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专利名称：内孔双键槽对称度和深度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪属于机械加工制造领域，涉及的是一种双键联接时的内孔双键槽对联称度和深度的测 量仪。
背景技术：
平键联接是机械装配过程中常见的联接方式，用来实现轴和轴上零件之间的周向固定以传递扭矩。双键联接是在联接内孔和轴的中心线相隔180度的两侧各分布一个键联接，双键联接有效地降低了单个键所承受的压强，能够传递更大的扭矩，提高键的使用寿命。内孔键槽两侧面是键联接的主要工作平面，其相对于内孔中心线的对称度是键槽的主要技术参数之一。若内孔键槽的对称度超差和深度不够，会改变键与键槽的配合性质，影响装配精度从而导致过早失效。因此，对称度和深度是键槽设计和制造过程中重点标注和检测的内容之一。目前，机械制造厂商和量具生产厂商还没有针对内孔键槽对称度的检测量具，特别是对于大尺寸内孔双键槽的对称度测量仪器。传统的测量方式是用游标卡尺和相应键槽塞规配合进行测量，测量时，将键槽塞规插入键槽，然后用游标卡尺分别测量塞规侧面到孔壁的最大距离，塞规两侧面到孔壁的最大距离差的一半即为键槽的对称度。而键槽深度主要是用游标卡尺直接测量。这要求不同规格的键槽必须有对应的塞规，增加了检测成本，尤其是对于内孔双键槽的测量，多次测量，分步操作，使用不便且效率低下。由于双键联接的零件一般为大尺寸零件，搬运不便，且难以获得键槽基准轴线和基面的模拟体，因此，目前尚无针对大尺寸内孔双键对称度的结构简单、操作简便的测量方法和基于此方法的测量仪，更没有双键槽对称度和浓度复合的测量仪。
发明内容本实用新型的目的是针对上述不足之处提供一种内孔双键槽对称度和深度测量仪，是一种结构简单、操作简便、测量可靠，用于大尺寸内孔双键槽对称度和深度的测量仪。内孔双键槽对称度和深度测量仪是采取以下技术方案实现的内孔双键槽对称度和深度测量仪包括基体、第一测量副尺、第二测量副尺、数显千分表和表座，表座与基体之间通过燕尾导轨相联接，表座可在基体上左右往复移动；数显千分表通过间隙配合与表座装配在一起，并用第三锁紧螺钉进行固定；第一测量副尺和第二测量副尺分别通过燕尾导轨与基体相联接，并分别用第一锁紧螺钉和第二锁紧螺钉进行固定。所述的第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉为内六角锁紧螺钉。在第一测量副尺和第二测量副尺上均刻有刻度，根据刻度标识、按键槽深度预调好后再进行固定。所述的第一测量副尺和第二测量副尺是根据测量的键槽深度进行选择相应测量范围的测量副尺。第一测量副尺和第二测量副尺是根据键深度系列化制作的，如键槽深度55mnTll0mm—个规格、110mnTl50mm—个规格等，以此类推。测量前，先根据被测键槽深度调整副尺，由于键槽深度均为正公差，因此，只要测量仪能够放得进键槽，说明键槽深度符合尺寸要求。所述的数显千分表是根据被测内孔的孔径来选择相应测量范围的数显千分表，测量范围有(T25mm，(T50mm等系列规格。本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪在使用时，根据被测量的键槽深度选择相应测量范围的第一测量副尺、第二测量副尺和数显千分表，将第一测量副尺、第二测量副尺和数显千分表分别用第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉固定好后放入键槽中，将第一测量副尺和第二测量副尺分别与双键槽的同一侧面相贴合，再左右移动表座，通过数显千分表获得双键槽同一侧面到孔壁的最大距离。记录好数据后，将内孔双键槽对称度和深度测量仪翻转180度后，按同样的方法，测量另一侧键槽侧面到孔壁的最大距离，记下读数后，将两次测得的数据相减后除以2，即得双键槽对内孔中心的对称度偏差。本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪设计合理，结构简单，便于制作，移动 副之间采用燕尾导轨联接，保证移动稳定性。使用数显千分表测量键槽侧面到孔壁的距离，精度高。表座相对基体能够左右移动，并可以在键槽长度方向上下移动进行多点测量，确保方便迅速的找出最大距离。第一测量副尺、第二测量副尺和数显千分表可以根据被测键槽深度进行系列化制作和选择，每一个规格均有一个测量范围，减少了部件数量，经济性好。该测量仪操作简便、测量精度可靠、结构小巧，方便手持为不便搬运的大尺寸内孔双键槽零件的对称度和深度测量提供检测手段和装置。

