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专利名称：一种冲击试样缺口投影仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光学检测设备，具体是一种冲击试样缺口投影仪。
背景技术：
目前在加工冲击试样时，主要有拉制缺口、铣削缺口、切割缺口等几种手段，这几种加工方法主要是成型刀具的精度来保证制备缺口的精度，而没有合适的检测手段来控制 试样缺口的精度。如果在加工时试样胚件装卡不正或刀具长时间使用失去精度时，就将造成加工出的试样不合标准而报废。现有制备试样精度控制的缺点有I、刀具磨损失去精度时不能及时发现，可能造成大批报废试样的出现；2、无法保证每个试样的加工精度，造成试验时试样结果重复性较差；3、无法直观有效判断试样缺口的几何尺寸精度。所以在做冲击试验时，试样缺口形状加工不合格，都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为了保证加工出试样缺口合格，缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。目前使用的缺口检验方式都是采用光学投影仪放大检查。使用投影仪检验缺口形状时，先将其缺口的投影轮廓用描图纸描下来，然后再进行测量和分析，这不仅不方便而且难以保证足够的准确度，也难以符合国标或者欧标的要求。
发明内容本实用新型为了弥补现有技术的不足，提供了一种使用方便、操作简单、检测准确度高的冲击试样缺口投影仪。本实用新型包括设有透明玻璃的投影屏幕，其特殊之处在于所述的透明玻璃上通过光刻技术绘制设有标准缺口图案。标准缺口图案是按照国标GB/T229-2007《金属材料夏比摆锤冲击试验方法》以及ASTM E23-02a《金属材料缺口试样标准冲击试验方法》的要求标准进行绘制。所述的标准缺口图案为V型缺口和U型缺口。其中在夏比摆锤冲击试验中，GB/T229-2007《金属材料夏比摆锤冲击试验方法》对V型缺口的要求为深2±0. 025mm、V型开口夹角为45° ±2°、缺口根部半径为R0. 25±0. 025mm;对U型缺口的要求为深2±O. 09mm，缺口根部半径为Rl ±O. 07mm。在ASTM E23_02a《金属材料缺口试样标准冲击试验方法》对V型缺口的要求为2±O. 025mm、V型开口夹角为45° ±1°、缺口根部半径为R0. 25±0. 025mm。本实用新型的冲击试样缺口投影仪的有益效果操作简单、检查对比直观、效率高、校准精确度高，符合国标和欧标要求，适合于广大冶金、锅炉压力容器、车船、金属输送管道、工程机械以及科研院所等部门理化实验室场合使用。
图I为本实用新型的结构示意图；图2为图I中光学投影仪的投影原理结构示意图；图中1、机身，2、载物台，3、光学投影系统，4、物镜，5、投影屏幕，6、V型缺口图案，
7、第一反光镜,8、第二反光镜,9、第三反光镜，10、校对板。
具体实施方式
以下结合附图对本发明作进一步的说明附图为本发明的一种具体实施例，该实施例包括设有透明玻璃的投影屏幕5，所述的透明玻璃上通过光刻技术绘制设有标准缺口图案。所述的标准缺口图案为V型缺口和U型缺口。本实用新型在使用时，将被检测试样放置在载物台2上，通过与其对应设置的光学投影系统中，由卤钨灯发出的光线经聚光镜照射到被测物上，再经物镜4将被照射物体放大的轮廓，经过第一、第二、第三反光镜的反光投射到投影屏幕5上，这样就可以和校对板10上的V型缺口图案6进行直接比对，直观的分析出试样缺口的精确度，从而可以控制加工缺口的试样合格程度，校验准确度高度、效率高、操作简单、使用方便。投影屏幕5按照标准形状放大50倍绘制出标准缺口形状，以便于加工缺口的检测。另外，本投影仪还可用于其他机械零部件的外形轮廓、纺织物纤维、生物切片分析、工量刃具的检验、仪表元件和半导体元件的投影检测。
权利要求1.一种冲击试样缺ロ投影仪，包括设有透明玻璃的投影屏幕(5)，其特征是所述的透明玻璃上通过光刻技术绘制设有标准缺ロ图案。
2.根据权利要求I所述的冲击试样缺ロ投影仪，其特征是所述的标准缺ロ图案为V型缺口和U型缺ロ。
专利摘要本实用新型公开了一种冲击试样缺口投影仪，涉及一种光学检测设备。本实用新型包括设有透明玻璃的投影屏幕，其特殊之处在于所述的透明玻璃上通过光刻技术绘制设有标准缺口图案。本实用新型的冲击试样缺口投影仪的有益效果操作简单、检查对比直观、效率高、校准精确度高，符合国标和欧标要求，适合于广大冶金、锅炉压力容器、车船、金属输送管道、工程机械以及科研院所等部门理化实验室场合使用。
文档编号G01B9/08GK202372138SQ20112053973
公开日2012年8月8日 申请日期2011年12月21日 优先权日2011年12月21日
发明者刘琳, 王兆荣, 郑宾 申请人:济南联工测试技术有限公司