专利名称：一种带材厚度测量装置的制作方法
技术领域：
本发明属于带材生 产技术领域，更具体地说，是涉及一种带材厚度测量装置。
背景技术：
现有技术中，对高精度带材进行厚度测量的方法，为接触式测量和非接触式脉冲涡流测量，接触式测量由于机械机构复杂，测量距离受限，仅能在带材边沿部位进行单点测量，对于较宽的带材，不能有效的反应整个宽度的带材厚度，以此同时，通过现有的装置进行测量，测量时需要接触到带材表面才能测量，这样，如果操作人员操作不当，会在带材表面造成划伤亮线等异常现象，从而不能满足对高精度带材产品的生产要求。非接触脉冲涡流测量由于其采用涡流测量原理，对铁元素特别敏感，测量铁含量高的产品，误差较大，不能有效的反应带材真实厚度，造成产品公差问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种能够提高带材厚度测量数据准确性，避免对带材表面造成磨损的带材厚度测量装置。要解决以上所述的技术问题，本发明采取的技术方案为本发明为一种带材厚度测量装置，所述的带材厚度测量装置包括装置本体，装置本体上设置延伸出装置本体的伸出杆I和伸出杆II，所述的伸出杆I和伸出杆II上分别设置X射线接收装置和X射线发射装置，带材设置为从伸出杆I和伸出杆II之间穿过的结构，所述的X射线接收装置和X射线发射装置分别与X射线控制开关连接，所述的装置本体与显示带材厚度信息的信号处理计算机连接。所述的装置本体与变频电机连接，变频电机上设置多个通过变频电机驱动的滚轮，滚轮卡装在基座上的滚道内，变频电机转动时，装置本体设置为通过滚轮带动沿滚道方向移动的结构，变频电机与电机控制开关连接。所述伸出杆I和伸出杆II设置为平行布置的结构，伸出杆I和伸出杆II均设置为平行布置的结构，X射线发射装置为X射线管，X射线接收装置为电离室，X射线发射装置为金属陶瓷式射线管，X射线接收装置内灌充惰性气体，所述的装置本体内设置测量变换器。所述的X射线接收装置设置为位于X射线发射装置正上方的结构，所述的长方体状的基座设置为与带材运行方向垂直的结构。所述的滚道包括两道，分别为滚道I和滚道II，滚道I和滚道II内各卡装两个滚轮，滚道I内的每个滚轮分别通过连接杆与滚道II内的一个滚轮连接，变频电机通过皮带与连接杆上的连接齿连接。采用本发明的技术方案，能得到以下的有益效果本发明的带材厚度测量装置，可以对任意宽度的带材进行厚度测量工作，且可以对带材表面的任何位置的厚度进行测量，能够方便，真实地反映出带材的厚度；本发明的带材厚度测量装置，测量时，厚度测量装置避免与带材表面进行接触，不会给带材表面造成划伤及売线等缺陷，从而保证了闻精度带材的表面质量，提闻了带材广品的档次。
下面对本说明书各附图所表达的内容及图中的标记作出简要的说明图I为本发明所述的带材厚度测量装置的结构示意图；图2为图I所述的带材厚度测量装置的局部放大结构示意图；图3为图I所述的带材厚度测量装置的A— A面的剖视结构示意图；图中标记为1、装置本体；2、伸出杆I ;3、伸出杆II ;4、X射线接收装置；5、X射线发射装置；6、X射线控制开关；7、变频电机；8、滚轮；9、基座；10、滚道；11、电机控制开关；12、滚道I ;13、滚道II ;14、连接杆；15、皮带；16、电离室；17、测量变换器；18、信号处理计 算机；19、X射线。
具体实施例方式下面对照附图，通过对实施例的描述，对本发明的具体实施方式
如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理等作进一步的详细说明如附图I——附图3所示，本发明为一种带材厚度测量装置，所述的带材厚度测量装置包括装置本体1，装置本体I上设置延伸出装置本体I的伸出杆I 2和伸出杆II 3，伸出杆I 2和伸出杆II 3上分别设置X射线接收装置4和X射线发射装置5，带材6设置为从伸出杆I 2和伸出杆II 3之间穿过的结构，X射线接收装置4和X射线发射装置5分别与X射线控制开关6连接，所述的装置本体I与显示带材厚度信息的信号处理计算机18连接。所述的装置本体I与变频电机7连接，变频电机7上设置多个通过变频电机7驱动的滚轮8，滚轮8卡装在基座9上的滚道10内，变频电机7转动时，装置本体I设置为通过滚轮8带动沿滚道10方向移动的结构，变频电机7与电机控制开关11连接。所述的伸出杆I 2和伸出杆II 3设置为平行布置的结构，伸出杆I 2和伸出杆II 3均设置为平行布置的结构，所述的X射线发射装置5为X射线管，X射线接收装置4为电离室，X射线发射装置5为金属陶瓷式射线管，X射线接收装置4内灌充惰性气体，所述的装置本体I内设置测量变换器17。所述的X射线接收装置4设置为位于X射线发射装置5正上方的结构，所述的长方体状的基座9设置为与带材6运行方向垂直的结构。所述的滚道10包括两道，分别为滚道I 12和滚道II 13，滚道I 12和滚道II 13内各卡装两个滚轮8，滚道I 12内的每个滚轮8分别通过连接杆14与滚道II 13内的一个滚轮8连接，变频电机7通过皮带15与连接杆14上的连接齿16连接。本发明的带材厚度测量装置，其工作原理如下所述本发明的装置，是根据X射线19的透射原理工作的。测量时，X射线发射装置5发射出X射线19透过带材6。在被测带材6另一面的X射线接收装置4测量X射线19的强度。本发明中，将电离室16作为检测器，当X射线19穿过带材6时，带材6本身会吸收一些X射线19。剩下的，即未被带材6吸收的X射线19到达检测器。检测器测量这些辐射的强度，并产生电离电流Im，而电离电流Im是与带材6的厚度成比例的。电离电流Im在测量变换器17内转换成数字信号，测量变换器17设置在装置本体I内。