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专利名称：一种惠斯通电桥补偿电阻的测试方法
技术领域：
本发明涉及电子电路测试领域，具体涉及一种惠斯通电桥补偿电阻的测试方法。
背景技术：
在集成电路、传感器等诸多电子产品中，经常会用到一种叫做惠斯通电桥的电路如图 1，

图1中四个电阻阻值完全相同的情况下，节点2与节点5之间的电压Vout=0。然而在实际使用中，由于工艺条件等因素的影响，四个电阻的阻值会有差异，导致Vout Φ 0，此时可以在惠斯通电桥的桥臂端即R2或R3上并联电阻R使得Vout=0。现有的技术手段是通过人工调节并联电阻R，使得Vout=O,然后测试R的数值，即为补偿电阻值。此种方法不够精确， 难以适应大批量生产测试。

发明内容
本发明的目的是解决传统的测量方法精确性差，难以适应大批量生产测试的问题，提供一种快速、精确测量惠斯通电桥补偿电阻的测试方法。为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案
一种惠斯通电桥补偿电阻的测试方法，其特征在于包括以下步骤
a、在惠斯通电桥各桥臂电阻两端，分别并连接一个由电流表和开关组成的并联支路；
b、每次只有一个电流表接通工作，分四次分别测得每一个桥臂电阻对应的电流I。12、I3和14，如果L > O利用公式
权利要求
1. 一种惠斯通电桥补偿电阻的测试方法，其特征在于包括以下步骤a、在惠斯通电桥各桥臂电阻两端，分别并连接一个由电流表和开关组成的并联支路；b、每次只有一个电流表接通工作，分别测得每一个桥臂电阻对应的电流1”12、13和14，然后利用公式及
全文摘要
本发明涉及一种惠斯通电桥补偿电阻的测试方法，其特征在于包括以下步骤a、在惠斯通电桥各桥臂电阻两端，分别并连接一个由电流表和开关组成的并联支路；b、每次只有一个电流表接通工作，分别测得每一个桥臂电阻对应的电流I1、I2、I3和I4，然后利用公式或计算得出R的阻值。本发明与现有技术相比，其显著优点是通过电学测试电路以及数学公式变换，可以精确计算出需要在桥臂上补偿的电阻值，计算方法可编程价值高，易于在测试系统上开发，实现在线生产的大规模测试，从而高效的解决问题。
文档编号G01R27/00GK102368086SQ20111025329
公开日2012年3月7日 申请日期2011年8月31日 优先权日2011年8月31日
发明者徐春叶, 方岚, 明源, 欧阳径桥, 焦贵忠, 田波, 郑宇 申请人:华东光电集成器件研究所