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专利名称：镁牺牲阳极电化学性能测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种镁牺牲阳极电化学性能测试仪，属于腐蚀阴极保护一牺牲阳极试验的技术领域。
背景技术：
牺牲阳极法腐蚀技术因其经济、无需管理、无干扰等优点而被广泛应用。牺牲阳极的性能是腐蚀控制的关键，也是影响被保护设备寿命性能的重要因素。但是目前各厂家对牺牲阳极的性能尤其是电化学性能的测试和控制还不够完善，主要表现在以下几个方面各牺牲阳极生产厂家还没有建立一套完整的测试体系，尤其是牺牲阳极电化学性能方面，仅是采用简单的实验设备进行不规范的测试。使用厂家由于没有检测手段，无法确认牺牲阳极的合格率，无法对牺牲阳极生产厂家进行监督。
国家监督部门尚无可实时监测的正规、简单方便、可行有效的测试仪器和检测设备。
发明目的本实用新型的目的是要提供一种镁牺牲阳极电化学性能测试仪，它可以对牺牲阳极的电化学性能进行检验测试，沿用美国标正ASTMG97-97的测试方法和相关规定，将测试仪器集成一体，结合使用数显仪表进行控制。
镁牺牲阳极电化学性能测试仪的结构是壳体1内装有辅助阴极5和库仑计4，壳体1表面是数显表面3和电源开关6以及电位器7和电源指示灯8，壳体1的后部有电源线9，可接220V的电源。壳体1底部衬一层绝缘板10以防止漏电，中间部位又设置一块绝缘板11，而使库仑计4定位。
电源板J1的1端接地，3端L线接熔断器F1，再接变压器T1的初级绕组，2端的N线也接T1的初级绕组，变压器T1的次级绕组分别接二极管D11和D12的正极和二极管D9和D10的负极，二极管D11和D12的负极和电容C7的正极共同接于芯片N3的4端(型号为7812)，同时又接于VDD，二极管D9和D10的正极又与电容C7的负极相接且接地，同时又接于芯片N3的6端，电容C8和C9的正极共同接于芯片N3的5端，，同时又接于电阻R1和可调电阻RP1后，再接于A1(既镁棒阳极)，而电容C8和C9的负极互相连接于芯片N3的6端，同时又接于电流表A后再接镁棒阳极A1和辅助阴极B1及电压表V，再接参比电极P1。
变压器T1的次级绕组又接二极管D3和D4的正极以及二极管D1和D2的负极，D3和D4的负极与电容C1的正极共同接于芯片N1的7端，二极管D1和D2的正极与电容C1的负极连接后又接到芯片N1的9端，同时又连接电容C3和C2的负极后再接地，再接到电流表A，电容C3和C2的正极共同接于芯片N1的8端，同时又接于电流表A。变压器T1的初级绕组与变压器T2的初级绕组连接T2的次级绕组，并且连接二极管D8和D9的正极，同时又接于二极管D5和D6的负极，D7和D8的负极连同电容C4的正极接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正极共同接于电容C4的负极，同时又接于芯片N2的12端，并且连接电容C6和C5的负极，接地后又接于电压表V，电容C6和C5的正极共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接电压表V。上述+5V分别作为电压表V和电流表A的电源。
镁牺牲阳极电化学性能测试仪的优点是可测试牺牲阳极的电化学性能，其体积小且安装极为方便，操作简便而测试精度高，适用于各种牺牲阳极的试样。


图1.镁牺牲阳极电化学性能测试仪示意图图2.工作原理图图3.电气原理图由图1，壳体1内装有辅助阴极5和库仑计4，壳体1表面是数显表面3和电源开关6以及电位器7和电源指示灯8，壳体1底部衬一层绝缘板10以防止漏电，中间部位又设置一块绝缘板11，而使库仑计4定位，壳体1的后部有电源线9，可接220V的电源。
由图2，辅助阴极5内装有镁电极12和甘汞电极13，辅助阴极5接库仑计C，镁电极12也接另一库仑计C，两个库仑计与电源P连接。甘汞电极13可连接电位计而用于测试电位。
由图3，电源板J1的1端接地，3端L线接熔断器F1，再接变压器T1的初级绕组，2端N线也接F1的初级绕组，变压器T1的次级绕组分别接二极管D11和D12的正极和二极管D9和D10的负极，二极管D11和D12的负极和电容C7的正极共同接于芯片N3的4端(型号为7812)，同时又接于VDD，二极管D9和D10的正极又与电容C7的负极相接且接地，同时又接于芯片N3的6端，电容C8和C9的正极共同接于芯片N3的5端，，同时又接于电阻R1和可调电阻RP1后，再接于A1(既镁棒阳极)，而电容C8和C9的负极互相连接于芯片N3的6端，同时又接于电流表A后再接镁棒阳极A1和辅助阴极B1及电压表V，再接参比电极P1。
