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专利名称：面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关一种面板检测装置，尤其指一种可以让被自动判别有瑕疵的面板，被作业人员处置时有清晰方便的瑕疵显示标注方式，和方便后续对瑕疵面板进行处置的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统。
技术背景按，显示面板于生产及移动时，难免于表面上会有刮伤或脏污(particle)，但是该刮伤或脏污将会影响面板的显示性能，甚至引起用户的不悦而被退货。因此，面板于出厂前通常都会进行刮伤或脏污的检测。公知的第一种面板刮伤或脏污的检测装置主要是将被测面板放入自动光学检测(AOI)机台中，利用光学镜头和相机，自动检查系统，将待测对象上的瑕疵显示在计算机上，并将脏污与被测物相对位置，给一组参数来做为脏污的定位。公知的另一种面板刮伤或脏污的检测装置主要是将被测面板放AOI机台中，利用光学镜头和相机，自动检查系统，将对象上的瑕疵显示在计算机上，并将瑕疵在被待测物位置附近以喷墨方式定位。公知的第一种面板刮伤或脏污的检测装置由于操作AOI机台的人员与清洁脏污的人员并不一定是同一位，目前脏污只是显示相对位置在计算机上，作业人员必须在AOI机台上清洁(因为有相对位置)，如果待测对象离开AOI机台，因为没有明确标示位置，瑕疵并不容易被精确定义，所以容易被误判，尤其当瑕疵有一个以上时。请一并参照图1(a) 1(c)，其中，图1(a)绘示公知的面板检测装置于检测到刮伤或脏污等瑕疵后进行喷墨定位的示意图；图1(b)绘示公知的面板检测装置于喷墨定位后的剖面示意图；图1(c)绘示公知的面板检测装置于喷墨定位及抛光后的剖面示意图。如图所示，公知的第二种面板刮伤或脏污的检测装置由于AOI机台有利用喷墨110喷在瑕疵附近的待测对象100表面来标示瑕疵位置(如图I (a)所示)，因此，瑕疵可以被精确定义，所以作业人员容易辨识，尤其是瑕疵有一个以上时。但是，喷墨110本身又是另一种瑕疵，作业人员在没有适合的工具下并不能百分之百确定将喷墨110与瑕疵清洁干净。再者，喷墨110如果碰到待测对象100的缺陷是刮伤120时，喷墨110的油墨会流到刮伤120的刮痕中(如图1(b)及图1(c)所示)，反而更不易清洁与更突瑕疵位置。此外,如果待测对象是保护玻璃(cover glass)或一片玻璃式技术解决方案(OneGlass Solution,简称0GS)时,其表面会被涂布有一层砷(As),该层砷会抗污，因此,一般喷墨不易附着在待测对象表面上，实属美中不足之处。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，以克服上述公知面板检测装置的缺点。为实现上述目的，本实用新型提供的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其包括[0009]一光学自动检测机台，其至少具有一载台、一取像装置及一图像处理装置，其中，该载台可承载至少一待测面板，该取像装置可对该待测面板上是否有缺陷进行取像和自动辨识，该图像处理装置可撷取该缺陷的影像，并提供该缺陷的坐标参数以及至少一瑕疵显示及清洁作业机台，耦接至该光学自动检测机台，该瑕疵显示及清洁作业机台上具有一显示器，该显示器上具有一用户接口，且该显示器上具有由至少一挡块所形成的一区块，该待测面板放置于该区块中时，该用户接口根据该坐标参数可精确定位及/或显示出该缺陷的位置，让作业人员可以快速判定该缺陷的种类，并选择以适当方式进行作业处置。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该待测面板为一触控传感器(Touch Sensor)、保护玻璃(Cover Glass)、薄膜晶体管液晶面板(TFT LCD)、有源矩阵有机发光二极管面板(AMOLED)或低温多晶硅面板(LTPS)。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该挡块为透明或半透明挡块，用于承载该待测面板，防止该待测面板和该显示器接触，造成二次刮伤。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该取像装置为一 CMOS线扫描相机(CMOS line scan camera)、CMOS 区域扫描相机(CMOSarea scan camera)或CCD(Charge Coupled Device)线扫描相机。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该图像处理装置为一相机或电性测试装置，其中该电性测试装置为一组探针。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中该缺陷为一脏污、刮伤或型态瑕疵(pattern defect)。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该显示器为一平面显示器。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该区块大于或等于该待测面板，且可依据该待测面板的大小进行调整。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该用户接口上可显示该缺陷的影像数据及该缺陷的坐标数据。所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该显示器可以调整其亮度。本实用新型的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统的实施，其具有光学自动检测机台可扫瞄该待测面板上是否有缺陷，并于撷取该缺陷的影像后，提供该缺陷的坐标参数；以及其至少一瑕疵显示及清洁作业机台上具有一显示器，该显示器上具有由两个透明挡块所形成的一区块，当该待测面板放置于该区块中时，该用户接口根据该坐标参数可精确定位及/或显示出该缺陷的位置，让作业人员可以快速判定该缺陷的种类，并选择以适当方式进行作业处置等优点。

