专利名称：恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及恒温晶体振荡器，特别是一种恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统。
背景技术：
目前，在恒温晶体振荡器传统生产制造工艺中，人们常常需要采用手动调整拐点电阻值的方法来寻找晶体的拐点温度，以期达到最好的频率稳定度指标，尤其是温度稳定度，因为在晶体振荡器恒温温度下的频率稳定度最高。而现有对恒温晶体振荡器的拐点调试和测试过程较为复杂，为达到标称的频率稳定度和精度，在恒温晶体振荡器生产中须针对元器件的离散性，进行多项繁琐而又严格的调试和测试，批量生产时较繁琐。手工调测效率低，精度差，难以满足要求。
发明内容
为实现恒温晶体振荡器生产中调试的精确化、测试的自动化及成品检验的计算机化，本发明提供一种利用计算机实现恒温晶体振荡器拐点电阻的自动批量化调试，以找到恒温晶体振荡器恒温温度的恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统。本发明采用的技术方案是
一种恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统，包括电源、测试控制板、频率测量仪、计算机，所述测试控制板上允许有多个通过选通开关控制接通的测试单元，每个测试单元均由待测试的恒温晶体振荡器和与恒温晶体振荡器连接的桥路电阻组成，所述桥路电阻是两个并联的数字电位器；所述计算机与测试控制板上的选通开关并口连接，与桥路电阻中的数字电位器串口连接，计算机通过PIC-DI0-96卡自动采集数据；所述频率测量仪与恒温晶体振荡器连接，并通过GPIB接口总线与所述计算机连接。更进一步
所述数字电位器是MAX5477-79，其中一个阻值为10K，另一个阻值为100K，数字电位器MAX5477-79的阻值变化由计算机利用VB编程程序控制。所述计算机VB编程程序的编写采用单片机VB + Access数据库模式，数据库驱动弓I擎采用ODBC模式，通过编程程序控制数字电位器MAX5477-79的电阻值，并对不同电阻值下的产品频率进行记录，存放在数据库内。本系统中，计算机向测试控制板发送唯一的地址码，测试控制板中的选通开关根据接收到的地址编码选通待测恒温产品位置。频率测量仪读取每一个晶体振荡器的频率，计算机根据频率测量仪测得的数据拟合晶体振荡器温频特性曲线，并计算得出振荡器拐点时的电阻值。另外，本系统中所述的测试控制板可以设置多个，系统通过多组数码器和多路开关可以同时选通不同测试控制板上的晶体振荡器，实现多个晶体振荡器的频率数据同时采集，并对采集到的频率数据进行分析比较，拟合计算最佳拐点电阻值。与现有技术相比，本发明的优势在于拐点电阻的自动调整、频率曲线的测量全部由计算机进行处理，快速、高效、自动，实现了恒温晶体振荡器拐点电阻的自动批量化调试，可以缩短恒温晶体振荡器的开发周期，降低恒温晶体振荡器的制作成本，更有利于恒温晶体振荡器产品的大批量生产。
图1是本发明系统框图。图2是图1中桥路电阻连接示意图。图3是本发明系统工作流程图。
具体实施例方式下面结合实施例对本发明作进一步说明，目的仅在于更好地理解本发明内容。因此，所举实施例并不限制本发明的保护范围。参见图1，这种恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统由电源、频率测量仪、计算机和测试控制板组成，测试控制板设置有多个测试单元，每个测试单元均由待测试的恒温晶体振荡器和与恒温晶体振荡器连接的桥路电阻组成。参见图2，桥路电阻是两个并联的数字电位器MAX5477-79，其中一个阻值为10K，另一个阻值为100K，IOK阻值电位器粗略调节拐点阻值大�。�100K阻值电位器精细调节拐点阻值大小。仍参见图1、图2，测试控制板上有与待测试的恒温晶体振荡器连接的选通开关，计算机与所述选通开关并口连接，与桥路电阻中的数字电位器串口连接，计算机通过PIC-DIO卡自动采集数据；频率测量仪与恒温晶体振荡器连接，并通过GPIB接口总线与计算机的RS232串行接口连接；电源与测试控制板中的恒温晶体振荡器连接，为恒温晶体振荡器提供工作电压。本系统中，计算机通过PIC-DIO卡向测试控制板发送唯一的地址码，测试控制板中的选通开关根据接收到的地址码，选通待测恒温晶体振荡器的位置，通过串口 I2C数据总线向桥路电阻中的数字电位器MAX5477-79发送数据指令。当待测恒温晶体振荡器选通、桥路电阻确定后，频率测量仪自动读取恒温晶体振荡器的频率，由GPIB接口总线传递给计算机，计算机根据测量得到的数据拟合晶体振荡器温频特性曲线，并计算得出振荡器拐点时的电阻值。
