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    一种超低流失色谱进样隔垫的制作方法

    时间:2025-04-01    作者: 管理员

    专利名称:一种超低流失色谱进样隔垫的制作方法
    技术领域:
    本发明涉及一种气相色谱仪器配件,具体涉及一种超低流失色谱进样隔垫。
    背景技术:
    位于气相色谱仪器上用于色谱柱和仪器接口的进样隔垫,是起进样口的密封作用的,样品从进样器中通过进样隔垫进入气相色谱仪器中运行,同类产品的进样隔垫使用常规进样器扎入有大量隔垫碎屑生成,单针重复轧取100次后隔垫便被扎穿,使气相色谱仪于外界大气相通,严重影响气相仪器的运行。

    发明内容
    本发明的目的是提供一种超低流失色谱进样隔垫,它可以大大降低隔垫的成屑率,保证单针扎取200次不会被穿透。为了解决背景技术所存在的问题,本发明是采用以下制作步骤一、硅橡胶原料的调和添加处理使用IOL的不锈钢容器加料口加入5L硅橡胶原料,另一侧以lOOml/min通入99. 5%的高纯氮气保护,从加料口以每分钟Iml的速度加入商品代号为M0T-77的调和剂共10ml,加热时需搅拌,加热保持3-5个小时,后取样注塑并测试单针扎取次数,达标后将反映将至室温,放空,出料;二、隔垫的注塑成型将制备好的原料2-10g注射入模具中,使之成型,注塑量与隔垫规格有关,隔垫直径范围为5mm到17mm,高度为lmm-5mm,注塑时应注意加料速度,如加料过慢会导致微量空气的进入,影响隔垫的外观和使用寿命;三、单侧隔垫的开孔将成型的进样隔垫使用预设刀具进行一侧开孔,开孔位置,孔深固定;四、进样隔垫的加热纯化将成品放入进样口以高纯氮气30ml/ml的流速吹扫,并将隔垫加热至350度以去除杂质,加热保持3-5个小时,观测气相色谱仪,无杂质流出,即可。本发明具有以下有益效果1、加入商品代号为M0T-77的调和剂,降低了硅橡胶的硬度,柔韧度,使得在350度的高温下,使用常规的色谱进样针,单针扎取200次之内,隔垫不被穿孔,大大提高隔垫的使用寿命。2、在圆形进样隔垫一侧开导向孔,保证进样器在扎取隔垫的时候始终固定于该点,从而大大降低成屑率,安捷伦5890仪器FID检测器,350度恒温计-流失率低于10pa。


    图1为本发明一种规格的结构示意图,
    图2为图1的俯视图,图3为现有产品成屑率检测图,图4为本发明的成屑率检测图。
    具体实施例方式参看图1-3,本具体实施方式
    采用以下制作步骤一、硅橡胶原料的调和添加处理使用IOL的不锈钢容器加料口加入5L硅橡胶原料,另一侧以lOOml/min通入99. 5%的高纯氮气保护,从加料口以每分钟Iml的速度加入商品代号为M0T-77的调和剂共10ml,加热时需搅拌,加热保持3-5个小时,后取样注塑并测试单针扎取次数,达标后将反映将至室温,放空,出料;二、隔垫的注塑成型将制备好的原料2-10g注射入模具中,使之成型,注塑量与隔垫规格有关,隔垫直径范围为5mm到17mm,高度为lmm-5mm,注塑时应注意加料速度,如加料过慢会导致微量空气的进入,影响隔垫的外观和使用寿命;三、单侧隔垫的开孔将成型的进样隔垫使用预设刀具进行一侧开孔,开孔位置,孔深固定;四、进样隔垫的加热纯化将成品放入进样口以高纯氮气30ml/ml的流速吹扫,并将隔垫加热至350度以去除杂质,加热保持3-5个小时,观测气相色谱仪,无杂质流出,即可。本具体实施方式
    可以大大降低隔垫的成屑率,保证单针扎取200次不会被穿透。
    权利要求
    1.一种超低流失色谱进样隔垫,其特征在于它的制作步骤为 (一)、硅橡胶原料的调和添加处理 使用IOL的不锈钢容器加料口加入5L硅橡胶原料,另一侧以lOOml/min通入99. 5%的高纯氮气保护,从加料口以每分钟Iml的速度加入商品代号为M0T-77的调和剂共10ml,力口热时需搅拌,加热保持3-5个小时,后取样注塑并测试单针扎取次数,达标后将反映将至室温,放空,出料; (二)、隔垫的注塑成型 将制备好的原料2-10g注射入模具中,使之成型,注塑量与隔垫规格有关,隔垫直径范围为5mm-17mm,高度为lmm-5mm,注塑时应注意加料速度,如加料过慢会导致微量空气的进入,影响隔垫的外观和使用寿命; (三)、单侧隔垫的开孔 将成型的进样隔垫使用预设刀具进行一侧开孔,开孔位置,孔深固定; (四)、进样隔垫的加热纯化 将成品放入进样口以高纯氮气30ml/ml的流速吹扫,并将隔垫加热至350度以去除杂质,加热保持3-5个小时,观测气相色谱仪,无杂质流出,即可。
    全文摘要
    一种超低流失色谱进样隔垫,它涉及一种气相色谱仪器配件,它的制作步骤为(一)、硅橡胶原料的调和添加处理,(二)、隔垫的注塑成型,(三)、单侧隔垫的开孔,(四)、进样隔垫的加热纯化,它可以大大降低隔垫的成屑率,保证单针扎取200次不会被穿透。
    文档编号G01N30/16GK102998400SQ201110274180
    公开日2013年3月27日 申请日期2011年9月15日 优先权日2011年9月15日
    发明者盛剑玉, 夏敏勇, 沈志希, 张晓梅, 张佳 申请人:上海安谱科学仪器有限公司

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