一种多波长阿贝折射仪的光学系统的制作方法
【专利摘要】一种多波长阿贝折射仪的光学系统，其特征在于：它包括电源(1)、多波长LED光源(2)、消色差聚光透镜(3)、高折射率棱镜(4)、待测物体安装台(5)、线阵CCD采集系统(6)、ARM控制器(7)和触摸液晶彩屏(8)；本发明提供的多波长阿贝折射仪光学系统能够自动控制波长切换，实现无运动部件的波长转换，具有体积�。倜さ奶氐悖岣吡瞬饬烤龋鲎爸媒峁辜虻ィ僮鞣奖�。
【专利说明】一种多波长阿贝折射仪的光学系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及光学测量仪器领域，具体讲就是涉及一种多波长阿贝折射仪的光学系统。
【背景技术】
[0002]折射率是物质的重要物理常数之一，许多纯物质都具有一定的折射率，如果其中含有杂质则折射率将发生变化，出现偏差，杂质越多，偏差越大。因此，通过折射率的测定，可以测定物质的纯度。阿贝折射仪(也称阿贝折光仪)是根据光的全反射原理设计的仪器，它利用全反身临界角的测定方法测定未知物质的折光率，可定量地分析溶液中的某些成分，检验物质的纯度，是石油工业、油脂工业，制药工业，造漆工业、食品工业、日用化学工业，制糖工业和地质勘察等有关工厂，学校及研发单位不可缺少的常用设备之一。
[0003]如附图1所示，折射仪的基本原理即为折射定律mpina j = n2sin a 2, n1； n2为交界面两侧的两种介质之折射率，CI1为入射角，CI2为折射角。若光线从光密介质进入光疏介质，入射角小于折射角，改变入射角可以使折射角达到80°，发生全反射现象，此时的入射角称为临界角，折射仪测定折射率就是基于测定临界角的原理。
[0004]目前传统的自动阿贝折射仪的光路系统是根据光在不同介质溶液中传播时发生的全反射现象，得到不同折射率溶液形成的明暗分界线，然后用线阵CCD采集图像，把分界线的位置检测出来，得到不同介质溶液的折射率。其折射率的计算公式可以由附图2所示的关系推导出来，所 示ABCD为一折射棱镜，其折射率为ni。AB面上面是被测物体，其折射率为n2，全反射临界光线在测量面AB的入射角为a，光线在BC面上的入射角为β，折射角为i，折射棱镜的上顶角为Φ，由折射定律得:
[0005]n2.sin90° = Ii1.sin a (I)
[0006]nl.sin β = sini (2)
[0007]
【权利要求】
1.一种多波长阿贝折射仪的光学系统，其特征在于:它包括电源(I)、多波长LED光源(2)、消色差聚光透镜(3)、高折射率棱镜(4)、待测物体安装台(5)、线阵CCD采集系统(6)、ARM控制器(7)和触摸液晶彩屏⑶； 所述多波长LED光源(2)的出射光路上装有消色差聚光透镜(3)光线从消色差聚光透镜(3)射出后经高折射率棱镜(4)折射后在高折射率棱镜(4)与待测物体安装台(5)内的被测物体的接触面发生全反射，反射图像射出照射在线阵CCD采集系统(6)敏感面上； 所述多波长LED光源(2)、线阵CCD采集系统(6)、ARM控制器(7)和触摸液晶彩屏(8)通过电源供电。 所述多波长LED光源(2)受ARM控制器(7)控制按波长要求依次发光； 所述线阵CCD采集系统(6)受ARM控制器(7)控制将采集的待测物体信息输入到ARM控制器(7)； 所述ARM控制器将(7)输入的信息通过触摸液晶彩屏(8)输出显示。
2.如权利要求1所述的一种多波长阿贝折射仪的光学系统，其特征在于:所述多波长LED光源(2)至少包含有能发射9个波长的芯片。
【文档编号】G01N21/01GK103868854SQ201410131374
【公开日】2014年6月18日 申请日期:2014年4月2日 优先权日:2014年4月2日
【发明者】孙流星 申请人:上海仪电物理光学仪器有限公司
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