专利名称：移动电源放电电流检测方法及系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及到电源检测技术领域，特别涉及到移动电源放电电流检测方法及系统。
背景技术：
移动电源的放电电流检测，主要是对移动电源的空载进行检测,要求检测电路能够准确的检测出移动电源在空载时的电流点电压。目前，移动电源的放电电流检测主要有以下两种方式一种是利用高精度的ADC (Analog to Digital Converter,模数变换器)的MCU来检测检流电阻的电压，但是这种检测方式对ADC精度要求相当的高，要想检测准确就要求ADC具有非常高的检测精度，增加了硬件成本；另一种是通过运放电路来放大检流电阻上的电压，再利用普通精度ADC的MCU来进行检测，但是增加运放电路同样会增加硬件成本。
发明内容
本发明的主要目的为提供一种降低硬件成本、确保检测精度的移动电源放电电流检测方法及系统。本发明提出一种移动电源放电电流检测方法，包括步骤升压集成芯片获得所述升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压；模数变换器获得所述调制电压对应的采样电压；当微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理。优选地，所述升压集成芯片获得所述升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压的步骤之前还包括所述升压集成芯片获得所述驱动脉冲宽度/频率调制端的空载调制电压；所述模数变换器获得所述空载调制电压对应的空载电压；所述微处理器将所述空载电压确定为空载电压阈值。优选地，所述当微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理的步骤具体包括当所述微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值时，累计所述采样电压小于空载电压阈值的次数；当所述微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值的次数大于空载次数阈值时，进行空载保护处理。优选地，所述调制电压与所述升压集成芯片的放电电流对应。本发明还提出一种移动电源放电电流检测系统，包括升压集成芯片，用于获得所述升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压；模数变换器，用于获得所述调制电压对应的采样电压；
微处理器，用于当判定所述采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理。优选地，所述升压集成芯片具体用于，获得所述驱动脉冲宽度/频率调制端空载调制电压；所述模数变换器具体用于，获得所述空载调制电压对应的空载电压；所述微处理器具体用于，将所述空载电压确定为空载电压阈值。优选地，所述微处理器具体用于当判定所述采样电压小于空载电压阈值时，累计所述采样电压小于空载电压阈值的次数； 当判定所述采样电压小于空载电压阈值的次数大于空载次数阈值时，进行空载保护处理。优选地，所述调制电压与所述升压集成芯片的放电电流对应。本发明克服了高精度ADC的要求，避免了放大电路的增加，仅采用普通精度或低精度的ADC即可实现对放电电流的监测，有利于简化电路，降低硬件成本。
图I为本发明移动电源放电电流检测方法的第一实施例的流程图；图2为本发明移动电源放电电流检测方法的第二实施例的流程图；图3为本发明移动电源放电电流检测方法的第三实施例的流程图；图4为本发明移动电源放电电流检测系统的结构示意图。本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施例方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。如图I所示，图I为本发明移动电源放电电流检测方法的第一实施例的流程图。本实施例提到的移动电源放电电流检测方法，包括步骤S10，升压集成芯片获得升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压；本实施例中，由于升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端在空载和有负载时，驱动脉冲宽度/频率调制端上的调制电压变化相当明显，可以直接反应出升压集成芯片的放电电流，即调制电压与升压集成芯片的放电电流存在对应关系，利用普通精度的ADC的MCU就可对调制电压对应的采样电压进行采样，无需采用高精度的ADC或增加运放电路，即可实现对移动电源的放电电流的检测。步骤S20，模数变换器获得调制电压对应的采样电压；本实施例可采用简单的滤波电路将调制电压转换为采样电压值，并由普通精度或低精度的ADC的MCU的AD管脚获得该采样电压，从而克服了高精度ADC的要求，避免了放大电路的增加。步骤S30，当微处理器判定采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理。由于带负载的正常放电电流范围应大于空载电压阈值，因此可采用空载电压阈值对采样电压的下限进行监控，空载电压阈值可通过预设的方式输入微处理器，或通过预先的空载实验进行检测，将检测值作为阈值输入微处理器。本实施例并不直接对检流电阻的电压值进行检测，而是采用间接的方式，将升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压转换为采样电压值进行检测，该调制电压可直 接反应出升压集成芯片的放电电流，从而克服了高精度ADC的要求，避免了放大电路的增加，仅采用普通精度或低精度的ADC即可实现对放电电流的监测，有利于简化电路，降低硬件成本。如图2所示，图2为本发明移动电源放电电流检测方法的第二实施例的流程图。本实施例在图I所示实施例的基础上增加了确定空载电压阈值的步骤。步骤SlO之前还包括步骤S41，升压集成芯片获得驱动脉冲宽度/频率调制端的空载调制电压；步骤S42，模数变换器获得空载调制电压对应的空载电压；步骤S43，微处理器将空载电压确定为空载电压阈值。本实施例同样采用升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端获得在移动电源空载的情况下的空载调制电压，并利用简单的滤波电路可将其转换为采样电压值，并由普通精度或低精度的ADC的MCU的AD管脚获得该采样电压，作为空载电压阈值。由于本实施例对空载电压阈值的确定方式与对放电电流检测方式一致，因此，此处的空载电压阈值更适用于本发明所提及的放电电流检测方式，检测精度得到有效提高。如图3所示，图3为本发明移动电源放电电流检测方法的第三实施例的流程图。本实施例在图I所示实施例的基础上增加了累计空载次数的步骤。