专利名称：测试设备及其测试方法
技术领域：
本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试设备及其测试方法。
背景技术：
LED (Light Emitting Diode,发光二极管)是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，由于其具有寿命长、光效高、无辐射与低功耗等特点，常被用于各种现代电子设计与系统中，以提供影像显示与状态显示的功能。在很多电子设备中，通常LED不是单个的存在，而是大量有规律的结合，例如以矩阵的形式，然而这种存在形式增加了在生产过程中对其的测试难度。现有技术中，对LED灯矩阵的测试通常采用目测方式进行测试，但这种测试方式·存在以下缺点I.容易受到人眼疲劳等人为因素影响，造成漏检或误测；2.需要专人对其进行测试，成本较高且效率较低。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种测试设备及其测试方法，能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是提供一种测试设备，用于测试LED灯矩阵，该测试设备包括上位机、信号转换装置以及信号反馈装置。上位机用于产生系统控制信号；信号转换装置与上位机连接，用于从上位机接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号，该多路TTL电平信号用于对LED灯矩阵进行测试；信号反馈装置与上位机连接，用于测量LED灯矩阵中的电流值，并将测量结果反馈至上位机，其中，上位机还用于在获取到测量结果后，根据测量结果判断LED灯矩阵测试是否通过。其中，信号转换装置包括信号转换模块和信号驱动�？�。信号转换�？橥ü齍SB总线与上位机连接，用于从上位机接收系统控制信号，以及将系统控制信号转换为I2C信号；信号驱动�？橥ü齀2C总线与信号转换�？榱樱糜诖有藕抛荒？榻邮誌2C信号，以及根据I2C信号输出多路TTL电平信号。其中，LED灯矩阵与信号驱动�？樾纬苫芈罚有藕徘？榻邮斩嗦稵TL电平信号，以驱动LED灯矩阵。其中，信号驱动�？榫哂行惺涑隹刂坪土惺涑隹刂疲惺涑隹刂朴糜谇疞ED灯矩阵的行，列输出控制用于驱动LED灯矩阵的列。其中，LED灯矩阵为多个，信号驱动�？槲喔觯藕徘？橛隠ED灯矩阵一一对应，多个信号驱动�？椴⒘贗2C总线上。其中，信号转换�？槲猆SB总线转接芯片。其中，信号驱动�？槲狶ED灯矩阵驱动芯片。其中，信号反馈装置为程控电源，程控电源通过通用接口总线与上位机连接。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是提供一种测试设备的测试方法。该测试方法包括产生系统控制信号；接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号；利用多路TTL电平信号对LED灯矩阵进行测试；测量LED灯矩阵中的电流值；根据测量结果判断LED灯矩阵测试是否通过。其中，接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号的步骤具体为接收系统控制信号，将系统控制信号转换为I2C信号；接收I2C信号，根据I2C信号输出多路TTL电平信号。本发明的测试设备及其测试方法通过将上位机发出的系统控制信号转换为多路TTL电平信号，多路TTL电平信号驱动LED灯矩阵以进行测试，根据测试时LED灯矩阵中的电流值来判断LED灯矩阵测试是否通过，相比现有技术中采用人工目测而言，能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中图I是本发明测试设备第一实施例的结构示意图；图2是本发明测试设备第二实施例的结构示意图；图3是本发明测试设备第三实施例的结构示意图；图4是图3所示的测试设备的LED灯矩阵驱动芯片与LED灯矩阵的连接示意图；图5是本发明测试设备的测试方法实施例的流程示意图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。请参阅图1，图I是本发明测试设备第一实施例的结构示意图。该测试设备包括上位机101、信号转换装置102以及信号反馈装置103。在本实施例中，上位机101优选为计算机，上位机101用于产生系统控制信号，并传输至信号转换装置102 ;信号转换装置102与上位机101连接，用于从上位机101接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号，多路TTL电平信号用于对LED灯矩阵(图未示)进行测试；信号反馈装置103与上位机101连接，用于测量LED灯矩阵中的电流值，并将结果反馈至上位机101，其中，上位机101还用于在获取到测量结果后，根据测量结果判断LED灯矩阵测试是否通过。