专利名称：用于检测内径的塞规的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及塞规技术领域，具体讲是一种用于检测内径的塞规。
背景技术：
用于检测内径的塞规是批量检测孔径的量具，一般为两个圆头，一头称为通规，是孔径的下偏差，另一头称为止规，是孔径的上偏差，在检测孔径时，通规能塞进去而止规塞不进去，则此孔径是合格的，就是在公差范围之内的，否则就是不合格的，而上述用于检测内径的塞规检测部长期以来均为圆柱状，未见其他结构，圆柱状的塞规检测量程较窄。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是，提供一种检测部为非圆柱状，检测量程较宽的 用于检测内径的塞规。本实用新型的技术方案是，本实用新型用于检测内径的塞规，它包括本体，本体一端设有用于检测内径的检测部，该检测部为球面。本实用新型的工作原理是，当检测内径时，例如将塞规垂直放置，带有孔的环、筒等工件水平放置，孔朝上，将球面伸入孔中用于检测内径，球面进入孔内的程度会根据内径偏小、偏大情况不同，若内径偏�。蚯蛎娼肟啄诘某潭刃。慈嫦陆档母叨刃。裟诰镀螅蚯蛎娼肟啄诘某潭却螅慈嫦陆档母叨却螅庋嫦陆档母叨却笮【湍芄换裰诰兜氖挡獯笮。佣肜砺勰诰抖员壤磁卸细檬挡獯笮〉哪诰妒欠窈细瘢捎谇蛎姹渚冻潭却螅沟萌婕觳饬砍探峡恚芄皇视糜诮闲〉哪诰都觳猓彩视糜诮洗蟮哪诰都觳�。采用上述结构后，本实用新型与现有技术相比，具有以下优点结合上述技术方案和工作原理可知，本实用新型检测部为非圆柱状，具有检测量程较宽的优点。作为改进，所述球面为半圆球球面，这样设计更为合理，且便于生产，降低生产成本。
图I是本实用新型用于检测内径的塞规的结构示意图。图中所示，I、本体,2、检测部。
具体实施方式
下面结合图I对本实用新型作进一步说明。本实用新型用于检测内径的塞规，它包括本体1，本体I 一端设有用于检测内径的检测部2，该检测部2为球面。所述球面为半圆球球面。
权利要求1.一种用于检测内径的塞规，它包括本体(1)，其特征在于，本体(I) 一端设有用于检测内径的检测部(2 )，该检测部(2 )为球面。
2.根据权利要求I所述的用于检测内径的塞规，其特征在于，所述球面为半圆球球面。
专利摘要本实用新型公开了一种检测部为非圆柱状，检测量程较宽的用于检测内径的塞规，它包括本体(1)，本体(1)一端设有用于检测内径的检测部(2)，该检测部(2)为球面。
文档编号G01B5/12GK202747954SQ20122040045
公开日2013年2月20日 申请日期2012年8月13日 优先权日2012年8月13日
发明者邬国平, 王圈库 申请人:宁波伏尔肯机械密封件制造有限公司
专业数控铣床产品供应商
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