专利名称:高速电滑动接触状态下电弧测试的装置的制作方法
技术领域:
本发明涉及实验技术领域,特别是电滑动接触状态下电弧测试的装置。
背景技术:
高速电滑动接触中,电弧是一种非常有害的空气放电现象,如电气机车领域。现有 的电弧检测主要是静态的测量,如高压试验中的放电试验等。静态电弧试验中的电弧大都 是肉眼可见的,与高速电滑动接触中产生的电弧有很大不同,电弧在窄缝中起�。鸹『笥� 于快速的相对运动,又快速的灭�。粲诳焖俜俏榷ǖ缁�。而且线型的电滑动接触,接触界 面不断变化,所以直接观察、测量接触状态十分困难。再者,影响接触状态的因素很多,如接 触压力、滑动速度、电流大小、电压大小等,难以直接建立起影响因素与接触状态的对应关 系。所以目前对此类高速电滑动接触及电弧的检测研究比较少见。
发明内容
本发明的目的是提供一种可靠的高速电滑动接触状态下电弧测试的装置,用以解 决现有技术难以对高速电滑动接触中产生的电弧进行测试的问题。本发明的方案是高速电滑动接触状态下电弧测试的装置,包括一个金属转动盘, 垂直转动盘设置至少一个金属销,转动盘、金属销及测试电源形成测试电气回路,每个金属 销与转动盘的对应部位均设有用于检测电弧强度的光敏元件。进一步的,垂直转动盘设置两个金属销,两个金属销相对转动盘圆心对称分布。进一步的,在所述测试电气回路中串设一个电流表,转动盘及金属销之间设有电 压表,所述电流表与电压表输出连接一个电压电流录波装置。进一步的,所述用于检测电弧强度的光敏元件是光敏三极管。本发明提供的测试装置,是将线性滑动转化为圆周滑动,从而可以方便的进行高 速电滑动接触与电弧的测量。采用设备结构简单、硬件要求低、容易实现,结果准确,可靠性 高。采用光敏元件检测电弧强度,采用电压电流录波装置测量记录电压与电流。克服了只 用光电传感器在测量非静止电弧方面的不足,测量结果准确、可靠性高。
图1是本发明的测试实验装置示意图; 图2是稳定电滑动接触状态测试波形图; 图3是起弧状态波形图4是完全脱开状态波形图。
具体实施例方式下面结合附图对本发明做进一步详细的说明。如图1所示的一种高速电滑动接触状态下电弧测试的装置,包括一个金属转动盘3,垂直转动盘设置两个相对的金属销2 (可以是多个,但是要求绕转动盘的轴心均勻分布, 满足动平衡要求),两个金属销2压紧在转动盘上。对应设置两根金属销的作用在于调整转 动平衡。设置一个电压电流录波装置,该电压电流录波装置的两个检测端分别与两个金属 销2导电连接(金属销与转动盘及一个恒流源形成回路,录波装置的目的是测试回路的电 流以及摩擦副之间的电压,所以录波装置的两个检测端可以连接在两个金属销上,也可以 一个连接在金属销上,另一个连接在转动盘上);每个金属销2与转动盘3的对应部位均设 有用于检测电弧强度的光敏三极管1。进行实验时,光敏三极管1设置在接触处附近。
测试装置准备好以后,通电并且使转动盘高速旋转,首先通过电压电流录波装置 测量记录滑动接触状态下的电压、电流,通过光敏三极管1测量记录电弧情况,可以绘制出 电压、电流与电弧的波形图,然后综合电压、电流与电弧信息进行电滑动接触状态的判断 无电弧,电压、电流变化趋势相同,判定为稳定电滑动接触状态,如图2 ;有电�。缪�、电流 变化趋势不相同,则判定为起弧状态,如图3 ;无电弧,电压、电流变化趋势不相同,则判定 为完全脱开状态,如图4 (图中,电弧、电压波形重叠)。
权利要求
1.高速电滑动接触状态下电弧测试的装置,其特征在于,包括一个金属转动盘,垂直转 动盘设置至少一个金属销,转动盘、金属销及测试电源形成测试电气回路,每个金属销与转 动盘的对应部位均设有用于检测电弧强度的光敏元件。
2.根据权利要求1所述的高速电滑动接触状态下电弧测试的装置,其特征在于,垂直 转动盘设置两个金属销,两个金属销相对转动盘圆心对称分布。
3.根据权利要求2所述的高速电滑动接触状态下电弧测试的装置,其特征在于,在所 述测试电气回路中串设一个电流表,转动盘及金属销之间设有电压表,所述电流表与电压 表输出连接一个电压电流录波装置。
4.根据权利要求1所述的高速电滑动接触状态下电弧测试的装置,其特征在于,所述 用于检测电弧强度的光敏元件是光敏三极管。
全文摘要
本发明涉及高速电滑动接触状态下电弧测试的装置,包括一个金属转动盘,垂直转动盘设置至少一个金属销,转动盘、金属销及测试电源形成测试电气回路,每个金属销与转动盘的对应部位均设有用于检测电弧强度的光敏元件。本发明的测试装置是将线性滑动转化为圆周滑动,从而可以方便的进行高速电滑动接触与电弧的测量,其采用设备结构简单、硬件要求低、容易实现,结果准确,可靠性高。
文档编号G01R13/00GK102116787SQ20111004258
公开日2011年7月6日 申请日期2011年2月23日 优先权日2011年2月23日
发明者上官宝, 刘敬超, 张永振, 杨正海, 赵飞 申请人:河南科技大学