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专利名称：滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法
技术领域：
本发明涉及电子测试与插入损耗测试技术领域，是滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法。
背景技术：
近年来，在电磁兼容领域，对于产品的抗电磁干扰性能要求日益增高，这使得产 品的电磁干扰抑制能力要求也更为严格，而决定其抗电磁干扰能力往往取决于设备外连线缆的滤波能力以及对腔体的屏蔽效能，故此，将屏蔽与滤波融为一身的滤波屏蔽一体化组件展现出了非常优异的性能特点，有着非常广泛的市场前景。但是如何验证ー个滤波屏蔽ー体化组件的插入损耗，还没有一套完整的测试，因此迫切需要ー种滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法来验证滤波屏蔽一体化组件的插入损耗。

发明内容
本发明的目的是提供ー种滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，适用于任何安装在面板、接ロ、隔离腔体端面上的滤波屏蔽一体化组件。本发明的技术方案是滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，它的设备至少包括专用转接板、测试夹、信号源、频谱仪、同轴线缆和屏蔽室，专用转接板与屏蔽室的蒙板搭接固定，并在搭接处加装金属丝网衬垫；信号源设置在屏蔽室外，频谱仪设置在屏蔽室内，同轴线缆将信号源与频谱仪导通，且同轴线缆穿过专用转接板与蒙板；屏蔽室单独接大地；这种滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法按照如下的步骤进行
步骤1，测直通值；信号源发射信号，信号由同轴线缆传递，直接通过屏蔽室墙壁上的转接连接器进行直通测试，即在信号源与频谱仪之间无滤波的情况下，频谱仪测得的值为直通值；
步骤2，测各频点的滤波后接收值；将滤波屏蔽一体化组件固定安装在专用转接板上，搭接处根据实际情况选择是否加装导电衬垫，同轴线缆与滤波屏蔽一体化组件导通；测试夹的芯线夹设置在屏蔽室内，并夹住同轴线缆的回路引线，测试夹的引出夹设置在屏蔽室夕卜，并夹住滤波屏蔽一体化组件的PE地端；设置好后进行测试，信号源发射信号，信号传递经过滤波屏蔽一体化组件后，传至频谱仪，频谱仪测出各频点经过滤波屏蔽一体化组件后的接收值；
步骤3，计算插入损耗；用步骤I得到的直通值减去步骤2得到各频点的滤波后接收值，得出滤波屏蔽一体化组件的插入损耗。所述的专用转接板是根据屏蔽室的蒙板与滤波屏蔽一体化组件制作的转接板。所述的测试夹包括芯线夹和引出夹，它是以N型射频连接器为基座，从中心孔及外皮引出线后，在引线的另一端焊接金属夹制成。所述的信号源是函数信号发生器、调制信号发生器或宽频信号源。所述的频谱仪是满足9KHZ至40GHZ测试频段的标准设备。
所述的同轴线缆是满足9KHZ至40GHZ测试频段的同轴线缆。所述的屏蔽室是电测屏蔽室、屏蔽暗室或半电波暗室。本发明的特点是通过使用直通值减去各频点的滤波后接收值，得出滤波屏蔽一体化组件的插入损耗，该方法精准度高、通用性好。


下面将结合实施例对本发明作进ー步的说明。图I是无滤波屏蔽一体化组件时，滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法的结 构示意图。图2是有滤波屏蔽一体化组件时，滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法的结构示意图。图3是测试夹结构示意图。图中1、专用转接板；2、测试夹；3、信号源；4、频谱仪；5、同轴线缆；6、屏蔽室；7、滤波屏蔽一体化组件；8、蒙板。
具体实施例方式实施例I
滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，它的设备至少包括专用转接板I、测试夹
2、信号源3、频谱仪4、同轴线缆5和屏蔽室6，专用转接板I与屏蔽室6的蒙板8搭接固定，并在搭接处加装金属丝网衬垫；信号源3设置在屏蔽室6タト，频谱仪4设置在屏蔽室6内，同轴线缆5将信号源3与频谱仪4导通，且同轴线缆5穿过专用转接板I与蒙板8 ;屏蔽室6单独接大地。实施例2
滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，它的设备至少包括专用转接板I、测试夹
2、信号源3、频谱仪4、同轴线缆5和屏蔽室6。如图I所示，屏蔽室6是电测屏蔽室、屏蔽暗室或半电波暗室，屏蔽室6单独接大地。屏蔽室6的设置是为了完全隔离输入、输出信号，使得到的测试结果真实。专用转接板I是根据屏蔽室6的蒙板8与滤波屏蔽一体化组件7制作的转接板，专用转接板I与屏蔽室6的蒙板8搭接固定，并在搭接处加装金属丝网衬垫。通过此连接方式有效地将滤波屏蔽一体化组件与屏蔽室(6)组成ー个整体，完成插入损耗测试。信号源3是函数信号发生器、调制信号发生器或宽频信号源，设置在屏蔽室6外。频谱仪4是满足9KHZ至40GHZ测试频段的标准设备，设置在屏蔽室6内。同轴线缆5穿过专用转接板1，将屏蔽室6内、外侧的信号源3与频谱仪4导通。同轴线缆采用满足9KHZ至40GHZ测试频段的低损耗同轴线缆。设置好以上各部件后，进行插入损耗的测试，这种滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法按照如下的步骤进行
