专利名称：非接触型探测器的制作方法
技术领域：
本公开涉及一种非接触型探测器，尤其涉及一种能检查面板中的图案电极的断路和短路而不会产生无法检查出断路和短路的死区的非接触型探测器。
背景技术：
伴随着近来显示面板的分辨率日益增大的趋势，图案电极之间的间隙越来越�。性淳卣笮拖允久姘寰哂猩柚迷诘ジ龌迳系淖菹虻氖萃及傅缂褪钡恼ぜ及傅缂�。为了检查显示面板中的图案电极的缺陷，例如断路、短路、交叉短(cross short)等，将信号施加到图案电极的一端并在另一端处检测该信号。如果在另一端处检测到的信号大小异常，则确定所述图案电极中存在缺陷。包括有集成在单个�？橹械墓┑绲缂痛衅鞯缂姆墙哟バ吞讲馄骺捎美醇觳橥及傅缂�。在这种情况下，可通过探测器的单次扫描，在不会由于接触缺陷或压迫接触而造成电极损坏的情况下，基于在向图案电极供应电压时在所述图案电极的一端处感应到的电压的变化，来检查图案电极的断路和短路。本公开的背景技术也在韩国专利号799161(公告日期2008年I月29日)中公开了。当用非接触型探测器在显示面板的像素部分上进行供电和感应以便检查显示面板中的缺陷时，与探测器的传感器电极对应的区段的断路无法通过非接触型探测器的扫描被检查出来，从而产生死区，在该死区中非接触型探测器无法检查图案电极的缺陷，例如断路、短路等。
发明内容
本公开旨在解决相关技术中的这些问题，并且本公开的一方面在于提供一种非接触型探测器，该非接触型探测器包括单个供电电极和多个传感器电极以为了检查显示面板中的图案电极的断路和短路而不产生死区。根据本公开的一个方面，一种非接触型探测器包括非接触探测器电极单元，用于在显示面板中的目标图案电极的一端处以非接触方式供应和感应电源；供电单元，用于向所述非接触探测器电极单元供应AC电源；以及检测单元，用于检测所述非接触探测器电极单元中的电变化，其中所述非接触探测器电极单元包括供电电极，用于向所述显示面板的像素部分供应AC电源；像素部分传感器电极，用于检测所述显示面板的像素部分中的电变化；电路部分传感器电极，用于检测电路部分中的电变化，所述电路部分上安装有用于驱动目标图案电极的电路；以及导线部分传感器电极，连接到所述电路部分以检测用于与外界进行交互的导线部分中的电变化。所述导线部分传感器电极可与所述导线部分并行布置。所述像素部分传感器电极、所述电路部分传感器电极以及所述导线部分传感器电极各可包括一对以差分方式接收所述电变化的电极。所述AC电源可为AC电压。所述电变化可为电压变化。
通过以下结合附图给出的对示例性实施例的说明，将明了本公开的以上方面以及其它方面、特征和优势，其中图1为根据本公开的一示例性实施例的非接触型探测器的图示；图2为展示根据本公开的示例性实施例的非接触型探测器的操作的图示；以及图3为展示根据本公开的示例性实施例的使用非接触型探测器检测电路部分的图示。
具体实施例方式现将参考附图详细说明本公开的示例性实施例。应当注意附图并非按照精确的比例绘制，并且为了描述的方便和清楚起见对线条的粗细或组成部分的尺寸有所夸大。此外，本文中所使用的术语通过考虑本公开的功能来定义，并且可根据用户或操作者的习惯或意图进行改变。因此，应当根据本文中所陈述的整体公开来对术语进行定义。图1为根据本公开的一示例性实施例的非接触型探测器的图示；图2为展示根据本公开的示例性实施例的非接触型探测器的操作的图示；以及图3为展示使用根据本公开的示例性实施例的非接触型探测器检测电路部分的图示。如图1和图2所示，根据一示例性实施例的非接触型探测器包括非接触型探测器电极单元10、供电单元20以及检测单元30。非接触型探测器电极单元10对应于显示面板40的像素部分42、电路部分44以及导线部分46进行放置，以在要检查的目标图案电极50的一端处供应电源并感应电变化。如图2所示，显示面板40包括像素部分42、电路部分44和导线部分46 ;栅线52的图案电极50和数据线51的图案电极50设置在像素部分42上以构成像素，用于驱动栅线52的图案电极50的电路(未示出)安装在电路部分44上，导线部分46与电路部分44连接并用以与外界进行交互。具体地，显示面板40为有源矩阵型平板显示器(FPD)，该FPD具有容纳在其中的驱动器电路，因此电路部分44提供有该驱动器电路。非接触型探测器电极单元10包括供电电极12、像素部分传感器电极14、电路部分传感器电极16和导线部分传感器电极18。供电电极12向显示面板40的像素部分42中的目标图案电极50供应AC电压。像素部分传感器电极14由一对电极构成，并通过该对电极以差分方式(inadifferential manner)感应显示面板40的像素部分42中的电压变化。电路部分传感器电极16由一对电极构成，并通过该对电极以差分方式感应电路部分44 (该电路部分44上安装有用于驱动目标图案电极50的电路)中的电压变化。导线部分传感器电极18由一对电极构成，并以与导线部分46平行的方式连接到电路部分44。