亚星游戏官网-www.yaxin868.com

专利名称：用于电子仪器的尘埃测试设备和方法
技术领域：
本发明涉及用于电子仪器的尘埃测试设备和方法。
背景技术：
诸如个人计算机的电子仪器在实际使用条件下被暴露于大量的尘埃下。当在电子仪器中形成的诸如吸气孔或排气孔的通风孔被尘埃阻塞时，电子仪器的主要热辐射或冷却功能劣化，从而妨碍电子仪器的操作。由此，在电子仪器的开发过程等中，通常使用尘埃测试设备来确认电子仪器在实际使用条件下的操作情况。在尘埃测试中，如日本未审专利申请公开No. H08-292239中所公开的，电子仪器被放置在含有尘埃的壳体中，并且，在整个壳体中散射尘埃。然后，观察附着到电子仪器的通风孔的尘埃的状态。这里，在尘埃测试中，为了在短的测试期间内适当地再现长期使用之后的尘埃附着状态，适当地调节尘埃的材料、形状和量，供应空气的量、压力和方向等等。在尘埃测试中，例如，在大约2个小时或4个小时的测试期间内再现1年或2年使用之后的尘埃附着状态。

发明内容
然而，如果在整个壳体中仅仅散射尘埃，则通风孔在开始测试之后的早期阶段被完全阻塞，从而难以继续测试，并且，不可能适当地再现长期使用之后的尘埃附着状态。鉴于前述情况，希望提供一种用于电子仪器的新的、改进的尘埃测试设备和方法， 在该尘埃测试设备和方法中，可以适当地再现尘埃被附着到长期使用的电子仪器的状态。根据本发明的实施例，提供一种用于电子仪器的尘埃测试设备，该尘埃测试设备包括封入有尘埃的壳体；用于将电子仪器设置在壳体中的安装台；用于在第一周期内将灰尘散射在整个壳体中的第一送风器(ventilator)；以及用于在第二周期内吹掉附着到电子仪器的通风孔的尘埃的第二送风器，其中，第二周期比第一周期长。在该配置中，第二送风器在第二周期内在改变供应空气的方向的同时向着通风孔供应空气。在该配置中，第二送风器在以与通风孔相对的方向为中心的预定角度范围内改变供应空气的方向。在该配置中，第一送风器在第一周期内在改变供应空气的方向的同时向着壳体的下部供应空气。在该配置中，第一送风器在以与壳体的下部相对的方向为中心的预定角度范围内改变供应空气的方向。在该配置中，壳体在其下部处形成为锥形。在该配置中，尘埃测试设备还包括第三送风器，该第三送风器被设置在壳体的下部上，并且向着壳体的上部周期性地供应空气。在该配置中，第二送风器包括可绕其轴旋转的连通管和附着于该连通管的风嘴(blast nozzle)。在该配置中，第一送风器包括可绕其轴旋转的连通管和附着于该连通管的风嘴。根据本发明的另一实施例，提供一种用于电子仪器的尘埃测试方法，该尘埃测试方法包括下述步骤在壳体中封入尘埃并设置电子仪器；在第一周期内，在整个壳体中散射尘埃；以及在比第一周期长的第二周期内，吹掉附着于电子仪器的通风孔的尘埃。根据上述的本发明的实施例，用于电子仪器的尘埃测试设备和方法允许适当地再现尘埃附着于长期使用的电子仪器的状态。


图1示出根据本发明实施例的用于电子仪器的尘埃测试设备的概要。图2是示出尘埃测试方法的顺序的流程图。图3是尘埃测试设备的前视图。图4是尘埃测试设备的侧视图。图5是尘埃测试设备的平面图。图6示出安置了电子仪器的状态。图7是示出第一送风器的操作的示意图。图8是示出第二送风器的操作的示意图。
具体实施例方式在下文中，将参照附图详细地描述本发明的优选实施例。请注意，在本说明书和附图中，用相同的附图标记表示基本上具有相同的功能和结构的结构元件，并且省略对这些结构元件的重复解释。[1.尘埃测试设备和尘埃测试方法的概要]首先，将参照图1和2描述根据本发明实施例的用于电子仪器30的尘埃测试设备 10和尘埃测试方法的概要。图1示出尘埃测试设备10的概要，图2示出尘埃测试方法的顺序。如图1所示，尘埃测试设备10包括用于封入尘埃D的壳体11 ；用于将电子仪器 30安装在壳体11中的安装台13 ；用于在整个壳体11中散射尘埃D的第一送风器15 ；以及用于吹掉附着于电子仪器30的通风孔31的尘埃D的第二送风器17。