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专利名称：薄膜厚度测厚装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及包装材料的生产设备，特别涉及一种在包装薄膜生产过程中的薄膜厚度测厚装置。
背景技术：
在包装薄膜生产过程中，通常将是将生产收缩薄膜的原料经加热、挤出和拉伸制成有数米直径的管状薄膜，经检测如达到规定的厚度要求时，则停止拉伸通过剖切成单层薄膜，收卷到卷筒上。因此正确和快速地检测薄膜的厚度直接关系到薄膜的生产效率和制造质量。目前在大型生产设备上是在管状薄膜的外围固定有圆形的定位环，在定位的内壁安装有导向环，在导向环上通过支架安装有Y射线的测厚仪，在支架上还安装有减速器，在减速器的输出轴端安装有紧靠定位环的摩擦轮。检测时，Y射线的测厚仪接触管状薄膜，利用摩擦轮的旋转，使导向环与定位环发生相对旋转，使Y射线的测厚仪绕管状薄膜 旋转，测试整根管状薄膜的厚度。由于整个机构庞大，摩擦阻力也大，加上摩擦轮的磨损，在使用中，会出现摩擦轮的打滑，不能及时检测出管状薄膜的厚度。

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种工作可靠，检测准确的薄膜厚度测厚装置。为了达到上述要求，本实用新型是通过以下技术方案实现的它包括有固定在管状薄膜外围的圆形定位环，其特征是所述的定位环为一外齿圈，在定位环的内壁安装有导向环，在导向环上通过支架安装有Y射线的测厚仪，在支架上还安装有减速器，在减速器的输出轴端安装有与外齿圈啮合的齿轮。根据上述方案制造的薄膜厚度测厚装置，在使用时，导向环的旋转依靠齿轮与外齿圈的刚性啮合驱动，具有驱动力强、传动可靠、使用寿命长，能保证检测顺利进行。

图I是薄膜厚度测厚装置的结构示意图。其中1、管状薄膜；2、定位环；3、导向环；4、支架；5、Y射线的测厚仪；6、减速器；
7、齿轮。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的描述。图I、是薄膜厚度测厚装置的结构示意图。从图中看出，它包括有固定在管状薄膜I外围的圆形定位环2,所述的定位环2为一外齿圈,在定位环2的内壁安装有导向环3,在导向环3上通过支架4安装有Y射线的测厚仪5，在支架4上还安装有减速器6，在减速器6的输出轴端安装有与定位环2的外齿圈啮合的齿轮7。
权利要求1.薄膜厚度测厚装置，它包括有固定在管状薄膜外围的圆形定位环，其特征是所述的定位环为一外齿圈，在定位环的内壁安装有导向环，在导向环上通过支架安装有Y射线的测厚仪，在支架上还安装有减速器，在减速器的输出轴端安装有与外齿圈啮合的齿轮。
专利摘要本实用新型是薄膜厚度测厚装置。旨在提供一种工作可靠，检测准确的薄膜厚度测厚装置。它包括有固定在管状薄膜外围的圆形定位环，其特征是所述的定位环为一外齿圈，在定位环的内壁安装有导向环，在导向环上通过支架安装有γ射线的测厚仪，在支架上还安装有减速器，在减速器的输出轴端安装有与外齿圈啮合的齿轮。该实用新型在使用时，导向环的旋转依靠齿轮与外齿圈的刚性啮合驱动，具有驱动力强、传动可靠、使用寿命长，能保证检测顺利进行。
文档编号G01B15/02GK202562454SQ20122025732
公开日2012年11月28日 申请日期2012年5月18日 优先权日2012年5月18日
发明者陈大魁, 黄旭生 申请人:浙江众成包装材料股份有限公司