专利名称：发光二极管性能快速测试仪的制作方法
技术领域：
本发明属于发光二极管检测技术领域，是关于一种发光二极管性能快速测试仪。
背景技术：
用于测试发光二极管性能的方法很多，但能够快速检测、且有性能对比的测试装置未见成品面市。对于发光二极管使用量大的生产领域，如果发光二极管不经过认真地检测与筛�。坏┬阅苡形侍饣蚍⒐饨先醯姆⒐舛芎附拥降缏钒迳弦院螅匦路倒げ鸹缓懿环奖悖液苋菀姿鸹档缏钒宓暮概蹋曳浅Ｓ跋焐�。一般测试装置有时需要测量两次，虽然两次测量过程不算复杂，但对于发光二极管使用量较大的工程，如，在制作LED广告或交通指示灯等批量测试就非常浪费时间。本发明所述的发光二极管性能快速测试仪是一个特殊的测试电路，该测试仪不用区分发光二极管的极性即可进行检测，快速判定其性能及其发光亮度情况。发光二极管只要经过一次测量就可得到两个测试结果，比用普通万用表等测试手段有着简单、直观、省时、效率高优点。 以下详细说明本发明所述的发光二极管性能快速测试仪在制作过程中所涉及的有关技术内容。
发明内容
发明目的及有益效果一般测试装置有时需要测量两次，虽然两次测量过程不算复杂，但对于发光二极管使用量较大的工程，如，在制作LED广告或交通指示灯等批量测试就非常浪费时间。本发明所述的发光二极管性能快速测试仪是一个特殊的测试电路，该测试仪不用区分发光二极管的极性即可进行检测，快速判定其性能及发光亮度情况。发光二极管只要经过一次测量就可得到两个测试结果，比用普通万用表等测试手段有着简单、直观、省时、效率高等优点。技术方案发光二极管性能快速测试仪，它包括6V直流电源、低频自激振荡电路、反相器电路、发光二极管测试端子、直流电源指示电路，其特征在于低频自激振荡电路包括运算放大器ICl、电阻R1、电阻R2、电阻R3和电阻R4，运算放大器ICl使用的集成电路型号为LM324，运算放大器ICl的第I脚接发光二极管测试端子A和电阻R3的一端，运算放大器ICl的第2脚接电阻R3的另一端和电阻R4的一端，电阻R4的另一端接运算放大器ICl的第7脚，运算放大器ICl的第3脚接电阻Rl的一端和电阻R2的一端，运算放大器ICl的第4脚和电阻Rl的另一端接6V直流电源正极VCC，运算放大器ICl的第11脚和电阻R2的另一端接电路地GND ；反相器电路由运算放大器IC1、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9和电解电容Cl组成，运算放大器ICl的第6脚接电阻R8的一端、电阻R9的一端，运算放大器ICl的第7脚接电阻R6的一端，电阻R6的另一端接发光二极管测试端子B，电阻R8的另一端接6V直流电源正极VCC，电阻R9的另一端接电路地GND，运算放大器ICl的第5脚接电解电容Cl的正极和电阻R7的一端，运算放大器ICl的第7脚接电阻R7的另一端，电解电容Cl的负极接电路地GND。直流电源指示电路电阻R5的一端接6V直流电源正极VCC，电阻R5的另一端接发光二极管LED的正极，发光二极管LED的负极接电路地GND。电路工作原理发光二极管性能快速测试仪由一路运算放大器接成低频自激振荡器，在输出端间歇地输出高电平或低电平；另一路运算放大器接成反相器形式。当振荡器电路输出高电平时，反相器则输出低电平；低频自激振荡器电路输出低电平时，反相器输出高电平。若在A和B两输出端驳接I支发光二极管，不论驳接发光二极管的极性如何，发光二极管总是随着振荡器电路的振荡频率，使发光二极管间歇地导通发光。直流电源电路中的发光二极管LED为直流电源状态指示，并可作为被检测发光二极管发光亮度的对照。运算放大器ICl选用的型号为LM324或LM358。
附图I是本发明提供一个发光二极管性能快速测试仪的实施例电路工作原理图。
具体实施例方式按照附图I所示发光二极管性能快速测试仪的电路工作原理图和