此外，在图1中，实线箭头示出第一送风器15和第二送风器17的操作以及尘埃D的操作二者，虚线箭头示出供应空气的方向。此外，在图1中示出包括通风孔31的壳体11中的一些尘埃D。与常规的尘埃测试设备10不一样，根据本实施例的尘埃测试设备10在第一周期内将尘埃D散射在整个壳体11中，并且在比第一周期长的第二周期内吹掉附着于通风孔 31的尘埃D。这里，例如，第一送风器15和第二送风器17由可绕其轴旋转的连通管1 和 17a、以及附着于连通管15a和17a的风嘴15b和17b构成(参见图3)。因此，周期性地吹掉已经阻塞通风孔31的尘埃D。从而，在开始测试之后的早期阶段，可以在没有完全阻塞通风孔31的情况下继续测试。由此，可以适当地再现在长期使用之后灰尘D被附着的状态。例如，第一送风器15可以在第一周期内在预定角度范围内改变供应空气的方向的同时向着壳体11的下部供应空气，该预定角度范围以与壳体11的下部相对的方向为中心。因此，沉积在壳体11的下部上的尘埃D周期性地被散射到壳体11的上部。从而，可以在类似于实际使用条件的状态中将尘埃D附着到通风孔31。例如，第二送风器17可以在第二周期内在预定角度范围内改变供应空气的方向的同时向着通风孔31供应空气，该预定角度范围以与通风孔31相对的方向为中心。因此， 周期性地吹掉已经阻塞通风孔31的尘埃D。从而，可以在类似于实际使用条件的状态中防止通风孔31被完全阻塞。这样使得能够再现一旦附着于通风孔31的尘埃D在空气压力或振动的影响下的分离行为。壳体11的下部(底部构件12)可以形成为锥形。此外，第三送风器19可以设置在壳体11的下部上，该第三送风器19向着壳体11的上部周期性地供应空气。因此，向着壳体11的下部的锥形表面供应空气，并且从壳体11的下部向着上部供应空气。从而，可以将已经沉积在壳体11的下部上的尘埃D有效地扩散和散射到壳体11的上部。如图2所示，尘埃测试包括在壳体11中封入尘埃D并安装电子仪器30的步骤 Sll ；在第一周期内在整个壳体11中周期性地散射尘埃D的步骤S13 ；以及在比第一周期长的第二周期内吹掉附着于电子仪器30的通风孔31的尘埃D的步骤S15。重复步骤S13和 S15，直到经过测试持续时间为止(S17)。此外，可以在步骤S13和S15之间确定测试持续时间的经过。在散射尘埃D的步骤S13中，例如，在第一周期内，在以与壳体11的下部相对的方向为中心的预定角度范围内改变供应空气的方向的同时，可以向着壳体11的下部供应空气。此外，在吹掉尘埃D的步骤S15中，例如，在第二周期内，在以与通风孔31相对的方向为中心的预定角度范围内改变供应空气的方向的同时，可以向着通风孔31供应空气。[2.尘埃测试设备10的配置]接下来，将参照图3至5描述根据本发明实施例的电子仪器30的尘埃测试设备10 的配置。图3、4和5分别示出尘埃测试设备10的前视图、侧视图和平面图(在图5中，省略了下面将描述的控制器23的配置)。此外，在图3至5中，电子仪器30被示出为图像。如图3至5所示，尘埃测试设备10包括壳体11、安装台13、第一送风器15、第二送风器17、第三送风器19、通风调节器21、控制器23和操纵器对。此外，尘埃测试设备10可以被设有这样的机构其用于根据环境条件的变化控制壳体11中的温度或湿度，以再现尘埃D的附着状态的变化。壳体11被提供为用于封入尘埃D的鞘(sheath)。使用框架构件Ila和透明或半透明覆盖构件11b，以箱形、柱形等形状形成壳体11。壳体11在其一侧上被设有开/关门25，该开/关门25由框架构件25a、覆盖构件 25b和开/关锁25c构成。当安装电子仪器30时，或者，当向尘埃测试设备10提供维修服务时，打开开/关门25，当执行尘埃测试时，紧闭开/关门25。壳体11在其下部被设有锥形底部构件12。底部构件12可以在没有顶部或包括顶部的情况下形成。壳体11可以通过框架形状的支撑结构27被安置在地面(floor)上。支撑结构27被设有具有可移动轮和止动器(stopper)的安装构件29，以安装尘埃测试设备10。提供安装台13，以便将电子仪器30安装在壳体11中。