步骤I，测直通值；信号源3发射信号，信号由同轴线缆5传递，直接通过屏蔽室6墙壁上的转接连接器进行直通测试，即在信号源3与频谱仪4之间无滤波的情况下，频谱仪4测得的值为直通值。步骤2，如图2所示，测各频点的滤波后接收值；将滤波屏蔽一体化组件7固定安装在专用转接板I上，搭接处根据实际情况选择是否加装导电衬垫，同轴线缆5与滤波屏蔽一体化组件7导通；测试夹2的芯线夹设置在屏蔽室6内，并夹住同轴线缆5的回路引线，测试夹2的引出夹设置在屏蔽室6タト，并夹住滤波屏蔽一体化组件7的PE地端；设置好后进行测试，信号源3发射信号，信号传递经过滤波屏蔽一体化组件7后，传至频谱仪4，频谱仪4测出各频点经过滤波屏蔽一体化组件7后的接收值。如图3所示，测试夹2包括芯线夹和引出夹，它是以N型射频连接器为基座，从中心孔及外皮引出线后，在引线的另一端焊接金属夹制成。 步骤3，计算插入损耗；用步骤I得到的直通值减去步骤2得到各频点的滤波后接收值，得出滤波屏蔽一体化组件7的插入损耗。这种滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法通过使用直通值减去各频点的滤波后接收值，得出滤波屏蔽一体化组件7的插入损耗，该方法精准度高、通用性好。本实施例没有详细叙述的部件和结构属本行业的公知部件和常用结构或常用手段，这里不一一叙述。
权利要求
1.滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，它的设备至少包括专用转接板(I)、测试夹(2)、信号源(3)、频谱仪(4)、同轴线缆(5)和屏蔽室(6)，专用转接板(I)与屏蔽室(6)的蒙板(8)搭接固定，并在搭接处加装金属丝网衬垫；信号源(3)设置在屏蔽室(6)外，频谱仪(4)设置在屏蔽室(6)内，同轴线缆(5)将信号源(3)与频谱仪(4)导通，且同轴线缆(5)穿过专用转接板(I)与蒙板(8);屏蔽室(6)单独接大地；这种滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法按照如下的步骤进行 步骤1，测直通值；信号源(3)发射信号，信号由同轴线缆(5)传递，直接通过屏蔽室(6)墙壁上的转接连接器进行直通测试，即在信号源(3)与频谱仪(4)之间无滤波的情况下，频谱仪(4)测得的值为直通值； 步骤2，测各频点的滤波后接收值；将滤波屏蔽一体化组件(7)固定安装在专用转接板(I)上，搭接处根据实际情况选择是否加装导电衬垫，同轴线缆(5)与滤波屏蔽一体化组件(7)导通；测试夹(2)的芯线夹设置在屏蔽室(6)内，并夹住同轴线缆(5)的回路引线，测试夹(2)的引出夹设置在屏蔽室(6)外，并夹住滤波屏蔽一体化组件(7)的PE地端；设置好后进行测试，信号源(3)发射信号，信号传递经过滤波屏蔽一体化组件(7)后，传至频谱仪(4)，频谱仪(4)测出各频点经过滤波屏蔽一体化组件(7)后的接收值； 步骤3，计算插入损耗；用步骤I得到的直通值减去步骤2得到各频点的滤波后接收值，得出滤波屏蔽一体化组件(7)的插入损耗。
2.根据权利要求I中所述的滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，其特征是所述的专用转接板(I)是根据屏蔽室(6)的蒙板(8)与滤波屏蔽一体化组件(7)制作的转接板。
3.根据权利要求I中所述的滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，其特征是所述的测试夹(2)包括芯线夹和引出夹，它是以N型射频连接器为基座，从中心孔及外皮引出线后，在引线的另一端焊接金属夹制成。
4.根据权利要求I中所述的滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，其特征是所述的信号源(3)是函数信号发生器、调制信号发生器或宽频信号源。
5.根据权利要求I中所述的滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，其特征是所述的频谱仪(4)是满足9KHZ至40GHZ测试频段的标准设备。
6.根据权利要求I中所述的滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，其特征是所述的同轴线缆(5)是满足9KHZ至40GHZ测试频段的同轴线缆。
7.根据权利要求I中所述的滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，其特征是所述的屏蔽室(6)是电测屏蔽室、屏蔽暗室或半电波暗室。
全文摘要
本发明涉及电子测试与插入损耗测试技术领域，是滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法。滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法，它的设备至少包括专用转接板、测试夹、信号源、频谱仪、同轴线缆和屏蔽室，专用转接板与屏蔽室的蒙板搭接固定，并在搭接处加装金属丝网衬垫；信号源设置在屏蔽室外，频谱仪设置在屏蔽室内，同轴线缆将信号源与频谱仪导通，且同轴线缆穿过专用转接板与蒙板；屏蔽室单独接大地；并按照测直通值、测各频点的滤波后接收值和计算插入损耗三个步骤进行。该方法通过使用直通值减去各频点的滤波后接收值，得出滤波屏蔽一体化组件的插入损耗，精准度高、通用性好。
文档编号G01R27/26GK102955073SQ201210412628
公开日2013年3月6日 申请日期2012年10月25日 优先权日2012年10月25日
发明者宋博 申请人:西安开容电子技术有限责任公司