一种电气测试电路的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种电气测试电路，属于电气自动化【技术领域】。它解决了现有的电气电路的接点状态难以检测的问题。本电气测试电路包括内部电源、检测�？楹头直鹆釉诖饨拥懔讲嗟牧讲馐韵撸龅募觳饽？榘觳獾缱�、保护电阻和稳压电路，稳压电路的阴极与检测电阻串联后接在内部电源正极，阳极接地，保护电阻串接于检测电阻与内部电源正极之间，所述稳压电路和检测电阻之间的接点处还设有引出的检测端一，上述两测试线中的其中一条电性连接在内部电源正极与检测电阻之间，另一条电性连接在稳压电路的阳极端。本测试电路检测接点通断状态准确可靠，且不会对被测电路造成影响。
【专利说明】—种电气测试电路
【技术领域】
[0001]本实用新型属于电气自动化【技术领域】，特别涉及一种电气测试电路。
【背景技术】
[0002]传统的电气设备包括接在电源上的负载和电路上的接点，由于在电气上互相隔离的两个回路之间是用接点联系的，也就是说，接点的两端总是被同时送至另一个电路，因此，在同一个检测地点，接点的两端总是能被找到的。
[0003]现有的测试电路在测试如图1中所示的接点K的状态时，是利用了内部的光耦来实现的，即有足够大的电流流过光耦的发光二极管时，测试电路便认为被测接点K导通，否则认为不导通。这种方案有如下缺点:
[0004]当两测试点接于接点的两侧时，在接点断开后，两测试点之间受外部电路的电源电压影响，会有电流流过测试电路内部的光耦，测试电路会误认为是接点导通。因此，这种情况下为了正确测试接点的状态，不得不断开接点K的至少一端与原电路的连接。当原电路处于一种连锁反应状态时，由于K的退出，会导致后续反应与原来应有的反应不符。也就是说，为了测试接点K的状态而影响了后续测试。为了不影响后续测试，可以将两测试点接于负载的两侧，如图1中电阻R的两端，但由于电路上R的某一端可能不在检测地点K处，因此，为了测试K的状态，还必须从它处引一导线，将R的这一端引至检测地点K处。而“弓丨一导线”的这一工作可能给测试带来诸多不便。
【发明内容】
[0005]本实用新型的目的是针对现有的测试电路存在的上述问题，而提出了一种使用简便，能精确在线判断接点状态的电气测试电路。
[0006]本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现:
[0007]—种电气测试电路，包括内部电源Vcc、检测�？楹头直鹆釉诖饨拥懔讲嗟牧讲馐韵�(L1、L2)，其特征在于，所述的检测�？榘觳獾缱鑂2、保护电阻Rl和稳压电路，稳压电路的阴极与检测电阻R2串联后接在内部电源Vcc正极，阳极接地，保护电阻Rl串接于检测电阻R2与内部电源Vcc正极之间，所述稳压电路和检测电阻R2之间的接点处还设有引出的检测端一，上述两测试线(L1、L2)中的其中一条电性连接在内部电源Vcc正极与检测电阻R2之间，另一条电性连接在稳压电路的阳极端。
[0008]在上述的一种电气测试电路中，所述的稳压电路为稳压二极管W0。
[0009]在上述的一种电气测试电路中，所述的稳压电路包括多个二极管串联而成的二极管组组和与上述二极管组反向并联的反向二极管。
[0010]在上述的一种电气测试电路中，所述的测试电路还包括有保护二极管D2，保护二极管D2串联于检测电阻R2和内部电源Vcc正极之间并与内部电源Vcc正向连接。
[0011]在上述的一种电气测试电路中，所述的测试电路还包括检测对比�？椋觳舛员饶？榘ü獾绶Q合器，光电稱合器的发光源串接在上述其中一个测试线上且与上述稳压二极管WO顺向连接，光电耦合器的受光器一端与内部电源Vcc正向连接，另一端经电阻R3后接地，受光器的电流输出端引出有检测端二。