安装台13可以被配置为使得电子仪器30放置在其上或悬挂在其上。在示出的例子中，安装台13由四个横向构件构成，这四个横向构件以格子形状(checked shape)在壳体11的中间高度处横过壳体11的四边。安装台13被配置为在其适合于被安装的电子仪器30的尺寸、重量等的状态中不会阻碍尘埃D在壳体11中的流动。此外，安装台13可以被配置为在垂直方向和/或水平方向上可移动，以便调节电子仪器30的布置。提供第一送风器15，以便在第一周期内在整个壳体11中散射尘埃D。第一送风器 15可以包括风嘴或通风扇。第一送风器15优选地被配置为可以摇摆，以便改变供应空气的方向。在示出的例子中，第一送风器15由四个通风管1 和风嘴1 构成，这四个通风管以格子形状在正好高于壳体11的底部构件12的高度处横过壳体11的四边，在每个通风管 15a上悬挂三个风嘴15b。此外，在图3至5中，示意性地示出风嘴15b的布置。在第一送风器15中，高压空气通过通风调节器21从空气供应源(未示出)被供应到通风管15a，然后从风嘴1 被供应到壳体11。通风管1 被配置为借助于摇摆机构 (未示出)可以在轴向方向上旋转，并且，在控制器23的控制下，在第一周期内在预定角度范围内改变供应空气的方向的同时向着壳体11的下部供应空气，该预定角度范围以与壳体11的下部相对的方向为中心。第一送风器15被配置为在其适合于尘埃测试所需的供应空气的量和压力的状态中，不会阻碍尘埃D在壳体11中的流动。第一送风器15可以被配置为可以在垂直方向和/或水平方向上移动，以便调节壳体11中的供应空气的条件。提供第二送风器17，以便在第二周期内吹掉附着于电子仪器30的通风孔31的尘埃D。第二送风器17可以包括风嘴或通风扇。第二送风器17优选地被配置为可以摇摆， 以便改变供应空气的方向。在示出的例子中，第二送风器17由一个通风管17a和三个风嘴 17b构成，通风管17a在安装台13的上方横过壳体11的两边，这三个风嘴17b悬挂在通风管17a上。此外，在图3至5中，示意性地示出风嘴17b的布置。在第二送风器17中，高压空气通过通风调节器21从空气供应源(未示出)被供应到通风管17a，然后从风嘴17b被供应到壳体11。通风管17a被配置为借助于摇摆机构 (未示出)可以在轴向方向上旋转，并且，在控制器23的控制下，在第二周期内在预定角度范围内改变供应空气的方向的同时向着通风孔31供应空气，该预定角度范围以与通风孔 31相对的方向为中心。第二送风器17被配置为在其适合于尘埃测试所需的供应空气的量和压力的状态中，不会阻碍尘埃D在壳体11中的流动。第二送风器17可以被配置为在垂直方向和/ 或水平方向上可移动，以便调节壳体11中的供应空气的条件。此外，第二送风器17可以与电子仪器30的通风孔31的位置相对应地安置在安装台13的下方，而不是在安装台13的上方。这里，第一送风器15和第二送风器17在预定的周期、量、压力和方向内供应空气， 以便在预定的测试期间内适当地再现长期使用之后的尘埃D的附着状态。针对第一送风器 15和第二送风器17中的每一个，供应空气的周期、量、压力和方向可以被设置为固定值，或者大量值的组合。此外，可以在第一送风器15的风嘴1 之间和在第二送风器17的风嘴 17b之间不同地调节供应空气的条件。提供第三送风器19，以从壳体11的下部向着其上部周期性地供应空气。第三送风器19可以包括通风扇或风嘴。在示出的例子中，第三送风器19作为通风扇被提供在壳体11的底部构件12的底表面上，但是，它可以被提供在底部构件12的锥形表面上。此外，可以不必一定提供第三送风器19。在控制器23的控制下，通风调节器21调节从空气供应源(未示出)到第一送风器 15和第二送风器17 (在必要的时候，包括第三送风器19)的高压空气的供应。通风调节器 21调节供应的高压空气的量和压力，从而连续地或间歇地供应空气，或者，以适当地调节的空气压力供应空气。控制器23执行操作整个尘埃测试设备10所需的计算处理和控制处理，该尘埃测试设备10包括第一送风器15、第二送风器17、第三送风器19、通风调节器21等。