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专利名称：元器件分类检测法的制作方法
技术领域：
本发明涉及元器件抗辐射能力的检测，特别涉及一种元器件分类检测法。
背景技术：
由于元器件的抗辐射能力不足会严重影响卫星使用寿命和可靠性。因此在选用用于卫星上的元器件时，需要根据元器件的抗总剂量能力对元器件进行分类。现有的根据元器件抗总剂量能力对元器件进行分类的方法一般是在获取元器件抗总剂量能力后，根据航天器的使用要求，与元器件抗总剂量能力做一比较，若元器件能够满足航天器抗辐射能力要求，则在航天器上使用，若元器件不满足航天器使用要求，一般采取加固措施，即在元器件表面贴铅皮或钽皮等重金属材料，使之满足要求。若元器件抗总剂量能力小于航天器预示环境要求，且采取加固措施后，仍不满足要求的，一般不同意使用。上述现有技术中的元器件分类检测方法需要从元器件中抽取大量的样本进行检测、判别，效率低下。

发明内容
为了克服现有技术中的元器件分类方法样本抽取量大、检测效率低下的缺陷，从而提供一种样本量小、检测效率高的检测方法。为了实现上述目的，本发明提供了一种元器件分类检测法，包括步骤1)、利用辐照测试装置得到元器件的辐照测试数据，对这些辐照测试数据进行统计分析，得到耐量的几何平均值5和对数标准方差Sln0 ；步骤2、、根据所述耐量的几何平均值计算出RDM值RDM = DZDq1其中，Dtl表示环境要求量；步骤3)、查正态分布的单侧容许限表，根据给定样本容量η、置信度C和可靠度I^s 条件时的单侧容许限系数K;步骤4)、根据步骤1)得到的对数标准方差^il以及步骤幻得到的单侧容许限系数K计算PCC值PCC == eKSlnD ；步骤5)、比较步骤2)得到的RDM值以及步骤4)得到的PCC值，确定元器件的类别，实现对元器件的分类检测。上述技术方案中，所述辐照测试数据包括总剂量耐量、中子辐照注量、辐照敏感参数。本发明的优点在于本发明只需要较小的样本容量即可实现对元器件的检测，检测效率高。说明书附1是PCC方法示意图2是置信度C为90%时K值作为η和I^s的函数。
具体实施例方式下面结合附图
和具体实施方式
对本发明做进一步说明。本发明所要解决的问题是如何方便、快捷地对元器件抗辐射能力做分类检测，为此，本发明所提供的元器件分类检测法(简称PCC法)在给定样本容量、置信度和可靠度的基础上，基于非中心t分布的统计方法，计算出元器件的抗辐射测试参数的设计余量值 (RDM)与PCC值，根据两者之间的大小关系与取值范围来对元器件进行分类检测。在得到分类检测结果后，就可以知道该元器件是否可应用于航天器。本领域技术人员都知道，抗辐射测试参数根据实际应用场景的不同有多种类型， 包括总剂量耐量、中子辐照注量、辐照敏感参数等，在下面的实施例中，就以相关元器件按照本发明的方法如何根据这三种参数进行分类加以说明，但本领域技术人员也可将本发明的方法应用于其他类型的抗辐射测试参数。实施例1元器件总剂量耐量的PCC法以LM108放大器因电离辐射导致放大器输入偏置电流的变化而失效为例，根据现有的技术标准，电离辐射总剂量环境Dtl要求是150krad(Si)，在本实施例中给定样本包括5 个试样，这5个试样的总剂量失效水平(即总剂量耐量)可通过相应的测试装置测得，其测试结果如下面的表1所示。此外，在本实施例中还需要给定置信度C和可靠度I^s，所述置信度C的大小为0. 9，所述可靠度I^s的大小为0. 99。
器件试样iDi krad (Si)
1 2 3 4 5
Ooooo
5O O 2 5
68 5 4 3表 1第一步确定给定样本中的元器件的参数设计余量RDM值。在计算元器件的参数设计余量RDM值时，首先要计算给定样本中5个器件总剂量失效水平的几何平均值5，其计算公式如下面的公式(ι)所示D = e^ =52 Ikrad(Si)( 1 )然后再计算元器件的RDM值，其计算公式为RDM = ^- = — = 3.5(2)
D0 150上述公式中的Dtl在前文中已经给出，其大小为150krad(Si)。第二步计算器件总剂量耐量的对数标准差SlnD。在之前的表1中已经给出了每个器件的耐量，对每个器件的耐量取对数，可得均为
权利要求
1.一种元器件分类检测法，包括步骤1)、利用辐照测试装置得到元器件的辐照测试数据，对这些辐照测试数据进行统计分析，得到耐量的几何平均值5和对数标准方差Sln0 ； 步骤2)、根据所述耐量的几何平均值计算出RDM值RDM = DfDoi其中，Dtl表示环境要求量；步骤幻、查正态分布的单侧容许限表，根据给定样本容量η、置信度C和可靠度I^s条件时的单侧容许限系数K;步骤4)、根据步骤1)得到的对数标准方差Sln0以及步骤幻得到的单侧容许限系数K 计算PCC值PCC==eKS'nD ；步骤5)、比较步骤2)得到的RDM值以及步骤4)得到的PCC值，确定元器件的类别，实现对元器件的分类检测。
2.根据权利要求1所述的元器件分类检测法，其特征在于，所述辐照测试数据包括总剂量耐量、中子辐照注量、辐照敏感参数。
全文摘要
本发明公开了一种元器件分类检测法，包括对元器件的辐照测试数据进行统计分析，得到耐量的几何平均值和对数标准方差SlnD；根据所述耐量的几何平均值计算出RDM值查正态分布的单侧容许限表，根据给定样本容量n、置信度C和可靠度Ps条件时的单侧容许限系数K；根据对数标准方差SlnD以及单侧容许限系数K计算PCC值比较RDM值以及PCC值，确定元器件的分类。本发明只需要用较小的样本容量即可实现对元器件的分类，效率有了很大的提高。
文档编号G01R31/00GK102495302SQ20111036246
公开日2012年6月13日 申请日期2011年11月15日 优先权日2011年11月15日
发明者吴东, 李强, 金历群 申请人:上海卫星工程研究所