专利名称：抗pwm光源干扰的照度检测方法、装置及光源调整方法
技术领域：
本发明涉及环境照度的检测，尤其涉及一种抗PWM光源干扰的照度检测方法、装置及光源调整方法。
背景技术：
现在大部分家电或用电设备中均设有LED指示灯，相当一分部LED指示灯受脉宽调制PWM信号的控制，从而使LED指示灯一闪一灭，但频繁闪灭的LED指示灯往往会对人造成一定的干扰，如果能让LED指示灯的亮度根据环境的光照强度而进行改变，从而使LED指示灯的亮度能够在其所在环境中不受注意是能够解决上述问题的。这就需要我们能够准确 检测出LED指示灯所在环境中的光照强度，但在LED指示灯亮的时候就会对环境的光照强度造成一定的影响，因此设计一种不受上述LED指示灯光亮影响的照度检测方法非常有必要。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种抗PWM光源干扰的照度检测方法、装置及光源调整方法，能够准确检测出环境中的光照强度。为解决上述问题，本发明采用的一种技术方案是提供一种抗PWM光源干扰的照度检测方法，包括接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，n为正整数。其中，在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行米样具体为在所述PWM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。其中，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。其中，所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时。为解决上述问题，本发明采用的另一种技术方案是提供一种抗PWM光源干扰的照度检测装置，包括接收�？椋糜诮邮誔WM光源的脉宽调制PWM信号；检测�？椋糜谠谒鯬WM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，n为正整数。其中，所述检测�？榘ú裳幽？椋糜谠谒鯬WM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。其中，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。其中，所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时。为解决上述问题，本发明采用的另一种技术方案为提供一种抗PWM光源干扰的PWM光源照度调整方法，包括接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；基于所述光照强度调整所述PWM光源的亮度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，η为正整数。其中，在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样具体为在所述PWM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。其中，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。·其中，所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时。本发明的有益效果是本发明提供一种抗PWM光源干扰的照度检测方法，通过在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，即在PWM光源灭的时候对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度，避免了 PWM光源亮的时候对环境的光照强度造成的影响，从而能够准确检测出环境中的光照强度。
图I是本发明一实施方式中抗PWM光源干扰的照度检测方法流程图；图2是本发明一实施方式中抗PWM光源干扰的照度检测方法对环境中的光照强度进行采样时的示意图；图3是本发明一实施方式中抗PWM光源干扰的照度检测装置的�？橥迹煌�4是本发明另一实施方式中抗PWM光源干扰的照度检测装置的�？橥迹煌�5本发明一实施方式中抗PWM光源干扰的照度检测装置对环境中的光照强度进行采样时的示意图；图6是本发明一实施方式中抗PWM光源干扰的PWM光源照度调整方法流程图；图7是本发明一实施方式中抗PWM光源干扰的PWM光源照度调整装置的�？橥迹煌�8是本发明另一实施方式中抗PWM光源干扰的PWM光源照度调整装置的模块图。
具体实施例方式为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。请参阅图I以及图2，本实施方式提供一种抗PWM光源干扰的照度检测方法，包括SI、接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；S2、在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，η为正整数。本发明通过在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，即在PWM光源灭的时候对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度，避免了 PWM光源亮的时候对环境的光照强度造成的影响，从而能够准确检测出环境中的光照强度。
在本实施方式中，S2中在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样的步骤具体为在所述PWM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。在具体的实施例中，请参阅图2，图中所示的方波为基于PWM信号的PWM方波，在此处，PWM光源为LED灯，其中led on为PWM信号(方波)的高电平即表示LED灯亮，led off为PWM信号(方波)的低电平即表示LED灯灭。正如图2所示那样，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时，即表示此时PWM信号对光照强度采样设备的影响最�。贸龅慕峁不嶙钗既�。在本发明中，光照强度采样设备(即对环境的光照强度进行采样的设备)可以为照度传感器，也可以为光传感器，抑或光敏元件等。而在本发明中，S2得到环境中光照强度的方法为本领域习知的内容，在此不再赘述。请参阅图3及图4，本实施方式还提供一种抗PWM光源干扰的照度检测装置，包括 接收�？镮，用于接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；检测�？�2，用于在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，n为正整数。本实施方式中，所述检测模块2包括采样子�？�21和数据子�？�22。采样子�？�21用于在所述PWM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。数据子模块22用于根据采样子�？�21采样的光照得到环境中的光照强度，数据子�？�22得到环境中光照强度的方法为本领域习知的内容，在此不再赘述。请参阅图5，图中所示的方波为基于PWM信号的PWM方波，在此处，PWM光源为LED灯，其中led on为PWM信号(方波)的高电平即表示LED灯亮，led off为PWM信号(方波)的低电平即表示LED灯灭。正如图5所示那样，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时，即表示此时PWM信号对光照强度采样设备的影响最小，得出的结果也会最为准确。