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一种传感器检查机用气密检查装置制造方法

时间:2023-06-11    作者: 管理员

一种传感器检查机用气密检查装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种传感器检查机用气密检查装置,与压力检测仪配套使用,用于检测密封圈安装的密封性,包括气密检查环,气密检查环为中空的圆筒状结构,其上端设有与压力检测仪相连的连接孔,其下端开口为纵向截面呈等腰梯形的内窄外宽的倾斜开口。本实用新型的有益效果是:结构简单,气密检查环与密封圈正好契合,方便测量密封圈的气密性能。
【专利说明】一种传感器检查机用气密检查装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种传感器检查机用气密检查装置。
【背景技术】
[0002]传感器检查机中涉及多种需要密封设置的部件,其连接处常常安装有密封圈,因此检测密封圈的密封性能至关重要。
实用新型内容
[0003]本实用新型要解决的技术问题是:基于上述问题,提供一种传感器检查机用气密检查装置。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种传感器检查机用气密检查装置,与压力检测仪配套使用,用于检测密封圈安装的密封性,包括气密检查环,气密检查环为中空的圆筒状结构,其上端设有与压力检测仪相连的连接孔,其下端开口为纵向截面呈等腰梯形的内窄外宽的倾斜开口。
[0005]本实用新型的有益效果是:结构简单,气密检查环与密封圈正好契合,方便测量密封圈的气密性能。
【专利附图】

【附图说明】
[0006]下面结合附图对本实用新型进一步说明。
[0007]图1是本实用新型的结构示意图。
[0008]其中:1.密封圈,2.连接孔。
【具体实施方式】
[0009]现在结合附图对本实用新型作进一步的说明。这些附图均为简化的示意图仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
[0010]如图1所示的一种传感器检查机用气密检查装置,与压力检测仪配套使用,用于检测密封圈I安装的密封性,包括气密检查环,气密检查环为中空的圆筒状结构,其上端设有与压力检测仪相连的连接孔2,其下端开口为纵向截面呈等腰梯形的内窄外宽的倾斜开□。
[0011]实际使用时,将连接孔2与压力检测仪相连,压力检测仪向气密检查环的腔内施加0.6MPa压力,持续施加12秒,若压力下降值不超过0.02MPa,则表示密封圈I密封性良好,反之则密封性差。
[0012]气密检查环下端开口的小口径处正好与密封圈I契合,密封圈I变形较小,不会损坏密封圈1,并且检测完毕后方便密封圈I从气密检查环下端开口的大口径处脱离,使用方便。
[0013]以上述依据本实用新型的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
【权利要求】
1.一种传感器检查机用气密检查装置,与压力检测仪配套使用,用于检测密封圈(I)安装的密封性,其特征是:包括气密检查环,气密检查环为中空的圆筒状结构,其上端设有与压力检测仪相连的连接孔(2),其下端开口为纵向截面呈等腰梯形的内窄外宽的倾斜开□。
【文档编号】G01M3/26GK203629765SQ201320835845
【公开日】2014年6月4日 申请日期:2013年12月17日 优先权日:2013年12月17日
【发明者】李耀 申请人:常州武进三晶自动化设备有限公司

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