亚星游戏官网-www.yaxin868.com

专利名称：一种表面贴装电容器的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型有关于电容器的测试装置，尤其涉及对表面贴装电容器的测试装置。
背景技术：
现今，电信设备和计算机外设等高端电子产品的功能越来越强，然而它们的尺寸和重量却在不断缩减，这是通过元器件和系统基底的集成化和小型化才能得以实现。在这种情形下，SOC技术应运而生。SOC(System On Chip)技术即系统单芯片技术，是将一个完整的电子系统集成在单一的芯片上，以达到提高系统集成度及稳定性，将低成本的目的。实现SOC技术的关键除了不断的提高芯片的集成度以外，如何将某些外围电路也集成在一起也是一个重要的技术难点。SMT就是解决外围电路集成的一个工艺的方案。SMT(Surface Mount Technology)即表面贴装技术，具有组装密度高、电子产品体积小、重量轻、可靠性高、抗振能力强、高频特性好等特点。同样的，由于SMT技术的这些特点，对于SMT产品的测试技术就显得尤为重要。
而现行的SMT测试技术如AOI(Automated OpticalInspection)，ICT(In-Circuit Test)，AXI(Automated X-ray Inspection)等无一例外的需要大型的，昂贵的设备。这些设备对于在基片上的简单的分立元件来说实在是显得大材小用。不论是从成本还是效率上考虑都显得不太合适。
实用新型内容因此，本实用新型的目的即在于提供一种表面贴装电容器的测试装置，该装置可以对表面贴装置元件中的电容器进行测试，其具有结构简单，成本低廉的优点。
根据上述目的，本实用新型提供的表面贴装电容器的测试装置包括RC振荡电路，包括电阻器和555门电路，其中，将待测电容构成该RC振荡电路中的电容器；脉冲计数器，与所述RC振荡电路相边，对RC振荡电路产生的振荡脉冲进行计数；基准值存储器，存储有待测电容器的基准值；和比较器，与所述脉冲计数器与所述基准值存储器相连，将所述脉冲计数器的计数值与所述基准存储器的基准值进行比较，并输出比较结果。
如上所述的表面贴装电容器的测试装置，所述脉冲数器、所述基准值存储器和所述比较器用单片机来实现。
如上所述的表面贴装电容器的测试装置，所述基准值存储器存储了待测电容器电容值容许范围内的上限值和下限值。
如上所述的表面贴装电容器的测试装置，还包括两个发光色不同的发光二极管，与所述比较器相连；如果所述比较器的比较结果是所述脉冲计数器的计数值超出此上限值和下限值的范围，则所述比较器驱动与之相连的两个发光二极管之一发光；如果所述比较器的比较结果是所述脉冲计数器的计数值在此上限值和下限值的范围内，则所述比较器驱动与之相连的两个发光二极管之另一发光。
如上所述，本实用新型具有电路结构简单，制成本低廉的优点，克服了目前大型设备的高成本。


图1是本实用新型的表面贴装电容器的测试装置的方框图；图2是图1中的RC振荡电路的电路图；图3是图1中的脉冲计数器、基准值存储器和比较器的电路图。
具体实施方式
请参见图1，图1示出了本实用新型的表面贴装电容器的测试装置的方框图。如图1所示，本实用新型的表面贴装电容器的测试装置包括RC振荡电路10、脉冲计数器20、基准值存储顺30和比较器。
RC振荡电路10可以采用标准的RC振荡电路，该振荡电路10的振荡频率由电路中的电阻器和电容器的值决定。在本实用新型中，把待测电容器作为RC振荡电路10的一部分，如此，通过检测出该RC振荡电路10产生的振荡频率即可得出该待测电容器的电容值。
图2示出了图1中的RC振荡电路10的一个具体电路图。如图2所示，该RC振荡电路由一个NE555门电路U3和电容器C和电阻器R构成。待测电容器CN与电容器C并联，共同构成影响RC振荡电路振荡频率的因素。其振荡周期T＝0.7R(C+CN)，振荡信号由门电路U3的脚3输出，集成电路U2(型号为4013)接收该振荡信号，其输出端脚1在该振荡信号的一个周期T内输出一定数量的脉冲信号P。
再回到图1所示，脉冲计数器20与RC振荡电路10相连接，用于对RC振荡电路10产生的脉冲信号P进行计数。