具体而言，上位机101接收测试人员的输入而产生系统控制信号，信号转换装置102接收系统控制信号，将系统控制信号转换为可驱动LED灯矩阵显示的多路TTL电平信号，通过多路TTL电平信号中的O或I时序控制LED灯矩阵中的相应LED灯的亮与灭，信号反馈装置103测量LED灯矩阵中的相应LED灯流过电流的电流值，并将电流值反馈至上位机101，上位机101根据电流值的大小判断相应LED灯是否有故障，例如，测试人员在上位机101上向某一个LED灯发出点亮命令 ，相应地，信号转换装置102向该LED灯发出高电平，正常情况下，该LED灯点亮并流过电流，但是信号反馈装置103在该LED灯上测量到电流值为零或很�。衔换�101则根据该电流值判断该LED灯测试不通过，并将判断结果显示给测试人员。LED灯矩阵中所有的LED灯测试完毕后，就能判断LED灯矩阵测试是否通过。在本实施例中，信号转换装置102与上位机101可通过例如RS-232等串口通信接口或者USB(UniversalSerial BUS,通用串行总线)连接,本发明对此不作限定。本实施例的测试设备通过信号转换装置102将上位机101产生的系统控制信号转换为可驱动LED灯矩阵的多路TTL电平信号以对其进行测试，并根据测试所得的电流值来判断LED灯矩阵测试是否通过，而不需要人为判断，因此能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。请参阅图2，图2是本发明测试设备第二实施例的结构示意图。该测试设备包括上位机201、信号转换装置202以及信号反馈装置203，其中，信号转换装置202包括信号转换�？�2021和信号驱动模块2022。其中，上位机201和信号反馈装置203与上一实施例的上位机101和信号反馈装置103具有相同的技术特征，此处不再赘述。信号转换�？�2021通过USB总线与上位机201连接，用于从上位机201接收系统控制信号，并将系统控制信号转换为I2C信号。信号驱动�？�2022通过I2C总线与信号转换�？�2021连接，用于从信号转换�？�2021接收I2C信号，以及根据I2C信号输出多路TTL电平信号。多路TTL电平信号用于对LED灯矩阵(图未示)进行测试。I2C (Inter-Integrated Circuit)总线是一种两线式串行总线,用于连接控制器及其外围设备，是微电子通信控制领域广泛采用的一种总线标准，是同步通信的一种特殊形式，具有接口线少，控制简单，器件封装形式小以及通信速率高等优点。在本实施例中，LED灯矩阵与信号驱动�？�2022形成回路，从信号驱动模块2022接收多路TTL电平信号，以驱动LED灯矩阵，具体而言，信号驱动�？�2022具有行输出控制和列输出控制，行输出控制与LED灯矩阵的行一一对应，用于驱动LED灯矩阵的行，列输出控制与LED灯矩阵的列一一对应，用于驱动LED灯矩阵的列。当LED灯矩阵为多个时，信号驱动�？�2022也为多个，且与LED灯矩阵——对应，此时多个信号驱动�？�2022并联于I2C总线上，当然，当一个LED灯矩阵较大，一个信号驱动�？�2022无法驱动LED灯矩阵中所有的LED灯时，还可并联多个信号驱动�？�2022以将LED灯矩阵分割为多个部分分别进行驱动。下面结合图2介绍本实施例的测试设备测试LED灯矩阵的工作过程。上位机201接收测试人员的输入产生系统控制信号，信号转换�？�2021通过USB通信协议接收系统控制信号，并将系统控制信号转换为I2C信号，信号驱动�？�2022通过I2C通信协议接收I2C信号并输出多路TTL电平信号，由于LED灯矩阵与信号驱动�？�2022形成回路，信号驱动�？�2022的行输出控制和列输出控制分别对应控制LED灯矩阵的行和列，以此可以控制LED灯矩阵中每一个LED灯的亮和灭，信号反馈装置203测量通过LED灯矩阵中的相应LED灯流过的电流值，并将电流值的结果反馈至上位机201，上位机201根据所有LED灯上电流值的大小来判断LED灯矩阵测试是否通过。本实施例的测试设备通过信号转换模块2021将上位机201发送的系统控制信号转换为I2C信号，信号驱动�？�2022根据I2C信号输出多路TTL电平信号以驱动LED灯矩阵进行测试，并根据测试所得的电流值的大小来判断LED灯矩阵测试是否通过。本发明的测试设备能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。请参阅图3，图3是本发明测试设备第三实施例的结构示意图。该测试设备包括上位机301、USB总线转接芯片302、LED灯矩阵驱动芯片303以及程控电源304。USB总线转接芯片302通过USB总线与上位机301连接，用于从上位机301接收系统控制信号，并将系统控制信号转换为I2C信号。其中，在本实施例中，USB总线转接芯片302优选为USB212C芯片，USB212C芯片提供全速USB接口与上位机301连接，USB212C芯 片还可提供I2C接口，在同步串口通信方式下，提供SCL线和SDA线使得上位机301可方便地对I2C接口器件进行读写。LED灯矩阵驱动芯片303通过I2C总线与USB总线转接芯片302连接，用于从USB总线转接芯片302接收I2C信号，以及根据I2C信号输出多路TTL电平信号。在本实施例中，LED灯矩阵驱动芯片303优选为SN3730芯片，请参阅图4，图4是图3所示的测试设备的LED灯矩阵驱动芯片与LED灯矩阵的连接示意图。如图所示，SN3730芯片41具有SDA端口、SCL端口、AD端口、8个行输出控制(R1，…，R8)以及11个列输出控制(Cl，…，C11)，其中R6与Cll复用，R7与ClO复用，R8与C9复用。