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一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置制造方法
【专利摘要】一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，在料柱上端连接有与料柱相连通的料位计支承座，在料位计支承座的通腔内设有料位计，料柱的柱腔内设有用于测量物料料位的料位计的缆式探头，料位计的信号输出端连接显示装置。代替现有的γ射线测量料位装置，解决了传统的料位测量方式中测量的局限性、危害性、安全性等隐患，同时满足其测量的连续性、精确性，并具有安全、无污染等特点。
【专利说明】一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置
【技术领域】
[0001]本实用新型设计一种料仓装置，尤其是用于铁精粉、球团领域的高压辊磨机，更具体地说，本实用新型涉及一种采用可连续测量料位高度及其变化的用于铁精粉、球团领域的高压辊磨机料仓装置。
【背景技术】
[0002]众所周知，高压辊磨的辊压原理在于“料层粉碎”，料层的高度对于辊压后的效果有着重要的作用；在理论上，料层高度越高，其挤压效果就越明显。但是，实际上，在铁精粉、球团领域，由于粉磨工艺的特点，其物料中总是含有10%左右的水分；料层越高，在料层的下方就越容易形成料块，堵塞辊压磨的入料口。尤其是在开、停机的时候，要准确知道料位的高度就具有及其重要的作用。目前，高压辊磨机的料仓采用带Y射线测量料位装置，其普遍存在以下问题:
[0003]1.测量的局限性:其测量方式非连续性而是固定发射点式测量，此种测量方式只能测量该点位置有无物料；而不能确定料仓其它位置有无物料，更加内不能检测料位的变化情况。
[0004]2.其放射源对人体有一定的危害；Y射线测量的原理就是靠放射源发射一定频率的信号波，通过采集信号通过被测介质后衰减的强度来确定物料。在调试或现场不可避免会形成射线污染环境，对人体造成伤害。
[0005]3.恶劣环境的危害。在现场粉尘特别多、振动大，对设备造成极大的损坏。
[0006]4.Y射线测量料位装置安装、布置要求高。安装时必须要专业人员严格按照设备要求进行安装、布置，并对安装空间进行了严格的限制。
实用新型内容
[0007]本实用新型的目的，为解决上述问题，本实用新型提供了一种用于恶劣环境下精确测量料位的料仓装置。代替现有的Y射线测量料位装置，解决了传统的料位测量方式中测量的局限性、危害性、安全性等隐患，同时满足其测量的连续性、精确性，并具有安全、无污染等特点。
[0008]为实现上述技术目的，所采用的技术方案是:一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，在料柱上端连接有与料柱相连通的料位计支承座，在料位计支承座的通腔内设有料位计，料柱的柱腔内设有用于测量物料料位的料位计的缆式探头，料位计的信号输出端连接显示装置。
[0009]本实用新型所述的料位计为导波雷达物位计。
[0010]本实用新型所述的料位计支承座的通腔内设有保护罩，保护罩内罩设有料位计。
[0011]本实用新型所述的料位计支承座内设有缓冲垫板，缓冲垫板上设有料位计。
[0012]本实用新型所述的保护罩的顶面为斜面。
[0013]本实用新型所述的料柱和料位计支承座通过螺栓连接。[0014]本实用新型所述的显示装置为计算机或中控显示仪。
[0015]本实用新型的有益效果是:
[0016]I)料位计为线测量，可连续检测料位的变化情况；测量精确，测量信号反应速度快；
[0017]2)料位计支承座位于料柱的上方，可进行拆卸更换，其通腔采用斜面保护罩，能有效保护料位计不受物料的冲击及环境的影响；
[0018]3)料位计采用高频微波脉冲信号，对环境无污染，安全环保；
[0019]4)安装方便，运行可靠。
[0020]【专利附图】

【附图说明】:
[0021]图1为本实用新型的结构示意图；
[0022]图中:1、料柱，2、料位计支承座，3、料位计，4、缓冲垫板，5、保护罩，6、显示装置。【具体实施方式】
[0023]如图所示，一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，在料柱I上端连接有与料柱I相连通的料 位计支承座2，在料位计支承座2的通腔内设有料位计3，料柱I的柱腔内设有用于测量物料料位的料位计3的缆式探头，测量的是在料柱内部的物料情况，属于线测量，可连续性测量，料位计3的信号输出端连接显示装置6。
[0024]所述的料位计3为导波雷达物位计，，是一种依靠K频段的高频传感器发射及接收电磁脉冲信号为原理的脉冲发射装置，依据脉冲信号发射及接收的时间与传播距离成正t匕，通过其内部调整模块将其转化为准确数值并在显示仪上显示出来。最终的料位信号是一种4~20πιΑ输出信号，通过调整模块并转化为可在显示仪表上显示的精确料位数值；其输出信号可直接传输给可编程的计算机或中控显示。
[0025]料位计支承座2的通腔内设有保护罩5，保护罩5内罩设有料位计3，保护罩5的顶面为斜面，能有效保护料位计不受物料的冲击及环境的影响。
[0026]料位计支承座2内设有缓冲垫板4，缓冲垫板4上设有料位计3，缓冲垫板是为了减缓物料冲击对导波雷达料位计传输信号的影响；缓冲垫板装在支承座底板及料位计中间，可以减轻料仓振动对导波雷达料位计接收信号的干扰。
[0027]所述的料柱I和料位计支承座2通过螺栓连接，料柱与料位计支承座可进行拆卸，可方便用于导波雷达料位计的安装调试及维护。
[0028]本实用新型所述的显示装置6为计算机或中控显示仪。
[0029]料仓装置可精确测量的方法主要是通过发射一种高频率的微波脉冲，微波脉冲接触到被测介质后被反射回来，被电子部件接收，分析计算其运行时间并将它转换成物位信号给出。
[0030]该实用新型的工作原理为:铁精粉通过给料系统进入料位计支承座2，铁精粉依靠重力的作用落入料柱I的中间，并且将料位计3的缆式探头一起掩埋；料位计发射的高频率的微波脉冲沿着缆式探头运行，接触到被测介质(铁精粉)后，微波脉冲被反射回来，并被电子部件接收，并分析计算其运行时间。最终微处理器分析计算后将它转换成物位信号给出。其测量距离最深可达到50…60米。
【权利要求】
1.一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，其特征在于:在料柱(I)上端连接有与料柱(I)相连通的料位计支承座(2 )，在料位计支承座(2 )的通腔内设有料位计(3 )，料柱(I)的柱腔内设有用于测量物料料位的料位计(3 )的缆式探头，料位计(3 )的信号输出端连接显示装置(6)。
2.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，其特征在于:所述的料位计(3)为导波雷达物位计。
3.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，其特征在于:所述的料位计支承座(2)的通腔内设有保护罩(5)，保护罩(5)内罩设有料位计(3)。
4.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，其特征在于:所述的料位计支承座(2)内设有缓冲垫板(4)，缓冲垫板(4)上设有料位计(3)。
5.如权利要求3所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，其特征在于:所述的保护罩(5)的顶面为斜面。
6.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，其特征在于:所述的料柱(I)和料位计支承座(2)通过螺栓连接。
7.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置，其特征在于:所述的显示装置(6)为计算机或中控显示仪。
【文档编号】G01F23/284GK203772360SQ201420013938
【公开日】2014年8月13日 申请日期:2014年1月10日 优先权日:2014年1月10日
【发明者】张发展, 王亚强, 张光宇, 王素玲, 崔郎郎, 宋艾江, 王坷刚, 田鹤, 丁建华, 王琳, 李聪杰 申请人:中信重工机械股份有限公司