步骤S30具体包括步骤S31，当微处理器判定采样电压小于空载电压阈值时，累计采样电压小于空载电压阈值的次数；步骤S32，当微处理器判定采样电压小于空载电压阈值的次数大于空载次数阈值时，进行空载保护处理。本实施例对空载次数进行累计，当累计的空载次数大于空载次数阈值时，才正式确定为空载状况发生，并进行空载保护处理，有效避免了检测误差或误报警。如图4所示，图4为本发明移动电源放电电流检测系统的结构示意图。本实施例提到的移动电源放电电流检测系统，包括升压集成芯片10，用于获得升压集成芯片10的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压；模数变换器20，用于获得调制电压对应的采样电压；微处理器30，用于当判定采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理。本实施例中，由于升压集成芯片10的驱动脉冲宽度/频率调制端在空载时和有负载时，驱动脉冲宽度/频率调制端上的调制电压变化相当明显，可以直接反应出升压集成芯片10的放电电流，即调制电压与升压集成芯片10的放电电流存在对应关系，利用普通精度的ADC 20的MCU就可对调制电压对应的采样电压直接进行检测，无需采用高精度的ADC 20或增加运放电路，即可实现对移动电源的放电电流的检测。本实施例可采用简单的滤波电路将调制电压转换为采样电压值，并由普通精度或低精度的ADC 20的MCU的AD管脚获得该采样电压，从而克服了高精度ADC 20的要求，避免了放大电路的增加。由于带负载的正常放电电流范围应大于空载电压阈值，因此可采用空载电压阈值对采样电压的下限进行监控，空载电压阈值可通过预设的方式输入微处理器30，或通过预先的空载实验进行检测，将检测值作为阈值输入微处理器30。本实施例并不直接对检流电阻的电压值进行检测，而是采用间接的方式，将升压集成芯片10的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压转换为采样电压值进行检测，该调制电压可直接反应出升压集成芯片的放电电流，从而克服了高精度ADC 20的要求，避免了放大电路的增加，仅采用普通精度或低精度的ADC 20即可实现对放电电流的监测，有利于简化电路，降低硬件成本。本发明实施例中，升压集 成芯片10具体用于，获得驱动脉冲宽度/频率调制端的空载调制电压；模数变换器20具体用于，获得空载调制电压对应的空载电压；微处理器30具体用于，将空载电压确定为空载电压阈值。本实施例同样采用升压集成芯片10的驱动脉冲宽度/频率调制端获得在移动电源空载的情况下的空载调制电压，并利用简单的滤波电路可将其转换为采样电压值，并由普通精度或低精度的ADC 20的MCU的AD管脚获得该采样电压值，作为空载电压阈值。由于本实施例对空载电压阈值的确定方式与对放电电流检测方式一致，因此，此处的空载电压阈值更适用于本发明所提及的放电电流检测方式，检测精度得到有效提高。本发明实施例中，微处理器30具体用于当判定采样电压小于空载电压阈值时，累计采样电压小于空载电压阈值的次数；当判定采样电压小于空载电压阈值的次数大于空载次数阈值时，进行空载保护处理。本实施例对空载次数进行累计，当累计的空载次数大于空载次数阈值时，才正式确定为空载状况发生，并进行空载保护处理，有效避免了检测误差或误报警。以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种移动电源放电电流检测方法，其特征在于，包括步骤 升压集成芯片获得所述升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压； 模数变换器获得所述调制电压对应的采样电压； 当微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理。
2.根据权利要求I所述的移动电源放电电流检测方法，其特征在于，所述升压集成芯片获得所述升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压的步骤之前还包括 所述升压集成芯片获得所述驱动脉冲宽度/频率调制端的空载调制电压； 所述模数变换器获得所述空载调制电压对应的空载电压； 所述微处理器将所述空载电压确定为空载电压阈值。
3.根据权利要求2所述的移动电源放电电流检测方法，其特征在于，所述当微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理的步骤具体包括 当所述微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值时，累计所述采样电压小于空载电压阈值的次数； 当所述微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值的次数大于空载次数阈值时，进行空载保护处理。
4.根据权利要求I至3任一项所述的移动电源放电电流检测方法，其特征在于，所述调制电压与所述升压集成芯片的放电电流对应。
5.一种移动电源放电电流检测系统，其特征在于，包括 升压集成芯片，用于获得所述升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压； 模数变换器，用于获得所述调制电压对应的采样电压； 微处理器，用于当判定所述采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理。
6.根据权利要求5所述的移动电源放电电流检测系统，其特征在于，所述升压集成芯片具体用于，获得所述驱动脉冲宽度/频率调制端空载调制电压； 所述模数变换器具体用于，获得所述空载调制电压对应的空载电压； 所述微处理器具体用于，将所述空载电压确定为空载电压阈值。
7.根据权利要求6所述的移动电源放电电流检测系统，其特征在于，所述微处理器具体用于 当判定所述采样电压小于空载电压阈值时，累计所述采样电压小于空载电压阈值的次数； 当判定所述采样电压小于空载电压阈值的次数大于空载次数阈值时，进行空载保护处理。
8.根据权利要求5至7任一项所述的移动电源放电电流检测系统，其特征在于，所述调制电压与所述升压集成芯片的放电电流对应。
全文摘要
本发明公开了一种移动电源放电电流检测方法和系统，其方法包括步骤升压集成芯片获得所述升压集成芯片的驱动脉冲宽度/频率调制端的调制电压；模数变换器获得所述调制电压对应的采样电压；当微处理器判定所述采样电压小于空载电压阈值时，进行空载保护处理。本发明克服了高精度ADC的要求，避免了放大电路的增加，仅采用普通精度或低精度的ADC即可实现对放电电流的监测，有利于简化电路，降低硬件成本。
文档编号G01R31/40GK102955067SQ20121041005
公开日2013年3月6日 申请日期2012年10月24日 优先权日2012年10月24日
发明者封毅 申请人:深圳市沛城电子科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