[0012]在上述的一种电气测试电路中，所述的发光源为光敏二极管D0。
[0013]在上述的一种电气测试电路中，所述的受光器为光敏三极管D0，其集电极与内部电源Vcc正极连接，发射极经电阻R3后接地。
[0014]在上述的一种电气测试电路中，所述发光源上还反向并联有二极管Dl。
[0015]在上述的一种电气测试电路中，所述的二极管Dl为稳压管。
[0016]与现有技术相比，本测试电路检测接点通断状态准确可靠，且不会对被测电路造成影响。
【专利附图】
【附图说明】
[0017]图1是待测接点的电路图。
[0018]图2是实施例1中本测试电路与待测电路配合的电路图。
[0019]图3是实施例2中本测试电路与待测电路配合的电路图。
[0020]图4是实施例3中本测试电路与待测电路配合的电路图。
【具体实施方式】
[0021]以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。
[0022]实施例1
[0023]如图2所示，本电气测试电路包括内部电源Vcc、检测�？楹头直鹆釉诖饨拥懔讲嗟牧讲馐韵�(L1、L2)，检测�？榘觳獾缱鑂2和稳压二极管WO，稳压二极管WO的阴极与检测电阻R2串联后接在内部电源Vcc正极，阳极接地，所述稳压二极管WO和检测电阻R2之间的接点处还设有引出的检测端一，上述两测试线(L1、L2)中的其中一条电性连接在内部电源Vcc正极与检测电阻R2之间，另一条电性连接在稳压二极管WO的阳极端。
[0024]测试电路还包括有保护电阻Rl和保护二极管D2，保护电阻Rl串接于内部电源Vcc与检测电阻R2之间，且保护二极管D2与内部电源Vcc正向连接。
[0025]利用本测试电路进行测试的方法，其测试点接于接点K的两侧。
[0026]1、接点K闭合时。无论待测电路是否有外部电源E，检测端一所检测到的电压不是OV就是略高于0V。
[0027]2、接点K断开，K两端的电压为上正下负时。检测端一所检测的电压为高电位(稳压二极管WO的稳压值为高电位)，由于外部电源E电压比内部电源Ncc高，所以，内部电源Vcc不能输出电流，这里的高电位完全是外部电源E所作用的结果。
[0028]3、接点K断开，K两端的电压为上负下正时，外部电源E流经稳压二极管W0、检测电阻R2，使检测端一的电位为负值。
[0029]4、接点K断开，无外部电源时。内部电源Vcc通过保护电阻R1、保护二极管D2、检测电阻R2、稳压二极管W0，使检测端一所检测的电压为高电位(稳压二极管WO的稳压值为高电位)。
[0030]因此，可以根据检测端一所得到的电压高低，反过来判断接点K的通断状态。检测端一的电位为高或检测端一的电压低于OV时,表不接点K断开；检测端一的电压为OV或略高于OV时，表示接点K闭合。
[0031]检测端一电压的获得:接点K断开，且K两端的外部电源E电压为上正下负时，夕卜部的高电压经检测电阻R2及稳压二极管W0，在稳压二极管WO上能获得稳定的电压，此电压能保证检测端一为高电压。设立保护二极管D2有两个目的，一是为了保证检测端一获得更加稳定的高电压(电源回路不分流)；二是为了防止外部电源E电压串入电源系统对后续电路造成影响。接点K断开，K两端的电压为上负下正时，外部电源E流经稳压二极管W0、检测电阻R2，使检测端一的电位为负值，K的状态被认为是断开。接点K断开，外部无外部电源E时，内部电源Vcc通过保护电阻R1、保护二极管D2、检测电阻R2、稳压二极管WO，使检测端一所检测的电压为高电位(稳压二极管WO的稳压值为高电位)，K的状态被认为是断开。接点K闭合时，无论是否有外部电源E，检测端一所检测到的电压不是OV就是略高于OV0
