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专利名称：一种导引头测试控制盒指令预处理电路的制作方法
技术领域：
本新型属于电路，具体涉及一种导引头测试控制盒指令预处理电路。
背景技术：
导引头测试控制盒上的控制杆输出的两自由度模拟信号(-5V 5V范围)用于控制导引头光轴在航向、俯仰方向的搜索速度。此信号的零位输出误差和满幅值输出误差将直接影响搜索速度和稳定漂移的测试结果。导引头测试控制盒内的两自由度控制杆由于机械结构的限制以及对控制杆上电位器供电的电源输出不对称将导致零位误差(控制杆回中时)和满幅值输出误差(控制杆拨动到任意个极限位置时)严重超标。

发明内容本新型针对现有技术的缺陷，提供一种零位误差和满幅值输出误差较小的导引头测试控制盒指令预处理电路。发明内容一种导引头测试控制盒指令预处理电路，包括顺次串接的信号调理电路、简易零位阀值电路、彳目号放大电路和简易限幅电路。如上所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其中，所述的信号调理电路包括TI公司生产的0PA4277型号运算放大器，该运算放大器的正输入端通过电阻R12与外部信号连通，运算放大器的负输入端通过电阻R13与地连接，运算放大器的正电源与+12V连接，运算放大器的正电源还通过电容Cl与地连接，运算放大器的负电源与-12V连接，运算放大器的负电源还通过电容C2与地连接。运算放大器的输出作为信号调理电路的输出。如上所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其中，所述的简易零位阀值电路包括两条输入和输出分别连接的支路，其中一条支路包括顺次连接的电阻R15和二极管Dl，其中电阻R15与二极管Dl的负极连接，二极管Dl的负极还通过电阻R17与电源+12V连接；另一条支路包括顺次连接的电阻R16和二极管D2，其中电阻R16与二极管D2的正极连接，二极管D2的正极还通过电阻R18与电源-12V连接。电阻R15和电阻R16的自由端连接后作为简易零位阀值电路的输入；二极管Dl的正极与二极管D2的负极连接后作为简易零位阀值电路的输出。如上所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其中，所述的信号放大电路包括TI公司生产的0PA4277型号运算放大器，该运算放大器的正输入端通过电阻R20与地连接，该运算放大器的负输入端与电阻R19的连接，电阻R19的自由端作为信号放大电路的信号输入端。该运算放大器的负输入端还与可变电阻R21的滑动端和一个固定端均连接，可变电阻R21的另一个固定端与该运算放大器的输出端连接。该运算放大器的输出端作为信号放大电路的输出端。如上所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其中，所述的简易限幅电路包括顺次串接的电阻R42、二极管D7和二极管D8，其中电阻R42与二极管D7的正极连接，二极管D7的负极与二极管D8的负极连接，二极管D8的正极与地连接。电阻R42的自由端作为简易限幅电路的输入端，电阻R42与二极管D7的连接端作为简易限幅电路的输出端。如上所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其中，所述的器件的数值如下表所示
序号编号__型号__^_
J_R15，R16 电阻__ΙΚΩ_
2_R17，R18 电阻__39ΚΩ_ 3Dl, D2 整流二极管 IN4001__
_4_R42电阻__510Ω_
5D7, D8 稳压二极管IN5229B反向工作电压
___4. 3V_
_6_ R12，R13 电阻__IOK Ω_
I_Cl、C2 电容__O. Iyf_
_8_R14电阻__39ΚΩ_
_9_ R20电阻__5. IK Ω_
_R19电阻__IOK Ω_
II|r21 I可变电阻丨标称值IOKΩ —
O本新型的效果是利用半导体二极管的单向导通性和反向击穿特性设计了一个简易零位阀值环节和一个简易限幅环节来消除零位误差和满幅值误差。

图I是本新型提供的导引头测试控制盒指令预处理电路的电路图。图中1.信号调理电路、2.简易零位阀值电路、3.信号放大电路、4.简易限幅电路。
具体实施方式