图1(a)为一示意图，其绘示公知的面板检测装置于检测到刮伤或脏污等瑕疵后进行喷墨定位的不意图。图1(b)为一示意图，其绘示公知的面板检测装置于喷墨定位后的剖面示意图。图1(c)为一示意图，其绘示公知的面板检测装置于喷墨定位及抛光后的剖面示意图。[0024]图2为一示意图，其绘示本实用新型一较佳实施例的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统的方块示意图。图3为一示意图，其绘示本实用新型一较佳实施例的用户接口上进一步可显示该缺陷的影像数据的示意图。图4为一示意图，其绘示如图3中所示的该缺陷的影像数据的放大示意图。
具体实施方式
本实用新型的一种面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统其包括一光学自动检测机台，其至少具有一载台、一取像装置及一图像处理装置，其中，该载台可承载至少一待测面板，该取像装置可对该待测面板上是否有缺陷进行取像和自动辨识，该图像处理装置可撷取该缺陷的影像，并提供该缺陷的坐标参数以及至少一瑕疵显示及清洁作业机台，耦接至该光学自动检测机台，其具有一显示器，该显示器上具有一用户接口，且该显示器上具有由至少一个挡块所形成的一区块，当该待测面板放置于该区块中时，该用户接口根据该坐标参数可精确定位及/或显示出该缺陷的位置，让作业人员可以快速判定该缺陷的种·类，并选择以适当方式进行作业处置。本实用新型的光学自动检测机台可扫瞄该待测面板上是否有缺陷，并于撷取该缺陷的影像后，提供该缺陷的坐标参数。本实用新型的至少一瑕疵显示及清洁机台上具有一显示器，该显示器上具有由至少一个透明挡块所形成的一区块，当该待测面板放置于该区块中时，该用户接口根据该坐标参数可精确定位及/或显示出该缺陷的位置，让作业人员可以快速判定该缺陷的种类，并选择以适当方式进行作业处置。为能进一步了解本新型的结构、特征及其目的，结合附图及较佳具体实施例作详细说明。请一并参照图2至图4，其中图2绘示本实用新型一较佳实施例的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统的方块示意图；图3绘示本实用新型一较佳实施例的用户接口上进一步可显示该缺陷的影像数据的示意图；图4绘示如图3中所示的该缺陷的影像数据的放大示意图。如图所示，本实用新型一较佳实施例的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其包括一光学自动检测机台10 ;以及至少一瑕疵显示及清洁作业机台20所组合而成。其中，该光学自动检测机台10其至少具有一载台11、一取像装置12及一图像处理装置13，其中，该载台11可承载至少一待测面板14，该取像装置12例如但不限于为一 CMOS线扫描相机(CMOS line scan camera)、CMO S区域扫描相机(CMO S area scan camera)或CO)(Charge Coupled Device)线扫描相机,可对该待测面板14上是否有缺陷(defect) 15进行取像和自动辨识，其中该缺陷15例如但不限于为一脏污、刮伤或型态瑕疵(patterndefect);该图像处理装置13例如但不限于为一相机或电性测试装置，其中该电性测试装置例如但不限于为一组探针，可撷取该缺陷15的影像，并提供该缺陷15的坐标参数，例如但不限于为X、Y轴坐标参数。其中，该载台11进一步由一气浮平台、一输送带或滑台(皆图未示)，以移动该待测面板14为一般光学自动检测机台的公知技术，且非本实用新型的重点，故在此不拟赘述。[0034]其中，该待测面板11例如但不限于为一触控传感器(Touch Sensor)、保护玻璃(Cover Glass)、薄膜晶体管液晶面板(TFT IXD)、有源矩阵有机发光二极管面板(AMOLED)或低温多晶硅面板(LTPS)。该至少一瑕疵显示及清洁作业机台20耦接至该光学自动检测机台10，其具有一显示器21，该显示器上具有一用户接口 22，且该显示器21上具有由两个挡块23所形成的一区块24，当该待测面板14放置于该区块24中时，该用户接口 22根据该坐标参数可精确定位及/或显示出该缺陷15的位置，让作业人员可以快速判定该缺陷15的种类，并选择以适当方式进行作业处置。在本实施例中，是以三台瑕疵显示及清洁作业机台20为例加以说明，但并不以此为限。其中，该区块24例如但不限于为比该待测面板14相同或略大，且该区块24的大小可依据该待测面板14的大小进行调整，且该显示器21为一平面显示器，例如但不限于为一 LCD、CRT、PDP或AMOLED显示器。其中，该至少一个挡块23例如但不限于为透明或半透明挡块，以形成该区块24，该挡块23用于承载该待测面板14，以防止该待测面板14和显示器21接触，造成二次刮伤。在本实施例中是以两个挡块23且以平行或对角方式配置，但并不以此为限。