[0032]后续电路对检测端一电压的处理:为高电位或为负值时，作为断开处理；为OV或略高于OV时，作为闭合处理。
[0033]对被测电路的影响:带电检测接点K的状态时，难免对被测电路造成影响。为了最大程度地降低影响，采取了两个措施。第一个措施是内部电源Vcc电源系统与供电系统在电气上采取隔离措施，而且各路开入之间也是完全隔离的，说白了，每路开入专配一套与供电电源在电气上隔离的专用电路，最典型的例子是:各路开入分别由不同的微功率集成�？楣┑纾庑┘傻牡缭茨？椋淙攵擞胧涑龆酥湓诘缙鲜峭耆衾氲�。第二个措施是保护电阻R1、检测电阻R2的阻值被设置得相当大，以致于接点K断开后，流经测试线(L1、L2)的电流不会使原电路的功能状态发生明显的变化，例如，不会使被测电路中的光耦误导通。
[0034]实施例2
[0035]如图3所示，本实施例中的测试电路相对比实施例1还包括检测对比�？椋觳舛员饶？榘ü獾珩詈掀鳎獾珩詈掀鞯姆⒐庠创釉谕际旧喜馐韵週I上，该测试线LI连接在保护二极管D2和检测电阻R2之间的接点上，光电耦合器的受光器一端与内部电源Vcc正向连接，另一端接地，受光器的电流输出端引出有检测端二，其中发光源为光敏二极管DO，该光敏二极管DO与稳压二极管WO顺向连接，受光器为光敏三极管DO，其集电极与内部电源Vcc正极连接，发射极经过电阻R3后接地，光敏二极管DO上还反向并联有二极管Dl或稳压管。
[0036]利用本测试电路进行测试的方法，其测试点接于接点K的两侧。
[0037]1、接点K闭合时，无论是否有外部电源E，检测端一所检测到的电压被光耦的发光二极管DO钳至低电位(小于IV，稳压二极管WO的稳压值要高于发光二极管DO的正向压降)。通过合理设置保护电阻Rl的阻值，使流过发光二极管DO的电流被限制在一定值内，它使检测端二也检测到低电位，由于两个检测端都为低电位，因此，认为K闭合。
[0038]2、接点K断开，K两端的电压为上正下负时。外部电源E通过D1，内部电源Vcc通过保护二极管D2，内外电源共同作用的结果，使检测端一所检测的电压为高电位(稳压二极管WO的稳压值为高电位)，K的状态被认为是断开。
[0039]3、接点K断开，K两端的电压为上负下正时。外部电源E流经发光二极管DO的足够大的电流使检测端二为高电位，K的状态被认为是断开。
[0040]因此，可以根据检测端一和检测端二的电位高低，反过来判断接点K的通断状态。检测端一和检测端二任一端的电位为高时，表示接点K断开，两端电位都为低时，表示接点K闭合。
[0041]实施例3
[0042]如图4所示，本实施例的测试电路与实施例3类似，区别在于光电耦合器的发光源串接在图示下测试线L2上，该测试线L2连接在稳压二极管WO的阳极端接点上，其中发光源为光敏二极管D0，该光敏二极管DO与稳压二极管WO顺向连接，光敏二极管DO上还反向并联有二极管Dl或稳压管。
[0043]1、其中光敏二极管DO在接点K断开后，K两端的外部电压为下正上负时才起作用。接点K闭合时，虽然其也流过由内部电源Vcc流出来的电流，但是，因为内部电源Vcc的电压低，而外部电源E的电压高。电路被设计成在K闭合时，由内部电源Vcc产生的、流经光敏二极管DO的电流使检测端二为低电平；而1(断开后，K两端的外部电压为下正上负时，流经光敏二极管DO的电流使检测端二为高电平。二极管Dl反向并联在光敏二极管DO两端的目的是，在K断开后，K两端的外部电压为上正下负时，防止光敏二极管DO被反向击穿，因此，此处也可以并联一个稳压管。
