专利名称：安装精度检查方法以及使用所述检查方法的检查设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于显示设备的安装精度检查方法，以及一种使用所述检查方法的检查设备，所述显示设备用于显示立体图像。
背景技术：
为了获得使得人感受立体效果和深度的图像，有一种利用右眼与左眼的视点之间的差异的方法。该差异是“双眼视差”，其中右眼和左眼所看到的目标图像彼此不同。已开发了一种显示设备，该显示设备利用双眼视差，呈现对于观测者的右眼和左眼的不同图像， 从而使得观测者感受到立体效果。在这种显示设备中，已知一种配置，该配置提供具有像素的显示面板用来显示右眼和左眼的图像，并使得诸如双凸透镜和视差障壁(barrier)的光学装置将与右眼和左眼相对应的图像分离。光学装置不限制于诸如固定透镜的静态元件。相反，可以采用诸如液晶透镜和液晶障壁的电光元件。还已知一种配置，该配置采用光学装置将从诸如背光的光源发射的光针对右眼和左眼以时分方式分离。根据观测者的应用或使用环境，可以用多种方法从两视点到多视点来选择视点的数目。两视点具有受限的提供立体效果的立体视场。 然而，两视点具有提供高3D(三维)分辨率的优点。在另一方面，多视点具有较低的3D分辨率，但具有能够提供运动视差和放大立体视场的优点。为了针对观测者的右眼和左眼来正确地将指定的图像分离，要点在于，光学装置距离显示面板的位置偏差量要小。换言之，光学装置关于显示面板的安装精度(下文中称作显示面板与光学装置之间的相对位置精度)很重要。显示面板与光学装置的位置之间的偏差引起颠倒视图现象，其中，取决于视点，右图像和左图像彼此替代，偏差还引起右图像和左图像彼此混合在一起的现象。在这种情况下，观测者不能辨认立体图像，或者可以辨认立体图像的区域很窄。因此，在制造用于显示使得观测者感受立体效果的图像的显示仪器的情况下，管理显示面板与光学装置之间的相对位置精度是很重要的。为了解决这些问题，已提出多种用于评估安装精度的方法。典型地，已知的方法是使用长度测量显微镜等来读取显示面板与光学装置之间的相对位置精度的方法；以及利用光学特性测量设备(诸如锥光偏振仪系统和傅里叶系统)来检测针对右眼和左眼分离的光、并获取其中可以辨认立体图像的区域的方法。然而，这些评估方法要求许多准备时间并且具有许多操作过程，并且评估所需的设备昂贵。因此，存在这些方法的采用增加了检查成本的问题。此外，存在一种方法，该方法首先在显示面板和光学装置上设置标记，使用光学系统和比长度测量显微镜便宜许多的传感器来检测标记的形状和位置，从而检测光学装置与显示面板之间的相对位置精度。然而，根据这种方法，很难在相同焦点处拍摄显示面板和光学装置的标记。此外，另一问题是，不能根据在显示面板中增加高清晰度的趋势所要求的精度来检测位置偏差。因此，已提出一种方法，该方法通过观测指定的测试图案来获取显示面板和光学装置的相对位置精度，而不使用昂贵的设备。例如，在日本待审专利公开No. 2007-65441中公开了一种得到布置透镜规格的方法，该方法使得诸如检查对象的显示设备显示平行线组，将经由双凸透镜阵列所观测到的彩色条与指定条件相匹配，从而获得布置在显示设备屏幕上的双凸透镜阵列的布置方向用于立体视图。图1的示意图示出了日本待审专利公开No. 2007-65441中所示的显示设备上所显示的检查图像的示例。如图1所示，在日本待审专利公开No. 2007-65441中所述的技术中，要检查的显示设备显示平行线组，所述平行线组包括等距平行线。这里，将显示屏幕的左上角定义为O115 将相对于参考位置O1的水平方向定义为\轴，垂直方向定义为yp轴。将平行线组中的每条线与yp轴之间的角度θ定义为“线组角”。相邻线之间的间隔m定义为“线组间隔”。将在离参考位置O1最近的线上并且在\轴上的位置与参考位置O1之间的距离dx定义为“水平参考位置”。如果调整平行线组的角度θ、线组间隔m以及水平参考位置dx使得满足条件 (例如，经由双凸透镜阵列所看到的彩色条的角度与双凸透镜阵列的布置角度互相匹配)， 则即使不知道双凸透镜的布置基准位置，也可以获得布置透镜规格，诸如双凸透镜阵列的透镜间距和布置角度。日本待审专利公开No. 2006-79097已经提出了一种制造三维图像显示设备的方法，当观测显示的三维图像时，所述三维图像显示设备执行布置和定影(fixation)来消除图像面板与三维图像形成设备(光学装置)之间的位置偏差。图2的示意图示出了日本待审专利公开No. 2006-79097中所述的检查(checking) 透镜安装精度的原理。如图2所示，当透镜折射发射自两个像素阵列的光束使得来自一个像素阵列的光束到达右眼而来自另一像素阵列的光束到达左眼时，没有光到达两眼的中心，黑带出现在三维图像的中心。在将诸如透镜的光学装置(三维图像形成设备)和图像面板的两个像素阵列无位置偏差地固定的情况下，如果观测者注视距离图像面板中心的指定观测距离(或指定焦距)，黑带出现在图像面板的中心并且在垂直方向上。在日本待审专利公开 No. 2006-79097中，例如，将三维图像形成设备布置在图像面板上使得黑带设置在面板的中心。此外，日本待审专利公开No. 2006-79097描述了通过在两个像素阵列上显示不同的图像，可以没有位置偏差地设置图像面板上的三维图像形成设备。日本待审专利公开No. 2008-015394提出了一种制造立体图像显示设备的方法， 所述立体图像显示设备在根据原始图像而合成的合成图像上，针对不同的视点，并且针对合成图像的顶部和/或底部，形成用于对准的图像，并且所述立体图像显示设备基于用于对准的图像的信息，从与观看立体图像的位置相比离合成图像更近的位置，将合成图像与光学装置彼此对准，其中所述用于对准的图像的信息是经由用于提取指定视点图像的光学装置而观察到的。图3的示意图示出了日本待审专利公开No. 2008-015394中描述的用于对准的图像。图3示出了一种方法，其中将用于对准的图像设置在合成图像102的顶部和底部， 在合成图像102中，将针对三个视点的原始图像沿垂直方向划分并设置。用于对准的图像根据针对不同视点的原始图像具有不同颜色。当经由光学装置从比立体图像的视点更靠近合成图像的点来观看用于对准的图像时，将其观测为其中设置了不同颜色的条状图案。在日本待审专利公开No. 2008-015394 中，读取条状图案的颜色和位置从而确定设置在能够从前视点看到的位置上的视点图像。 此外，设置在顶部和底部的用于对准的图像的图案彼此匹配，从而根据针对不同视点的图像所合成的合成图像与光学装置之间的相对斜率匹配。日本待审专利公开No. 2009-162620提出了一种用于检查三维图像再现设备的元件的相对位置偏差以及部件的精度的检查设备。图4的框图示出了日本待审专利公开No. 2009-16^20中所述的检查设备的配置。图4所示的检查设备包括三维图像再现设备500，所述三维图像再现设备500包括诸如针孔(pinhole)阵列509(或双凸薄片512)和孔径狭缝的光学元件，以及液晶显示器501 ；信号处理设备422，用于使三维图像再现设备500显示指定的测试图案；拍摄光学系统412，对显示在三维图像再现设备500上的测试图案进行拍摄；以及分析设备513，分析设备513分析所拍摄的检查图像。图4中所示的检查设备使液晶显示器501显示测试图案，以便在期望周期开启像素，所述液晶显示器501中的像素是二维布置的；将测试图案拍摄为检查图像；分析检查图像从而检测三维图像再现设备的元件的相对位置偏差。例如，如果在与双凸薄片512的间距基本等同的像素的间距处在双凸薄片512的凹谷的位置上开启像素，则可以将能够由相应透镜所显示的边缘的角度的分布测量为图像宽度W。如果双凸薄片512与液晶显示器501 之间存在相对位置偏差，则具有宽度W的图像导致位置偏差。因此，可以通过确定该图像的位置偏差量是否在指定参考值之内来检测三维图像再现设备的相应元件的相对位置偏差量。日本待审专利公开No. 2009-223193提出了一种制造三维图像显示设备的方法， 所述三维图像显示设备拍摄显示面板和双凸透镜的位置检测标记，然后根据所拍摄的图像来检测显示面板和双凸透镜的相对位置。图5的平面图示出了日本待审专利公开No. 2009-223193中所示的所拍摄的图像的示例。日本待审专利公开No. 2009-223193中，在显示面板的外围区提供诸如对准标记的位置检测标记M1，以便围成显示区，在包括位置检测标记Ml和双凸透镜12 的边缘在内的区Rl中设置拍摄区。图5示出了此时拍摄的图像Gl。日本待审专利公开No. 2009-223193 中所述的技术从拍摄的图像Gl中检测双凸透镜12 的凹谷，计算在位置检测标记Ml与凹谷bl之间沿χ轴的偏差量al，从而检测显示面板和双凸透镜的相对位置。日本待审专利公开No. 2010-019987提出了一种使用用于检查的图像来检查三维图像显示设备的检查设备，在所述三维图像显示设备中，显示面板和双凸透镜彼此固定。图6的平面图示出了日本待审专利公开No. 2010-019987中所述的用于检查的图像的示例。