基准值存储器30存储有待测电容器的基准值。例如，要求待测电容器CN所对应的脉冲数为1000个，同时，允许其容许范围为正负1％，则在基准值存储器30中存储有1010脉冲数作为上限值，990脉冲数作为下限值。
比较器40分别与脉冲计数器20和基准值存储器30相连，将两者的数值进行比较，并输出比较结果。如果脉冲计数器20的计数值超出了基准值存储器30中存储的上、下限值，则表示待测电容器CN的电容值不正确，比较器40输出表示电容值不正确的信号；如果脉冲计数器20的计数值在基准值存储器30中存储的上、下限值内，则表示待测电容器CN的电容值正确，比较器40输出表示电容值正确的信号。
图3示出了图1中的脉冲计数器20、基准值存储器30和比较器40的具体电路图。在本实施例中，主要由单片机通过编程来实现这些部件的上述功能。单片机U1接收RC振荡电路10输出的脉冲信号P，并计数，然后将该计数值与基准值存储器中存储的基准上限值和基准下限值进行如上的比较。比较的结果，例如表示电容值正确的信号和表示电容值不正确的信号可以输出到其它设备，例如显示设备或者型号为SMART-1 Open/Short Tester(一个表面贴装元件的断路/短路测试机)中，进行处理。在本实施例中，也可以设置简单的显示元件，例如，可以分别设置一个红色发光二极管和一个绿色发光二极管。如果比较器的比较结果是脉冲计数器的计数值超出基准上限值和下限值的范围，则比较器驱动与之相连的红色发光二极管发光；如果比较器的比较结果是脉冲计数器的计数值在此基准上限值和下限值的范围内，则比较器驱动与之相连的绿色发光二极管发光。当然这里的红色发光二极管和绿色发光二极管是人为规定的，也可以根据实际需要和使用习惯改用其它颜色的发光二极管。
以上以一个具体的实施例详细描述了本实用新型的表面贴装电容器的测试装置。但应当理解，上述的描述只是一个具体的实施例而已。本领域技术人员，根据本实用新型的上述构思，可以作出多种变化，例如，RC振荡电路也可以有许多其它的电路形式；脉冲计数器、比较器等也可以采用分立元件实现，而这些变化利用目前的已有技术都是可以实现的。因此，本实用新型的保护范围不应受此具体实施例的限制。
权利要求1.一种表面贴装电容器的测试装置，包括RC振荡电路，包括电阻器和555门电路，其中，将待测电容构成该RC振荡电路中的电容器；脉冲计数器，与所述RC振荡电路相边，对RC振荡电路产生的振荡脉冲进行计数；基准值存储器，存储有待测电容器的基准值；和比较器，与所述脉冲计数器与所述基准值存储器相连，将所述脉冲计数器的计数值与所述基准存储器的基准值进行比较，并输出比较结果。
2.如权利要求1所述的表面贴装电容器的测试装置，其特征在于，所述脉冲数器、所述基准值存储器和所述比较器用单片机来实现。
3.如权利要求1或2所述的表面贴装电容器的测试装置，其特征在于，所述基准值存储器存储了待测电容器电容值容许范围内的上限值和下限值。
4.如权利要求3所述的表面贴装电容器的测试装置，其特征在于，还包括两个发光色不同的发光二极管，与所述比较器相连；如果所述比较器的比较结果是所述脉冲计数器的计数值超出此上限值和下限值的范围，则所述比较器驱动与之相连的两个发光二极管之一发光；如果所述比较器的比较结果是所述脉冲计数器的计数值在此上限值和下限值的范围内，则所述比较器驱动与之相连的两个发光二极管之另一发光。
专利摘要本实用新型涉及一种表面贴装电容器的测试装置。传统的表面贴装电容器的测试采用大型设备来进行，对于这类简单的分立元件的测试来说，显得大材小用，成本较高。本实用新型提供一种表面贴装电容器的测试装置包括RC振荡电路，包括电阻器和555门电路，其中，将待测电容构成该RC振荡电路中的电容器；脉冲计数器，与所述RC振荡电路相边，对RC振荡电路产生的振荡脉冲进行计数；基准值存储器，存储有待测电容器的基准值；和比较器，与所述脉冲计数器与所述基准值存储器相连，将所述脉冲计数器的计数值与所述基准存储器的基准值进行比较，并输出比较结果。
文档编号G01R27/26GK2706770SQ200420019700
公开日2005年6月29日 申请日期2004年1月19日 优先权日2004年1月19日
发明者郑忠林 申请人:威宇科技测试封装有限公司