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专利名称：一种高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法
技术领域：
本发明属于电力设备的检测技术，具体涉及一种高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法。
背景技术：
高压隔离开关在电力系统中起着隔离电源、改变系统运行方式、分合小负荷电流、 进行倒闸操作等重要作用。它的使用量通常是断路器的2 3倍。其结构虽然相对简单， 但也是电网运行不可忽视的高压设备之一.对电网的安全运行有着重要的影响。高压隔离开关触头镀银层质量，尤其是镀层厚度，直接影响隔离开关的载流量与使用寿命。目前，运行于全国35 500kV各电网中的高压隔离开关普遍存在触头发热问题，从而导致导电部分受损引起电气性能下降。2007-2011年，湖南省多个变电站刀闸红外测温显示温度超标，原因为其镀银层厚度不够。通常，高压隔离开关厂家对触头镀银层采用阳极溶解库仑法进行厚度测试，由于该方法须将触头放在试验台上进行测试，试验中须对药水进行更换、清洗，操作繁琐，试验时间长，而且对触头镀银层有破坏性，特别是组装好的隔离开关，还需卸下触头检测完后再安装，影响工程进度，该方法在现场很难应用。因此，针对高压隔离开关触头镀银层开发一种简易的现场无损检测技术十分必要。

发明内容
本发明的目的是提供一种高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法，以实现对高压隔离开关镀银层厚度现场快捷的无损检测。实现本发明目的采用的技术方案是高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法，按以下步骤进行
步骤一、使用X荧光合金分析仪，用其探头对高压隔离开关触头的镀银层的不同部位进行测量以获得一组测量数据，该组测量数据至少包括3个数据值，优选为5个数据值；
步骤二、依据测量的镀银层成分含量和厚度关系曲线y=-ln(l-X)/0. 1466 (10 ^y 彡25)为依据，式中y为镀银层厚度，χ为Ag含量百分数，以Ag含量的最小值Ag min和每组测量数据中Ag含量之间的最大差值δ max的数值判断镀银层厚度是否合格，当每组测量数据中Ag min彡94.7%且δ max彡4%时，判定镀银层为合格。本发明方法是一种基于X荧光合金分析仪对高压隔离开关触指镀银层的厚度进行现场快捷无损检测的一套方法，它解决了原有检测方法的有关制约，可实现对高压隔离开关触指镀银层厚度现场快速抽检。下面结合附图对本发明作进一步说明。


图1是镀银层厚度与成分的拟合图。
图2是铜基镀银层厚度判据图。
具体实施例方式本发明的高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法，其检测过程为
(1)检测仪器要求便携式X荧光合金分析仪(XRF)激发电压为45-50eKv，激发功率为2W，激发源恒定；
(2)预热X荧光合金分析仪开机进入系统后须预热5分钟；
(3)取样一般以高压隔离开关触头的镀银层的主表面为工作面，保证探头正对取样部位，分析时探头不能移动，尽量贴近表面；用探头对高压隔离开关触头的镀银层的不同部位进行测量以获得一组测量数据，该组测量数据至少包括3个数据值，优选为5个数据值；
(4)合金分析开启X荧光合金分析仪测试，探测时间不应超过仪器设置时间，读数时需等Ag、Cu元素含量趋于稳定时进行，若士2 σ >10%，该读数视为无效；
(5)探头冷却正常情况下，X荧光合金分析仪每工作十分钟，应停机休息十分钟；
(6)依据镀银层成分含量和厚度关系曲线y=-ln(1-χ)/0.1466 (10彡y彡25)为依据， 式中y为镀银层厚度，χ为Ag含量百分数，以Ag含量的最小值Ag min和每组测量数据中 Ag含量之间的最大差值δ max的数值判断镀银层厚度是否合格，当每组测量数据中Ag min 彡94.7%且Smax彡4%时，判定镀银层为合格。检测原理
便携式X荧光合金分析仪(XRF)对镀层成分进行分析，其分析信号(即为其测量的镀银层成分)取决于4个因素镀层的化学成分，镀层基体的化学成分，镀层厚度和分析仪的激化源。当镀层Ag和基体Cu的成分确定，便携式X荧光合金分析仪(XRF)的激化源也确定时，分析信号就只取决于Ag镀层厚度。因此，用同一型号的便携式X荧光合金分析仪(XRF) 对高压隔离开关触头镀银层进行测量时，其分析信号的变化只有银镀层厚度一个参量。通过制备不同银镀层厚度的试样(银镀层分别为12. 2 μ m，15. 9 μ m， 19. 0 μ m，19. 5 μ m)，并通过金相测量方法准确测量其镀层厚度，最后利用便携式X荧光合金分析仪(XRF)获得不同厚度镀银层的成分响应，见下表1。其中X便携式X荧光合金分析仪(XRF)激发电压为45-50eKv，激发功率为2W，激发源恒定。表1镀银层的Ag成分含量与厚度关系图谱
权利要求
1.一种高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法，其特征是按以下步骤进行 步骤一、使用X荧光合金分析仪，用其探头对高压隔离开关触头的镀银层的不同部位进行测量以获得一组测量数据，该组测量数据至少包括3个数据值；步骤二、依据测量的镀银层成分含量和厚度关系曲线y=_ln(1-x)/0. 1466 (10 ^y 彡25)为依据，式中y为镀银层厚度，χ为Ag含量百分数，以Ag含量的最小值Ag min和每组测量数据中Ag含量之间的最大差值δ max的数值判断镀银层厚度是否合格，当每组测量数据中Ag min彡94.7%且δ max彡4%时，判定镀银层为合格。
2.根据权利要求1所述的高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法，其特征是所述步骤一中该组测量数据为5个数据值。
全文摘要
本发明公开了一种高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法，该方法按以下步骤进行步骤一、使用X荧光合金分析仪，用其探头对高压隔离开关触头的镀银层的不同部位进行测量以获得一组测量数据，该组测量数据至少包括3个数据值；步骤二、依据测量的镀银层成分含量和厚度关系曲线y=-ln(1-x)/0.1466(10≤ｙ≤25)为依据，式中y为镀银层厚度，x为Ag含量百分数，以Ag含量的最小值Agmin和每组测量数据中Ag含量之间的最大差值δmax的数值判断镀银层厚度是否合格，当每组测量数据中Agmin≥94.7%且δmax≤4%时，判定镀银层为合格。本发明方法可以实现对高压隔离开关镀银层厚度现场快捷的无损检测。
文档编号G01B15/02GK102494644SQ20111035821
公开日2012年6月13日 申请日期2011年11月14日 优先权日2011年11月14日
发明者刘纯 申请人:湖南省湘电锅炉压力容器检验中心有限公司, 湖南省电力公司科学研究院