此外，本实用·新型亦可以三个或四个挡块23形成该区块24，但并不以此为限。此外，该显示器21亦可以调整其亮度，以提供该待测面板11于该区块24中时所需的背光源。当该载台11上一次只承载一待测面板14时，于该取像装置12及图像处理装置13完成检测时，该光学自动检测机台10会依序将该待测面板14及其对应的坐标参数及影像数据传送至第一台瑕疵显示及清洁作业机台20、第二台瑕疵显示及清洁作业机台20及第三台瑕疵显示及清洁作业机台20，让作业人员可以快速判定该缺陷15的种类，并选择以适当方式进行作业处置。当该载台11上一次承载复数个待测面板14时，于该取像装置12及图像处理装置13于完成检测时，该光学自动检测机台10将同时记录其对应的坐标参数及影像数据，然后依序将第一片待测面板14及其对应的坐标参数及影像数据传送至第一台瑕疵显示及清洁作业机台20，将第二片待测面板14及其对应的坐标参数及影像数据传送至第二台清瑕疵显示及清洁作业机台20，将第三片待测面板14及其对应的坐标参数及影像数据传送至第三台瑕疵显示及清洁作业机台20，让作业人员可以快速判定该缺陷15的种类，并选择以适当方式进行作业处置，并可加速作业的速度。如图2所示，当该待测面板14分别被放置于该瑕疵显示及清洁作业机台20的区块24中时，该用户接口 22将根据该坐标参数精确定位及/或显示出该缺陷15的位置，例如由左至右，分别显示第一片待测面板14上的脏污位置，第二片待测面板14上的四周黑边(Black Matrix)中的脏污位置，以及第三片待测面板14上的刮伤位置，让每一台瑕疵显示及清洁作业机台20的作业人员可以快速判定该缺陷的种类，并选择以适当方式进行作业处置。如图3所示，本实用新型的用户接口 22上进一步可显示该缺陷15的影像数据及其X、Y轴的坐标资料，让每一台瑕疵显示及清洁作业20的作业人员由该影像数据及Χ、Υ轴的坐标数据可以快速判定该缺陷的种类，并选择以适当方式进行作业处置。如图4所示，由该用户接口 22上所显示该缺陷15的影像数据，让每一台瑕疵显示及清洁作业20的作业人员由该影像数据可以快速判定该缺陷15的种类，并选择以适当方式进行作业处置。本实用新型所揭示的乃较佳实施例，举凡局部的变更或修饰而源于本实用新型的技术思想而为熟习该项技艺的人所易于推知的，俱不脱本实用新型的权利要求范畴。·
权利要求1.一种面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其特征在于，包括 一光学自动检测机台，其至少具有一载台、一取像装置及一图像处理装置，其中，该载台可承载至少一待测面板，该取像装置可对该待测面板上是否有缺陷进行取像和自动辨识，该图像处理装置可撷取该缺陷的影像，并提供该缺陷的坐标参数以及 至少一瑕疵显示及清洁作业机台，耦接至该光学自动检测机台，该瑕疵显示及清洁作业机台上具有一显示器，该显示器上具有一用户接口，且该显示器上具有由至少一挡块所形成的一区块，放置该待测面板。
2.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该待测面板为一触控传感器、保护玻璃、薄膜晶体管液晶面板、有源矩阵有机发光二极管面板或低温多晶硅面板。
3.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该挡块为透明或半透明挡块。
4.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该取像装置为一CMOS线扫描相机、CMOS区域扫描相机或CCD线扫描相机。
5.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该图像处理装置为一相机或电性测试装置，其中该电性测试装置为一组探针。
6.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中该缺陷为一脏污、刮伤或型态瑕疵。
7.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该显示器为一平面显示器。
8.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该区块大于或等于该待测面板，且可依据该待测面板的大小进行调整。
9.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该用户接口上可显示该缺陷的影像数据及该缺陷的坐标数据。
10.根据权利要求I所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该显示器可以调整其亮度。
专利摘要一种面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其包括一光学自动检测机台，其至少具有一载台、一取像装置及一图像处理装置，该载台可承载至少一待测面板，该取像装置可对该待测面板上是否有缺陷进行取像和自动辨识，该图像处理装置可撷取该缺陷的影像以及至少一瑕疵显示及清洁作业机台，其具有一显示器，该显示器上具有一用户接口，且该显示器上具有由至少一个透明挡块所形成的一区块，当该待测面板放置于该区块中时，该用户接口根据该坐标参数可精确定位及/或显示出该缺陷的位置，让作业人员可以快速判定该缺陷的种类，并选择以适当方式进行作业处置。
文档编号G01N21/89GK202693490SQ20122034023
公开日2013年1月23日 申请日期2012年7月13日 优先权日2012年7月13日
发明者王子越, 古桂枝 申请人:晶彩科技股份有限公司