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专利名称：一种x射线衍射仪样品架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种X射线衍射仪样品架。
背景技术：
X射线衍射仪是根据X射线的衍射原理对物质微观结构进行精确分析的仪器，目前已经广泛应用于材料、化工、地质、航空航天等科研领域。样品架是其重要的配件之一。目前X射线衍射仪所能检测的样品为固体粉末和表面平整的固体块状样品。但是现在所用的能对固体块状样品进行固定的样品架是一种利用橡皮泥固定样品的穿透式样品架。这种样品架在测试过程中会由于橡皮泥的弹性变形或由于重力作用产生的塑性变形导致样品下沉或上翘，这样就会导致X射线衍射图谱出现无法解释的未知衍射峰，给实验结果的分析带来很大困难。
发明内容为了克服现有的穿透式样品架的缺陷，本实用新型的目的在于提出一种可以对固体块状样品进行准确和稳定固定的X射线衍射仪样品架。本实用新型提出的X射线衍射仪样品架，由主样品架和副样品架组成，其中主样品架上开有样品孔，主样品架的一面焊接有两个垂直于主样品架的滑轨，所述滑轨位于样品孔两侧；副样品架的一面上设有凸台，所述凸台的长和宽分别比主样品架上样品孔的长和宽小0. Imm ;凸台的两侧设有滑轨孔，副样品架的两端各设有一个垂直于滑轨孔的螺钉孔，螺钉孔一端与滑轨孔相通；使用时，副样品架的凸台朝着主样品架，并且可以进入主样品架的样品孔内，主样品架的滑轨插入副样品架的滑轨孔内，滑轨可以在滑轨孔内自由滑动，在任意位置滑轨都可以通过螺钉孔和定位螺钉固定于滑轨孔内。本实用新型中，所述凸台的厚度与主样品架的厚度相同。本实用新型的有益效果是可以在测试固体块状样品的时候保证样品表面与样品架上平面等高的同时不发生空间位置的变化，保证了测试结果的准确性，操作过程简单。

图I是本实用新型的结构图示。图中标号1为滑轨，2为样品孔，3为凸台，4为滑轨孔，5为螺钉孔，6为定位螺钉。
具体实施方式

以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。实施例I :在图I中两根滑轨I相互平行焊接在主样品架上，并与主样品架平面垂直，且分布于样品孔2两侧。凸台3位于副样品架的一面，两个滑轨孔4分布于凸台3两侧。在副样品架两头各开一个与滑轨孔4相垂直的螺钉孔5，定位螺钉6可以旋入螺钉孔5来固定主样品架和副样品架的相对位置。、[0012]本实用新型的制作方法为在主样品架的一面焊接两个垂直于主样品架的滑轨I。在副样品架的一面加上一个高度与主样品架厚度相同、长和宽分别比主样品架上样品孔2的长和宽小0. Imm的凸台。再将副样品架根据主样品架滑轨I的位置和尺寸开两个滑轨孔4，保证两个滑轨I能顺利穿过这两个滑轨孔4，并可以在其中自由滑动。再在副样品架的两头各打一个垂直于这两个滑轨孔的螺钉孔5。最后根据螺钉孔5的大小配上两颗定位螺钉6。这样，当副样品架通过其上的两个滑轨孔4套在两个滑轨I上时(有凸台3的一面朝向主样品架)就可以保证其与主样品架保持平行，还可以在垂直于主样品架平面的方向 上连续自由地移动。其移动至任意位置都可以通过两端的定位螺钉将其固定。这样就能保证固体块状样品放在上面以后在保证其一面与主样品架上平面等高的同时还能保证样品在测试过程中不会出现空间位置的变化。
权利要求1.一种X射线衍射仪样品架，其特征在于由主样品架和副样品架组成，其中主样品架上开有样品孔，主样品架的一面焊接有两个垂直于主样品架的滑轨，所述滑轨位于样品孔两侧；副样品架的一面上设有凸台，所述凸台的长和宽分别比主样品架上样品孔的长和宽小0. Imm ;凸台的两侧设有滑轨孔，副样品架的两端各设有一个垂直于这滑轨孔的螺钉孔，螺钉孔一端与滑轨孔相通；使用时，副样品架的凸台朝着主样品架，主样品架的滑轨插入副样品架的滑轨孔内，且可在滑轨孔内自由滑动，在任意位置滑轨都可通过螺钉孔和定位螺钉固定于滑轨孔内。
2.根据权利要求I所述的X射线衍射仪样品架，其特征在于所述凸台的厚度与主样品架的厚度相同。
专利摘要本实用新型涉及一种X射线衍射仪样品架。由主样品架和副样品架组成，其中主样品架上开有样品孔，主样品架的一面焊接有两个垂直于主样品架的滑轨，所述滑轨位于样品孔两侧；副样品架的一面上设有凸台，所述凸台的长和宽分别比主样品架上样品孔的长和宽小0.1mm；凸台的两侧设有滑轨孔，副样品架的两端各设有一个垂直于滑轨孔的螺钉孔，螺钉孔一端与滑轨孔相通；使用时，副样品架的凸台朝着主样品架，主样品架的滑轨插入副样品架的滑轨孔内，并且可以在滑轨孔内自由滑动，在任意位置滑轨都可以通过螺钉孔和定位螺钉固定于滑轨孔内。本实用新型测试固体块状样品的时候能保证样品表面与样品架上平面等高的同时不发生空间位置的变化，保证了测试结果的准确性，操作过程简单。
文档编号G01N23/20GK202471624SQ20122000752
公开日2012年10月3日 申请日期2012年1月10日 优先权日2012年1月10日
发明者乐绪波, 王茹 申请人:同济大学