及以下所述的元器件技术要求进行实施，即可实现本发明。元器件的选择及其技术参数ICl为运算放大器，推荐使用的集成电路型号为LM324或LM358，它是由四组相互独立的运算放大器组成的电路，它可在较宽的单电源电压范围内工作，亦可在双电源条件下工作，电源电压工作范围单电源3V 30V，双电源±1.5V ±15V;本实施例只用了四组运算放大器LM324中的IC1-A、ICl-D两个；LM324型集成电路的封装为双列直插式，其14个引脚和功能分别是I 脚 OUTPUTU2 脚 INPUTl-、3 脚 INPUTl+ ；4 脚接电源的正极 VCC ；5 脚 INPUT 2+、6 脚 INPUT 2_、7 脚 OUTPUT 2 ；8 脚 OUTPUT 3、9 脚 INPUT 3-,10 脚 INPUT3+ ；11 脚接电路地GND，即直流电源的负极；12 脚 INPUT4+U3 脚 INPUT4_、14 脚 0UTPUT4 ；OUTPUT是运算放大器的输出端；INPUT+是运算放大器的正向输入端；INPUT-是运算放大器的反向输入端；电路全部使用1/8金属膜电阻，电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R8和电阻R9的阻值均为50KQ ；电阻R4的阻值为IOK Q ；电阻R5的阻值为IK Q ；电阻R6的阻值为910 Q ；电阻R7的阻值为100KQ ；Cl为电解电容，其容量为Iii F、16V ;AN为常开式按键开关；6V直流电源，可以使用4节5#碱性电池。电路制作要点、电路调试及使用
发光二极管性能快速测试仪的电路只要是使用性能完好的电子元器件，按照附图I所示元器件的连接关系进行焊接，并对物理接线认真核对和检查无误后，电路不需要任何调试即能正常工作；
电解电容Cl用于调整被测发光二极管闪亮的频率，电解电容Cl的容量越大被测发光二极管闪亮的频率越低，电解电容Cl容量的推荐值为1uF;被测发光二极管闪亮的亮度可由调整电阻R6的阻值，若被测发光二极管闪亮的亮度不足，可适当减小电阻R6的阻值试之；发光二极管性能快速测试仪的测试端子A与测试端子B为被测发光二极管驳接端子，使用时被测发光二极管可以不用区分正负极。
权利要求
1.一种发光二极管性能快速测试仪，它包括6V直流电源、低频自激振荡电路、反相器电路、发光二极管测试端子、直流电源指示电路，其特征在于 低频自激振荡电路包括运算放大器ICl、电阻R1、电阻R2、电阻R3和电阻R4，运算放大器ICl使用的集成电路型号为LM324，运算放大器ICl的第I脚接发光二极管测试端子A和电阻R3的一端，运算放大器ICl的第2脚接电阻R3的另一端和电阻R4的一端，电阻R4的另一端接运算放大器ICl的第7脚，运算放大器ICl的第3脚接电阻Rl的一端和电阻R2的一端，运算放大器ICl的第4脚和电阻Rl的另一端接6V直流电源正极VCC，运算放大器ICl的第11脚和电阻R2的另一端接电路地GND ； 反相器电路由运算放大器IC1、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9和电解电容Cl组成，运算放大器ICl的第6脚接电阻R8的一端、电阻R9的一端，运算放大器ICl的第7脚接电阻R6的一端，电阻R6的另一端接发光二极管测试端子B，电阻R8的另一端接6V直流电源正极VCC，电阻R9的另一端接电路地GND，运算放大器ICl的第5脚接电解电容Cl的正极和电阻R7的一端，运算放大器ICl的第7脚接电阻R7的另一端，电解电容Cl的负极接电路地GND。
2.根据权利要求I所述的发光二极管性能快速测试仪，其特征是直流电源指示电路中电阻R5的一端接6V直流电源正极VCC，电阻R5的另一端接发光二极管LED的正极，发光二极管LED的负极接电路地GND。
全文摘要
本发明属于发光二极管技术领域，是关于一种发光二极管性能快速测试仪。该测试仪包括6V直流电源、低频自激振荡电路、反相器电路、发光二极管测试端子、直流电源指示电路，运算放大器IC1使用的集成电路型号为LM324；一般测试装置有时需要测量两次，虽然两次测量过程不算复杂，但对于发光二极管使用量较大的工程，如，在制作LED广告或交通指示灯等批量测试就非常浪费时间。本发明所述的发光二极管性能快速测试仪是一个特殊的测试电路，该测试仪不用区分发光二极管的极性即可进行检测，快速判定其性能及发光亮度情况。发光二极管只要经过一次测量就可得到两个测试结果，比用普通万用表等测试手段有着简单、直观、省时、效率高等优点。
文档编号G01R31/26GK102621467SQ201210081398
公开日2012年8月1日 申请日期2012年3月26日 优先权日2012年3月26日
发明者朱虹 申请人:朱虹
专业数控铣床产品供应商
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