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专利名称：电压检测电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种半导体集成电路，特别是涉及一种电压检测电路(VD)。
背景技术：
如

图1所示为现有电压检测电路的结构示意图，现有电压检测电路包括分压电路和比较器12，分压电路由多个串联的电阻11组成，并在串联的电阻11之间取出一分压值VI，该分压值Vl连接到所述比较器12的一个输入端。所述比较器12的另一输入端连接参考电压Vref。所述比较器12对分压值Vl和参考电压Vref进行比较并在输出端输出一输出值out。现有电压检测电路的缺点有:1、由于分压电路的各串联电阻是串联于电源电压和地之间，该通路上会一直有电流，这会使得电路的功耗过大。2、在集成电路中，电阻会占用过多的器件面积。在半导体制造中，器件的面积越小，就能在单位面积上形成更多的器件，从而能提供集成度，最终减少成本。所以，电阻过大的面积也会使制造成本增加。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种电压检测电路，能降低电路在芯片上的占用面积，能完全消除电路的静态功耗从而降低电路的功耗，能保证电路具有较高的电压分压精度。为解决上述技术问题，本发明提供的电压检测电路包括:分压电路和比较器。所述分压电路的输出端输出电源电压的分压并和所述比较器的第一输入端相连，所述比较器的第二输入端连接参考电压。所述分压电路包括第一电容和第二电容。所述第一电容的第一端连接所述参考电压、第二端通过第一开关连接到所述电源电压。所述第二电容的第一端通过第二开关连接到所述参考电压，所述第二电容的第一端通过第三开关连接地电位；所述第二电容的第二端为所述分压电路的输出端并和所述比较器的第一输入端相连，所述第二电容的第二端还通过第四开关连接到所述参考电压。所述第一电容的第二端和所述第二电容的第二端通过第五开关相连。进一步的改进是，所述分压电路存在两种连接结构；第一种连接结构中:所述第一开关、所述第三开关和所述第四开关都闭合，所述第二开关和所述第五开关断开；所述第一电容连接于所述电源电压和所述参考电压之间，所述第一电容中存储有电荷，且该电荷的电量大小为第一电量值；所述第二电容连接于所述参考电压和地之间，所述第二电容中存储有电荷，且该电荷的电量大小为第二电量值。
第二种连接结构中:所述第一开关、所述第三开关和所述第四开关都断开，所述第二开关和所述第五开关闭合；所述第一电容和所述第二电容并联于所述参考电压和所述分压电路的输出端之间，并在所述分压电路的输出端形成所述电源电压的分压。进一步的改进是，在所述第一种连接结构中，所述第一值的大小为:Q1 =(VDD-Vref) XCl，Ql表示所述第一电量值，VDD表示所述电源电压，Vref表示所述参考电压，Cl表示所述第一开关的电容；所述第二值的大小为:Q2 = Vref XC2, Q2表示所述第二电量值，C2表示所述第二开关的电容。在所述第二种连接结构中，由存储有第一电量值的电荷的所述第一电容和存储有所述第二电量值的电荷的所述第二电容并联形成的所述电
源电压的分压的大小为
权利要求
1.一种电压检测电路，其特征在于，包括:分压电路和比较器； 所述分压电路的输出端输出电源电压的分压并和所述比较器的第一输入端相连，所述比较器的第二输入端连接参考电压； 所述分压电路包括第一电容和第二电容； 所述第一电容的第一端连接所述参考电压、第二端通过第一开关连接到所述电源电压； 所述第二电容的第一端通过第二开关连接到所述参考电压，所述第二电容的第一端通过第三开关连接地电位；所述第二电容的第二端为所述分压电路的输出端并和所述比较器的第一输入端相连，所述第二电容的第二端还通过第四开关连接到所述参考电压； 所述第一电容的第二端和所述第二电容的第二端通过第五开关相连。
2.如权利要求1所述的电压检测电路，其特征在于:所述分压电路存在两种连接结构； 第一种连接结构中: 所述第一开关、所述第三开关和所述第四开关都闭合，所述第二开关和所述第五开关断开；所述第一电容连接于所述电源电压和所述参考电压之间，所述第一电容中存储有电荷，且该电荷的电量大小为第一电量值；所述第二电容连接于所述参考电压和地之间，所述第二电容中存储有电荷，且该电荷的电量大小为第二电量值； 第二种连接结构中: 所述第一开关、所述第三开关和所述第四开关都断开，所述第二开关和所述第五开关闭合；所述第一电容和所述第二电容并联于所述参考电压和所述分压电路的输出端之间，并在所述分压电路的输出端形成所述电源电压的分压。
3.如权利要求2所述的电压检测电路，其特征在于: 在所述第一种连接结构中，所述第一值的大小为:Q1 = (VDD-Vref) XCl, Ql表示所述第一电量值，VDD表不所述电源电压，Vref表不所述参考电压，Cl表不所述第一开关的电容；所述第二值的大小为:Q2 = Vref XC2, Q2表示所述第二电量值，C2表示所述第二开关的电容； 在所述第二种连接结构中，由存储有第一电量值的电荷的所述第一电容和存储有所述第二电量值的电荷的所述第二电容并联形成的所述电源电压的分压的大小为:VDD-C1 -1-Vref-C2^ =-c +c ~-，Vx表示所述电源电压的分压。
4.如权利要求3所述的电压检测电路，其特征在于:在所述第二种连接结构中，令所述电源电压的分压等于所述参考电压，所述参考电压的大小为:Vref = ~ VDD οQ-C2
5.如权利要求1或2或3或4所述的电压检测电路，其特征在于:所述第一电容和所述第二电容的电容值的大小能调节且是根据所要检测的所述电源电压的电压值大小进行调节，所述第一电容和所述第二电容的电容值根据所述电源电压的分压等于所述参考电压的条件进行设定。
全文摘要
本发明公开了一种电压检测电路，包括分压电路和比较器。分压电路包括第一电容和第二电容。第一电容的第一端连接参考电压、第二端通过第一开关连接到电源电压。第二电容的第一端通过第二开关连接到参考电压，第二电容的第一端通过第三开关连接地电位；第二电容的第二端为分压电路的输出端并和比较器的第一输入端相连，第二电容的第二端通过第四开关连接到参考电压。第一电容的第二端和第二电容的第二端通过第五开关相连。本发明能降低电路在芯片上的占用面积，能完全消除电路的静态功耗从而降低电路的功耗，能保证电路具有较高的电压分压精度。
文档编号G01R15/04GK103176020SQ20111043580
公开日2013年6月26日 申请日期2011年12月22日 优先权日2011年12月22日
发明者李一天, 周平 申请人:上海华虹Nec电子有限公司