专利名称：一种高速adc接口与gpio接口相互测试的方法
—种高速ADC接口与GPIO接口相互测试的方法
技术领域：
本发明涉及一种高速ADC接口与GPIO接口相互测试的方法。
背景技术：
高速ADC接口(HS-ADC)在实际应用中是用来采集高速ADC (模数转换器)转换完的数字数据，在SOC (系统级芯片)功能测试领域，为了验证该�？榈墓δ苁欠裢旰茫杂诓话咚貯DC�？榈腟0C，如果外接高速ADC芯片对该�？榈墓δ芙胁馐裕唤龃蟠笤黾恿瞬馐缘某杀荆蚁喙厝嗽被剐枰ǚ呀隙嗟氖奔涓θサ魇酝饨拥母咚貯DC转换芯片，从很大程度上增加了测试的难度。有鉴于此，本发明人针对现有技术的缺陷深入研究，并有本案产生。
发明内容本发明所要解决的技术问题在于提供一种高速ADC接口与GPIO接口相互测试的方法，该方法减小了测试成本，并增加了测试的可行性。本发明采用以下技术方案解决上述技术问题一种高速ADC接口与GPIO接口相互测试的方法，包括在SOC上，选择8个GPIO口模拟数据线，I个GPIO 口模拟时钟线，第一个时钟的数据为0x01，第二个时钟的数据为0x02,第三个时钟的数据为0x04,第四个时钟的数据为0x08,第五个时钟的数据为0x10,第六个时钟的数据为0x20，第七个时钟的数据为0x40，第八个时钟的数据为0x80，通过GPIO口不断循环的送出 0x1，0x2，0x4，0x8，0x10，0x20，0x40，0x80 这 8 组数据，给 SOC 的 HS-ADC的clkin同时灌clk，在每个时钟的上升沿采集数据；时钟的频率不超过HS-ADC的最高采样频率，按要求采样了 N个字节的数据之后，把数据跟理论上的数据进行对比，来判断该SOC的HS-ADC的功能�？槭欠裾！１痉⒚鞯挠诺阍谟谕ü鼼PIO 口不断循环的送出0x1，0x2, 0x4, 0x8, 0x10, 0x20, Ox40, 0x80这8组数据，给HS-ADC的clkin同时灌clk，在每个时钟的上升沿采集数据。时钟的频率只要不超过HS-ADC的最高采样频率就可以。按要求采样了 N个字节的数据之后，把数据跟理论上的数据进行对比，看是否一样来判断该SOC的HS-ADC的功能模块是否正常。本发明减小了测试成本，并增加了测试的可行性。
下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的描述。图1是本发明的时序图。
具体实施方式在SOC上，通常包含几组的GPI0，可以从中挑选几个GPIO 口模拟高速ADC转换完的数据跟时钟，让HS-ADC接口进行采集。HS-ADC接口因为可以采集8bit/10bit的数据，所以包括10根的数据线跟一根时钟线。由于接口通常使用在Sbit的数据采集情况下，所以本发明以Sbit数据的采集为例进行测试方法的详细说明。在测试过程中，选择8个GPIO 口模拟数据线，I个GPIO 口模拟时钟线。时钟低电平跟高电平交替变换；数据每个时钟内，只有一个数据位为高电平(即“1”)，第一个时钟的数据为0x01,第二个时钟的数据为0x02,第三个时钟的数据为0x04,第四个时钟的数据为0x08,第五个时钟的数据为0x10,第六个时钟的数据为0x20,第七个时钟的数据为0x40,第八个时钟的数据为0x80，然后又从头开始，即0x01，0x02, 0x04, 0x08, 0x10, 0x20, 0x40, Ox80, 0x01, 0x02, 0x04...循环下去。给出这样的数据可以保证每个数据线对于“O”跟“ I”电平采集的正确性，并且可以测试相邻两根数据线是否有短路的情况。具体的时序图如图1所示，通过GPIO 口不断循环的送出0x1，0x2，0x4，0x8，0x10，0x20, 0x40, 0x80这8组数据，给HS-ADC的clkin同时灌clk，在每个时钟的上升沿采集数据。时钟的频率只要不超过HS-ADC的最高采样频率就可以。按要求采样了 N个字节的数据之后，把数据跟理论上的数据进行对比，看是否一样来判断该SOC的HS-ADC的功能�？槭欠裾�。该发明减小了测试成本，并增加了测试的可行性。以上所述仅为本发明的较佳实施用例而已，并非用于限定本发明的保护范图。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换以及改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1. 一种高速ADC接口与GPIO接口相互测试的方法，其特征在于包括在SOC上，选择8个GPIO 口模拟数据线，I个GPIO 口模拟时钟线，第一个时钟的数据为0x01,第二个时钟的数据为0x02,第三个时钟的数据为0x04,第四个时钟的数据为 0x08，第五个时钟的数据为0x10，第六个时钟的数据为0x20，第七个时钟的数据为0x40，第八个时钟的数据为0x80，通过GPIO 口不断循环的送出0x1, 0x2, 0x4, 0x8, 0x10, 0x20, 0x40 ，0x80这8组数据，给SOC的HS-ADC的clkin同时灌clk，在每个时钟的上升沿采集数据； 时钟的频率不超过HS-ADC的最高采样频率，按要求采样了 N个字节的数据之后，把数据跟理论上的数据进行对比，来判断该SOC的HS-ADC的功能�？槭欠裾�。
全文摘要
一种高速ADC接口与GPIO接口相互测试的方法，在SOC上，选择8个GPIO口模拟数据线，1个GPIO口模拟时钟线，通过GPIO口不断循环的送出0x1，0x2，0x4，0x8，0x10，0x20，0x40，0x80这8组数据，给HS-ADC的clkin同时灌clk，在每个时钟的上升沿采集数据。时钟的频率只要不超过HS-ADC的最高采样频率就可以。按要求采样了N个字节的数据之后，把数据跟理论上的数据进行对比，看是否一样来判断该SOC的HS-ADC的功能模块是否正常。本发明减小了测试成本，并增加了测试的可行性。
文档编号G01R31/28GK102998560SQ20121047935
公开日2013年3月27日 申请日期2012年11月22日 优先权日2012年11月22日
发明者陈燕丽, 周敏心 申请人:福州瑞芯微电子有限公司
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