在日本待审专利公开No. 2010-019987中，排成一队开启针对双凸透镜的每个透镜间距P而设置在透镜间距P的中心处的像素，将包括两个位置检测标记Ml和M2的图像用作用于检查的图像G1，其中两个位置检测标记Ml和M2位于像素阵列的对角线上。将用于检查的图像Gl显示在显示设备上，拍摄要检查的检查区(如3X3 = 9点)，从相应拍摄的图像获得亮度分布，从而检测水平方向上的偏差量。日本待审专利公开No. 2009-300816提出了一种制造方法和制造设备，准确地将在观测区中提供不同图像的显示设备的显示面板与光行控制器相对准。图7的示意图示出了日本待审专利公开No. 2009-300816中所示的制造设备。图7所示的制造设备包括用于显示八个观测区Ob中的不同图像的显示设备，以及设置在指定观测区Ob中的摄像机MOa和MOb。在日本待审专利公开No. 2009-300816中， 如图7所示来布置显示设备和摄像机MOa和MOb，相对于显示面板对准八个光行控制器， 以便减小实际上由摄像机MOa和MOb所拍摄的图像与由这些摄像机所拍摄的图像之间的差异，从而产生与最优图像相近的实际观测者所观看的图像。然而，上述相关技术具有下述问题。在日本待审专利公开No. 2007-65441中仅描述了获取布置透镜规格的方法。甚至利用平行线组的角度调整、分离调整以及水平参考位置的调整，所述技术也不能够阻止右图像和左图像在相应的视点上由彼此替代的颠倒视图现象。此外，由于要求平行线组的绘制过程(drawing process)以及控制器，所以检查设备的成本增加，操作时间也增加。日本待审专利公开No. 2006-79097中所述的技术将形成在针对右眼和左眼的图像窗口之间的黑带调整至指定位置。例如，调整使得黑带处于面板的中心。然而，即使黑带的位置处于面板的中心，如果三维图像形成设备(光学装置)相对于图像面板相对地倾斜，还是确定没有位置偏差。即，日本待审专利公开No. 2006-79097中所述的技术不能够检测图像面板与三维图像形成设备(光学装置)之间的相对斜率。此外，日本待审专利公开 No. 2006-79097中所述的技术具有至少三个视点，并且在检查视点数目为奇数的图像面板的情况下，所述技术不能够显示在两侧对称性方面相对于所显示的中心不同的图像。因此， 存在的问题是该技术不能够检查该图像面板。根据日本待审专利公开No. 2008-015394中所述的技术，合成图像的用于布置对准图像的顶部和底部部件在显示区之外。即使由合成图像所形成的立体视图中存在异常， 所述技术也不能执行检查。另一问题在于，仅利用条的颜色和布置，每次只能检查对准图像与双凸透镜之间的相对位置的一个视点。还有另一问题是，单独需要切割对准图像所处的部件的过程。这增加了制造成本和制造时间。根据日本待审专利公开No. 2009-16^20中所述的技术，在视点数目是二的情况下，通过利用在透镜间距的凹谷中设置列上开启的测试图案，开启了显示设备的整个屏幕。 因此，存在的问题在于不能读取显示面板与光学装置的相对位置偏差，不能执行检查。日本待审专利公开No. 2009-223193所述的技术直接读取显示面板和双凸透镜的位置检测标记的物理位置，并检测位置精度。因此，为确保要求的精度，需要高性能的拍摄装置。此外，很难在相同焦点处对显示面板和双凸透镜成像。因此，问题在于需要一定量的检查时间和昂贵的设备。此外，仅获取标记处和标记周围的局部信息。因此，很难获取整个屏幕的信息。例如，在当非拍摄部分处的双凸透镜具有平均失真的情况下，不容易检测。
日本待审专利公开No. 2010-019987所述的技术是一种检查每个透镜间距 (Pitch)P的方法。为获取整个屏幕的信息，需要检查区。此外，存在的问题是，由于要计算每个检查区的所拍摄图像的亮度分布，需要一定量的检查时间。日本待审专利公开No. 2009-300816所述的技术基于与相应观测区相对应的图像，将光行(light travel)控制器与显示面板相对准。因此，该技术需要摄像机对至少两个观测区的图像进行拍摄，或者需要特定摄像机一次拍摄观测区的图像。这增加了制造设备的成本。
发明内容
因此，本发明的目的是提供一种安装精度检查方法，该方法能够以低成本高速度来检测显示面板与光学装置之间的相对位置精度，并且提供一种使用该检查方法的检查设备。为了实现该目的，根据本发明的示例方面的安装精度检查方法是一种用于检查显示面板与光学装置之间的位置精度的方法，像素组布置在显示面板中，光学装置用于根据像素组提供针对N个视点的图像显示，N是大于一的自然数，所述显示面板和所述光学装置被包括在显示设备中，所述方法包括显示步骤，在显示设备上显示测试图案，所述测试图案包括在相应视点上不同的图像信号；以及提取步骤，采用显示在所述显示设备上的图像作为检查图像，并从所述检查图像中提取视点之间的边界线段的斜率和位置。根据本发明的示例方面的另一方法是一种安装精度检查方法，用于检查显示面板与光学装置之间的位置精度，像素组布置在显示面板中，所述光学装置用于根据像素组提供针对N个视点的图像显示，N是大于一的自然数，所述显示面板和所述光学装置被包括在显示设备中，所述方法包括显示步骤，在所述显示设备上显示测试图案，所述测试图案包括在相应视点上不同的图像信号；拍摄步骤，通过拍摄装置在指定拍摄距离处对显示器进行拍摄，由此获取检查图像；以及提取步骤，从检查图像中提取视点之间的边界线段的斜率和位置。根据本发明的示例方面的一种检查设备是一种用于检查显示面板与光学装置之间的位置精度的设备，像素组布置在所述显示面板中，所述光学装置用于在显示设备中根据像素组提供针对N个视点的图像显示，N是大于一的自然数，所述显示设备包括所述显示面板和所述光学装置，所述检查设备包括图像输出装置，在显示设备上输出测试图案，测试图案包括在相应视点上不同的图像信号；提取装置，提取显示在显示设备上的检查图像的边界线段的斜率和位置，其中，检查设备基于由所述提取装置提取的斜率和位置，检测所述显示面板与所述光学装置之间的位置精度。根据本发明的示例方面的另一设备是一种用于检查显示面板与光学装置之间的位置精度的设备，像素组布置在显示面板中，所述光学装置用于在显示设备中根据像素组提供针对N个视点的图像显示，N是大于一的自然数，所述显示设备包括所述显示面板和所述光学装置，所述检查设备包括图像输出装置，在所述显示设备上输出测试图案，测试图案包括在相应视点上不同的图像信号；拍摄装置，对当显示测试图案时出现的边界线段进行拍摄；以及提取装置，提取由所述拍摄装置拍摄的检查图像中的边界线段的斜率和位置，其中，所述检查设备基于由提取装置获取的斜率和位置，检测所述显示面板与所述光学装置之间的位置精度。
图1的示意图示出了日本待审专利公开No. 2007-65441中所公开的显示设备上所显示的检查图像的示例；图2的示意图示出了日本待审专利公开No. 2006-79097中所述的检查透镜安装精度的原理；图3的示意图示出了日本待审专利公开No. 2008-015394中所述的用于对准的图像； 图4的框图示出了日本待审专利公开No. 2009-162620中所述的检查设备的配置；图5的平面图示出了日本待审专利公开No. 2009-223193中所示的所拍摄的图像的示例；图6的平面图示出了日本待审专利公开No. 2010-019987中所述的用于检查的图像的示例；图7的示意图示出了日本待审专利公开No. 2009-300816中所示的制造设备；图8的示意图示出了用于第一示例实施例的检查方法的显示设备和拍摄装置的布置示例；图9A和图9B的图示出了第一示例实施例的检查原理；图9A的示意图示出了显示在显示设备上的测试图案的示例；图9B的示意图示出了从拍摄装置获取的检查图像的示例；图10的示意图示出了在N是偶数(N = 4)的情况下，针对N个视点从包括像素的显示设备所获取的检查图像的示例；图11的示意图示出了在N是奇数(N = 5)的情况下，针对N个视点从包括像素的显示设备所获取的检查图像的示例；图12的截面图示出了显示设备的配置的示例，所述显示设备包括针对两个视点的像素；图13的示意图示出了通过第一示例的检查方法所获取的检查图像的示例；图14的流程图示出了从图13所示的检查图像提取边界线段的斜率θ和位置Δχ 的处理过程；图15的流程图示出了图14所示沿χ方向的搜索处理的过程；
图16A和图16B的图表示出了一种通过边界线段的位置Δχ和斜率θ来获取显示面板与光学装置之间的相对位置精度的方法；图17的示意图示出了要由第二示例的检查方法来处理的检查图像的示例；图18Α和图18Β的示意图示出了要由第三示例的检查方法来处理的检查图像的示例；图19的示意图示出了要由第三示例的变体来检查的检查图像的示例；图20的示意图示出了当使用双凸透镜作为显示设备的光学装置时，所形成的立体视场的示例；图21Α和图21Β的示意图示出了第二示例实施例的显示设备1和拍摄装置5的布置的示例；图22的示意图示出了通过第二示例实施例的检查方法所获取的检查图像的示例；图23的图表示出了检查图像的边界线段的相对于拍摄距离的斜率θ的变化；图M的示意图示出了通过第四示例的检查方法所获取的检查图像的示例；图25的框图示出了本发明的检查设备的配置的示例；图沈的框图示出了本发明的检查设备的另一配置的示例；图27的示意图示出了通过第四示例实施例的检查设备所获取的检查图像的示例。
