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高密度互连电路板回流圈快速测试装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种高密度互连电路板回流圈快速测试装置，所述磁感应柱的下端穿装在一底座内，该底座上安装两个表笔柱，每个表笔柱的一端连接一个所述表笔，所述磁感应柱外缘套装的电路板底面上的每个线圈的首端点和末端点分别与底座上端面竖直嵌装的一个探针接触，与第一个线圈的首端点接触的探针下端连接一个所述表笔柱的另一端，与最后一个线圈的末端点接触的探针下端连接另一个所述表笔柱的另一端，每个线圈的末端点均与下一个线圈的首端点串联连接。本发明中从整体上缩短了单次测试的时间，而且降低了出错的概率，保证了测试结果的准确。
【专利说明】高密度互连电路板回流圈快速测试装置
【技术领域】
[0001]本发明属于线圈圈数测试【技术领域】，尤其是一种高密度互连电路板回流圈快速测试装置。
【背景技术】
[0002]在高密度互连电路板加工中，有一种具有一个或多个线圈的结构，这些线圈可以在某一层电路板中或者在多层电路板中，所有的线圈的首末端点均位于电路板的正面，由于大部分线圈无法看到，所以生产好后必须进行线圈的检测，以确保批次产品中是否存在线圈不联通的次品或线圈数量是否符合客户要求。
[0003]在检测过程中，使用的设备是线圈圈数测试仪，其包括:测试仪、表笔和磁感应柱，测试仪上的两个插孔分别通过电缆连接一个表笔，将磁感应柱穿过待测试样板中心处的孔内，然后用两个表笔分别接触一个线圈的首末端点，此时测试仪上的显示屏显示线圈的数量或者显示线圈断路的信息，测试完每个线圈后完成一次测试。
[0004]但在实际使用中，测试人员的工作过程是:1.将待测试样板取过来；2.将磁感应柱放入待测试样板中心的孔内；3.双手拿起表笔；4.接触每个线圈的首末端点，测量线圈的圈数，同时观察测试仪的显示屏的显示信息；5取下待测试样板。如果样板上有三个线圈，那么上述工作过程至少需要10秒左右，而且每个线圈均需要测试人员观察显示屏，如果批次产品数量很多时，极易出现漏检或错减的情况，最终将导致发往客户处的电路板出现质量事故。

【发明内容】

[0005]本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构合理、操作简便的高密度互连电路板回流圈快速测试装置。
[0006]本发明采取的技术方案是:
[0007]一种高密度互连电路板回流圈快速测试装置，包括线圈圈数测试仪、表笔和磁感应柱，所述线圈圈数测试仪分别连接表笔和磁感应柱，其特征在于:所述磁感应柱的下端穿装在一底座内，该底座上安装两个表笔柱，每个表笔柱的一端连接一个所述表笔，所述磁感应柱外缘套装的电路板底面上的每个线圈的首端点和末端点分别与底座上端面竖直嵌装的一个探针接触，与第一个线圈的首端点接触的探针下端连接一个所述表笔柱的另一端，与最后一个线圈的末端点接触的探针下端连接另一个所述表笔柱的另一端，每个线圈的末端点均与下一个线圈的首端点串联连接。
[0008]而且，所述底座包括上面板和底板，底板上端面四角分别竖直安装一个支撑柱，该四个支撑柱上端部压接在上面板的底面，该上面板与支撑柱之间通过螺栓固定。
[0009]而且,探针竖直限位滑动嵌装在一针管内，该针管外缘套装一外管,该外管嵌装在所述上面板内，在外管的上端部向外侧制出的翻边压接在所述上面板的上端面。
[0010]而且，所述针管上端内壁上制出凸环，位于该凸环下方的探针外缘上制出凸块，该凸块下方的探针下端外缘套装一弹簧，该弹簧下端部压接在所述针管下端部。
[0011]本发明的优点和积极效果是：
[0012]本发明中，在底座内穿装磁感应柱，在磁感应柱外侧的底座上嵌装多个探针,磁感应柱上套装的电路板底面上的每个线圈的首端点和末端点分别与一个探针接触，第一个线圈首端点接触的探针连接一个表笔柱，最后一个线圈末端点接触的探针连接另一个表笔柱，之间的线圈的末端点接触的探针串联连接下一个线圈的首端点接触的探针，使用该结构后，测试人员只需将电路板压紧在探针上，线圈圈数测试仪将显示所有线圈圈数的综合数量，这样节省了表笔与每个线圈首末端点接触的时间，而且只需要观察一个显示屏，从整体上缩短了单次测试的时间，而且降低了出错的概率，保证了测试结果的准确。
【专利附图】