如附图I所示，一种导引头测试控制盒指令预处理电路，包括顺次串接的信号调理电路I、简易零位阀值电路2、信号放大电路3和简易限幅电路4。其中信号调理电路I包括TI公司生产的0PA4277型号运算放大器，该运算放大器的正输入端通过电阻R12与外部信号连通，运算放大器的负输入端通过电阻R13与地连接，运算放大器的正电源与+12V连接，运算放大器的正电源还通过电容Cl与地连接，运算放大器的负电源与-12V连接，运算放大器的负电源还通过电容C2与地连接。运算放大器的输出作为信号调理电路I的输出。简易零位阀值电路2包括两条输入和输出分别连接的支路，其中一条支路包括顺次连接的电阻R15和二极管Dl，其中电阻R15与二极管Dl的负极连接，二极管Dl的负极还通过电阻R17与电源+12V连接；另一条支路包括顺次连接的电阻R16和二极管D2，其中电阻R16与二极管D2的正极连接，二极管D2的正极还通过电阻R18与电源-12V连接。电阻R15和电阻R16的自由端连接后作为简易零位阀值电路2的输入；二极管Dl的正极与二极管D2的负极连接后作为简易零位阀值电路2的输出。信号放大电路3包括TI公司生产的0PA4277型号运算放大器，该运算放大器的正输入端通过电阻R20与地连接，该运算放大器的负输入端与电阻R19的连接，电阻R19的自由端作为信号放大电路3的信号输入端。该运算放大器的负输入端还与可变电阻R21的滑动端和一个固定端均连接，可变电阻R21的另一个固定端与该运算放大器的输出端连接。该运算放大器的输出端作为信号放大电路3的输出端。所述的TI公司生产的0PA4277型号运算放大器为一个芯片，该芯片中包含四个独立的运算放大器，本例中使用其中的两个运算放大器。在芯片的引脚上，信号调理电路I使用的是引脚为1、2、3、4、11的运算放大器，信号放大电路3使用的是引脚为5、6、7的运算放大器。简易限幅电路4包括顺次串接的电阻R42、二极管D7和二极管D8，其中电阻R42与二极管D7的正极连接，二极管D7的负极与二极管D8的负极连接，二极管D8的正极与地连接。电阻R42的自由端作为简易限幅电路4的输入端，电阻R42与二极管D7的连接端作为简易限幅电路4的输出端。本申请使用的器件的数值如下表所示
权利要求1.一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其特征在于包括顺次串接的信号调理电路(I)、简易零位阀值电路(2)、信号放大电路(3)和简易限幅电路(4)。
2.如权利要求I所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其特征在于所述的信号调理电路(I)包括TI公司生产的0PA4277型号运算放大器，该运算放大器的正输入端通过电阻R12与外部信号连通，运算放大器的负输入端通过电阻R13与地连接，运算放大器的正电源与+12V连接，运算放大器的正电源还通过电容Cl与地连接，运算放大器的负电源与-12V连接，运算放大器的负电源还通过电容C2与地连接，运算放大器的输出作为信号调理电路⑴的输出。
3.如权利要求I所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其特征在于所述的简易零位阀值电路(2)包括两条输入和输出分别连接的支路，其中一条支路包括顺次连接的电阻R15和二极管Dl，其中电阻R15与二极管Dl的负极连接，二极管Dl的负极还通过电阻R17与电源+12V连接；另一条支路包括顺次连接的电阻R16和二极管D2，其中电阻R16与二极管D2的正极连接，二极管D2的正极还通过电阻R18与电源-12V连接，电阻R15和电阻R16的自由端连接后作为简易零位阀值电路(2)的输入；二极管Dl的正极与二极管D2的负极连接后作为简易零位阀值电路(2)的输出。
4.如权利要求I所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其特征在于所述的信号放大电路(3)包括TI公司生产的0PA4277型号运算放大器，该运算放大器的正输入端通过电阻R20与地连接，该运算放大器的负输入端与电阻R19的连接，电阻R19的自由端作为信号放大电路(3)的信号输入端，该运算放大器的负输入端还与可变电阻R21的滑动端和一个固定端均连接，可变电阻R21的另一个固定端与该运算放大器的输出端连接，该运算放大器的输出端作为信号放大电路⑶的输出端。
5.如权利要求I所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其特征在于所述的简易限幅电路(4)包括顺次串接的电阻R42、二极管D7和二极管D8，其中电阻R42与二极管D7的正极连接，二极管D7的负极与二极管D8的负极连接，二极管D8的正极与地连接，电阻R42的自由端作为简易限幅电路(4)的输入端，电阻R42与二极管D7的连接端作为简易限幅电路⑷的输出端。
6.如权利要求2或3或4或5所述的一种导引头测试控制盒指令预处理电路，其特征在于所述的 R15、R16、R17、R18、D1、D2、R42、D7、D8、R12、R13、C1、C2、R14、R19、R20 和 R21的数值如下表所示
专利摘要本新型属于电路，具体涉及一种导引头测试控制盒指令预处理电路。一种导引头测试控制盒指令预处理电路，包括顺次串接的信号调理电路、简易零位阀值电路、信号放大电路和简易限幅电路。本新型的效果是利用半导体二极管的单向导通性和反向击穿特性设计了一个简易零位阀值环节和一个简易限幅环节来消除零位误差和满幅值误差。
文档编号G01R35/02GK202676903SQ20122021591
公开日2013年1月16日 申请日期2012年5月15日 优先权日2012年5月15日
发明者谷杨 申请人:中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所