具体实施例方式下文中将利用附图对本发明进行描述。(第一示例实施例)以下将描述一种本发明的示例实施例的方法(安装精度检查方法)，用于检查显示面板与光学装置之间相对位置精度。要注意的是，相同元件由相同符号表示，并且省略多余描述。图8的示意图示出了用于第一示例实施例的检查方法的显示设备和拍摄装置的布置的示例。如图8所示，显示设备1包括显示面板2，其中像素组布置在所述显示面板2中； 以及光学装置3，用于通过像素组来形成至少两个视点图像。近似地布置显示面板2与光学装置3之间的间隔以便形成视点图像。将拍摄装置5布置在一定位置以便对显示装置1的显示屏幕进行拍摄。在该示例实施例中，拍摄装置5对显示在显示设备1上的指定测试图案进行拍摄，基于拍摄设备5所拍摄的检查图像检测显示设备1与光学装置3之间的相对位置精度。在显示面板2上，交替地沿第一方向8布置针对第一视点的像素41和针对第二四视点的像素42，其中像素41用于针对第一视点显示图像，像素42用于针对第二视点显示图像。图8示出了观测者的左眼位置43和右眼位置44。例如，本示例实施例采用双凸透镜作为光学装置3。双凸透镜具有配置在于与显示面板2相对的一个表面是平面，在另一表面上布置有柱面透镜31或半柱面透镜元件。显示面板2与双凸透镜在一个位置上固定地彼此相粘合(cemented)，在该位置处，包括针对第一视点的像素41和针对第二视点的像素42在内的像素组对与一个柱面透镜31相对应。要注意的是，尽管在图8示出了双凸透镜的透镜表面侧(半柱面透镜侧)是显示平面的示例，双凸透镜的平面侧也可以是显示屏幕。在该说明书中，在包括显示设备1和拍摄装置5的空间中设置包括有以下xyz轴的笛卡尔坐标系。布置上述针对第一视点的像素41和针对第二视点的像素42时所沿的方向，或者第一方向8，是χ轴。图中箭头所表示的方向是正方向。与第一方向8相正交的第二方向9 是y轴。图中箭头所表示的方向是正方向。此外，与χ轴和y轴都相正交的第三方向10是 ζ轴。图中箭头所表示的方向是正方向。在此情况下，+ζ方向是从显示面板2至观测者的方向。观测者在显示设备1的+ζ侧观看显示屏幕。在这种显示面板2中，沿χ轴方向布置柱面透镜31。因此，针对左眼的图像和针对右眼的图像在X轴方向上相分离并独立显示。包括针对第一视点的像素41和针对第二视点的像素42的每个像素组具有沿y轴方向延长的形状。像素组沿χ轴方向的布置周期实质上和柱面透镜沿χ轴方向的布置周期相同。因此，与相应的像素组相对应地布置柱面透镜31。将双凸透镜固定在显示面板2上，使得双凸透镜的中心与显示面板2的中心相匹配。根据这种配置，从针对第一视点的像素41所发射的光由双凸透镜折射，并到达第一视点位置43。同样，从针对第二视点的像素42所发射的光由双凸透镜折射并到达第二视点位置44。因此，例如，其左眼和右眼分别处于第一视点和第二视点的观测者可以观看到具有立体效果的令人满意的立体图像。采用用于图像处理的透镜系统作为拍摄装置5，典型是视频摄像机、数字摄像机等。将拍摄装置5相对于显示设备1固定在沿+ζ方向的位置，拍摄装置5的焦点与显示面板2的显示屏幕相邻。拍摄装置5的拍摄中心51与显示设备1的中心11相匹配。理想地来说，拍摄中心51处于第一视点位置43与第二视点位置44之间。图9A和图9B的图示出了第一示例实施例的检查原理。图9A的示意图示出了显示在显示设备上的测试图案的示例；图9B的示意图示出了从拍摄装置获取的检查图像的示例。如图9A所示，测试图案7包括例如针对第一视点的第一图案7A和针对第二视点的第二图案7B。在第一图案7A和第二图案7B中，将每一个整体图案设置为指定的颜色或灰度值， 而将第一图案7A和第二图案7B的颜色或灰度值设置为彼此不同。例如，第一图案7A是理想白色，其灰度值是最大值，第二图案7B是理想黑色，其灰度级为最小。替代地，可以设置不同颜色使得第一图案7A是理想红色，第二图案7B是理想蓝色。测试图案7并不限制于图9A中以横向地彼此相邻的方式显示两个图案的形式。替代地，可以采用沿顶部-和-底部方向显示两个相邻的图案的形式。在视点数目至少是三的情况下，可以采用的形式是对应于视点的数目，以横向或顶部-和-底部方向彼此相邻的方式来显示图案。可以采用独立地划分第一图案和第二图案的形式。即，根据第一显示设备1可以采用多种形式。图9B示出了当在显示设备1上显示图9A所示的测试图案7时在显示面板2与光学装置3之间存在相对斜率或水平位置偏差的情况下的显示图案。S卩，图9B示出了在这种条件下，拍摄装置5所拍摄的图像(检查图像73)的示例。如上所述，测试图案7的第一图案7A和第二图案7B具有不同的颜色或灰度值。因此，在检查图像73中分别具有与第一图案7A和第二图案7B相对应的第一图像区75和第二图像区76。边界线段74出现在其间的边界上。根据显示面板2与光学装置3之间的位置偏差量，边界线段74的中心从检查图像中心71移动了 Δχ。在显示面板2与光学装置3之间完全没有位置偏差的情况下，均等地分离来自针对第一视点的像素的光和来自针对第二视点的像素的光是。因此，第一图像区75与第二图像区76之间的边界线段74的位置ΔΧ变为0。然而，在光学装置3相对于显示面板2具有位置偏差的情况下，来自针对第一视点的像素的光和来自针对第二视点的像素的光根据位置偏差量被分离到第一图像区75和第二图像区76。因此边界线段74出现在偏离检查图像中心71的位置Δχ处。在将光学装置3倾斜于显示面板2固定的情况下，即在出现旋转偏差的情况下，来自针对第一视点的像素的光和来自针对第二视点的像素的光根据旋转偏差而分离地进入第一图像区75和第二图像区76，因此在检查图像7中产生具有相对于垂直侧的斜率的边界线段74。也就是说，如图9Β所示，具有斜率θ和位置(偏差)ΔΧ的边界线段74根据显示面板2和光学装置3之间的位置关系出现在检查图像73中。因此，可以通过在显示设备1上显示测试图案7、利用拍摄装置5对显示设备1的显示屏幕进行拍摄，以及检测从拍摄装置5获取的检查图案73中的边界线段74的斜率θ 和位置ΔΧ，来检测显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。该示例实施例示出了其中显示设备1包括针对两个视点的像素的示例。在显示设备1包括针对多个视点的像素的情况下，可以布置双凸透镜3的柱面透镜31以便支持相应的像素组，包括针对从第一个至N个视点(N是大于1的自然数)的像素41。假设显示设备 1包括针对多个视点的像素，要检测的边界线段在N是偶数或奇数的情况下是不同的。下文中将参考图10和图11来描述这点。图10的示意图示出了在N是偶数(N = 4)的情况下，从包括针对N个视点的像素的显示设备获取的检查图像的示例。图IOA示出了在以下情况下检查图像73的示例在针对从第一到第(N-I)个视点的奇数视点的像素上显示第一图案(这里是理想白色)，并且在针对从第二至第N个视点的偶数视点的像素上显示与第一图案具有不同颜色或灰度值的第二图案(这里是理想黑色)，作为测试图案7。图IOA所示的检查图像73包括第一图像区81，其中显示了与针对第一视点的像素相对应的第一图案；第二图像区82，其中显示了与针对第二视点的像素相对应的第二图案；第三图像区83，其中显示了与针对第三视点的像素相对应的第一图案；以及第四图像区84，其中显示了与针对第四视点的像素相对应的第二图案。如上所述，针对奇数视点的像素和针对偶数视点的像素具有不同的颜色或灰度值，以便彼此区别显示。因此，在图IOA所示的检查图像73中，边界线段出现在针对视点的像素之间。在该情况下，可以通过将检查图像73的中心周围的边界线段87用作边界线段的代表值，来检测边界线段87的斜率θ和位置Δ χ，从而获取显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。图IOA示出了使用两个图案来产生边界线段的示例。替代地，可以在针对第一至第N个视点的像素上显示具有不同颜色或灰度值的最多N个图案。也就是说，只有当要显示在针对相邻视点的像素上的图案的颜色或灰度值不同的情况下，才可以采用任何类型的图像作为测试图案。图IOB示出了以下情况下检查图像73的示例在针对作为第一视点组的第一至第 (Ν/2)个视点的像素上显示第一图案(这里是理想白色)，并且在针对作为第二视点组的第 (Ν/2+1)个至第N个视点的像素上显示第二图案(这里是理想黑色)。根据该测试图案，在图IOB所示的检查图像73中，第一图像区85和第二图像区86 出现在检查图像73中，其中在第一图像区85中第一图案与第一视点组相对应，在第二图像区86中第二图案与第二视点组相对应。在该情况下，可以检测图像区之间的边界线段87 的斜率θ和位置Δχ。即使使用包括针对多个视点的像素的配置，使用这种测试图案也能够轻易获取边界线段的斜率θ和位置Δχ。由于使用图9Β中所示的检查图像，可以获取边界线段87。因此，具有的优点在于能够统一用于检测边界线段87的斜率θ和位置Δχ的算法。图11的示意图示出了在N是奇数(N = 5)的情况下，从包括针对N个视点的像素的显示设备获取的检查图像的示例。图IlA示出了在以下情况下检查图像73的示例在针对从第一到第N个视点的奇数视点的像素上显示第一图案(这里是理想黑色)，并且在针对从第二至第(N-I)个视点的偶数视点的像素上显示与第一图案具有不同颜色或灰度值的第二图案(这里是理想白色)，作为测试图案7。图IlA所示的检查图像73包括第一图像区91，其中显示了与针对第一视点的像素相对应的第一图案；第二图像区92，其中显示了与针对第二视点的像素相对应的第二图案；第三图像区93，其中显示了与针对第三视点的像素相对应的第一图案；第四图像区94， 其中显示了与针对第四视点的像素相对应的第二图案；以及第五图像区95，其中显示了与针对第五视点的像素相对应的第一图案。如上所述，关于要显示的图案的颜色或灰度值来说，针对奇数视点的像素和针对偶数视点的像素是不同的。因此，在图IlA所示的检查图像73中，边界线段出现在针对视点的像素之间。在该情况下，可以将检查图像73的中心附近的边界线段88和边界线段89用作边界线段的代表值，检测边界线段88和边界线段89的斜率θ和位置Δ χ，并且可以计算其平均值。图IlA示出了其中使用两个图案以产生边界线段的示例。替代地，可以在针对第一至第N个视点的像素上显示具有不同颜色或灰度值的最多N个图案。也就是说，只有当要显示在针对相邻视点的像素上的图案的颜色或灰度值不同的情况下，才可以采用任何类型的图像作为测试图案。要注意的是，在N是奇数的情况下，不满足ΔΧ = 0。图IlB示出了检查图像73，在检查图像73中，在针对作为第一视点组的第 ((N+l)/2)个视点的像素上显示第一图案(这里是理想黑色)，在针对作为第二视点组的其他视点的像素上显示第二图案(这里是理想白色)显示。根据该测试图案，图IlB所示的检查图像包括第一图像区96、第二图像区97，以及第三图像区98，其中，在第一图像区96和第三图像区98中与第一视点组相对应地显示第一图案，在第二图像区97中与第二视点组相对应地显示第二图案。在该情况下，可以检测在图像区之间的边界线段88和边界线段89的斜率θ和位置Δ χ，并且可以计算其平均值。即使在显示设备1包括针对视点的像素的情况下，使用这种测试图案也使得能够轻易获取边界线段的斜率θ和位置ΔΧ。