控制器 23由诸如电路的硬件和/或诸如程序的软件构成。操纵器M包括操作面板、各种开关等。 在操纵器M中，用于操纵尘埃测试设备10的用户指令被输入到操作面板、各种开关等。[3.尘埃测试设备10的操作]接下来，将参照图6至8描述根据本发明实施例的尘埃测试设备10的操作。图6 示出电子仪器30的安置状态的前视图和侧视图。图7和8分别示出第一送风器15和第二送风器17的操作。此外，在图7和8中，实线箭头示出第一送风器15和第二送风器17的操作以及尘埃D的操作，虚线箭头示出供应空气的方向。在下文中，将描述笔记本型计算机30(在下文中称为“笔记本PC 30”)用作测试对象的情况。此外，不用说，根据本实施例的尘埃测试设备10和尘埃测试方法也等同地适用于除笔记本PC 30以外的电子仪器。当执行尘埃测试时，在壳体11的开/关门25打开的状态中，具有预定材料、形状和量的尘埃D被封入在壳体11中。封入的尘埃D中的一些在壳体11中漂浮，其余的尘埃沉积在包括壳体11的锥形底部构件12的壳体11的下部上。这里，使用分析在实际使用条件下附着于相似类型或相同类型的笔记本PC 30的吸气孔31的尘埃D的结果，适当地决定封入的尘埃D的规格，以便能够适当地再现长期使用之后的尘埃D的附着状态。作为尘埃D，具有几毫米的长度的棉花、羊毛、棉绒(粘附于通过从棉囊去除棉毛获得的棉籽的短纤维)等独立地被使用或者混合在一起被使用。如图6所示，当执行尘埃测试时，在壳体11的开/关门25打开的状态中，在其底表面上形成有用于风扇的吸气孔31的笔记本PC 30被设置在安装台13上。笔记本PC 30 被设置为使得在面板部分相对于主体稍微倾斜的状态中，吸气孔31与第二送风器17的风嘴17b相对。这里，在笔记本PC 30的主体中，风扇可以连续地或间歇地被操作，或者，风扇可以处于停止状态中。此外，尘埃D的封入和笔记本PC 30的设置可以一个接一个地被执行。当尘埃D的封入和笔记本PC 30的安置完成之后，关闭开/关门25，然后，通过操作面板，输入用于设置测试条件(测试持续时间等)和开始测试的用户指令。当开始尘埃测试时，第一送风器15、第二送风器17和第三送风器19开始被操作。如图7所示，在第一周期内，第一送风器15在预定角度范围内改变供应空气的方向的同时向着壳体11的下部供应空气，该预定角度范围以与壳体11的下部相对的方向为中心。因此，沉积在壳体11的下部上的尘埃D从壳体11的下部被扫除，然后周期性地被散射到壳体的上部。此外，第一送风器15向着壳体11的底部构件12的锥形表面供应空气， 第三送风器19周期性地从壳体11的下部向着其上部供应空气。因此，通过第二送风器17
7和第三送风器19的供应空气，沉积在锥形表面上的尘埃D被有效地扩散和散射到壳体11 的上部。散射的尘埃D在壳体11中落下。散射的尘埃D中的一些被附着于笔记本PC 30 的吸气孔31，并且，其余的尘埃沉积在壳体11的下部上并在壳体11中漂浮的同时被供应空气再次散射到壳体11的上部。从而，可以在与实际使用条件相似的状态中将尘埃D附着于吸气孔31。如图8所示，在第二周期内，第二送风器17在预定角度范围内改变供应空气的方向的同时向着吸气孔31供应空气，该预定角度范围以与吸气孔31相对的方向为中心。因此，周期性地从吸气孔31吹掉已经阻塞吸气孔31的尘埃D。尤其，在不同的方向上向吸气孔31供应空气，使得可以有效地吹掉附着于吸气孔31并阻塞该吸气孔的尘埃D。吹掉的尘埃D在壳体11中落下。吹掉的尘埃D中的一些沉积在壳体11的下部上， 其余的尘埃在壳体11中漂浮的同时被供应空气再次散射到壳体11的上部。因此，再现一旦附着于吸气孔31的尘埃D在空气压力或振动的影响下分离的状态，从而可以在类似于实际使用条件的状态中防止吸气孔31被完全阻塞。结果，可以连续地执行测试，并且，可以适当地再现长期使用之后的尘埃D的附着状态。当经过了测试持续时间时，第一送风器15、第二送风器17和第三送风器19停止操作。当尘埃D的散射状态被解除时，打开开/关门25，然后，从壳体11取走笔记本PC 30。 