专利名称：抗干扰微压检测方法
抗干扰微压检测方法技术领域
本发明属于微压检测技术领域，具体涉及一种抗干扰微压检测方法，特别适用于无专门的检测环境条件下的各种规格密封器件的微压检测。
背景技术：
微压检测是工程建设中必须进行的关键工序，其是指其检测压力在50-500 范围之间，不仅低于环境压力，而且低于当地气压变化的一种检测方法。目前国内的检测方法一般采用的是充压(高于环境气压)或者真空检测，但限于设备和环境条件，工厂无法提供满足要求的充压或真空测试环境。同时随着科学技术的发展，某些特定专用的密封器件也需要采用微压检测，同时微压检测对检测环境要求比较高，对受温度变化很敏感，即使是一个人走过，也能产生约300 的数值影响。因此理想状态是能在真空环境下检测，但这对检测技术和环境要求太高，这使微压检测很受局限性，无法广泛应用。发明内容
本发明所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种抗干扰微压检测方法，它能够解决无专门检测环境条件下的密封器件微压检测难题，不用专门修建真空检测室，不用严格控制温度，不用限制人员走动和噪声等，利用现有的检测条件，在各种不利于微压检测的环境条件下即完成密封器件的微压检测。
本发明所采用的技术方案是一种抗干扰微压检测方法，具体步骤如下1)配备模拟件，其为一满足检测要求的密闭容器；2)向模拟件充入检测压力(Pa)，并保压到要求的时间(h)，记录保压过程的变化；3)向被检件充入检测压力(Pa)，打开阀门与模拟件连通，等两边压力平衡后，到达检测压力(Pa)，开始保压到要求的时间(h)，并记录保压过程的变化；4)比较模拟件的变化记录与被检件的变化记录，得出检测结果。
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本发明的有益效果在于本发明利用预先配备的满足检测要求的模拟件与被检件进行对比达到检测的目的，本检测方法适应性强，操作简单可靠，抗干扰能力强，环境和设备要求低，检测数据真实可靠，具有良好的应用前景，可方便的扩展到各种规格密封器件的微压检测。
图1为本发明检测示意图。
具体实施方式
下面将结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细说明。
如图1所示，一种抗干扰微压检测方法，具体步骤如下1)配备模拟件，其为一满足检测要求的密闭容器，为保证检测结果的准确性，所述模拟件与被检件外部环境一致；2)向模拟件充入检测压力(Pa)，并保压到要求的时间(h)，记录保压过程的变化；3)向被检件充入检测压力(Pa)，打开阀门与模拟件连通，等两边压力平衡后，到达检测压力(Pa)，开始保压到要求的时间(h)，并记录保压过程的变化；4)比较模拟件的变化记录与被检件的变化记录，得出检测结果。
在一定时间范围内，被检件的变化规律与模拟件的变化基本一致或差别较小(在检测误差范围内)，则判定为合格，否则，视为不合格。见表1 表权利要求
1.一种抗干扰微压检测方法，其特征在于具体步骤如下1)配备模拟件，其为一满足检测要求的密闭容器；2)向模拟件充入检测压力(Pa)，并保压到要求的时间(h)，记录保压过程的变化；3)向被检件充入检测压力(Pa)，打开阀门与模拟件连通，等两边压力平衡后，到达检测压力(Pa)，开始保压到要求的时间(h)，并记录保压过程的变化；4)比较模拟件的变化记录与被检件的变化记录，得出检测结果。
2.根据权利要求1所述的抗干扰微压检测方法，其特征在于所述模拟件与被检件外部环境一致。
全文摘要
本发明公开一种抗干扰微压检测方法，利用一满足检测要求的模拟件来辅助判定被检件是否满足检测要求。本发明的检测方法适应性强，操作简单可靠，抗干扰能力强，环境和设备要求低，检测数据真实可靠，具有良好的应用前景，可方便的扩展到各种规格密封器件的微压检测。
文档编号G01M3/32GK102507113SQ20111031106
公开日2012年6月20日 申请日期2011年10月14日 优先权日2011年10月14日
发明者兰秀建, 王荣, 程爱国, 罗传光, 黄华政 申请人:中国航天科技集团公司长征机械厂
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