一种x射线异物检测装置及检测方法
【专利摘要】一种X射线异物检测装置，包括射线源、探测器、传送带、上位机、测厚装置及升降机构，射线源和探测器位于传送带的上下方，射线源固定在升降机构上，升降机构安装在X射线异物检测装置的基板上，测厚装置设置在X射线异物检测装置的入口前端，上位机与测厚装置连接，测厚装置测得被测物的厚度参数后上传至上位机，上位机通过计算结果控制升降机构的升降，调整射线源的高度。本发明还公开了一种X射线异物检测方法。本发明的优点在于：通过实时调整射线源的高度，使得系统的分辨率不随着物体的厚度不同发生变化，始终保持最优分辨率，达到准确检测异物的效果。
【专利说明】一种X射线异物检测装置及检测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及到到异物检测【技术领域】，特别是涉及到X光异物检测领域。
【背景技术】
[0002] X光异物检测机工作原理：利用X光对不同物质的穿透特性不同，检测出混在散料 中密度较大的异物，如金属、玻璃、石子等，再通过剔除装置将其剔除。
[0003] 当前X光设备的射线源与探测器位置一般都是固定的，射线源高度基本取决于要 照射的物体宽度，探测器一般在传输带下方，这就导致当不同厚度的物体通过设备，系统的 实际分辨(放大）率在发生变化，无法保证在最优值附近。
【发明内容】
[0004] 本发明的所要解决的技术问题之一在于提供一种保证系统的成像分辨率不随着 物体的厚度不同发生变化的X射线异物检测装置。
[0005] 本发明的所要解决的技术问题之二在于提供一种保证系统的成像分辨率不随着 物体的厚度不同发生变化的X射线异物检测方法。
[0006] 本发明采用以下技术方案解决上述技术问题之一的：一种X射线异物检测装置， 包括射线源、探测器、传送带、上位机，被测物在传送带上传送，所述射线源位于传送带的上 方，探测器位于传送带的下方，接收射线源发送的信号，其改进在于：还包括测厚装置以及 升降机构，所述射线源固定在升降机构上，升降机构安装在X射线异物检测装置的基板上， 所述测厚装置设置在X射线异物检测装置的入口前端，上位机与所述测厚装置及所述升降 机构连接，测厚装置测得被测物的厚度参数后上传至上位机，上位机通过计算结果控制升 降机构的升降，调整射线源的高度。
[0007] 优化的，所述测厚装置采用光幕测量装置，包括彼此相对设置的一组光电发射器 和接收器，光电发射器和接收器固定在传送带支架上，接收器接收光电发射器生成的信号， 得到被测物的厚度。
[0008] 上位机获得被测物厚度参数后，根据以下射线源位置变化计算公式，确定射线源 相对于当前位置的位移：
【权利要求】
1. 一种X射线异物检测装置，包括射线源（10)、探测器、传送带（30)、上位机，被测物 (80)在传送带（30)上传送，所述射线源（10)位于传送带（30)的上方，探测器位于传送带 (30)的下方，接收射线源（10)发送的信号，其特征在于：还包括测厚装置（40)和升降机构 (60 )，所述射线源（10 )固定在升降机构（60 )上，升降机构（60 )安装在X射线异物检测装置 的基板（70)上，所述测厚装置设置在X射线异物检测装置的入口前端，上位机与所述测厚 装置（40 )及所述升降机构（60 )连接，测厚装置（40 )测得被测物（80 )的厚度参数后上传至 上位机，上位机通过计算结果控制所述升降机构（60)的升降，调整射线源（10)的高度。
2. 根据权利要求1所述的一种X射线异物检测装置，其特征在于：所述测厚装置（40) 采用光幕测量装置，包括彼此相对设置的一组光电发射器（42)和接收器（44)，光电发射器 (42 )和接收器（44)固定在传送带支架（32 )上，接收器（44)接收光电发射器（42 )生成的信 号，得到被测物（80)的厚度。
3. 根据权利要求1所述的一种X射线异物检测装置，其特征在于：上位机获得被测物 (80)厚度参数后，根据以下射线源位置变化计算公式，确定射线源（10)相对于当前位置的 位移：
Ma 其中，为被测物（so)的厚度为射线源（1〇)的焦点尺寸，暴为探测器的 b 分辨率。