要注意的是，在N是奇数的情况下，不满足Δχ = O0这里，图12示出了采用透射液晶显示面板作为显示设备1的示例，其中，透射液晶显示面板包括针对两个视点的像素。图12的截面图示出了包括针对两个视点的像素的显示设备的配置的示例。图12所示的显示设备1的显示面板2具有的配置包括背光观、第一光学膜27、 第一基板沈、液晶层25、第二基板24，以及第二光学膜23。第一基板沈具有以下配置设置包括诸如TFT的开关元件的像素，并且沿χ方向 8交替地布置针对第一视点的像素41和针对第二视点的像素42。第二基板M设置有条状布置的红色00滤色器、绿色(G)滤色器以及蓝色(B)滤色器。第一光学膜27和第二光学膜23是偏振片或补偿片。第一光学膜27附着在第一基板沈上。第二光学膜23附着在第二基板M上。可以采用不是液晶显示元件的任何类型的显示元件作为显示面板2，例如有机 EL、无机EL、等离子显示面板、场发射元件和CRT。驱动显示面板2的方法可以是使用TFT 等的有源矩阵系统，或者无源矩阵系统。采用上述双凸透镜3作为光学装置3。经由粘合层22将光学装置3固定至显示面板2，使得一个柱面透镜31被设置为以支持一对针对第一视点的像素41和针对第二视点的像素42。光学装置3不限制于双凸透镜3。替代地，可以采用任何分离光的光学元件(诸如fry eye透镜、视差障壁和棱镜片)作为光学装置3。此外，例如，可以采用使用液晶的 GRIN(梯度指数)透镜、包括具有透镜效应的凸面基板和凹面基板以及液晶分子的液晶透镜，以及使用液晶的开关视差障壁来作为光学装置3。在采用类透镜元件作为光学装置3的情况下，将光学装置3设置在显示面板2的显示屏幕侧(+ζ方向)。在采取类障壁元件作为光学装置3的情况下，可以将光学装置3设置在显示面板2的显示屏幕侧(+ζ)或背侧(-ζ)。此外，可以采用包括光学元件的光学膜等作为光学装置3，光学元件以时分方法针对右眼和左眼而分离发射自背光的光。在该情况下，可以将光学膜设置在显示面板2的背侧(-ζ方向)。即使在采取这些元件作为光学装置 3的情况下，也可以通过检测前述检查图像73中的边界线段的斜率θ和位置ΔΧ，来获取显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。以上说明示出了在每个第一图案7Α和第二图案7Β中在整个区中设置相同颜色或灰度值的示例。替代地，例如，可以采取颜色或灰度值沿期望方向变化的渐变(gradation) 图案作为第一图案7A和第二图案7B。可以采用在图案中包括不同图像的多种图像。可以采用根据其能够从检查图像73中提取边界线段74的任何图像作为测试图案7。如上所述，根据第一示例实施例，可以通过检测检查图像73中边界线段的斜率θ 和位置Δχ，来获取显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。可以采用典型的视频摄像机、数字摄像机等作为拍摄装置5。没有必要采用摄像机或特定摄像机。因此，检查设备的成本没有增加。此外，可以容易地获取边界线段73的斜率θ和位置ΔΧ，而无须复杂的处理。因此，可以高速地(短处理时间)检测显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。因此，可以以低成本高速度来检测显示面板与光学装置之间的相对位置精度。以下将使用附图来描述第一示例实施例的示例。在以下第一至第三示例中，将使用其中的显示设备1包括针对两个视点的像素的示例来进行说明。然而，这些示例可以用于具有至少三个视点的配置。(第一示例)图13的示意图示出了通过第一示例的检查方法获取的检查图像的示例。图14的流程图示出了从图13所示的检查图像提取边界线段的斜率θ和位置ΔΧ的处理过程。图13示出了在针对第一视点的像素上显示理想白色的第一图案以及在针对第二视点的像素上显示理想黑色的第二图案的情况下，通过拍摄装置5获取的检查图像73，以及通过从检查图像73来计算边界线段74的斜率θ和位置Δ χ的处理所产生的多种类型的数据。要注意的是，关于检查图像73的第一图像区75和第二图像区76的亮度的强度， 满足第一图像区75 >第二图像区76的关系。在图13所示的检查图像73中，将图像的左上角作为基点72，并应用χ-y坐标系， 因此检查图像73中的每个位置都可以由坐标(X，y)来表示。这里，将检查图像中心71的坐标定义为(χ. center，y. center)，将距离基点72最远的图像的右下角定义为(x. max， y. max)。基点72的坐标是(0,0)。在包括在显示设备1中的图像存储器(未示出)中，存储与坐标位置相对应的亮度值LY(x，y)作为检查图像73的图像数据。图13所示的LY. top表示针对X = O至x.max 的亮度LY(x，0)的分布，LY. bottom表示针对χ = 0至x. max的亮度LY(x，y. max)的分布。 在图13中，将LY. top上的移位(displacement)点的χ坐标值定义为x. top，将LY. bottom 上的移位点的χ坐标值定义为χ. bottom。接下来，将使用图14来描述提取边界线段74的斜率θ和位置ΔΧ的过程。如图14所示，在提取边界线段74的斜率θ和位置ΔΧ的处理中，首先，在显示设备1上显示测试图案7 (步骤S1000)，通过拍摄装置5产生显示设备1的显示屏幕的图像， 并且通过拍摄装置5获取包括边界线段74在内的检查图像73的图像数据(步骤S1010)。接下来，为了检测LY. top上的移位点χ. top，在区χ = 0至x.max的范围内，从检查图像73的图像数据中搜索亮度LY(x，0)的值(χ方向搜索)。在LY. top上沿χ方向的搜索处理中，将数值“0”、“0”、“^!11狀”、“1”、和“1”顺序地代入第一至第五变量。将使用图 15来描述LY. top上沿χ方向的搜索处理。如图15所示，在LY. top上沿χ方向的搜索处理中，第一至第五变量被分配有变量名“POS”、“start”、“end”、"step”和“target”。在完成变量名的分配后，在计数器i中设置代表搜索的开始坐标的“start”值以计数搜索范围(步骤S2000)。接下来，将计数器i值和代表搜索的结束坐标的“end”值彼此相比较(步骤 S2010)。在计数器i值至少是“end”值的情况下，确定搜索失败，将“error”代入返回值 Result，沿χ方向的搜索处理完成。在计数器i值小于“end”值的情况下，处理进行至步骤S2020，继续沿χ方向的搜索处理。在步骤S2020中，将代表搜索间隔的“ st印”值与计数器i值相加。为了标识 LY. top上的移位点，将LY(i，pos)与LY(i-st�。琾os)互相比较(步骤S2030)。在这些值彼此相匹配的情况下，处理返回步骤S2010，搜索继续。在LY(i, pos)与LY(i_st�。琾os)彼此不匹配的情况下，确定已经检测到LY. top 上沿X方向的移位点，处理进行至步骤S2040。在步骤S2040中，将“1”与计数器的值“cnt”相加以便计数移位点。为了标识移位点，将计数器的值“cnt”和代表移位点数目的“target”值互相比较(步骤S2050)。在这些值彼此不匹配的情况下，处理返回步骤S2010，继续沿χ方向的搜索处理。在“cnt”值与“target”值彼此匹配的情况下，确定已经检测到指定数目的移位点，将计数器i的值代入返回值Result，然后沿χ方向的搜索处理完成。例如，在检查图像73如图9B和图10B所示仅包括一个边界线段的情况下，可以将 “target”设置为target = 1。在如图10A所示从针对N个视点(偶数)的显示设备获取检查图像73的情况下，可以将“target”设置为target = Ν/2。在如图IlB所示从针对N 个视点(奇数)的显示设备获取检查图像73的情况下，可以将“target”设置为target = 1以及target = 2。在如图IlA所示从针对N个视点(奇数)的显示设备获取检查图像73 的情况下，可以确定 “target” 是 target = (N-I)/2 以及 target = (N+l)/2。在图14所示的步骤1040的处理中，在沿χ方向的搜索处理完成后，将返回值 Result代入χ. top,因此确定LY. top上移位点的χ坐标值x. top。在没有确定LY. top上移位点的χ坐标值χ. top的情况下，也就是说，在不能从检查图像7检测到LY. top上的移位点的情况下，在步骤1041中确定返回值Result是错误， 然后处理异常地终止。当在步骤S1041中确定返回值Result不是错误时，处理进行至步骤S1050，然后对于χ = 0至χ. max搜索亮度LY (x，y. max)的值，以便确定LY. bottom上 χ. bottom的移位点(χ方向搜索)。在LY. bottom 上沿 χ 方向的搜索处理中，将值 “y. max，，、“x. max，，、“0，，、“ 1，，和 “ 1，，