在本发明中，检测模块(即前文所述的光照强度设备)可以为照度传感器，也可以为光传感器，抑或光敏元件等。请参阅图6，本实施方式提供一种抗PWM光源干扰的PWM光源照度调整方法，包括S10、接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；S20、在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；S30、基于所述光照强度调整所述PWM光源的亮度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，η为正整数。本发明通过在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，即在PWM光源灭的时候对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度，避免了 PWM光源亮的时候对环境的光照强度造成的影响，从而能够准确检测出环境中的光照强度。本发明再通过检测出的光照强度对PWM光源的亮度进行调整，从而使LED指示灯的亮度能够在其所在环境中不受注意，也就解决了背景技术中提到的频繁闪灭的LED指示灯往往会对人造成一定的干扰的问题。在本实施方式中，S20在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行米样具体为在所述PWM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。具体的，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时，即表示此时PWM信号对光照强度采样设备的影响最�。贸龅慕峁不嶙钗既�。具体的采样过程如前文所述，在此不再赘述。在本发明中，光照强度采样设备(即对环境的光照强度进行采样的设备)可以为照度传感器，也可以为光传感器，抑或光敏元件等。请参阅图7及图8，本实施方式还提供一种抗PWM光源干扰的PWM光源照度调整装置，包括接收�？�10，用于接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；检测�？�20，用于在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采 样的光照得到环境中的光照强度；调整模块30，用于基于所述光照强度调整所述PWM光源的亮度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，η为正整数。本实施方式中，所述检测�？�20包括采样子模块201和数据子�？�202。采样子模块201用于在所述PWM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。数据子模块202用于根据采样子�？�201采样的光照得到环境中的光照强度，数据子�？�202得到环境中光照强度的方法为本领域习知的内容，在此不再赘述。在具体的实施例中，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时，即表示此时PWM信号对光照强度采样设备的影响最�。贸龅慕峁不嶙钗既�。在本发明中，检测�？�(即前文所述的光照强度设备)可以为照度传感器，也可以为光传感器，抑或光敏元件等。具体的采样过程如前文所述，在此不再赘述。以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种抗PWM光源干扰的照度检测方法，其特征在于，包括 接收PWM光源的脉宽调制PWM信号； 在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度； 其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，η为正整数。
2.根据权利要求I所述的抗PWM光源干扰的照度检测方法，其特征在于，在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样具体为在所述PWM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。
3.根据权利要求I或2所述的抗PWM光源干扰的照度检测方法，其特征在于，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。
4.根据权利要求3所述的抗PWM光源干扰的照度检测方法，其特征在于，所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时。
5.一种抗PWM光源干扰的照度检测装置，其特征在于，包括 接收�？椋糜诮邮誔WM光源的脉宽调制PWM信号； 检测�？椋糜谠谒鯬WM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度； 其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，η为正整数。
6.根据权利要求5所述的抗PWM光源干扰的照度检测装置，其特征在于，所述检测�？榘ú裳幽？椋糜谠谒鯬WM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。
7.根据权利要求5或6所述的抗PWM光源干扰的照度检测装置，其特征在于，所述PWM信号的周期及采样周期均为10ms。
8.根据权利要求7所述的抗PWM光源干扰的照度检测装置，其特征在于，所述PWM信号的衰减至最低时为在所述PWM信号上升沿后的第9ms时。
9.一种抗PWM光源干扰的光源调整方法，其特征在于，包括 接收PWM光源的脉宽调制PWM信号； 在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度； 基于所述光照强度调整所述PWM光源的亮度； 其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，η为正整数。
10.根据权利要求9所述的抗PWM光源干扰的光源调整方法，其特征在于，在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样具体为在所述PWM信号低电平时，当所述PWM信号的衰减至最低时对环境中的光照进行采样。
全文摘要
本发明提供了提供一种抗PWM光源干扰的照度检测方法、装置及光源调整方法，其中抗PWM光源干扰的照度检测装置包括接收模块，用于接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；检测�？椋糜谠谒鯬WM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，n为正整数。本发明通过在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，即在PWM光源灭的时候对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度，避免了PWM光源亮的时候对环境的光照强度造成的影响，从而能够准确检测出环境中的光照强度。
文档编号G01J1/00GK102944303SQ20121045999
公开日2013年2月27日 申请日期2012年11月15日 优先权日2012年11月15日
发明者田口洋一, 赵尚开, 郭灿照 申请人:创天昱科技(深圳)有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