SN3730芯片41的默认LED灯矩阵42配置为8*8矩阵，行输出控制(R1，…，R8)驱动LED灯矩阵42的行，列输出控制(Cl，…，CS)驱动LED灯矩阵42的列。当然，SN3730芯片41也可配置成单个或双重8*8、7*9、6*10或5*11等的矩阵显示模式。SN3730芯片41通过SDA端口和SCL端口对LED灯矩阵42进行编程，LED灯矩阵42中的每个LED灯都可通过编程独立地控制其开启或关闭。SN3730芯片41的SDA端口和SCL端口连接在I2C总线上。上位机301通过信号转换�？�302能够对SN3730芯片41进行写操作。SN3730芯片41内部具有8位从地址(为便于说明，以A7 A0表示)，AO位为读写位，并常置0，表示SN3730芯片41只支持写操作。Al和A2位由AD端口的连线决定，A3-A7位则对应行输出控制和列输出控制的输出。完整的8位从地址如表I。表1SN3730芯片内部的8位从地址
权利要求
1.一种测试设备，用于测试LED灯矩阵，其特征在于，所述测试设备包括 上位机，用于产生系统控制信号； 信号转换装置，与所述上位机连接，用于从所述上位机接收所述系统控制信号，并根据所述系统控制信号输出多路TTL电平信号，其中，所述多路TTL电平信号用于对所述LED灯矩阵进行测试； 信号反馈装置，所述信号反馈装置与所述上位机连接，用于测量所述LED灯矩阵中的电流值，并将测量结果反馈至所述上位机； 其中，所述上位机还用于在获取到所述测量结果后，根据所述测量结果判断所述LED灯矩阵测试是否通过。
2.根据权利要求I所述的测试设备，其特征在于，所述信号转换装置包括 信号转换模块，通过USB总线与所述上位机连接，用于从所述上位机接收所述系统控制信号，以及将所述系统控制信号转换为I2C信号； 信号驱动�？椋ü齀2C总线与所述信号转换�？榱樱糜诖铀鲂藕抛荒？榻邮账鯥2C信号，以及根据所述I2C信号输出多路TTL电平信号。
3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述LED灯矩阵与所述信号驱动�？樾纬苫芈罚铀鲂藕徘？榻邮账龆嗦稵TL电平信号，以驱动所述LED灯矩阵。
4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述信号驱动�？榫哂行惺涑隹刂坪土惺涑隹刂疲鲂惺涑隹刂朴糜谇鯨ED灯矩阵的行，所述列输出控制用于驱动所述LED灯矩阵的列。
5.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述LED灯矩阵为多个，所述信号驱动�？槲喔觯鲂藕徘？橛胨鯨ED灯矩阵一一对应，所述多个信号驱动�？椴⒘谒鯥2C总线上。
6.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述信号转换�？槲猆SB总线转接芯片。
7.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述信号驱动�？槲狶ED灯矩阵驱动-H-* I I心/T O
8.根据权利要求I所述的测试设备，其特征在于，所述信号反馈装置为程控电源，所述程控电源通过通用接口总线与所述上位机连接。
9.一种测试设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括 产生系统控制信号； 接收所述系统控制信号，并根据所述系统控制信号输出多路TTL电平信号； 利用所述多路TTL电平信号对LED灯矩阵进行测试； 测量所述LED灯矩阵中的电流值； 根据所述测量结果判断所述LED灯矩阵测试是否通过。
10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述接收所述系统控制信号，并根据所述系统控制信号输出多路TTL电平信号的步骤具体为 接收所述系统控制信号，将所述系统控制信号转换为I2C信号； 接收所述I2C信号，根据所述I2C信号输出多路TTL电平信号。
全文摘要
本发明公开了一种测试设备，用于测试LED灯矩阵，该测试设备包括上位机、信号转换装置以及信号反馈装置。上位机用于产生系统控制信号；信号转换装置与上位机连接，用于从上位机接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号，多路TTL电平信号用于对LED灯矩阵进行测试；信号反馈装置与上位机连接，用于测量LED灯矩阵中的电流值，并将测量结果反馈至上位机，上位机根据测量结果判断LED灯矩阵测试是否通过。本发明还公开了一种测试设备的测试方法。通过上述方式，本发明的测试设备及其测试方法能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。
文档编号G01R31/44GK102944852SQ20121043765
公开日2013年2月27日 申请日期2012年11月5日 优先权日2012年11月5日
发明者张京涛, 管银 申请人:惠州Tcl移动通信有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