顺序地代入第一至第五变量。执行如步骤S1040的处理，因此将搜索结果已经被代入的返回值Result代入“χ. bottom”。因此确定LY. bottom上的移位点的χ坐标值x. bottom。在没有确定LY. bottom上的移位点的χ坐标值x. bottom的情况下，也就是从检查图像7不能确定LY. bottom上的移位点的情况下，在步骤S1051中确定返回值Result是错误，然后处理异常终止。在步骤S1051中确定返回值Result不是错误的情况下，处理进行至步骤S1060，并且使用步骤S1040的处理中所确定的χ. top以及步骤S1050的处理中所确定的χ. bottom值，来计算边界线段74的斜率θ和位置Δχ。可以根据Δχ = (χ. top+x. bottom)/2-x. center来计算边界线段74的位置Δ χ。 可以根据θ = arctan (y. max/ (χ. top-χ. bottom) X 180/ π来计算边界线段74的斜率Θ。如上所述，在边界线段74的位置Δχ为+(正)的情况下，边界线段74位于检查图像中心71的右侧，也就是+χ方向。在边界线段74的位置Δχ为-(负)的情况下，边界线段74位于检查图像中心71的左侧，也就是-χ方向。在边界线段74的斜率θ为+(正)的情况下，边界线段74相对于包括检查图像中心71的y轴方向沿顺时针方向倾斜。在边界线段74的斜率θ为-(负)的情况下，边界线段74沿逆时针方向倾斜。也就是说，可以通过边界线段的位置Δχ和斜率θ的符号 (+或_)来检测光学装置3相对于显示面板2的位置偏差方向和旋转方向。边界线段74的位置Δ χ和斜率θ值取决于用作拍摄设备5的诸如CXD的光电转换元件的分辨率、拍摄透镜放大率、用于显示检查图像7的显示器的分辨率，以及观看角度等。也就是说，即使直接使用边界线段74的位置Δχ和斜率θ的值，也不可以获取显示设备1的显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。因此，根据以下方法，使用边界线段 74的位置ΔΧ和斜率θ的值，来获取显示设备1的显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。例如，有一种方法是，预先准备具有不同位置精度的显示设备1，获取其中每个检查图像，检测Δ χ，并获取每个显示设备1的显示面板2和光学装置3之间的相对位置精度与Δχ之间的关系。图16Α示出了如上所述所获取的位置Δχ与实际位置精度之间的关系。图16Α和图16Β的图表示出了通过边界线段的位置Δχ和斜率θ来获取显示面板与光学装置之间的相对位置精度的方法。如图16Α所述，位置Δχ和实际位置精度实质上可以由线性方程式来表示。因此， 例如，可以通过从要检查的显示设备1的检查图像73来计算位置Δχ ，然后将Δχ 与指定系数相乘，来获取要检查的显示设备1的显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度，如图16Β所示。另一种方法是，预先准备具有不同位置精度的显示设备1，获取其中每个检查图像，检测Δχ，例如，在图IOA所示的图像中，利用图像82或图像83来获取沿χ方向位置Δχ 与图像的宽度之比，在与一个柱面透镜相对应的四个像素之中将沿χ方向的像素间距和该比率相乘，因此计算与实际位置精度相对应的量。可以通过使用所示任何一个方法来获取显示面板2与光学装置3之间沿χ方向的相对位置精度。同样，关于边界线段74的斜率θ，可以通过将χ. top和χ. bottom值与指定系数相乘来获取光学装置3关于显示面板2的实际斜率θ。因此，可以基于边界线段74的位置 Δ χ和斜率θ的值来检测显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。第一示例描述的方法在于，定量地计算边界线段74的位置Δχ与斜率θ，然后根据位置Δχ与斜率θ的值获取显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。然而，可以通过视觉检查来确定显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。例如，将边界线段74 的任意一侧上的相邻第一图像区75和第二图像区76之间的布置关系作比较，因此容易地检测是否发生颠倒视图现象，在颠倒视图现象中，取决于视点右图像和左图像彼此互换。准备指示了边界线段74的斜率θ与位置Δχ的容许程度的图作为限制样本，并且以与检查图像7相同的比例将该图印刷在透明片上。将边界线段74的限制样本重叠在要检查的检查图像73上，并将其彼此相比较。因此，可以轻松地通过视觉检查来确定显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度是成功还是失败。(第二示例)图17的示意图示出了用于由第二示例的检查方法来处理的检查图像的示例。在第二示例的安装精度检查方法中，将使用LY. middle和x. middle来提取边界线段74的斜率θ与位置Δ χ的过程加入到第一示例中所示的提取边界线段74的斜率θ与位置Δ χ的过程中。
LY. middle表示沿χ方向在y. center上的亮度的分布，其设置沿y方向基点72与 y. max之间的中点上。在第二示例中，除了第一示例中所示的确定χ. top和x. bottom的处理之外，还向第一至第五变量分配了变量名y. center,Ο,χ. maxU和1，随后执行图15中所示的处理。这也确定作为LY. middle上移位点的坐标的x. middle。此外，在第二示例中，检测了利用χ. top、χ. bottom、χ. middle所计算的Δ x和边界线段74的线性度之间的偏差。上述的边界线段74的线性度的检测使得允许检测光学装置3的失真。例如，在采用双凸透镜3的情况下(见图8)，其中柱面透镜31作为光学装置3布置在χ方向，可以确定透镜的主轴是否与y方向相平行。当双凸透镜与显示面板2固定地粘合时，如果将双凸透镜3非均勻压力分布地粘合，双凸透镜3会变形。双凸透镜3可能原始包括光学失真。由于这些原因，透镜的主轴变得不与y方向相平行，边界线段74中会出现非线性斜率。在这些情况下，该示例的检查方法是有效的。上述说明示出了添加以下处理的情况在y.max的中心y. center上沿χ方向搜索，然后确定在y. center处位移点的坐标x. middle。此外，在y轴的相应位置上执行沿χ 方向的搜索的处理，确定针对y轴上的位置的移位点的坐标χ. middle,并且获取这些值与 Δ χ之间的偏差，从而使得更精确地获得边界线段74的线性度。(第三示例)与第一示例相同，第三示例的安装精度检查方法包括第一步骤，在显示设备1上显示与第一视点组相对应的第一图案，显示与第二视点组相对应的第二图案，然后获取边界线段74的位置ΔΧ和斜率θ ；第二步骤，显示与第一视点组相对应的第二图案，显示与第二视点组相对应的第一图案，然后获取边界线段74的位置ΔΧ和斜率θ。通过计算在上述各个步骤中所获取的值的平均值来获取边界线段74的位置Δχ和斜率θ。第二步骤不必将第一图案与第二图案彼此互换。替代地，针对第二步骤可以设置完全不同的图案作为第一图案和第二图案。图18Α和图18Β的示意图示出了用于由第三示例的检查方法来处理的检查图像的示例。图18Α示出了在以下情况下获取的第一检查图像73的示例关于测试图案7，针对第一视点显示理想白色作为第一图案，以及针对第二视点显示理想黑色作为第二图案。 图18Β示出了在图18Α中所示的针对各个视点的测试图案7的图案彼此互换的情况下，第二检查图像73的示例。与第一示例相同，在第三示例中，通过第一检查图像计算边界线段74的位置Δχ 和斜率θ 1，通过第二检查图像计算边界线段74的位置ΔΧ2和斜率θ 2。然后利用其中的平均值Δχ = (Δχ1+Δχ2)/2，θ = (θ 1+θ 2)/2来检测显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。根据第三示例的检查方法，要显示的图案彼此互换，获取两个检查图像，然后获取边界线段74的位置Δχ和斜率Δ θ的平均。这可以减少边界线段74的位置Δχ和斜率 Δ θ的检测误差，检测误差是由于显示设备1诸如对比度的光学特性以及拍摄装置诸如光敏度的光电特性造成的。
上述说明示出了使用具有不同灰度值的两个图案作为测试图案7的情况。此外， 该示例可以应用于使用具有不同颜色的两个图案作为测试图案7的情况。下文中将描述的变体是使用具有不同颜色的两个图案作为测试图案7。图19的示意图示出了用于由第三示例的变体来检查的检查图像的示例。图19A示出了在以下情况下所获取的第一检查图像73的示例关于测试图案7， 针对第一视点显示蓝色(B)作为第一图案，针对第二视点显示红色(R)作为第二图案。图 19B示出了将在图19A中所示的针对相应视点的测试图案7的图案彼此互换的情况下获取的第二检查图像73的示例。如上所述，包括在显示设备中的图像存储器(未示出)中与坐标位置相对应地存储有针对RGB的颜色的亮度值RGB(X，y)，作为检查图像73的图像数据。第三示例的变体使用值RGB(x，y)来搜索红色(R)的亮度分布以及蓝色(B)的亮度分布，并且检测移位点。首先，使用第一检查图像，通过沿χ方向从R. top开始的搜索处理来确定表示移位点的Rl. top，其中R. top表示y. top上红色(R)的亮度分布；通过沿χ方向从B. top开始的搜索处理来确定表示移位点的Bi. top，其中B. top表示y. top上蓝色(B)的亮度分布。此外，使用第一检查图像，通过沿χ方向从R. Bottom开始的搜索处理来确定表示移位点的Rl. bottom，其中R. Bottom表示y. bottom上红色(R)的亮度分布；通过沿χ 方向从B. Bottom开始的搜索处理来确定表示移位点的Bi. bottom，其中B. Bottom表示 y. bottom上蓝色(B)的亮度分布。通过使用所获取的Rl. top、Bi. top或它们的平均值xl. top中任意一个，以及 Rl. bottom.Bl. bottom或它们的平均值xl. bottom中任意一个，来计算边界线段74的位置 Δ xl和斜率Δ θ 1。同样，使用第二检查图像来计算边界线段74的位置Δχ2和斜率Δ θ 2。计算其平均值Δχ = (Δχ1+Δχ2)/2，θ = (θ 1+θ2)/2。使用值Δχ和θ来计算显示面板2与光学装置之间的相对位置精度。与该变体相同，使用具有不同颜色的两个图案作为测试图案7发挥了稳定地获取边界线段74的位置Δχ和斜率Δ θ的作用。例如，来自外部的照明光或防护罩(shield) 的阴影可以反射到显示设备1的表面上。因此，如果使用具有不同灰度值的两个图案作为测试图案7，照明光或防护罩阴影会反射到检查图像73，这会引起边界线段74的位置Δχ 和斜率△ θ的假检测。