施除去处理所得到的载体粒子的数据，获取载体粒子的凝集度的相关信息。
19.根据权利要求18所述的免疫测定装置，其特征在于: 所述控制部件分别针对分类后的各个组类选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
20.根据权利要求19所述的免疫测定装置，其特征在于: 针对分类后的组类，所述控制部件根据所述结合数的大小选择所述第一除去处理和第二除去处理中的其中之一作为适合除去测定对象以外的物质的数据的除去处理。
21.根据权利要求18至20中的任意一项所述的免疫测定装置，其特征在于: 所述检测部件具有光照所述测定用试样的光源和接受来自所述测定用试样所含有的各粒子的光的受光部件； 根据所述受光部件所接受的光的信息，检测出前向散射光信息作为所述结合数的相关信息。
22.根据权利要求21所述的免疫测定装置，其特征在于: 所述检测部件还根据所述受光部件接受的光的信息检测出侧向散射光信息。
23.一种免疫测定方法，包括: 测定混合样本以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子所得到的测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息； 根据所述结合数的相关信息，将测定用试样中所含有的各粒子分别按照所述结合数进行分类；以及 对于分类后的至少一个组类，根据实施第一处理和第二处理中的至少其中一种处理所得到的载体粒子的数据，获取载体粒子的凝集度的相关信息，其中第一处理是指从该组类所含有的粒子数据中识别载体粒子的数据，第二处理是指通过不同于所述第一处理的处理识别载体粒子的数据。
24.一种免疫测定装置，其包括: 检测部件，测定混合样本以及与测定对象物质相应的抗体或抗原已致敏的载体粒子而得到的测定用试样，检测出该测定用试样所含有的载体粒子的结合数的相关信息；以及 控制部件能够根据所述结合数的相关信息，将测定用试样中所含有的各粒子分别按照所述结合数分类，以及对于分类后的至少一个组类，根据实施第一处理和第二处理中的至少一种处理所得到的载体粒子的数据获取载体粒子的凝集度的相关信息，其中第一处理是指从该组类所含有的粒子数据中识别出载体粒子的数据，第二处理是指通过不同于所述第一处理的处理识别载体粒子的数据。
【文档编号】G01N33/543GK103983768SQ201410037190
【公开日】2014年8月13日 申请日期:2014年1月26日 优先权日:2013年1月31日
【发明者】越村直人 申请人:希森美康株式会社
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
