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专利名称：非接触小角度自动检查装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种非接触小角度自动检查装置。
背景技术：
随着我国装备制造业及各大新兴产业的蓬勃发展，尤其是高端装备制造、船舶制造、汽车制造等行业的高速发展和产业升级，对机构的性能的要求越来越高，机构上的平面度和平面倾斜的精度是决定高端装备机构整体性能的关键要素。机构平面的加工精度和机构平面倾斜精度越高，高端装备的整体性能和工作效率就越高。针对NC车床、铣床、切削加工机、三坐标测量机等高端装备的精密小角度检查仪的校准显得尤为重要。因此，面向高端装备的高精度及智能化的精密小角度类仪器的测量装置，是实现平面精密加工和精密装配的重要支撑技术，也是提高相关高端装备整体性能和工作效率的必由途径。小角度检查装置是一种用于产生标准微小角度的测量仪器，其主要用于检定制造、建筑等行业常用的自准仪、合象水平仪、电子水平仪、框式或钳工水平仪等倾斜角度测量仪器，广泛应用于工业计量领域，尤其在企事业计量技术部门，小角度检查装置的结构和溯源性，直接影响测量结果的准确度和可信程度。然而，传统的小角度检查装置检定技术更多是基于接触式、机械化光学计的小角度测量装置，传统的小角度检查装置的测量精度方面仍有待提高。
发明内容基于此，本实用新型在于克服现有技术的缺陷，提供一种非接触小角度自动检查装置，本实用新型可以有效的提高检测精度，使用更方便。其技术方案如下一种非接触小角度自动检查装置，包括水平基座，在水平基座上设有两个垂直于水平基座的轴线立柱，工作台的两侧分别设于两个轴线立柱上，工作台的上表面为放置面，在两个轴线立柱上设有光电感测元件，两个光电感测元件与分析处理装置电气连接，在水平基座与工作台之间设有电控倾斜角位台。下面对进一步技术方案进行说明两个所述光电感测元件竖直朝下，在所述工作台上设有两个固定标准量块，两个固定标准量块分别位于所述电感测元件的正下方并与电感测元件相对。在所述轴线立柱上设有固定架，所述光电感测元件通过该固定架设于所述轴线立柱上，在所述轴线立柱与固定架之间设有调节旋钮。还包括有隔振台，所述分析处理装置为集成计算机，该集成计算机、所述水平基座设于该隔振台上，在隔振台上还设有倾斜角位台电控箱及光电测头电控箱，所述电控倾斜角位台与倾斜角位台电控箱电气连接，所述光电感测元件与光电测头电控箱电气连接，光电测头电控箱与集成计算机电气连接。在所述隔振台与水平基座之间设有固定夹具。[0013]下面对前述技术方案的优点或原理进行说明测量时，将被测倾斜角度测量仪器(如水平仪)置于工作台的放置面上，对好被检测小角度检查仪的零位，由电控倾斜角位台控制工作台产生不同的标准小角度，通过光电感测元件感测后，由分析处理装置对光电感测元件的数据进行分析处理，并与被测倾斜角度测量仪器的结果进行对比，从而完成对被测倾斜角度测量仪器的示值误差的检测校准。该非接触小角度自动检查装置的测量精度高，检测时更方便。

图1是本实用新型实施例所述非接触小角度自动检查装置检测时的结构图；附图标记说明3、调节旋钮，4、固定架，5、轴线立柱，6、被测倾斜角度测量仪器，8、光电感测元件，
10、固定标准量块，12、集成计算机，13、光电测头电控箱，15、固定夹具，17、电控倾斜角位台，18、隔振台，20、工作台，21、水平基座，22、倾斜角位台电控箱。
具体实施方式