本系统中，数字电位器MAX5477-79的阻值变化是由计算机利用VB编程程序控制的，计算机VB编程程序的编写采用单片机VB + Access数据库模式，数据库驱动引擎采用ODBC模式，通过编程程序控制数字电位器MAX5477-79的阻值变化，并对不同电阻值下的产品频率进行记录，存放在数据库内。参见图3，本系统工作流程是
首先计算机对系统进行初始化，然后向测试控制板发送地址码，测试控制板上的选通开关选择具体的待测恒温产品，并控制频率测量仪进行测试，频率测量仪将测试的频率通过GPIB接口总线传输到计算机,并把测试结果保存在VB + Access数据库模式内，计算机根据测的的频率数据多项式拟合计算出拐点阻值。具体而言，主要包括 ①测试过程开始，包括放好待测恒温产品，启动电源，所有部件处于启动状态；
②启动设置程序，进入用户测试界面；
③用户设置初始参数，即设定初始桥路电阻的大小及数字电位器的步进值；
④设定测试需要的浸泡时间及状态；
⑤开始测试；
⑥循环测试，直至过程结束；
⑦数据分析，程序根据数据表中的数据进行最小二乘法拟合，计算出最佳的拐点电阻
值；
⑧测试完成。
权利要求
1.一种恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统，包括电源、测试控制板、频率测量仪、计算机，其特征在于，所述测试控制板上允许有多个通过选通开关控制接通的测试单元，每个测试单元均由待测试的恒温晶体振荡器和与恒温晶体振荡器连接的桥路电阻组成，所述桥路电阻是两个并联的数字电位器；所述计算机与测试控制板上的选通开关并口连接，与桥路电阻中的数字电位器串口连接，计算机通过PIC-DI0-96卡自动采集数据；所述频率测量仪与恒温晶体振荡器连接，并通过GPIB接口总线与所述计算机连接。
2.根据权利要求1所述的恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统，其特征在于，所述数字电位器是MAX5477-79，其中一个阻值为10K，另一个阻值为100K，数字电位器MAX5477-79的阻值变化由计算机利用VB编程程序控制。
3.根据权利要求1或2所述的恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统，其特征在于，所述计算机VB编程程序的编写采用单片机VB + Access数据库模式，数据库驱动引擎采用ODBC模式，通过编程程序控制数字电位器MAX5477-79的电阻值，并对不同电阻值下的产品频率进行记录，存放在数据库内。
全文摘要
本发明涉及恒温晶体振荡器，特别是一种恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统。包括电源、测试控制板、频率测量仪、计算机，所述测试控制板上允许有多个通过选通开关控制接通的测试单元，每个测试单元均由待测试的恒温晶体振荡器和与恒温晶体振荡器连接的桥路电阻组成，所述桥路电阻是两个并联的数字电位器；所述计算机与测试控制板上的选通开关并口连接，与桥路电阻中的数字电位器串口连接，计算机通过PIC-DIO-96卡自动采集数据；所述频率测量仪与恒温晶体振荡器连接，并通过GPIB接口总线与所述计算机连接。本发明实现了恒温晶体振荡器拐点电阻的自动批量化调试，提高了调试精度，节省人工成本，提高生产效率。
文档编号G01R27/02GK103033688SQ20121055644
公开日2013年4月10日 申请日期2012年12月19日 优先权日2012年12月19日
发明者陈建松, 王一民, 张贻海, 吕振兴, 崔立志 申请人:同方国芯电子股份有限公司
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