变压器T1的次级绕组又接二极管D3和D4的正极以及二极管D1和D2的负极，D3和D4的负极与电容C1的正极共同接于芯片N1的7端，同时连接VDD，二极管D1和D2的正极与电容C1的负极连接后又接到芯片N1的9端，同时又连接电容C3和C2的负极后再接地，再接到电流表A，电容C3和C2的正极共同接于芯片N1的8端，司时又接于电流表A。
变压器T1的初级绕组与变压器T2的初级绕组连接T2的次级绕组，并且连接二极管D8和D9的正极，同时又接于二极管D5和D6的负极，D7和D8的负极连同电容C4的正极接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正极共同接于电容C4的负极，同时又接于芯片N2的12端，并且连接电容C6和C5的负极，接地后又接于电压表V，电容C6和C5的正极共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接电压表V。上述+5V分别作为电压表V和电流表A的电源。
具体实施方式
该实验装置主要部件包括外壳1部分，变压整流装置(内置)和测试辅助部件，其测试辅助部件主要由辅助阴极5、库仑计4和连接导线(内置)和数显仪表2、3共同组成。
将用户需要的电解液介质填充在辅助阴极5内，液面达到所要求的高度，将要测试的镁牺牲阳极试样通过镁牺牲阳极5的固定装置在辅助阴极5内，将变压整流装置内置引出的一组内置导线中的正极接库仑计4的铜板，负极接在另一库仑计的铜丝上，将电源线9接入220V交流电源，打开电源开关6电源指示灯8点亮，通过电位器7调整电流即可进行测试。
权利要求1.一种镁牺牲阳极电化学性能测试仪，其特征是壳体(1)内装有辅助阴极(5)和库仑计(4)，壳体(1)表面是数显表面(3)和电源开关(6)以及电位器(7)和电源指示灯(8)，壳体(1)的后部有电源线(9)，可接220V的电源。
2.根据权利要求1所述的镁牺牲阳极电化学性能测试仪，其特征是壳体(1)底部衬一层绝缘板(10)以防止漏电，中间部位又设置一块绝缘板(11)，而使库仑计(4)得以定位。
3.根据权利要求1所述的镁牺牲阳极电化学性能测试仪，其特征是电源板J1的1端接地，3端L线接熔断器F1，再接变压器T1的初级绕组，2端的N线也接T1的初级绕组，T1的次级绕组分别接二极管D11和D12的正极和二极管D9和D10的负极，二极管D11和D12的负极和电容C7的正极共同接于芯片N3的4端(型号为7812)，同时又接于VDD，二极管D9和D10的正极又与电容C7的负极相接且接地，同时又接于芯片N3的6端，电容C8和C9的正极共同接于芯片N3的5端，，同时又接于电阻R1和可调电阻RP1后，再接于A1(既镁棒阳极)，而电容C8和C9的负极互相连接于芯片N3的6端，同时又接于电流表A后再接镁棒阳极A1和辅助阴极B1及电压表V，再接参比电极P1。变压器T1的次级绕组又接二极管D3和D4的正极以及二极管D1和D2的负极，D3和D4的负极与电容C1的正极共同接于芯片N1的7端，二极管D1和D2的正极与电容C1的负极连接后又接到芯片N1的9端，同时又连接电容C3和C2的负极后再接地，再接到电流表A，电容C3和C2的正极共同接于芯片N1的8端，同时又接于电流表A，变压器T1的初级绕组与变压器T2的初级绕组连接T2的次级绕组，并且连接二极管D8和D9的正极，同时又接于二极管D5和D6的负极，D7和D8的负极连同电容C4的正极接于VDD以及芯片N2的10端，D5和D6的正极共同接于电容C4的负极，同时又接于芯片N2的12端，并且连接电容C6和C5的负极，接地后又接于电压表V，电容C6和C5的正极共同接于芯片N2的11端后又接±5V并接电压表V。上述+5V分别作为电压表V和电流表A的电源。
专利摘要一种镁牺牲阳极电化学性能测试仪，它由外壳部分和测量部件组成，其测量部件主要由辅助阴极和库仑计，连接导线与数显仪表组成，壳体1内装有辅助阴极5和库仑计4，壳体1表面是数显表面3和电源开关6以及电位器7和电源指示灯8，壳体1的后部有电源线9，可接220V的电源。
文档编号G01N27/26GK2681133SQ200420004240
公开日2005年2月23日 申请日期2004年2月24日 优先权日2004年2月24日
发明者黄鸣, 徐志斌, 陈玉铭, 张保国, 渠荣华 申请人:黄鸣