[0044]2、检测端一电压的获得，接点K断开，且K两端的外部电压为上正下负时。外部的高电压经检测电阻R2及稳压二极管WO，稳压二极管WO上能获得稳定的电压，此电压能保证检测端一为高电压。设立保护二极管D2有两个目的，一是为了保证检测端一获得更加稳定的高电压(电源回路不分流 )；二是为了防止外部电压串入电源系统对后续电路造成影响。
[0045]3、对被测电路的影响。带电检测接点K的状态时，难免对被测电路造成影响，为了最大程度地降低影响，采取了两个措施。第一个措施是内部电源Vcc系统与供电系统在电气上采取隔离措施，而且各路开入之间也是完全隔离的，说白了，每路开入专配一套与供电电源在电气上隔离的专用电路，最典型的例子是:各路开入分别由不同的微功率集成模块供电，这些集成的电源模块，输入端与输出端之间在电气上是完全隔离的。第二个措施是保护电阻R1、检测电阻R2的阻值被设置得相当大，以致于接点K断开后，流经测试线的电流不会使原电路的功能状态发生明显的变化，例如，不会使被测电路中的光耦误导通。
[0046]应该理解，在本实用新型的权利要求书、说明书中，所有“包括……”均应理解为开放式的含义，也就是其含义等同于“至少含有……”，而不应理解为封闭式的含义，即其含义不应该理解为“仅包含……”。
[0047]本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属【技术领域】的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
【权利要求】
1.一种电气测试电路，包括内部电源(Vcc)、检测�？楹头直鹆釉诖饨拥懔讲嗟牧讲馐韵�(L1、L2)，其特征在于，所述的检测�？榘觳獾缱�(R2)、保护电阻(Rl)和稳压电路，稳压电路的阴极与检测电阻(R2)串联后接在内部电源(Vcc)正极，阳极接地，保护电阻(Rl)串接于检测电阻(R2)与内部电源(Vcc)正极之间，所述稳压电路和检测电阻(R2)之间的接点处还设有引出的检测端一，上述两测试线(L1、L2)中的其中一条电性连接在内部电源(Vcc)正极与检测电阻(R2)之间，另一条电性连接在稳压电路的阳极端。
2.根据权利要求1所述的一种电气测试电路，其特征在于，所述的测试电路还包括有保护二极管(D2)，保护二极管(D2)串联于检测电阻(R2)和内部电源(Vcc)正极之间并与内部电源(Vcc)正向连接。
3.根据权利要求1或2所述的一种电气测试电路，其特征在于，所述的测试电路还包括检测对比�？椋觳舛员饶？榘ü獾珩詈掀鳎獾珩詈掀鞯姆⒐庠创釉谏鲜銎渲幸桓霾馐韵�(L1、L2)上且与上述稳压二极管(WO)顺向连接，光电耦合器的受光器一端与内部电源(Vcc)正向连接，另一端经电阻(R3)后接地，受光器的电流输出端引出有检测端二。
4.根据权利要求3所述的一种电气测试电路，其特征在于，所述的发光源为光敏二极管(DO)。
5.根据权利要求3所述的一种电气测试电路，其特征在于，所述的受光器为光敏三极管(DO)，其集电极与内部电源(Vcc)正极连接，发射极经电阻(R3)后接地。
6.根据权利要求4所述的一种电气测试电路，其特征在于，所述发光源上还反向并联有二极管(Dl)。
7.根据权利要求6所述的一种电气测试电路，其特征在于，所述的二极管(Dl)为稳压管。
【文档编号】G01R31/02GK203630261SQ201320789368
【公开日】2014年6月4日 申请日期:2013年12月4日 优先权日:2013年12月4日
【发明者】施健贞 申请人:施健贞
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