针对笔记本PC 30的吸气孔31，确认尘埃D的附着状态。[4.结论]如上所述，根据本发明实施例的用于电子仪器30的尘埃测试设备10和尘埃测试方法，与常规的尘埃测试设备10不一样，在第一周期内，在整个壳体11中散射尘埃D，在比第一周期长的第二周期内，吹掉附着于通风孔31的尘埃D。因此，周期性地吹掉已经阻塞通风孔31的尘埃D。从而，通风孔31在开始测试之后的早期阶段没有被完全阻塞，并且，可以连续地执行测试。由此，可以适当地再现长期使用之后的尘埃D的附着状态。虽然参照附图描述了本发明的优选实施例，但是本发明并不局限于此。本领域技术人员应当理解，取决于设计要求及其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合以及变更， 只要它们在所附权利要求或者其等同物的范围内即可，并且，它们被视为在本发明的技术范围内。本申请包含与在2010年6月7日提交在日本专利局的日本在先专利申请JP 2010-129851中公开的主题相关的主题，该在先专利申请的全部内容以引用的方式并入本文中。
权利要求
1.一种用于电子仪器的尘埃测试设备，包括 壳体，在该壳体中封入有尘埃；安装台，用于将电子仪器设置在壳体中；第一送风器，用于在第一周期内将尘埃散射在整个壳体中；以及第二送风器，用于在比第一周期长的第二周期内吹掉附着于电子仪器的通风孔的尘埃。
2.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，第二送风器在第二周期内在改变供应空气的方向的同时向着通风孔供应空气。
3.根据权利要求2所述的尘埃测试设备，其中，第二送风器在以与通风孔相对的方向为中心的预定角度范围内改变供应空气的方向。
4.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，第一送风器在第一周期内在改变供应空气的方向的同时向着壳体的下部供应空气。
5.根据权利要求4所述的尘埃测试设备，其中，第一送风器在以与壳体的下部相对的方向为中心的预定角度范围内改变供应空气的方向。
6.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，壳体在其下部处形成为锥形。
7.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，还包括第三送风器，该第三送风器设置在壳体的下部上，并且向着壳体的上部周期性地供应空气。
8.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，第二送风器包括可绕其轴旋转的连通管和附着于该连通管的风嘴。
9.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，第一送风器包括可绕其轴旋转的连通管和附着于该连通管的风嘴。
10.一种用于电子仪器的尘埃测试方法，包括下述步骤 在壳体中封入尘埃并设置电子仪器；在第一周期内，在整个壳体中散射尘埃；以及在比第一周期长的第二周期内，吹掉附着于电子仪器的通风孔的尘埃。
全文摘要
本发明涉及用于电子仪器的尘埃测试设备和方法。该尘埃测试设备包括封入有尘埃的壳体；用于将电子仪器设置在壳体中的安装台；用于在第一周期内将灰尘散射在整个壳体中的第一送风器；以及用于在比第一周期长的第二周期内吹掉附着到电子仪器的通风孔的尘埃的第二送风器。周期性地吹掉已经阻塞通风孔的尘埃。从而，可以在开始测试之后的早期阶段没有完全阻塞通风孔的情况下继续测试。因此，可以适当地再现长期使用之后尘埃附着于通风孔的状态。
文档编号G01R31/00GK102288845SQ20111012811
公开日2011年12月21日 申请日期2011年5月18日 优先权日2010年6月7日
发明者古田吉昌, 小口敏男, 曾根原浩司, 曾根原隆, 武田晃洋, 浦岛基, 海口康洋, 笠井孝史 申请人:索尼公司