Cd型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻的测量装置，包括两个测量针，通过导线与接触电阻测量仪连接；其特征是，所述的两个测量针为定、动测量针，针头向上分别安装在测量架上，其中定测量针相对测量架作上下位移，动测量针相对测量架作上下和横向位移。适用于各种型号的CD型非晶合金磁芯碟片之间接触电阻的测量，使测量时测量针接触压力一致，确保测量数据具有一致性。
【专利说明】CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电阻测量装置，具体说是一种用于⑶型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻的测量装置。提升了测量数据的可靠性和一致性。
【背景技术】
[0002]非晶合金材料具有优异的电磁性能，近年来得到迅速发展，其具有的高导磁率、低损耗的特点，在电力电子、计算机、通讯、航空航天等高新【技术领域】得到了广泛的应用，特别是在太阳能发电领域，用于制造逆变器的电感磁芯，大量采用CD型非晶合金磁芯，因此其生产量在逐渐扩大，在⑶型非晶合金磁芯的制造环节中需要测量切口处碟片之间的接触电阻，目前的具体方法是直接用欧姆表手工操作测量。操作者手持测量针触压切口表面，由于人为因素的影响，导致测量误差，压力大小不均，难以保证测量结果的可靠性和一致性。
【发明内容】
[0003]鉴于上述现状，本实用新型提供了一种⑶型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻的测量装置，保证了测量结果的一致性。同时也提升了测量效率，满足了大批量的生产需要。
[0004]本实用新型的技术解决方案是:一种CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置，包括两个测量针，通过导线与接触电阻测量仪连接；所述的两个测量针为定、动测量针，针头向上分别安装在测量架上，其中定测量针相对测量架作上下位移，动测量针相对测量架作上下和横向位移。因此，通过专门设计测量装置，可以提高测量效率及可靠一致性，避免了人为测量时所产生的误差及效率低的问题。同时可满足各种型号的CD型非晶合金磁芯碟片之间接触电阻的测量。
[0005]本新型中，所述的定、动测量针的本体上具有一个定、动挡圈，通过定、动挡圈限位在两个测量架之间，所述的定、动测量针分别安装在其中一测量架上的定位孔和调节孔内，定、动测量针与测量架之间安装有定、动弹簧。利用弹簧弹力调节定、动测量针与被测CD型磁芯切口面之间的接触。另外，通过可调节的动测量针，适应各种不同规格的⑶型磁芯的测量。
[0006]本新型中，所涉及的定、动测量针针头头部为球形。
[0007]本实用新型通过专门设置的定、动测量针，可以提升了测量数据的可靠性和一致性。因此，具有测量效率高，同时可适应各种不同规格的⑶型磁芯的测量。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1是本新型的示意图。
【具体实施方式】
[0009]下面将结合附图实施例，对本实用新型作进一步说明。[0010]参见附图1所示的⑶型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置，本实施例的两个测量针为定、动测量针5、8，针头向上分别安装在测量架3、12上，其中定测量针(5)相对测量架(3、12)作上下位移，动测量针(8)相对测量架(3、12)作上下和横向位移。将定、动测量针5、8通过定、动导线2和13与接触电阻测量仪I连接。本实施例的定、动测量针5、8与测量架3、12的安装，所述的定、动测量针5、8的本体上具有一个定、动挡圈6、10，通过定、动挡圈6、10限位在两个测量架3、12之间，所述的定、动测量针5、8分别安装在其中一测量架上的定位孔4和调节孔9内，定、动测量针5、8与测量架3、12之间安装有定、动弹簧7、11。因此，测量⑶型非晶合金磁芯切口处碟片之间的接触电阻时，根据⑶型非晶合金磁芯的规格调整只需调节动测量针8的横向位移，将被测CD型磁芯切口面向下放置在定、动测量针5、8针头之上，定、动测量针5、8靠定、动弹簧7、11的弹力抵住切口面即可直接完成测量。本实施例的定、动测量针5、8针头头部为球形。避免测量时测量针扎入碟片。
【权利要求】
1.一种⑶型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置，包括两个测量针，通过导线与接触电阻测量仪连接；其特征是，所述的两个测量针为定、动测量针(5、8)，针头向上分别安装在测量架(3、12)上，其中定测量针(5)相对测量架(3、12)作上下位移，动测量针(8)相对测量架(3、12)作上下和横向位移。
2.根据权利I所述的CD型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置，其特征是，所述的定、动测量针(5、8)的本体上具有一个定、动挡圈(6、10)，通过定、动挡圈(6、10)限位在两个测量架(3、12)之间，所述的定、动测量针(5、8)分别安装在其中一测量架上的定位孔(4)和调节孔(9)内，定、动测量针(5、8)与测量架(3、12)之间安装有定、动弹簧(7、11)。
3.根据权利I所述的⑶型非晶合金磁芯切口碟片处接触电阻测量装置，其特征是，定、动测量针(5、8)针头头部为球形。
【文档编号】G01R27/02GK203606403SQ201320731149
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2013年11月19日 优先权日:2013年11月19日
【发明者】李玉山, 张新胜, 孙泽松, 张文帮, 林志清, 李岳池 申请人:秦皇岛市燕秦纳米科技有限公司
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