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专利名称：用于长圆孔中心坐标测量的转换件的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测量技术，涉及一种用于长圆孔中心坐标测量的转 换件。
背景技术：
现有光学安装仪器只能针对圆孔进行中心坐标测量。但是在夹具中 定位安装零件时经常釆用长圆孔定位方法。由于无法对长圆孔中心坐标 进行测量，经常发生夹具中长圆孔定位件定位位置与夹具工作坐标系出 现偏差的问题。 发明内容
本实用新型的目的是提供一种能精确测量长圆孔中心坐标的转换 件，以提高长圆孔定位件在夹具中安装位置的准确性和复验、返修的准 确性。
本实用新型的技术方案是用于长圆孔中心坐标测量的转换件，其特 征在于，它由检测定位轴1、长圆定位体2和螺母3组成；长圆定位体2
的外形与被检测长圆孔的孔形相同，并与被检测的长圆孔滑动配合，在 长圆定位体2的中心有一个贯通上下表面的中心孔；检测定位轴1由上 部圆盘和下部定位轴连接组成，定位轴的上端与圆盘的下表面中心连接 为整体，定位轴的下端有螺紋，定位轴下端的螺紋段穿过长圆定位体2 的中心孔后与螺母3啮合，定位轴与长圆定位体2的中心孔滑动配合， 检测定位轴1上部圆盘的直径大于长圆定位体2的宽度，在检测定位轴1 上部圆盘上表面的中心有一个光学检测盲孔；检测定位轴1上部圆盘的 厚度公差不大于O. 02mm。
本实用新型的优点是能精确测量长圆孔中心坐标，提高了长圆孔 定位件在夹具中安装位置的准确性和复验、返修的准确性。

图l是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式

下面对本实用新型做进一步详细说明。参见图1，用于长圆孔中心坐
标测量的转换件,其特征在于，它由检测定位轴1、长圆定位体2和螺母3
组成；长圆定位体2的外形与被检测长圆孔的孔形相同，并与被检测的 长圆孔滑动配合，在长圆定位体2的中心有一个贯通上下表面的中心孔； 检测定位轴1由上部圆盘和下部定位轴连接组成，定位轴的上端与圆盘 的下表面中心连接为整体，定位轴的下端有螺紋，定位轴下端的螺紋段 穿过长圆定位体2的中心孔后与螺母3啮合，定位轴与长圆定位体2的 中心孔滑动配合，检测定位轴1上部圆盘的直径大于长圆定位体2的宽 度，在检测定位轴1上部圆盘上表面的中心有一个光学检测盲孔；检测 定位轴1上部圆盘的厚度公差不大于0. 02mm。
本实用新型的工作原理是将本实用新型插入被测量长圆孔后，检 测定位轴1上部圆盘上表面的光学检测盲孔与被测量长圆孔的中心轴同 轴，被测量长圆孔的中心坐标与光学检测盲孔的中心坐标在轴向的距离 为检测定位轴1上部圆盘的厚度。只要使用光学检测仪器测量出光学检 测盲孔的中心坐标，即可计算得到被测量长圆孔的中心坐标。
权利要求1、用于长圆孔中心坐标测量的转换件，其特征在于，它由检测定位轴[1]、长圆定位体[2]和螺母[3]组成；长圆定位体[2]的外形与被检测长圆孔的孔形相同，并与被检测的长圆孔滑动配合，在长圆定位体[2]的中心有一个贯通上下表面的中心孔；检测定位轴[1]由上部圆盘和下部定位轴连接组成，定位轴的上端与圆盘的下表面中心连接为整体，定位轴的下端有螺纹，定位轴下端的螺纹段穿过长圆定位体[2]的中心孔后与螺母[3]啮合，定位轴与长圆定位体[2]的中心孔滑动配合，检测定位轴[1]上部圆盘的直径大于长圆定位体[2]的宽度，在检测定位轴[1]上部圆盘上表面的中心有一个光学检测盲孔；检测定位轴[1]上部圆盘的厚度公差不大于0.02mm。
专利摘要本实用新型用于长圆孔中心坐标测量的转换件属于测量技术，涉及一种用于长圆孔中心坐标测量的转换件。其特征在于，它由检测定位轴[1]、长圆定位体[2]和螺母[3]组成。长圆定位体[2]与被检测的长圆孔滑动配合，在长圆定位体[2]的中心有一个贯通上下表面的中心孔。检测定位轴[1]下端的螺纹段穿过长圆定位体[2]的中心孔后与螺母[3]啮合，在检测定位轴[1]上部圆盘上表面的中心有一个光学检测盲孔。本实用新型能精确测量长圆孔中心坐标，提高了长圆孔定位件在夹具中安装位置的准确性和复验、返修的准确性。
文档编号G01B11/00GK201212808SQ20082012825
公开日2009年3月25日 申请日期2008年7月11日 优先权日2008年7月11日
发明者修玉成, 满增明, 郭忠义 申请人:哈尔滨飞机工业集团有限责任公司