专利名称：射线检测焊缝评价k值的搭接标记物的制作方法
技术领域：
本实用新型属于x射线检测焊缝的装置，具体涉及一种x射
线检测焊缝用于评价K值的搭接标记。
背景技术：
国内在承压设备无损检测中利用锅炉、压力容器等设备的焊 接质量，是安全运行的重要保证。射线探伤是检测焊接内部缺陷 检验方法之一 ，射线检测就是通过投影把具有三维尺寸的试件 (包括其中的缺陷)投射到底片上，转化为二维尺寸的影像。 由于射线源、物体(含其中缺陷)、胶片三者之间的相对位置、 角度变化，会使底片上的影像与实物尺寸、形状、位置有所不 同，常见有放大、畸变、重迭、相对位置改变等现象。裂紋是 焊缝中最具危险性的缺陷，由于裂紋宽度很�。募斐雎视肷� 线透照角6有关，而e-cos-'K"(透照厚度比),在实际射线探伤 工艺中，往往通过控制K值来达到裂紋检出率的要求。长期以来， 国内、外在射线照相底片的评定中，尚无可以直观地检验出有效 区段焊缝的透照厚度比K是否符合标准要求的技术，如果K值不 能满足标准要求，就可能造成对裂紋类�：π匀毕萋┘�。
目前国内在进行X射线拍照时，采用T作为搭接标记。在实 际底片拍摄工作中由于机头偏靶、划线、现场条件、操作水平、 视觉误差等因素的影响常常会出现射线束偏移透照区中心，使该 透照中心与被检区平面的切面不垂直，产生角度偏移、水平偏移、 垂直偏移，这样底片两端K值不能满足工艺设计的规定，此时透 照厚度差就失去了控制，经暗室处理后的底片存在影象失真和底 片两端的黑度差异增大，甚至会出现"白头"现象，影响了射线 照相质量，这样会使有效区段两端的�：π匀毕萋┘�。因此现有 的搭接标记不能反映出所拍摄的底片是否能正确的反映出K值， 也就是所拍着出的底片是否合格。 发明内容本实用新型的目的在于提供一种射线检测焊缝评价K值的搭 接标记物，以解决上述问题。
本实用新型的技术方案为射线检测焊缝评价K值的搭接 标记物，它包括指针，与指针同圆心的控制圆环或与指针同圓心 的在同一圆周上均匀分布的凸点，指针与控制圓环之间有间隙或 指针与凸点之间有间隙；指针与控制圆环或指针与凸点是X射线 吸收性能相同或相似的材料。
通过搭接标记物在拍摄时的影像就能直观的，定性分析所拍 摄的底片是否符合要求，该搭接标记物结构简单，使用方便。它 是一个全新的用于射线检测焊缝评价K值的物品。
图1 射线检测焊缝评价K值的搭接标记物结构示意图I 。 图2 射线检测焊缝评价K值的搭接标记物结构示意图II。 图3 搭接标记物使用放置位置示意图。 图4 K值有效评价示意图。 图具体实施方式
本实施例用于对本实用新型权利要求的解释，本发明的保护 范围并不限于下列实施例。
如图l所示，该结构为三个同心圓的零件组成(图2)，指针 l是圓柱形，与指针1同圆心的控制圆环2是环状，指针l与控 制圆环2设有保持环3 ，保持环3与指针1 、控制圆环2之间为过 盈配合。保持环3的高度不超过控制圓环的高度。指针l的高度 大于控制圆环的高度2，在垂直面内，指针1侧边AC顶A与控 制圓环内环底B之间夹角(即CA与BA之间的夹角)大小与评 价K值的6角相同。指针1与控制圆环2是X射线吸收性能相同 或相似的材料，可以采用铅或其他适宜的重金属材料。保持环3 的X射线吸收性能与指针1与控制圓环2的X射线吸收性能相反。 本实施例中指针与控制圆环采用金属材料或磁性材料。保持环采 用非金属材料或非磁性材料。本实施例中指针1与控制圆2环采 用磁铁，保持环3采用工程塑料。
如图2所示，指针1、控制圆环2和保持环3固定在底板4 上。底底4板上标识有K值以及方向指示箭头5。