由于施加在基于RGB值的色度信息的移位点的检测上的照明光、防护罩阴影等所引起的不利效果小于施加在基于灰度值的亮度信息的移位点的检测上的。前者可以稳定地检测边界线段74。因此，可以通过检查图像73来稳定地获取边界线段74的位置Δ χ和斜率Δ θ。该示例实施例示出了以下情况以观测者可以立体地观看的距离来布置显示设备 1和拍摄装置5。这种配置偶尔会造成由于显示设备1与拍摄装置5之间的特定距离，或者显示设备1和拍摄装置5的特定规格而引起边界线段74�：那榭�。在该情况下，有时不能检测亮度的移位点，因此不能检测位置Δχ和斜率Δ θ。即使可以提取边界线段74的位置Δχ和斜率△ θ，所提取值与显示设备和光学装置的实际相对位置精度之间的关系有时会彼此极大地不同。该变体中所示的针对测试图案7使用不同颜色的方法，可以以高精度检测甚至具有�：呓缦叨�74的RGB(X，y)的移位点。此外，彼此互换测试图案7中针对相应视点的图案，获取两个检查图像，并且得到从两个检查图像获取的边界线段74的位置Δ χ和斜率 Δ θ的平均值。这提高了边界线段74的位置ΔΧ和斜率Δ θ的检测精度。此外，由于针对测试图案7使用具有相反色调的红色(R)和蓝色(B)，突出并清晰化了检查图像中区的边界。这使得轻易地检测边界线段74。因此，即使在视觉检查的情况下，可以缩短检查时间。此外，由于针对相应视点的测试图案7的图案彼此互换，并且呈现了两个检查图像，可以消除观测者基于特定颜色信息的心理效应。例如，将上述�：呓缦叨�74识别为其中蓝色⑶和红色(R)混合的洋红色(M)。在该情况下，由于红色(R)吸收具有接近色调(close hue)的洋红色(M)，观测者感觉红色(R)区更宽。在测试图案73的周围区是黑色的情况下，观测者感觉具有接近黑色调的蓝色(B)区比实际亮光区域宽。认为可以通过呈现两个检查图像来消除由于颜色引起的对于观测者的这种效应。(第二示例实施例)与第一示例实施例相反，第二示例实施例描述了使用在拍摄距离内所获取的检查图像的检查方法，在所述拍摄距离中不能执行立体视觉检查。图20的示意图示出了当使用双凸透镜作为显示设备1的光学装置3时所形成的立体视场的示例。在显示面板2中，沿χ轴方向8顺序布置针对第一视点的像素41L1至41L3(显示设备1的左侧)、像素41C1至41C3(显示设备1的中心)以及像素41R1至41R3(显示设备1的右侧)，以及针对第二视点的像素42L1至42L3(显示设备1的左侧)、像素42C1至 42C2 (显示设备1的中心)以及像素42R1至42R3 (显示设备1的右侧)。双凸透镜3具有柱面透镜31沿χ轴方向8以指定间距布置的配置。针对第一视点的像素41L1至41L3以及针对第二视点的像素42L1至42L3与柱面透镜31L (显示设备 1的左侧)相对应。针对第一视点的像素41C1至41C3以及针对第二视点的像素42C1至 42C2与柱面透镜31C(显示设备1的中心)相对应。针对第一视点的像素41R1至41R3以及针对第二视点的像素42R1至42R3与柱面透镜31R(显示设备1的右侧)相对应。图20中所示的参考符号1L1、2L1和3L1表示从针对第一视点的像素41L1、41L2 和41L3发射并由柱面透镜31L折射的光的光学路径。参考符号1L2、2L2和3L2表示从针对第二视点的像素42L1、42L2和42L3发射并由柱面透镜31L折射的光的光学路径。图20中所示的参考符号1C1、2C1和3C1表示从针对第一视点的像素41C1、41C2 和41C3发射并由柱面透镜31C折射的光的光学路径。参考符号1C2和2C2表示从针对第二视点的像素42C1和42C2发射并由柱面透镜31C折射的光的光学路径。同样地，图20中所示的参考数字1R1、2R1和3R1表示从针对第一视点的像素 41R1、41R2和41R3发射并由柱面透镜31R折射的光的光学路径。参考数字1R2、2R2和3R2 表示从针对第二视点的像素42R1、42R2和42R3发射并由柱面透镜31R折射的光的光学路径。这里，实际通过光学路径的光相对于光学路径在顺时针或逆时针方向上具有指定的角宽度。针对第一视点的图像区47形成在一个区中，所述区包括其中光学路径ILlUCl 和IRl彼此交叉的点。针对第二视点的图像区48形成在一个区中，所述区包括其中光学路径1L2、1C2和1R2彼此交叉的点。针对第一视点(左眼)的图像区47和针对第二视点(右眼)的图像区48与允许立体观看的立体观看范围相对应。基于右眼和左眼的y轴方向10以及针对第一视点的图像区47和针对第二视点的图像区48之间的交叉，将立体观看范围最大的光学立体观看距离定义为参考符号Dop。将最大立体观看距离定义为参考符号Dmax，以及将最小立体观看距离定义为参考符号Dmin。 参考数字49表示视点之间的间距，下文中称作视点间距。这里，注意柱面透镜31L。对于针对第一视点的图像形成区47以及针对第二视点的图像形成区48的形成有有利作用的只有分别从像素41L1和像素42L1发射的光ILl和 1L2。将所述光定义为初级光。将从与像素41L1和42L1相邻的像素41L2和42L2发射并由柱面透镜31L折射的光2L1和2L2定义为次级光。同样，将从与像素41L1和42L1次相邻的像素41L3和42L3发射并由柱面透镜31L折射的光3L1和3L2定义为三级光。同样，关于与柱面透镜31C和31R相关联的光，初级光有利于针对第一视点和第二视点的图像形成区47和图像形成区48的形成。如图20所示，如果观看距离比最小立体观看距离Dmin短，则可以理解，由于从显示设备1的右侧和左侧所发射的诸如次级光和三级光的较高阶光而产生的效应变得明显。图21A和图21B的示意图示出了用于第二示例实施例的检查方法的显示设备1和拍摄装置5的布置的示例。图21A示出了一种方法，其中，在相对于最小立体观看距离Dmin 足够短的距离Dl处得到检查图像。图21B示出了一种方法，其中，在从最小立体观看距离 Dmin至最大立体观看距离Dmax的范围内得到检查图像。上述第一示例实施例与图21B相对应。图22的示意图示出了由图21A所示的拍摄装置获取的检查图像的示例。这里，显示设备1的显示面板2与光学装置3之间的位置精度与第一示例实施例的显示设备1的显示面板2与光学装置3之间的位置精度相同。因此，在图21B所示的条件下所获取的检查图像与图9B所示的条件下所获取的检查图像相同。将图22与图9B相比较，可以理解的是，第一图像区和第二图像区相对于χ轴方向彼此互换。边界线段的斜率θ的旋转方向相对于y轴方向反向。此外，形成边界线段74 的第一图像区76和第二图像区75在χ轴方向的宽度Pw较窄，并且第二图像区75和第一图像区76出现在这些图像之外。这是因为宽度Pw是取决于视点间距的尺寸，而且由于拍摄距离D较短导致视点间距较小。将使用图2IA和2IB来描述取决于拍摄距离的检查图像的这种变体。首先，在图21B中，拍摄距离D2在从最小立体观看距离Dmin至最大立体观看距离 Dmax的范围内。因此，如果从拍摄装置5的中心画一条线段，所述线段与作为光学装置的双凸透镜3的每个柱面透镜的主轴具有角度α 2和β 2，则可以基于折射角与沿ζ方向透镜和针对布置在显示面板2上的视点的每个像素之间的距离，来标识对应的像素，其中双凸透镜的折射指数相对于线段适用于Snell定律。将与输入到对应像素的测试图案相对应的指定检查图像输入拍摄装置5。同样，可以通过向显示面板2的整个x-y平面施加具有除α 2和β 2以外角度的线段以及标识对应像素，来获取要显示在整个显示屏幕上的检查图像。在图21Β所示的拍摄距离D2中，图20中所示的初级光基本上是主导的。因此，如同视觉检查的图像，获取图9Β中所示的检查图像。另一方面，在图21Α中所示的拍摄距离Dl处，从拍摄装置5的中心画线段，所述线段具有关于每个柱面透镜的主轴的角度α 1和β 1，因此可以标识与该线段相对应的像素。 将与输入到对应像素的测试图案相对应的指定检查图像输入拍摄装置5。在拍摄距离是Dl的情况下，来自任意像素的诸如次级光和三级光的较高阶光有利于检查图像的形成。因此，检查图像与图8Β中所示的检查图像不同。例如，在拍摄距离 Dl等于或小于最小立体观看距离Dmin的一半的情况下，获取图22所示的检查图像。图23 示出了检查图像73中的边界线段74相对于拍摄距离D的斜率θ的变化。图23的图表示出了检查图像的边界线段相对于拍摄距离的斜率θ的变化。在图 23中，横轴表示拍摄距离D，纵轴表示通过拍摄显示在显示设备1上的图像而获取的检查图像73中边界线段74的斜率θ。如图23所示，可以理解的是，在拍摄距离D介于A与B之间的区内斜率θ变化幅度很大。该区是从较高阶光到初级光的过渡区，并且在该区内很难获取稳定的检查图像。大致有两个拍摄距离D，使用所述两个拍摄距离D，斜率θ相对于拍摄距离D的变化量或者导数是最小值。第一个是第一距离Μ，在第一距离M处检查图像主要由较高阶光形成。第二个是第二距离阳，在第二距离阳处检查图像由初级光形成。第一示例实施例示出了采用在第二距离55处获取的检查图像的示例。第二示例实施例示出了采用在第一距离M处获取的检查图像的示例。优选地，设置第一距离M使得斜率θ相对于拍摄距离D的导数最小。在图23所示的拍摄距离D比A短的情况下，可以设置在该处斜率θ相对于拍摄距离的导数的变化集中在士5%的范围内的任何拍摄距离。利用这种拍摄距离的设置，斜率θ的导数的变化集中在士 5%的范围内。因此，获得的优点在于施加在边界线段74上的干扰效应较�。⑶铱梢晕榷ǖ鼗袢”呓缦叨�74的斜率θ。这也适用于第一示例实施例。此外，由于拍摄距离较短，与第一示例实施例相比较提高了检查图像的图像质量。 这也有利于检测边界线段74的斜率θ和位置Δ χ的精度的提高。如第一示例实施例中所述，边界线段74的位置ΔΧ或斜率θ的值取决于用于拍摄装置5的诸如CCD的光电转换元件的分辨率、拍摄透镜放大率，以及显示检查图像7的显示器的视角和分辨率。