然后，此信号传送到测量装置的信号处理计算机18内。信号处理计算机18输出表示带材6厚度的信息，此信息即为带材6的具体厚度数据。本发明所述的测量装置中，带材6厚度测量的公式为1m= Io*e-u*s其中Im:穿过带材后的射线强度。；Io :穿过带材前的射线强度； u :带材的吸收系数；s :被测板带厚度；e 自然对数的底数，近视等于2. 718281828。本发明的测量装置，具体测量过程如下所述本发明所述的测量装置，电离室16采用高灵敏度探测材料制造，电离室16内部灌充惰性气体，从而使得电离室16可以精确检测到纳安级电流。在本发明的测量装置中，采用的X射线管为高压固定式，即X射线发射时的强度(即穿过带材6前的)做为已知量固定不变，带材的吸收系数u对于带材6来来说是已知的，只有穿过带材6前的X射线强度Io和s及被测带材6厚度是变量，而通过检测穿过带材6后的射线强度10，即可根据前述公式计算出带材的厚度S。由于X射线在工作中稳定可靠，操作方便，不受温度、环境等影响，所以在测量过程中厚度稳定可靠，为带材的加工提供真实的厚度数据，保障了高精度带材的生产公差，与此同时，在整个测量过程中，无论是测量装置还是操作人员，都不会接触到带材表面，所以不会对带材表面的质量产生影响。本发明的带材厚度测量装置，可以对任意宽度的带材进行厚度测量工作，且可以对带材表面的任何位置的厚度进行测量，能够方便，真实地反映出带材的厚度；本发明的带材厚度测量装置，测量时，厚度测量装置避免与带材表面进行接触，不会给带材表面造成划伤及売线等缺陷，从而保证了闻精度带材的表面质量，提闻了带材广品的档次。上面结合附图对本发明进行了示例性的描述，显然本发明具体的实现并不受上述方式的限制，只要采用了本发明的方法构思和技术方案进行的各种改进，或未经改进将本发明的构思和技术方案直接应用于其他场合的，均在本发明的保护范围内。
权利要求
1.一种带材厚度测量装置，其特征在于所述的带材厚度测量装置包括装置本体(I)，装置本体(I)上设置延伸出装置本体(I)的伸出杆I (2)和伸出杆II (3)，所述的伸出杆I(2)和伸出杆II (3)上分别设置X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5)，带材(6)设置为从伸出杆I (2)和伸出杆II (3)之间穿过的结构，所述的X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5)分别与X射线控制开关(6)连接，所述的装置本体(I)与显示带材厚度信息的信号处理计算机(18)连接。
2.根据权利要求I所述的带材厚度测量装置，其特征在于所述的装置本体(I)与变频电机(7 )连接，变频电机(7 )上设置多个通过变频电机(7 )驱动的滚轮(8 )，滚轮(8 )卡装在基座(9)上的滚道(10)内，变频电机(7)转动时，装置本体(I)设置为通过滚轮(8)带动沿滚道(10)方向移动的结构，变频电机(7)与电机控制开关(11)连接。
3.根据权利要求I或2所述的带材厚度测量装置，其特征在于所述的伸出杆I(2)和伸出杆II (3)设置为平行布置的结构，伸出杆I (2)和伸出杆II (3)均设置为平行布置的结 构，所述的X射线发射装置(5)为X射线管，X射线接收装置(4)为电离室(16)，X射线发射装置(5)为金属陶瓷式射线管，X射线接收装置(4)内灌充惰性气体，所述的装置本体(I)内设置测量变换器(17)。
4.根据权利要求3所述的带材厚度测量装置，其特征在于所述的X射线接收装置(4)设置为位于X射线发射装置(5)正上方的结构，所述的长方体状的基座(9)设置为与带材(6)运行方向垂直的结构。
5.根据权利要求4所述的带材厚度测量装置，其特征在于所述的滚道(10)包括两道，分别为滚道I (12)和滚道II (13)，滚道I (12)和滚道II (13)内各卡装两个滚轮(8)，滚道I (12)内的每个滚轮(8)分别通过连接杆(14)与滚道II (13)内的一个滚轮(8)连接，变频电机(7 )通过皮带(15 )与连接杆(14 )上的连接齿(16 )连接。
全文摘要
本发明提供一种应用于带材生产技术领域的带材厚度测量装置，所述的带材厚度测量装置的装置本体(1)上设置延伸出装置本体(1)的伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)，伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)上分别设置X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5)，带材(6)设置为从伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)之间穿过的结构，X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5)分别与X射线控制开关(6)连接，装置本体(1)与显示带材厚度信息的信号处理计算机(18)连接。本发明的带材厚度测量装置，可以对任意宽度的带材进行厚度测量工作，同时不会给带材表面造成划伤及亮线等缺陷。
文档编号G01B15/02GK102749049SQ201210239908
公开日2012年10月24日 申请日期2012年7月12日 优先权日2012年7月12日
发明者刘建新, 孙红刚, 汤昌东, 胡兵, 莫云龙 申请人:安徽精诚铜业股份有限公司
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