所述指针的高度不超过射线源到被检工件垂直距离Ll的—1% ,射线源到被检工件垂直距离Ll依据JB/T 4730.2-2005标准而 定。本实施例中指针为5毫米。
如图使用时，根据被监测物的要求选择符合要求的K值搭接 标记物，按标准规定要求位置摆放，将指示箭头5放置在焊缝的 边缘5mm搭接定位标记(有效区段透照标记)处(图3、 4所示)， 此时透明底板4、在4个磁铁6的作用力下，紧贴在铁磁性材料 工件表面。当射线束照射到紧贴在工件表面两边的指针1和控制 圆环2时，在照相胶片上能产生几何投影潜影。经暗室处理后， 底片两端搭接标记处就会出现评价(显示)K值的搭接标记中指 针的投影长度在控制环边缘投影图像，在射线照相底片评定和监 督检验时，通过底片两端评价(显示)K值的搭接标记的指针1 和控制圓环2投影图像的相切、相割与否，就可以来评价和监测 射线照相工艺控制的质量。图中7-中心标记8-焊缝9-底片 10 -射线源11 -搭接标记物
权利要求1、一种射线检测焊缝评价K值的搭接标记物，其特征在于它包括指针，与指针同圆心的控制圆环或与指针同圆心的在同一圆周上均匀分布的凸点，指针与控制圆环之间有间隙或指针与凸点之间有间隙；指针与控制圆环或指针与凸点是X射线吸收性能相同或相似的材料。
2、 如权利要求1所述射线检测焊缝评价K值的搭接标记物， 其特征在于指针的高度大于控制圆环高度或凸点的高度，在垂直 面内，指针侧边顶与控制圆环内环底之间或指针侧边顶与凸点内 侧底的夹角大小与评价K值的6角相同。
3、 如权利要求1或2所述射线检测焊缝评价K值的搭接标 记物，其特征在于指针与控制圓环之间设有保持环，保持环与指 针、控制圓环之间为过盈配合，保持环的X射线吸收性能与指针 与控制圓环的X射线吸收性能相反。
4、 如权利要求1或2所述射线检测焊缝评价K值的搭接标 记物，其特征在于指针与控制圆环釆用重金属材料或磁性材料。
5、 如权利要求3所述射线检测焊缝评价K值的搭接标记物， 其特征在于保持环采用非金属材料或非磁性材料。
6、 如权利要求3所述射线检测焊缝评价K值的搭接标记物， 其特征在于保持环的高度不超过控制圆环的高度。
7、 如权利要求1或2所述射线检测焊缝评价K值的搭接标 记物，其特征在于它还包括与指针、控制圓环、保持环和凸点固 定的底+反。
8、 如权利要求7所述射线检测焊缝评价K值的搭接标记物， 其特征在于所述底板上标识有K值以及方向指示箭头。
9、 如权利要求1所述射线检测焊缝评价K值的搭接标记物， 其特征在于所述指针的高度不超过射线源到被检工件垂直距离 U的1 % 。
专利摘要本实用新型公开了一种射线检测焊缝评价K值的搭接标记物，它包括指针，与指针同圆心的控制圆环或与指针同圆心的在同一圆周上均匀分布的凸点，指针与控制圆环之间有间隙或指针与凸点之间有间隙；指针与控制圆环或指针与凸点是X射线吸收性能相同或相似的材料。通过搭接标记物在拍摄时的影像就能直观的，定性分析所拍摄的底片是否符合要求，该搭接标记物结构简单，使用方便。它是一个全新的用于射线检测焊缝评价K值的物品。
文档编号G01N23/02GK201340397SQ200820192408
公开日2009年11月4日 申请日期2008年11月13日 优先权日2008年11月13日
发明者吴开斌, 张敏洁, 张起群, 杨元庆, 陈中荣 申请人:武汉市锅炉压力容器检验研究所
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