因此，第一示例实施例描述了利用边界线段74的位置ΔΧ或斜率θ 的值来获取显示设备1的显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度的特定方法。在第二示例实施例中，要注意的是光学装置3的放大率(enlarging magnification)根据拍摄距离D而变化。将放大率的倒数应用于第一示例实施例所述的方法。因此，可以根据拍摄距离D来获取显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。下文中将使用附图来描述第二示例实施例的检查方法的示例。(第四示例)第四示例描述了在将拍摄装置5至显示设备1的拍摄距离D设置为第二距离M 以及检查图像73中包括至少三个边界线段74的情况下，计算边界线段74的斜率θ和位置Δ χ的方法，其中第二距离M小于最小立体观看距离Dmin。图M的示意图示出了通过第四示例的检查方法所获取的检查图像的示例。图M示出了通过实质上与第一示例相同的过程(图14和图8)获得的图22中所示的检查图像73上的第一边界线段77、第二边界线段78和第三边界线段79，边界线段的斜率θ 1、θ 2禾口 θ 3，以及位置Δ χ 、Δχ2禾口 Δχ3。图13中所示的边界线段74的斜率θ和位置Δ χ分别对应于图M中所示的边界线段78的斜率θ 2和位置ΔΧ2。因此，可以使用斜率θ 2和位置ΔΧ2来检测显示面板2 和光学装置3之间沿χ方向的相对位置精度。在该情况下，在图15中所示沿χ方向的搜索处理中，target = 2。在该示例中，由于可以确认视点间距的宽度，可以获取显示设备1的视角。例如，值 I x2. top-xl. top I λ I x3. top-x2. top | Λ | x2. bottom-χ . bottom | 或 | x3. bottom-x2. bottomI取决于视点间距。在根据显示设备1的值的变化较大以及值|x2. top-xl. top和
x2.bottom-xl. bottom)的尺寸彼此不同的情况下，可以检测作为光学装置的柱面透镜或视差障壁的间距精度以及光学主轴的位置精度的误差。这可以通过监测斜率θ 1、θ 2和θ 3之间的差异来替代。可以将值I θ 2- θ 11和 Θ2-Θ3|作为检查值来管理。此外，第二示例中所述通过获取LY. middle来确定边界线段74的线性度的概念也可以应用于第四示例。如第二示例中所示，可以通过获取边界线段74的线性度来检测光学装置的失真。在光学装置具有失真的情况下，斜率θ 1、θ 2和θ 3的值有时候彼此极大地不同。 因此，将I Θ2-Θ Il和I Θ2-Θ3Ι作为检查值来管理，因此允许检测光学装置的这种失真。图M示出了第一图像区和第二图像区的亮度彼此不同的示例。然而，第四示例可以应用于如第三示例的变体中所述的具有不同颜色的测试图案。此外，第四示例可以应用于如图18Α和图18Β中所示的方法，将第一图案与第二图案彼此互换，并且使用边界线段74 的斜率θ和位置Δχ的平均值。在应用这些方法的情况下所具有的有利效果与第一示例实施例的有利效果实质上相同。第四示例的描述使用了其中视点数是二的示例。然而，第四示例可以应用于针对 N个视点显示图像的情况，这里，N的数目至少是三。可以直接应用第一示例实施例中所述的根据N是奇数或偶数而不同的细节处理。如上所述，在第二示例实施例中，使用在对于立体观看来说太短的拍摄距离处获取的检查图像来获取显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。因此，在第二示例实施例中，与第一示例实施例相反，不能在视觉上对检查图像进行检查。然而，第二示例实施例除了具有与第一示例实施例的有利效果相同的效果外，还具有以下优势。在第二示例实施例中，由于拍摄距离较短，提高了检查图像的质量。获取清晰的检查图像以便从检查图像稳固地提取边界线段74是很重要的。如果拍摄距离较长，需要高性能透镜光学系统以获取清晰图像。这引起的问题是增加了检查设备的成本。在该示例实施例中，可以利用低成本来获取显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。在第二示例实施例中，从检查图像获取的信息量增加。在第二示例实施例中，与视点间距相对应的宽度缩短。这增加了边界线段的数目。因此，获取了边界线段的斜率θ、位置Δ χ和视点间距的信息。因此，除了显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度之外， 还可以检测间距精度和发生在光学装置3的光学主轴位置处的失真。此外，在第二示例实施例中，拍摄距离缩短。因此，可以缩小检查设备的尺寸。在以下的第三示例实施例中将描述检查设备的配置的示例。可以缩小采用第二示例实施例的检查方法的检查设备的尺寸，这也有利于降低成本。(第三示例实施例)关于第三示例实施例，将对使用第一示例至第四示例中所述的方法的检查设备进行描述。图25的框图示出了本发明的检查设备的配置的示例。如图25所示，检查设备210具有的配置包括检查平台200，要检查的显示设备1 安装在所述检查平台200上；图像输出电路201，输出图像信号，使显示设备1显示测试图案7 ；检查摄像机202，沿ζ方向10安装在检查平台200上，并且对显示设备1的显示屏幕进行拍摄；检测电路203，从检查摄像机202拍摄的检查图像中检测边界线段的斜率和位置； 以及监视器204，用于显示检测电路203产生的检查结果。将检查摄像机202至显示设备1 的拍摄距离设置为每个示例所述的距离。检查平台200包括定位针，所述定位针通过按压(thereagainst)显示设备1的角来定位显示设备1。使用定位针来安装显示设备1，使得显示中心11和检查摄像机202的拍摄中心在χ方向8上彼此相匹配。将定位针设置在显示设备1的至少两个侧边上，使得沿方向6不偏离显示设备1。图像输出电路201包括信号产生电路，在显示设备1上产生例如图9A所示的测试图案7 ；以及电源设备，为信号产生电路提供工作所需的电能。图像输出电路201产生图像信号，使得显示设备1在针对第一视点的像素41上显示第一图案7A，并且在针对第二视点的像素42上显示第二图案7B。可以以第一图案7A和第二图案7B的位置彼此互换的方式来显示测试图案7。检查摄像机202包括用于拍摄检查图像73的透镜光学系统；作为拍摄元件的 CCD ；以及用于保存CCD所拍摄的图像信号的图像存储器。将图像存储器中保存的图像信号作为检查图像73输出给检测电路203。检测电路203从检查摄像机202所拍摄的检查图像73中提取边界线段74的斜率 θ和位置Δχ。可以使用包括CPU的处理设备和在CPU中进行处理所需要的存储设备来实现检测电路203，检测电路203执行依照指定过程的图14和图15所示的处理，并且在监视器204上显示从检查图像73中提取的边界线段74的斜率θ和位置ΔΧ值。可以通过将监视器204上显示的边界线段74的斜率θ和位置Δ χ值与预设值相比较，来获取包括在显示设备1中的显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。检测电路203最初可以存储斜率θ和位置Δ χ的容许精度的预设值，将容许精度与从检查图像73提取的斜率θ和位置ΔΧ值相比较，然后将比较结果输出给监视器204。如第四示例所示，在设置较短拍摄距离的情况下，可以根据需要的检查项目在监视器204上显示代表检查结果的绝对值或确定值，诸如θ 1、θ 2、θ 3、Δχ 、ΔΧ2、Δχ3，代表光学装置3的非均勻失真量的值I Θ2-Θ1|和I θ 2-θ 3|，以及与试点间距相对应的值 I x2. top-χ . top I、I x2. top-χ . top | 和 | x3. top-x2. top | 0此外，如果不使用检测电路203，检查摄像机202与监视器204可以彼此相连接，并且检查图像73可以直接显示在监视器204上。在该情况下，可以利用视觉检查，通过显示在监视器204上的边界线段74来确定包括在显示设备1中的显示面板2与光学装置3之间的相对位置精度。
将检查摄像机202至显示设备1的拍摄距离设置为每个前述示例中所述的距离。 第四示例中所述的拍摄距离的设置使得能够减小检查设备210的尺寸并且减少空间，并且使得在不使用昂贵的检查摄像机202的情况下，获得高质量的检查图像。这继而使得检查设备的成本减少。第三示例实施例中所述的检查设备201不仅可以应用于检查包括在显示设备1中的显示面板2与光学装置3之间的位置精度的处理，而且可以应用于将光学装置3安装在显示面板2上的处理。例如，在使用胶水或粘合剂来将光学装置3固定在显示面板2上的情况下，通过使用该示例实施例的检查设备210，从检查图像73获取边界线段74的斜率θ 和位置Δ χ,并且基于该结果来调整光学装置3的安装位置，随后处理进行至下一步骤，即相对于显示面板2按压光学装置3，以便将它们固定地粘合。这使得能够以高精度将光学装置3固定在显示面板2上。因此，可以获取高质量的显示设备1。(第四示例实施例)图沈的框图示出了本发明的检查设备的另一配置的示例。如图沈所示，第四示例实施例的检查设备220具有的配置是，将移动装置205添加到第三示例实施例所述的检查设备210中。第四示例实施例的检查设备220具有的配置适合于使用在图M所示的检查图像73中出现边界线段的情况。移动装置205将检查摄像机202沿χ轴方向8与显示设备1的显示屏幕相平行地移动。Y方向上移动轴的中心(未示出)与显示中心11相匹配。可以基于显示设备1的视点间距的尺寸，在X方向8上移动图沈所示的检查摄像机202。图27的示意图示出了通过第四示例实施例的检查设备所获取的检查图像的示例。图27示出了当移动装置205将摄像机沿χ轴方向8移动时，检查摄像机202使用第一示例中所描述的检查方法，在三个点处拍摄的检查图像73的示例。通过拍摄获取每个检查图像73，从而边界线段74的中心在y轴方向上与显示中心11相匹配。这里，假设当边界线段的位置Δ χ为零时，相对于移动装置205中心的移动量是 Lx、Cx和Rx。在该情况下，可以从检查图像73的边界线段74L、74C和74R来提取斜率L9、 C θ 禾口 R θ。在第二示例实施例中，Rx与I x2. center-xl. center |相对应。Lx与| x3. center-x2. center相对应。L θ与θ 1相对应。C θ与θ 2相对应。R θ与θ 3相对应。因此，即使将拍摄距离设置为第二距离55，增加移动装置205使得从检查图像获取的信息增加，如同第二示例实施例中所述的有利效果。该示例实施例的检查设备能够获取边界线段的斜率θ、位置ΔΧ以及视点间距的信息。因此，除了显示面板2与光学装置3之间之间的位置精度外，还可以获取光学装置3 的失真。
