专利名称：一种偏光片贴附精度测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及液晶面板质量检测器具技术领域，特别涉及一种偏光片贴附精度
测量装置。
背景技术：
在液晶面板生产过程中，偏光片贴附工艺完成后，需要测量贴附在液晶面板上的偏光片贴附精度。如图1所示，贴附精度指的是偏光片20边缘与液晶面板10边缘的距离，一般需要测量Al、A2、A3和A4共4个点位，而液晶面板的两侧都需要贴附偏光片，因此，测量一个液晶面板上的偏光片的贴附精度一般需要测量8个点位。目前，通常使用目镜测量偏光片的贴附精度，通常情况下，每个液晶面板需要测量8个点位，若是贴附精度出现波动时，则要求对32个点位测量，工作量比较大，效率低；而且采用目镜测量时，由于目镜本身精度限制及人为因素引起读数误差较大，不能很好的对偏光片的贴附精度进行管控。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供了一种方便快捷地、精确地测量偏光片贴附精度的偏光片贴附精度测量装置。为了实现上述目的，本实用新型提供以下技术方案一种偏光片贴附精度测量装置，包括测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量�？椋黄渲校龌峁沟牡枷蚍较蛴胨霾饬科教ǖ某け呋蚨瘫咂叫校凰龀叽绮饬磕？榘ɑ芭湓谒龌峁股系幕柚糜谒龌暇哂锌缮焖醪饬刻礁说亩潦蹋柚糜谒龌退霾饬科教ㄖ淝椅挥谒霾饬刻礁讼路降暮穸鹊髡椋黄渲校龊穸鹊髡榈纳隙嗣嬗胨霾饬科教ǖ纳隙嗣嫫叫校⒏叱鏊霾饬科教ǖ纳隙嗣妫宜龊穸鹊髡榈纳隙嗣嬗胨霾饬科教ǖ纳隙嗣嬷涞母叨炔钚∮诨虻扔诖庖壕姘逯衅馄暮穸龋凰霾饬刻礁说纳焖醴较虼怪庇谒霾饬科教ê退龊穸鹊髡槲恢孟喽缘亩嗣妫磺以谑狈较蛏希霾饬刻礁擞胨霾饬科教ǖ纳隙嗣嬷涞木嗬胄∮诖庖壕姘宓暮穸�。优选地，所述滑动结构包括凹槽本体和位于所述凹槽本体底部的滑轨。进一步地，所述滑动结构还包括设置于所述凹槽本体的侧壁，与所述滑轨平行的滑槽孔；所述尺寸测量�？榭煽赏ü荻ず退龌劭坠潭ㄔ谒龌焐稀Ｓ叛〉兀龌峁褂胨霾饬科教ㄎ惶寤峁�。优选地，所述滑动结构数量为两个，且位置相邻。较佳地，每一个所述滑动结构上设置有两个所述尺寸测量�？椤0016]优选地，所述测量探杆下方对应的所述厚度调整块的上端面设置有凹槽，且所述凹槽的长度方向与所述测量探杆长度方向平行。较佳地，所述厚度调整块的第二端面具有两个长轴方向垂直所述测量平台上端面的椭圆形孔，所述厚度调整块通过螺钉和所述两个椭圆形孔固定在所述基座上，并可调整所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间高度差。较佳地，所述厚度调整块的上端面相对于所述测量平台的上端面高出一个待测偏光片的厚度。优选地，上述读数盘为数显千分表或数显百分表。本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置在使用时，首先调整厚度调整块相对于测量平台上端面的高度，使厚度调整�？榈纳隙嗣娓叱霾饬科教ǖ纳隙嗣妫液穸鹊髡？榈纳隙嗣嬗氩饬科教ǖ纳隙嗣嬷涓叨炔钚∮诨虻扔诖庖壕姘逯衅馄暮穸龋叛〉兀穸鹊髡？榈纳隙嗣嬗氩饬科教ǖ纳隙嗣嬷涞母叨炔钗庖壕姘迳咸降钠馄暮穸龋蝗缓蟮髡饬刻礁说那岸嗣嬗牒穸鹊髡榈那岸嗣嫫狡耄簿褪呛穸鹊髡橛氩饬科教ㄏ喽缘亩嗣妫潦坦榱悖蛔詈蠼衅馄囊壕姘迤椒旁诓饬科教ㄉ希酵埔壕姘逑虺叽绲髡？橐贫币壕姘宓谋咴涤攵潦痰牟饬刻礁私哟ズ螅贫饬刻酵芬贫敝疗馄牒穸鹊髡榈那岸嗣娼哟ィ耸保寥「鞲龆潦躺舷允镜氖担佣竦闷馄谝壕姘迳系奶骄�。从上述技术方案可知，本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置较之背景技术中使用的目镜，可明显减小因目镜本身精度和人为因素引起的读数误差，提高测量偏光片在液晶面板上的贴附精度；同时，本偏光片贴附精度测量装置一次测试可获得至少两个点位的偏光片贴附精度，方便快捷，提高了测量效率；因此，本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置能够方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。
图1为现有技术中测量偏光片贴附精度的点位分布图；图2为本实用新型实施例提供的偏光片贴附精度测量装置的结构示意图；图3为图2中尺寸测量�？榈慕峁故疽馔迹煌�4为图2中滑动结构的侧视图；图5为图2中测量探杆与测量平台的位置关系图；图6为本实用新型实施例提供的偏光片贴附精度测量装置的测量原理示意图。
具体实施方式
