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专利名称：双柱高度尺的制作方法
技术领域：
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本实用新型涉及一种双柱高度尺。
技术背景-
目前，检测工人在使用高度尺对零部件进行高度测量的同时，通常还需要使用粗糙度仪 对零部件表面的粗糙度进行检测。在检测零部件表面粗糙度时，由于零部件的体积大小不一， 为了能够使粗糙度仪在水平状态下对零部件上表面的粗糙度进行检测，因此，检测工人通常 需要另外使用一些垫块作为辅助，尤其在对高于其测量头的阶梯类零件表面进行粗糙度检测 时就需要对粗糙度仪底部分别垫加多块不同高度的垫块，从而使粗糙度仪的使用变得较为麻 烦，而目前的高度尺只具备测量高度的功能，它无法为测粗糙度提供服务。 实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是，提供一种能够辅助粗糙度仪进行粗糙度检测，从而使 粗糙度检测变得简单、方便的双柱高度尺。
本实用新型的技术解决方案是，提供一种具有以下结构的粗糙度仪它包括底座、竖立 在底座上的两根互相平行的圆柱齿条、可在圆柱齿条上上下滑动的读数装置、连接在读数装 置上用来驱动读数装置上下滑动的进给手轮以及连接在读数装置上用于与被测零件相接触的 高度测量部件；所述高度测量部件为一个与圆柱齿条滑动配合的托盘；所述托盘的底面为水 平面，所述托盘的上表面设有一个用来放置粗糙度仪的凹槽。
采用以上结构后，与现有技术相比，本实用新型具有以下优点由于本实用新型中所述 的托盘的底面为水平面，因此它具有常规高度尺中测量爪的功能；与此同时，本实用新型中 所述托盘的上表面设有一个用来放置粗糙度仪的凹槽，在需要对零部件进行粗糙度检测时， 检测工人可以将粗糙度仪放置在所述的凹槽内，并通过高度尺上的进给手轮来上下移动托盘 的位置，使凹槽内的粗糙度仪的高度能够符合不同零部件高度的要求，从而使粗糙度的检测 变得简单、方便。


附图是本实用新型双柱高度尺的结构示意图。
图中所示，1、底座，2、圆柱齿条，3、读数装置，4、进给手轮，5、托盘，6、凹槽，7、 连接套，8、定位片。 具体实施例
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明
如附图所示，在本具体实施例中，本实用新型双柱高度尺包括底座1、竖立在底座1上 的两根互相平行的圆柱齿条2、可在圆柱齿条2上上下滑动的读数装置3、连接在读数装置3 上用来驱动读数装置3上下滑动的进给手轮4以及通过定位片8连接在读数装置3上用于与 被测零件相接触的高度测量部件；所述高度测量部件为一个与圆柱齿条2滑动配合的托盘5; 所述托盘5的底面为水平面，所述托盘5的上表面设有一个用来放置粗糙度仪的凹槽6;所 述两根圆柱齿条2的顶部套有一个连接套。本实用新型中所述的读数装置3与圆柱齿条2的 具体连接关系以及进给手轮4与读数装置3的具体连接关系均为常规现有技术，故不在此赘 述。
权利要求1、一种双柱高度尺，它包括底座(1)、竖立在底座(1)上的两根互相平行的圆柱齿条(2)、可在圆柱齿条(2)上上下滑动的读数装置(3)、连接在读数装置(3)上用来驱动读数装置(3)上下滑动的进给手轮(4)以及连接在读数装置(3)上用于与被测零件相接触的高度测量部件，其特征在于所述高度测量部件为一个与圆柱齿条(2)滑动配合的托盘(5)；所述托盘(5)的底面为水平面；所述托盘(5)的上表面设有一个用来放置粗糙度仪的凹槽(6)。
专利摘要本实用新型公开了一种双柱高度尺，它包括底座(1)、竖立在底座(1)上的两根互相平行的圆柱齿条(2)、可在圆柱齿条(2)上上下滑动的读数装置(3)、连接在读数装置(3)上用来驱动读数装置(3)上下滑动的进给手轮(4)以及连接在读数装置(3)上用于与被测零件相接触的高度测量部件；所述高度测量部件为一个与圆柱齿条(2)滑动配合的托盘(5)；所述托盘(5)的底面为水平面；所述托盘(5)的上表面设有一个用来放置粗糙度仪的凹槽(6)。本实用新型能够辅助粗糙度仪进行粗糙度检测，从而使粗糙度检测变得简单、方便。
文档编号G01B5/28GK201331321SQ20082017147
公开日2009年10月21日 申请日期2008年12月30日 优先权日2008年12月30日
发明者李德祥 申请人:宁波祥瑞机械有限公司