权利要求
1.一种安装精度检查方法，用于检查显示面板与光学装置之间的位置精度，像素组布置在所述显示面板中，所述光学装置用于根据像素组提供针对N个视点的图像显示，N是大于一的自然数，所述显示面板和所述光学装置被包括在显示设备中，所述方法包括显示步骤，在所述显示设备上显示测试图案，所述测试图案包括在相应视点上不同的图像信号；以及提取步骤，采用显示在所述显示设备上的图像作为检查图像，并从所述检查图像中提取视点之间的边界线段的斜率和位置。
2.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，还包括拍摄步骤，通过拍摄装置在指定拍摄距离处对显示器进行拍摄，由此获取检查图像，其中，所述提取步骤从通过所述拍摄步骤拍摄的所述检查图像提取所述视点之间的边界线段的斜率和位置。
3.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，其中，所述显示步骤包括第一显示步骤，显示包括在相应视点上不同的图像信号在内的测试图案；以及第二显示步骤，显示包括与所述第一显示步骤中所使用的测试图案的图像信号不同的图像信号在内的测试图案。
4.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，其中，所述显示步骤针对N个视点中编号是奇数的视点显示第一图案，所述第一图案包括图像信号，所述图像信号包括指定的颜色和灰度值，以及所述显示步骤针对N个视点中编号是偶数的视点显示第二图案，所述第二图案包括图像信号，所述图像信号不同于所述第一图案的图像信号。
5.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，其中，所述显示步骤包括第一显示步骤，针对N个视点中编号是奇数的视点显示第一图案，所述第一图案包括图像信号，所述图像信号包括指定的颜色和灰度值，以及，针对N个视点中编号是偶数的视点显示第二图案，所述第二图案包括图像信号，所述图像信号不同于所述第一图案的图像信号；以及第二显示步骤，针对编号是奇数的视点显示所述第二图案；并且针对编号是偶数的视点显示所述第一图案。
6.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，其中，在N是偶数的N个视点中，在将第一至第(N/幻个视点分类为第一视点组以及将第(N/2+1)至第N个视点分类为第二视点组的情况下，所述显示步骤在所述显示设备上显示测试图案，所述测试图案包括在相应两个视点组中不同的图像信号。
7.根据权利要求6所述的安装精度检查方法，其中，所述显示步骤包括第一显示步骤，针对第一视点组显示包括图像信号在内的第一图案，所述图像信号包括指定的颜色和灰度值；以及针对第二视点组显示包括图像信号在内的第二图案，所述图像信号不同于所述第一图案的图像信号；以及第二显示步骤，针对第一视点组显示所述第二图案，并针对第二视点组显示所述第一图案。
8.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，其中，所述显示步骤在所述显示设备上显示测试图案，所述测试图案包括在N个视点中在第((N+l)/2)个视点上与在其他视点上不同的图像信号，N是奇数。
9.根据权利要求8所述的安装精度检查方法，其中，所述显示步骤包括第一显示步骤，针对第((N+l)/2)个视点显示包括一个图像信号在内的第一图案，并针对其他视点显示包括与第一图案的图像信号不同的图像信号在内的第二图案；以及第二显示步骤，针对第((Ν+1)Λ)个视点显示所述第二图案，并针对其他视点显示所述第一图案。
10.根据权利要求3所述的安装精度检查方法，其中，所述提取步骤从在第一显示步骤之后由所述拍摄步骤获取的第一检查图像以及在第二显示步骤之后由所述拍摄步骤获取的第二检查图像中得到视点之间的边界线段的斜率平均值和位置平均值，并提取斜率平均值和位置平均值。
11.根据权利要求6所述的安装精度检查方法，其中，所述提取步骤从由N个视点的所述显示步骤获取的检查图像中，提取第(Ν/2)个与第(Ν/2+1)个视点之间的边界线段的斜率和位置，N是偶数。
12.根据权利要求8所述的安装精度检查方法，其中，所述提取步骤从通过N个视点的显示获取的检查图像中，得到第((N-1V2) 个视点与第((N-1V2+1)个视点之间的第一边界线段以及第((N+1V2)个视点与第 ((N+D/2+1)个视点之间的第二边界线段的斜率平均值和位置平均值，并且提取斜率平均值和位置平均值，N是奇数。
13.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，其中，测试图案包括能够提取所述检查图像的边界线段的斜率和位置的图像信号。
14.根据权利要求2所述的安装精度检查方法，其中，在将由光学装置形成的视点图像的间距看作是视点间距的情况下，所述拍摄步骤拍摄图像，使得所述拍摄装置的拍摄中心与在所述显示设备的视点间距的方向上的中心相匹配。
15.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，其中，将所述显示设备与所述拍摄装置之间的拍摄距离设置为小于存在所述显示设备的立体可视区的最小距离。
16.根据权利要求1所述的安装精度检查方法，其中，将所述显示设备与所述拍摄装置之间的拍摄距离设置为大于存在所述显示设备的立体可视区的最小距离。
17.根据权利要求15所述的安装精度检查方法，其中，设置拍摄距离，使得在所述拍摄距离处能够获取包括至少三个边界线段的检查图像。
18.根据权利要求16所述的安装精度检查方法，其中，在将由所述光学装置形成的视点图像间距当做视点间距的情况下，获取检查图像，所述检查图像在视点间距的方向上包括至少两个点的边界线段。
19.根据权利要求15所述的安装精度检查方法，其中，在边界线段的斜率与所述显示设备和所述拍摄装置之间的拍摄距离的关系中，所述方法设置一个区，其中斜率相对于拍摄距离的导数的变化集中在士 5%的范围内。
20.根据权利要求15所述的安装精度检查方法，其中，在边界线段的斜率与所述显示设备和所述拍摄装置之间的拍摄距离的关系中，所述方法设置拍摄距离，使得斜率相对于拍摄距离的导数被最小化。
21.一种用于检查显示面板和光学装置之间的位置精度的检查设备，像素组布置在所述显示面板中，所述光学装置用于在显示设备中根据像素组提供针对N个视点的图像显示，N是大于一的自然数，所述显示设备包括所述显示面板和所述光学装置，所述检查设备包括图像输出装置，在所述显示设备上输出测试图案，测试图案包括在相应视点上不同的图像信号；提取装置，提取显示在所述显示设备上的检查图像的边界线段的斜率和位置，其中，所述检查设备基于由所述提取装置提取的斜率和位置，检测所述显示面板与所述光学装置之间的位置精度。
22.—种检查显示面板与光学装置之间的位置精度的检查设备，像素组布置在所述显示面板中，所述光学装置用于在显示设备中根据像素组提供针对N个视点的图像显示，N是大于一的自然数，所述显示设备包括所述显示面板和所述光学装置，所述检查设备包括图像输出装置，在所述显示设备上输出测试图案，测试图案包括在相应视点上不同的图像信号；拍摄装置，对当显示测试图案时出现的边界线段进行拍摄；以及提取装置，提取由所述拍摄装置拍摄的检查图像中的边界线段的斜率和位置，其中，所述检查设备基于由所述提取装置获取的斜率和位置，检测所述显示面板与所述光学装置之间的位置精度。
23.根据权利要求21所述的检查设备，还包括移动装置，将所述拍摄装置沿视点间距的方向移动，以便对至少两个所述边界线段成像。
24.根据权利要求21所述的检查设备，其中，将所述拍摄装置至显示面板的拍摄距离固定在比观测距离短的距离内，在所述观测距离上，立体可视区最小化；以及将所述拍摄装置至显示面板的拍摄距离固定在其中立体可视区不存在的距离内。
全文摘要
本发明涉及一种安装精度检查方法以及使用所述检查方法的检查设备。一种要检查的显示设备，包括显示面板，像素组布置在所述显示面板中；光学装置，用于根据像素组提供针对N个视点(N是大于一的自然数)的图像显示。一种检查设备，包括图像输出装置，用于将测试图案输出给显示设备，所述测试图案包括在相应视点上不同的图像信号；以及提取装置，用于提取在所述显示设备上显示的检查图像的边界线段的斜率和位置。所述提取装置基于由提取装置提取的斜率和位置，检测显示面板与光学装置之间的位置精度。
文档编号G01B11/00GK102401631SQ201110245229
公开日2012年4月4日 申请日期2011年8月25日 优先权日2010年8月25日
发明者益村和敬, 重村幸治 申请人:Ntl科技股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
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