4. 根据权利要求1所述的一种X射线异物检测装置，其特征在于：所述基板（70)上设 置有使得X射线源（10)生成的X射线光束（12)通过的开口，X射线光束（12)穿过该开口 到达设置在传送带（30)下方的探测器。
5. 根据权利要求1所述的一种X射线异物检测装置，其特征在于：所述升降机构（60) 包括升降板（61)、导向机构（62)、丝杠传动机构（63)和驱动电机（601)，所述升降板（61)的 四角均布导向机构（62)，导向机构（62)使升降板（61)只能上下移动，所述驱动电机（601) 驱动丝杠传动机构（63)，升降板（61)的上下移动由丝杠传动机构（63)实现。
6. 根据权利要求5所述的一种X射线异物检测装置，其特征在于：所述升降机构还包 括第一同步带轮（64)、第一同步带（65)、第二同步带轮（66)、第二同步带（67)、第三同步带 轮（68)，所述丝杠传动机构（63)对称布置在升降板（61)的两侧，每组丝杠传动机构（63) 包括滑动丝杠（632)和螺母（634)，且对称布置的两组滑动丝杠（632)各参数完全一致，所 述升降板（61)的对应滑动丝杠（632)的位置开设有贯穿孔，所述螺母（634)与该贯穿孔同 轴固定在升降板（61)上，所述滑动丝杠（632)的下方固定在止推轴承（636)上，止推轴承 (636)固定在X射线异物检测装置的基板（70)上，驱动电机（601)的输出轴上紧固第一同 步带轮（64)，两个滑动丝杠（632)的下部分别紧固第二同步带轮（66)、第三同步带轮（68)， 第一同步带轮（64)和第二同步带轮（66)之间由第一同步带（65)连接，第二同步带轮（66) 和第三同步带轮（68)之间由第二同步带（67)连接，驱动电机（601)转动，带动第一同步带 轮（64)转动，进而带动第二同步带轮（66)和第三同步带轮（68)转动，从而使动力传送到滑 动丝杠（632)，滑动丝杠（632)的转动带动升降板（61)的升降。
7. -种X射线异物检测方法，其特征在于：包括以下几个步骤： 步骤1、光幕测厚： 测量并存储被测物（80)的厚度参数1，厚度参数Jl测出后，上传至上位机； 步骤2、位置计算： 上位机获得被测物厚度参数ft后，根据以下射线源位置变化计算公式，确定射线源 (10)相对于当前位置的位移：
其中，1为被测物（80)的厚度，Mep =^，_为射线源（I0)的焦点尺寸，蠢为探测器的 O 分辨率； 步骤3、执行定位： 根据步骤2确定的射线源（10)相对于当前位置的位移，调节射线源（10)的位置使之与 上述的位移匹配。
8. 如权利要求7所述的一种X射线异物检测方法，其特征在于：所述步骤1中，被测物 (80)的厚度的测量装置使用测厚装置（40)，所述测厚装置（40)采用光幕测量装置，包括彼 此相对设置的一组光电发射器（42)和接收器（44)，光电发射器（42)和接收器（44)固定在 传送带支架（32)上，接收器（44)接收光电发射器（42)生成的信号，得到被测物（80)的厚 度。
9. 如权利要求7所述的一种X射线异物检测方法，其特征在于：所述步骤3中，射线源 (10)的位置调节通过升降机构（60)实现，所述射线源（10)固定在升降机构（60)上，升降 机构（60)安装在X射线异物检测装置的基板（70)上，上位机通过计算结果控制升降机构 (60)的升降，调整射线源（10)的高度。
10. 如权利要求9所述的一种X射线异物检测方法，其特征在于：所述升降机构（60)包 括升降板（61)、导向机构（62)、丝杠传动机构（63)和驱动电机（601)，所述升降板（61)的四 角均布导向机构（62)，导向机构（62)使升降板（61)只能上下移动，所述驱动电机（601)驱 动丝杠传动机构（63)，升降板（61)的上下移动由丝杠传动机构（63)实现。
【文档编号】G01N23/04GK104458776SQ201410839195
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年12月30日 优先权日:2014年12月30日
【发明者】张凯, 张昔峰 申请人:合肥美亚光电技术股份有限公司
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