本实用新型提供了一种偏光片贴附精度测量装置，包括测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块。因每一个尺寸测量�？椴捎酶呔鹊亩潦蹋褂酶闷馄骄炔饬孔爸貌饬渴保芄痪返牟饬科馄谝壕姘迳系奶骄龋蹦芄徊饬慷喔龅阄唬虼耍臼涤眯滦吞峁┑钠馄骄炔饬孔爸媚芄环奖憧旖莸�、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。为了使本领域技术人员更好的理解本实用新型的技术方案，下面结合说明书附图对本实用新型实施例进行详细的描述。首先申明，上文中提到的以及下文中即将提到的“上端面”、“前端面”、“底面”等词语仅仅是针对图2、图3、图4所示方位而言的，其作用仅仅是为描述方便，没有特指含义。如图2、图3、图4所示，本实用新型实施例提供的偏光片贴附精度测量装置，包括测量平台100，位于测量平台100周边的至少一个滑动结构200，以及滑动装配在每一个滑动结构200上的至少一个尺寸测量�？�300 ;其中，滑动结构200的导向方向与测量平台100的长边或短边平行；尺寸测量�？�300包括滑动装配在滑动结构200上的基座310，设置于基座310上具有可伸缩测量探杆321的读数盘320，设置于基座310和测量平台100之间且位于测量探杆321下方的厚度调整块330 ;其中，厚度调整块330的上端面与测量平台100的上端面平行，并高出测量平台100的上端面，且厚度调整块330的上端面与测量平台100的上端面之间的高度差小于或等于待测偏光片的厚度；测量探杆321的伸缩方向垂直于测量平台100和厚度调整块330位置相对的端面；且在竖直方向上，测量探杆321与测量平台100的上端面之间的距离小于待测液晶面板的厚度。具体地，根据目前测量偏光片贴附精度的需要，一般需要测量8个点位的偏光片贴附精度，也就是说，单面需要测量4个点位的偏光片贴附精度，因此，在本实施例中，滑动结构200数量为两个，且位置相邻，也就是说，两个滑动结构200设置测量平台100相邻的两个边缘，并且互相垂直；在每一个滑动结构200上设置有两个尺寸测量�？�300，即可一次性测量4个点位的偏光片贴附精度。上述基座310具有导向槽311，将尺寸测量模块300安装在滑动结构200上，即将导向槽311滑动装配在滑动结构200上。采用读数盘320作为尺寸测量�？�300中的尺寸量测单元，包括测量探杆321，测量探杆321沿垂直厚度调整块330的前端面方向伸缩；测量探杆321伸缩移动时，相应的在读数盘320上显示伸缩的位移，具体为本领域技术人员所熟知，该读数盘320可以是数显千分表或数显百分表，能实现精确测量即可，这里就不详细描述了。继续参见图3，读数盘320固定在基座310上，通过位于基座310底面上的螺钉将读数盘320固定在基座310上(图中未画出)，同时为了增加读数盘320在基座310上的稳定性，通过挡板312和挡板313锁紧读数盘320 ;其中，挡板312具有螺钉孔和圆弧形缺口 ；挡板313具有椭圆形螺孔和圆弧形缺口，可以调整挡板313与读数盘320侧面的间隙。如图5、图6所示，本实用新型实施例提供的偏光片贴附精度测量装置在使用时，首先调整厚度调整块330相对于测量平台100上端面的高度，使厚度调整块330的上端面高出测量平台100的上端面，且厚度调整块330的上端面与测量平台100的上端面之间高度差小于或等于待测偏光片的厚度；然后调整测量探杆321前端面与厚度调整块330的前端面平齐，这里所说的厚度调整块330的前端面是厚度调整块330与测量平台位置相对的端面，并将读数盘320归零；最后将待测液晶面板平放在测量平台100上，平推待测液晶面板向尺寸调整�？�300移动，当液晶面板与读数盘的测量探杆321接触后，推动测量探杆321移动，直至偏光片与厚度调整�？�330的前端面接触，此时，读取各个读数盘320上显示的数值，从而获得偏光片在液晶面板上的贴附精度。从上述技术方案可知，本实用新型实施例提供的偏光片贴附精度测量装置较之背景技术中使用的目镜，可明显减小因目镜本身精度和人为因素引起的读数误差，提高测量偏光片在液晶面板上的贴附精度；同时，本偏光片贴附精度测量装置一次测试可获得至少两个点位的偏光片贴附精度，方便快捷，提高了测量效率；因此，本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置能够方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。参见图2、图4，优选地，上述滑动结构200包括凹槽本体和位于所述凹槽本体底部的滑轨。尺寸测量�？�300滑动装配在滑轨上，即尺寸测量�？�300可以沿着滑轨伸展方向移动，从而可以测量偏光片任意点位的贴附精度。进一步地,如图4所示,上述滑动结构200还包括设置于凹槽本体的侧壁上与所述滑轨平行的滑槽孔210 ;尺寸测量�？�300可通过螺钉、滑槽孔210以及设置在基座310上的螺钉孔314固定在滑轨上任意位置，如此可以测量偏光片固定点位的贴附精度。为了简化上述偏光片贴附精度测量装置，优选地，上述滑动结构与测量平台100为一体化结构。优选地，321测量探杆下方对应的厚度调整块330的上端面设置有凹槽331，且凹槽331的长度方向与测量探杆321长度方向平行。较佳地，厚度调整块330的第二端面具有两个长轴方向垂直测量平台100上端面的椭圆形孔332，厚度调整块330通过螺丝和两个椭圆形孔332固定在基座310上，并可调整厚度调整�？�330的上端面与测量平台100的上端面之间高度差；从而使上述偏光片贴附精度测量装置能够测量多种厚度的偏光片，也可根据偏光片的厚度调整调整厚度调整块330的上端面与测量平台100的上端面之间高度差，提高测量效率。较佳地，厚度调整块330的上端面相对于测量平台100的上端面高出一个偏光片的厚度。