以下将结合附图对本实用新型作进一步说明图I是本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪的结构示意图。图2是图I中的A向视图。图I中1第一锁紧螺钉，2、第一测量副尺，3、第三锁紧螺钉，4、表座，5、基体，6、第二测量副尺，7、第二锁紧螺钉，8、数显千分表。
具体实施方式
参照附图1，本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪包括基体5、第一测量副尺2、第二测量副尺6、数显千分表8和表座4，表座4与基体5之间通过燕尾导轨相联接，表座4可在基体5上左右往复移动；数显千分表8通过间隙配合与表座4装配在一起，并用第三锁紧螺钉3进行固定；第一测量副尺2和第二测量副尺6分别通过燕尾导轨与基体5相联接，并分别用第一锁紧螺钉I和第二锁紧螺钉7进行固定。所述的第一锁紧螺钉I、第二锁紧螺钉7和第三锁紧螺钉3为内六角锁紧螺钉。在第一测量副尺2和第二测量副尺6上均刻有刻度，根据刻度标识、按键槽深度预调好后再进行固定。所述的第一测量副尺2和第二测量副尺6是根据测量的键槽深度进行选择相应测量范围的测量副尺。第一测量副尺2和第二测量副尺6根据键槽深度系列化制作，如键槽深度55mnTll0mm—个规格、110mnTl50mm—个规格等，以此类推。测量前，先根据被测键槽深度调整第一测量副尺2和第二测量副尺6，由于键槽深度均为正公差，因此，只要测量仪能够放得进键槽，说明键槽深度符合尺寸要求。所述的数显千分表8是根据被测内孔的孔径来选择相应测量范围的数显千分表，测量范围有(T25mm，(T50mm等系列规格。本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪在使用时，根据测量的键槽深度选择相应测量范围的第一测量副尺2、第二测量副尺6和数显千分表8，将第一测量副尺2、第二测量副尺6和数显千分表8分别用第一锁紧螺钉I、第二锁紧螺钉7和第三锁紧螺钉3固定好后放入键槽中，将第一测量副尺2和第二测量副尺6分别与双键槽的同一侧面相贴合，再左右移动表座4，通过数显千分表8获得双键槽同一侧面到孔壁的最大距离。记录好数据后，将内孔双键槽对称度和深度测量仪翻转180度后，按同样的方法，测量另一侧键槽侧面 到孔壁的最大距离，记下读数后，将两次测得的数据相减后除以2，即得双键槽对内孔中心的对称度偏差。
权利要求1.一种内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于包括基体、第一测量副尺、第二测量副尺、数显千分表和表座，表座与基体之间通过燕尾导轨相联接，表座在基体上左右往复移动；数显千分表通过间隙配合与表座装配在一起，并用第三锁紧螺钉进行固定；第一测量副尺和第二测量副尺分别通过燕尾导轨与基体相联接，并分别用第一锁紧螺钉和第二锁紧螺钉进行固定。
2.根据权利要求I所述的内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于所述的第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉为内六角锁紧螺钉。
3.根据权利要求I所述的内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于在所述的第一测量副尺和第二测量副尺上均刻有刻度。
4.根据权利要求I所述的内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于所述的第一测量副尺和第二测量副尺是根据测量的键槽深度进行选择相应测量范围的测量副尺。
5.根据权利要求I所述的内孔双键槽对称度和深度测量仪，其特征在于所述的数显千分表是根据被测内孔的孔径来选择相应测量范围的数显千分表。
专利摘要本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪属于机械加工制造领域，涉及的是一种双键联接时的内孔双键槽对联称度和深度的测量仪。包括基体、第一测量副尺、第二测量副尺、数显千分表和表座，表座与基体之间通过燕尾导轨相联接，表座在基体上左右往复移动；数显千分表通过间隙配合与表座装配在一起，并用第三锁紧螺钉进行固定；第一测量副尺和第二测量副尺分别通过燕尾导轨与基体相联接，并分别用第一锁紧螺钉和第二锁紧螺钉进行固定。本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪设计合理，结构简单，便于制作，移动副之间采用燕尾导轨联接，保证移动稳定性。使用数显千分表测量键槽侧面到孔壁的距离，精度高。
文档编号G01B5/25GK202793292SQ201220515938
公开日2013年3月13日 申请日期2012年10月10日 优先权日2012年10月10日
发明者顾琳炎, 曹冬美, 王骏, 周小模 申请人:无锡职业技术学院