导线部分传感器电极18通过该对电极以差分方式感应导线部分46 (该导线部分46与外界进行交互)中的电压变化。供电单元20向非接触型探测器电极单元10供应AC电压。检测单元30测量由像素部分传感器电极14、电路部分传感器电极16以及导线部分传感器电极18感应的电压变化。相应地，当供电单元20向非接触型探测器供应AC电压时，该非接触型探测器向供电电极12供应AC电压，并且由非接触型探测器电极单元10的像素部分传感器电极14、电路部分传感器电极16以及导线部分传感器电极18检测到的电压变化被输出，由此该探测器不仅能检查目标图案电极50的断路和短路，还能检查电路部分44和像素部分42中的短路。图3为展示使用根据本公开的示例性实施例的非接触型探测器检测电路部分的图示。如图3所示，当显示面板40的电路部分44中存在短路时，在通过供电电极12向栅线52施加AC电压时,AC电压仅能被施加在导线部分传感器电极18中的一个上，由此输入到电极中的信号具有不同的大�。斐傻枷卟糠执衅鞯缂�18的波形增加。然而，当接收电压的图案因短路而在区域中增加时，比正常电压低的电压被施加到电路部分44的图案上，由此在电路部分传感器电极16中降低施加到放置在接收电压的图案上方的电极上的信号与施加到放置在未接收电压的图案上方的电极上的信号之间的大小的差异，从而允许将电路部分传感器电极16的波形降低到正常情况以下。这样，当电路部分44中存在短路时，导线部分传感器电极18的波形增大，而电路部分传感器电极16的波形减�。佣市砑觳榈缏凡糠�44中的缺陷。采用根据本实施例的非接触型探测器，可以由电路部分传感器电极16检测由像素部分传感器电极14扫描的区域中的图案电极50的断路，从而最小化探测器不能检查的死区。此外，电路部分传感器电极16检测电路部分44中的电压变化，该电路部分44具有比像素部分42的图案电极50更大的区域，以便可提高检测精确度，从而便于检测显示面板40中的短路。进一步地，由于电路部分44具有仅与像素部分42的图案电极50连接的并且与导线部分46断开的图案以及仅与导线部分46连接的并且与像素部分42的图案电极50断开的图案，所以可通过导线部分传感器电极18检测电路部分44中的短路，从而提高在显示面板40的修复方面的性能。换言之，根据本实施例的非接触型探测器可确定短路是在电路部分44中发生还是在像素部分42中发生，从而改善对各部分中的缺陷区域进行检查的精确度和处理速度。如此，根据本公开，非接触型探测器提供有单个供电电极以及将分别放置在像素部分、电路部分和导线部分上的多个传感器电极，以为了检查显示面板中的图案电极的断路和短路部分，由此防止产生死区，改善检查的精确度以在检查断路的方面提供改善的性能，并且能将缺陷区域与其他区域区分开以改善修复性能。虽然提供了一些展示本公开的实施例，但是应当理解这些实施例仅用于展示，并且在不违背本公开的精神和范围的情况下可进行各种修改，变化和改动。本公开的范围仅由所附的权利要求书及其等同方案界定。
权利要求
1.一种非接触型探测器，包括 非接触探测器电极单元，用于在显示面板中的目标图案电极的一端处以非接触方式供应和感应电源；供电单元，用于向所述非接触探测器电极单元供应AC电源；以及检测单元，用于检测所述非接触探测器电极单元中的电变化， 其中所述非接触探测器电极单元包括 供电电极，用于向所述显示面板的像素部分供应所述AC电源； 像素部分传感器电极，用于检测所述显示面板的像素部分中的电变化； 电路部分传感器电极，用于检测电路部分中的电变化，所述电路部分上安装有用于驱动目标图案电极的电路；以及 导线部分传感器电极，连接到所述电路部分以检测用于与外界进行交互的导线部分中的电变化。
2.根据权利要求1所述的非接触型探测器，其中，所述导线部分传感器电极与所述导线部分平行布置。
3.根据权利要求1所述的非接触型探测器，其中，所述像素部分传感器电极、所述电路部分传感器电极以及所述导线部分传感器电极各包含一对以差分方式接收所述电变化的电极。
4.根据权利要求1所述的非接触型探测器，其中，所述AC电源为AC电压。
5.根据权利要求1所述的非接触型探测器，其中，所述电变化为电压变化。
全文摘要
本文公开了一种非接触型探测器。该非接触型探测器提供有单个供电电极和多个传感器电极以及将分别放置在像素部分、电路部分和导线部分上的多个传感器电极，以为了检查显示面板中的图案电极的断路和短路部分，由此防止产生死区，改善感应的精确度以在断路检查的方面提供改善的性能，并且能将缺陷区域与其他区域区分开，以改善修复性能。
文档编号G01R31/02GK103033719SQ20121037767
公开日2013年4月10日 申请日期2012年10月8日 优先权日2011年9月30日
发明者金圣振, 李东俊, 郑累利 申请人:微探测株式会社
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