为了便于测量和增加测量的准确性，在满足测量探杆321与测量平台100的上端面之间的距离小于待测液晶面板和偏光片的厚度之和的情况下，较佳地，测量探杆321与测量平台100的上端面之间的垂直距离为测量探杆321前端面直径的二分之一。综上所述，本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置较之背景技术中使用的目镜，可明显减小因目镜本身精度和人为因素引起的读数误差，提高测量偏光片在液晶面板上的贴附精度；同时，本偏光片贴附精度测量装置一次测试可获得多个点位的偏光片贴附精度，方便快捷，提高了测量效率；因此，本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置能够方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求1.一种偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，包括测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量�？�;其中， 所述尺寸测量模块包括滑动装配在所述滑动结构上的基座，设置于所述基座上具有可伸缩测量探杆的读数盘，设置于所述基座和所述测量平台之间且位于所述测量探杆下方的厚度调整块；其中， 所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面平行，并高出所述测量平台的上端面，且所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间的高度差小于或等于待测偏光片的厚度； 所述测量探杆的伸缩方向垂直于所述测量平台和所述厚度调整块位置相对的端面；且在竖直方向上，所述测量探杆与所述测量平台的上端面之间的距离小于待测液晶面板的厚度。
2.如权利要求1所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述滑动结构包括凹槽本体和位于所述凹槽本体底部的滑轨。
3.如权利要求2所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述滑动结构还包括设置于所述凹槽本体的侧壁，与所述滑轨平行的滑槽孔；所述尺寸测量�？榭赏ü荻ず退龌劭坠潭ㄔ谒龌焐�。
4.如权利要求1-3任一所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述滑动结构与所述测量平台为一体化结构。
5.如权利要求4所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述滑动结构数量为两个,且位置相邻。
6.如权利要求5所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，每一个所述滑动结构上设置有两个所述尺寸测量�？�。
7.如权利要求1所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述测量探杆下方对应的所述厚度调整块的上端面设置有凹槽，且所述凹槽的长度方向与所述测量探杆长度方向平行。
8.如权利要求7所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述厚度调整块的第二端面具有两个长轴方向垂直所述测量平台上端面的椭圆形孔，所述厚度调整块通过螺钉和所述两个椭圆形孔固定在所述基座上，并可调整所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间高度差。
9.如权利要求8所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述厚度调整块的上端面相对于所述测量平台的上端面高出一个待测偏光片的厚度。
10.如权利要求1所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述读数盘为数显千分表或数显百分表。
专利摘要本实用新型涉及液晶面板质量检测器具技术领域，特别涉及一种偏光片贴附精度测量装置，用于方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。本实用新型公开了一种偏光片贴附精度测量装置，包括测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量�？椤Ｊ褂帽臼涤眯滦吞峁┑钠馄骄炔饬孔爸茫擅飨约跣∫蚰烤当旧砭群腿宋蛩匾鸬亩潦蟛睿岣卟饬科馄谝壕姘迳系奶骄龋煌保酒馄骄炔饬孔爸靡淮尾馐钥苫竦弥辽倭礁龅阄坏钠馄骄龋奖憧旖荩岣吡瞬饬啃�。
文档编号G01B5/02GK202853534SQ20122054822
公开日2013年4月3日 申请日期2012年10月24日 优先权日2012年10月24日
发明者赵寅初, 公伟刚, 许安龙 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 合肥京东方光电科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