下面对本实用新型的实施例进行详细说明如图1所示，一种非接触小角度自动检查装置，包括水平基座21，在水平基座21上设有两个垂直于水平基座21的轴线立柱5，工作台20的两侧分别设于两个轴线立柱5上，工作台20的上表面为放置面，在两个轴线立柱5上设有光电感测元件8，两个光电感测元件8与分析处理装置电气连接，在水平基座21与工作台20之间设有电控倾斜角位台17。其中，两个所述光电感测元件8竖直朝下，在所述工作台20上设有两个固定标准量块10，两个固定标准量块10分别位于所述电感测元件的正下方并与电感测元件相对。在所述轴线立柱5上设有固定架4，所述光电感测元件8通过该固定架4设于所述轴线立柱5上，在所述轴线立柱5与固定架4之间设有调节旋钮3。还包括有隔振台18，所述分析处理装置为集成计算机12，该集成计算机12、所述水平基座21设于该隔振台18上，在隔振台18上还设有倾斜角位台电控箱22及光电测头电控箱13,所述电控倾斜角位台17与倾斜角位台电控箱22电气连接,所述光电感测元件8与光电测头电控箱13电气连接，光电测头电控箱13与集成计算机12电气连接。在所述隔振台18与水平基座21之间设有固定夹具15。本实施例具有如下优点测量时，将被测倾斜角度测量仪器6置于工作台20的放置面上，对好被检测倾斜角度测量仪器6的零位，由电控倾斜角位台17控制工作台20产生不同的标准小角度，通过光电感测元件8感测后，由分析处理装置对光电感测元件8的数据进行分析处理，并与被测倾斜角度测量仪器6的结果进行对比，从而完成对被测倾斜角度测量仪器6的示值误差的检测校准。该非接触小角度自动检查装置的测量精度高，检测时更方便。以上所述实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式
，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种非接触小角度自动检查装置，其特征在于，包括水平基座，在水平基座上设有两个垂直于水平基座的轴线立柱，工作台的两侧分别设于两个轴线立柱上，工作台的上表面为放置面，在两个轴线立柱上设有光电感测元件，两个光电感测元件与分析处理装置电气连接，在水平基座与工作台之间设有电控倾斜角位台。
2.根据权利要求1所述非接触小角度自动检查装置，其特征在于，两个所述光电感测元件竖直朝下，在所述工作台上设有两个固定标准量块，两个固定标准量块分别位于所述电感测元件的正下方并与电感测元件相对。
3.根据权利要求1所述非接触小角度自动检查装置，其特征在于，在所述轴线立柱上设有固定架，所述光电感测元件通过该固定架设于所述轴线立柱上，在所述轴线立柱与固定架之间设有调节旋钮。
4.根据权利要求1至3中任一项所述非接触小角度自动检查装置，其特征在于，还包括有隔振台，所述分析处理装置为集成计算机，该集成计算机、所述水平基座设于该隔振台上，在隔振台上还设有倾斜角位台电控箱及光电测头电控箱，所述电控倾斜角位台与倾斜角位台电控箱电气连接，所述光电感测元件与光电测头电控箱电气连接，光电测头电控箱与集成计算机电气连接。
5.根据权利要求4所述非接触小角度自动检查装置，其特征在于，在所述隔振台与水平基座之间设有固定夹具。
专利摘要本实用新型公开了一种非接触小角度自动检查装置，包括水平基座，在水平基座上设有两个垂直于水平基座的轴线立柱，工作台的两侧分别设于两个轴线立柱上，工作台的上表面为放置面，在两个轴线立柱上设有光电感测元件，两个光电感测元件与分析处理装置电气连接，在水平基座与工作台之间设有电控倾斜角位台。本实用新型可以有效的提高检测精度，使用更方便。
文档编号G01B11/26GK202915893SQ201220636589
公开日2013年5月1日 申请日期2012年11月27日 优先权日2012年11月27日
发明者古耀达, 周伦彬, 郭彤, 黄志斌, 王海燕, 蔡永洪, 韦争亮, 胡小唐, 林建荣 申请人:广州计量检测技术研究院