【附图说明】
[0013]图I是本发明的结构示意图；
[0014]图2是图I的I部放大图；
[0015]图3是电路板多个线圈的首端点和末端点的分布；
[0016]图4是图3的电路板与探针接触后的等效电路图。
【具体实施方式】
[0017]下面结合实施例，对本发明进一步说明，下述实施例是说明性的，不是限定性的，不能以下述实施例来限定本发明的保护范围。
[0018]一种高密度互连电路板回流圈快速测试装置，如图I?4所示，包括线圈圈数测试仪12、表笔2和磁感应柱1，所述线圈圈数测试仪的插孔13通过线缆15连接两个表笔，本发明的创新在于：所述磁感应柱的下端穿装在一底座内所制通孔19内，该底座上安装两个表笔柱6，每个表笔柱的一端连接一个所述表笔，所述磁感应柱外缘套装的电路板底面上的每个线圈30的首端点和末端点分别与底座上端面竖直嵌装的一个探针9接触，与第一个线圈的首端点接触的探针下端通过电缆7连接一个所述表笔柱的另一端，与最后一个线圈的末端点接触的探针下端连接另一个所述表笔柱的另一端，每个线圈的末端点均与下一个线圈的首端点串联连接。
[0019]本实施例中，所述底座包括上面板4和底板11，底板上端面四角分别竖直安装一个支撑柱10，该四个支撑柱上端部压接在上面板的底面，该上面板与支撑柱之间通过螺栓5固定。
[0020]探针结果如图2所示，其竖直限位滑动嵌装在一针管16的空腔25内，该针管外缘套装一外管17，该外管嵌装在所述上面板所制孔24内，在外管的上端部向外侧制出的翻边18压接在所述上面板的上端面。
[0021]具体来说：所述针管上端内壁上制出凸环20，位于该凸环下方的探针外缘上制出凸块21，该凸块下方的探针下端22外缘套装一弹簧23，该弹簧下端部压接在所述针管下端部。探针可以在弹簧的作用下竖直运动，以保证所有的探针上端部和电路板的首端点和末端点接触紧密。每个探针上端部安装一针帽8，该针帽最上端有一尖端，该尖端的形状可以根据电路板线圈的首末端点形状设置。
[0022]实施例[0023]待测试样板如图3所示，包括三个线圈，每个线圈的首端点和末端点的命名可以自行设定，而且首端点和末端点均位于电路板的一个表面。本例中，第一个线圈的首端点和末端点为29、28，第二个线圈的首端点和末端点为26、32，第三个线圈的首端点和末端点为31、27。三个线圈分别是4圈、9圈和3圈。
[0024]将具有首端点和末端点的表面朝下，然后将样板套在磁感应柱外缘，使每个线圈的首端点和末端点与探针接触好，对好位置后，向下稍微压紧电路板。
[0025]此时等效电路如图4所示：
[0026]第一个线圈的首端点29通过探针9连接表笔柱6，该表笔柱通过表笔触点3、表笔2连接线圈圈数测试仪，第一线圈的末端点28串联连接第二线圈的首端点26，第二线圈的末端点32连接第三线圈的首端点31，第三线圈的末端点27通过探针连接另一个表笔柱6，该另一个表笔柱通过另一个表笔触点3、另一个表笔2连接线圈圈数测试仪。
[0027]压紧电路板后，此时线圈圈数测试仪的显示屏14上显示出线圈数量，由于上述三个线圈之间为串联关系，所以显示屏上应该显示16圈，即三个线圈的圈数只和。
[0028]上述测试过程时间非常短，熟练的测试人员只需要3秒，比现有技术节省了三分之一的时间，而且只需要观察一个显示屏。
[0029]本发明中，在底座内穿装磁感应柱，在磁感应柱外侧的底座上嵌装多个探针,磁感应柱上套装的电路板底面上的每个线圈的首端点和末端点分别与一个探针接触，第一个线圈首端点接触的探针连接一个表笔柱，最后一个线圈末端点接触的探针连接另一个表笔柱，之间的线圈的末端点接触的探针串联连接下一个线圈的首端点接触的探针，使用该结构后，测试人员只需将电路板压紧在探针上，线圈圈数测试仪将显示所有线圈圈数的综合数量，这样节省了表笔与每个线圈首末端点接触的时间，而且只需要观察一个显示屏，从整体上缩短了单次测试的时间，而且降低了出错的概率，保证了测试结果的准确。
【权利要求】
1.一种高密度互连电路板回流圈快速测试装置，包括线圈圈数测试仪、表笔和磁感应柱，所述线圈圈数测试仪分别连接表笔和磁感应柱，其特征在于:所述磁感应柱的下端穿装在一底座内，该底座上安装两个表笔柱，每个表笔柱的一端连接一个所述表笔，所述磁感应柱外缘套装的电路板底面上的每个线圈的首端点和末端点分别与底座上端面竖直嵌装的一个探针接触，与第一个线圈的首端点接触的探针下端连接一个所述表笔柱的另一端，与最后一个线圈的末端点接触的探针下端连接另一个所述表笔柱的另一端，每个线圈的末端点均与下一个线圈的首端点串联连接。
2.根据权利要求1所述的高密度互连电路板回流圈快速测试装置，其特征在于:所述底座包括上面板和底板，底板上端面四角分别竖直安装一个支撑柱，该四个支撑柱上端部压接在上面板的底面，该上面板与支撑柱之间通过螺栓固定。
3.根据权利要求2所述的高密度互连电路板回流圈快速测试装置，其特征在于:探针竖直限位滑动嵌装在一针管内，该针管外缘套装一外管，该外管嵌装在所述上面板内，在外管的上端部向外侧制出的翻边压接在所述上面板的上端面。
4.根据权利要求3所述的高密度互连电路板回流圈快速测试装置，其特征在于:所述针管上端内壁上制出凸环，位于该凸环下方的探针外缘上制出凸块，该凸块下方的探针下端外缘套装一弹簧，该弹簧下端部压接在所述针管下端部。
【文档编号】G01R31/02GK103487715SQ201310461541
【公开日】2014年1月1日 申请日期:2013年9月29日 优先权日:2013年9月29日
【发明者】刘学斌 申请人:天津普林电路股份有限公司