专利名称：用于异形外圈的辅助检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于轴承检测装置技术领域，尤其是一种用于异形外圈的辅助检测装置。
背景技术：
异形外圈的外径端面带有耳环，该耳环是异形轴承安装时的基准端面，异形外圈加工完毕需要检测其内径滚道面相对基准端面的倾斜变动量。不同规格尺寸的异形外圈都需要检测上述倾斜变动量，由于异形外圈结构的特殊性，需要配置相应的辅助检测装置才能完成倾斜变动量的测量。
发明内容为解决上述问题，本实用新型设计了一种用于异形外圈的辅助检测装置，通过该辅助检测装置可以实现不同规格尺寸异形外圈的倾斜变动量的测量，辅助检测装置结构简单，制作方便，成本低廉。为实现上述发明目的，本实用新型采用如下技术方案一种用于异形外圈的辅助检测装置，异形外圈具有安装耳环，所述耳环具有最大外径和安装外径，该辅助检测装置包括基准环和支承块，在基准环上配置数个支承块，数个支承块的结构相同且厚度相等，基准环的外径与所述最大外径匹配，基准环的内径>所述安装外径，基准环厚度=耳环厚度，基准环厚度+支承环厚度>耳环底面到异形外圈底面的高度。由于采用如上所述技术方案，本实用新型产生如下积极效果I、辅助检测装置结构简单，制作方便，成本低廉。2、辅助检测装置满足异形外圈关于倾斜变动量的测量需求。
图I是本实用新型的结构示意图。图I中1_基准环；2-支承块。
具体实施方式
结合图I :本实用新型是一种用于异形外圈的辅助检测装置。需要说明的是异形外圈具有安装耳环，所述耳环具有最大外径和安装外径，还具有耳环厚度，所述安装外径也是除去耳环后的外径。本实用新型的辅助检测装置包括基准环I和支承块2，在基准环I上配置数个支承块2，数个支承块2的结构相同且厚度相等，支承块2在基准环I上至少配置三个，这样才能平稳支承异形外圈。基准环I的外径与所述最大外径匹配，基准环I的内径>所述安装外径，建议基准环I的内径=所述安装外径+260 mm,因为现有异形外圈所述安装外径的最大外径差为260mm，这样一个基准环I就能应付所有规格尺寸的异形外圈。基准环厚度=耳环厚度，基准环厚度+支承环厚度>耳环底面到异形外圈底面的高度。由此可以看出辅助检测装置具有结构简单、制作方便、成本低廉之特点。基准环I可根据最大规格尺寸的异形外圈来制作。测量异形外圈的倾斜变动量时，将基准环I安放在检测平台上，根据异形外圈的耳环尺寸来调节数个支承块2的支承位 置，这样一套辅助检测装置就可以适应不同规格尺寸异形外圈的测量，解决了复杂形状异形外圈的检测问题。
权利要求1.一种用于异形外圈的辅助检测装置，异形外圈具有安装耳环，所述耳环具有最大外径和安装外径，其特征是该辅助检测装置包括基准环(I)和支承块(2)，在基准环(I)上配置数个支承块(2)，数个支承块(2)的结构相同且厚度相等，基准环(I)的外径与所述最大外径匹配，基准环(I)的内径>所述安装外径，基准环厚度=耳环厚度，基准环厚度+支承环厚度〉耳环底面到异形外圈底面的1 度。
专利摘要一种用于异形外圈的辅助检测装置，异形外圈具有安装耳环，所述耳环具有最大外径和安装外径，该辅助检测装置包括基准环(1)和支承块(2)，在基准环上配置数个支承块，数个支承块的结构相同且厚度相等，基准环的外径与所述最大外径匹配，基准环的内径＞所述安装外径，基准环厚度=耳环厚度，基准环厚度+支承环厚度＞耳环底面到异形外圈底面的高度。基准环可根据最大规格尺寸的异形外圈来制作，测量异形外圈的倾斜变动量时，将基准环安放在检测平台上，根据异形外圈的耳环尺寸来调节数个支承块的支承位置，这样一套辅助检测装置就可以适应不同规格尺寸异形外圈的测量，解决了复杂形状异形外圈的检测问题，结构简单，制作方便，成本低廉。
文档编号G01B5/00GK202562395SQ201220127228
公开日2012年11月28日 申请日期2012年3月30日 优先权日2012年3月30日
发明者邓志杰, 常煜璞, 杨世谊, 吕懿, 魏闯 申请人:洛阳轴承研究所有限公司
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